JPH0281002A - 平面鏡反射面判別方法 - Google Patents
平面鏡反射面判別方法Info
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- JPH0281002A JPH0281002A JP23245588A JP23245588A JPH0281002A JP H0281002 A JPH0281002 A JP H0281002A JP 23245588 A JP23245588 A JP 23245588A JP 23245588 A JP23245588 A JP 23245588A JP H0281002 A JPH0281002 A JP H0281002A
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- 239000000126 substance Substances 0.000 claims 3
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 7
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- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
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Landscapes
- Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はファクシミリ1複写機等の光学系の画像読取装
置に使用される平面鏡の反射面の判別方法に関する。
置に使用される平面鏡の反射面の判別方法に関する。
従来、画像読取装置の縮小光学系は、例えば特開昭62
−222768号公報に記載のように、固体走査素子、
平面鏡、レンズから構成されており、原稿からの光は平
面鏡の表面にて反射するように、構成されている。
−222768号公報に記載のように、固体走査素子、
平面鏡、レンズから構成されており、原稿からの光は平
面鏡の表面にて反射するように、構成されている。
画像読取装置においては原稿の光学的情報を電気信号に
変換するために、レンズと平面鏡から成る縮小光学系と
、固体走査素子が用いられている。
変換するために、レンズと平面鏡から成る縮小光学系と
、固体走査素子が用いられている。
従来、縮小光学系の6組立作業においては、平面鏡の反
射面の表裏を判断して1.組立る必要があったにもかか
わらず1作業者の熟、#!度に依存していた。
射面の表裏を判断して1.組立る必要があったにもかか
わらず1作業者の熟、#!度に依存していた。
仮に、反射面の表裏を誤って組立ると、平面鏡を構成す
る材質の厚さの分だけ、縮小光学系の大路長に誤差を生
じる。この誤差は、画像読取装置の画像品質に影響をお
よほす。本発明の目的は、容易に平面鏡の反射面の表裏
を判別することにより組立作業における過失を防ぎ1画
像読取装置の画像品質を安定させることにある。
る材質の厚さの分だけ、縮小光学系の大路長に誤差を生
じる。この誤差は、画像読取装置の画像品質に影響をお
よほす。本発明の目的は、容易に平面鏡の反射面の表裏
を判別することにより組立作業における過失を防ぎ1画
像読取装置の画像品質を安定させることにある。
上記目的は、直方体である平面鏡の反射直において1反
射性能に影響をおよぼさない部分の一部分を非反射面と
し、平面鏡の反射面の表裏を判別することにより、達成
される。
射性能に影響をおよぼさない部分の一部分を非反射面と
し、平面鏡の反射面の表裏を判別することにより、達成
される。
前述した発明によれば、平面鏡の反射面が容易に判別で
きる。したがって、画像読取装置の縮小光学系の組立作
業において、平面鏡の反射面の表裏を誤ることが防げる
ので、画像読取装置の画像品質を安定させることが可能
である。
きる。したがって、画像読取装置の縮小光学系の組立作
業において、平面鏡の反射面の表裏を誤ることが防げる
ので、画像読取装置の画像品質を安定させることが可能
である。
以下、本発明の実施例を第1図、第2図を用いて説明す
る。
る。
第1図は本発明による平面鏡を示す。平面鏡5は直方体
の光を透過する母材4の1つの面が反射面1となってお
り、アルミニウムが蒸着しである。
の光を透過する母材4の1つの面が反射面1となってお
り、アルミニウムが蒸着しである。
反射面1においては、第1図中の2点鎖線で囲まれた長
方形の領域である、反射性能有効範囲5が存在する。反
射性能有効範囲5とは、平面f!#、5としての特性、
例えば反射率、および反射面の曲率がともにある値以上
である、が保証される領域で使用可能領域である。反射
面1において、反射性能有効範囲5の領域外に非反射部
2が存在する。
方形の領域である、反射性能有効範囲5が存在する。反
射性能有効範囲5とは、平面f!#、5としての特性、
例えば反射率、および反射面の曲率がともにある値以上
である、が保証される領域で使用可能領域である。反射
面1において、反射性能有効範囲5の領域外に非反射部
2が存在する。
以下、半面fiP、5である直方体におい工、反射面1
が観察者に対1−ている場合を、反射面が表面であると
称する。第2図は本発明による反射面の表裏を判別する
方法を示している。第2図に・おいては平面@5の反射
面1が観察者7に対1〜る様に平面AECDが底面とな
って設置されているい光源6の光は、大部分が、母材4
を透過し、反射面1により遮られるが、残りの1部は母
材4を透過し、非反射部2を透過し、観察者7に到達′
1−る。第5図。
が観察者に対1−ている場合を、反射面が表面であると
称する。第2図は本発明による反射面の表裏を判別する
方法を示している。第2図に・おいては平面@5の反射
面1が観察者7に対1〜る様に平面AECDが底面とな
って設置されているい光源6の光は、大部分が、母材4
を透過し、反射面1により遮られるが、残りの1部は母
材4を透過し、非反射部2を透過し、観察者7に到達′
1−る。第5図。
第4図は、反射面が表となっている場合の観、察像な示
す。観察像は明部8と暗部9かも成る。今、非反射部2
が第1図に示すように設定されているので、明部8は、
第5図に示すように、長方形AEIHの対向する2辺の
中点を結ぶ2本の線分により分けられた、1.11.l
Il、lVの領域のうち、■の領域に存在1−る6f、
た、長方形AEIIIがその重心である点Gを中心と1
〜て1000回転(〜た姿勢にある場合は、第4図に示
すように■の領域に明部6が存在する。第5図、第6図
は反射面が裏となっている場合の観察像を示ず。すなわ
ち、第2図において、平面@Sが平面EDCFを観察者
7に対向させ、平面IHEFを底面としている場合の観
察像においては、第5図に示1−ように、■の領域に明
部8が存在する。壕だ、長方形CI)EFがその重心で
ある点Gを中心として1000回転した姿勢にある場合
は、第6図に示ずよ5&ll/の領域に明部が存在する
。すなわち、明部8が反射面1である長方形AE IH
の対向する辺の中点を結ぶ2本の線分で囲まれる4つの
領域のうち、非反射部2が存する領域および点Gに関1
2て対称な領域にある場合は反射面が長であり、隣接す
る領域にある場合は、反射面が裏であると判別できる。
す。観察像は明部8と暗部9かも成る。今、非反射部2
が第1図に示すように設定されているので、明部8は、
第5図に示すように、長方形AEIHの対向する2辺の
中点を結ぶ2本の線分により分けられた、1.11.l
Il、lVの領域のうち、■の領域に存在1−る6f、
た、長方形AEIIIがその重心である点Gを中心と1
〜て1000回転(〜た姿勢にある場合は、第4図に示
すように■の領域に明部6が存在する。第5図、第6図
は反射面が裏となっている場合の観察像を示ず。すなわ
ち、第2図において、平面@Sが平面EDCFを観察者
7に対向させ、平面IHEFを底面としている場合の観
察像においては、第5図に示1−ように、■の領域に明
部8が存在する。壕だ、長方形CI)EFがその重心で
ある点Gを中心として1000回転した姿勢にある場合
は、第6図に示ずよ5&ll/の領域に明部が存在する
。すなわち、明部8が反射面1である長方形AE IH
の対向する辺の中点を結ぶ2本の線分で囲まれる4つの
領域のうち、非反射部2が存する領域および点Gに関1
2て対称な領域にある場合は反射面が長であり、隣接す
る領域にある場合は、反射面が裏であると判別できる。
尚、本発明は、非反射部2の形状、反射面1を形成する
ために用いる金属元素の種類、母材4の材質によらず、
同様な作用を示すことは明白である。
ために用いる金属元素の種類、母材4の材質によらず、
同様な作用を示すことは明白である。
し発明の効果〕
本発明によれば5画像読取装置の縮小光学系の組立作業
において、平面鏡の反射面の表裏が容易に判別できる。
において、平面鏡の反射面の表裏が容易に判別できる。
したがって、反射面の表裏を阻って、組立ることを防げ
、画像読取装置の画像品質を安定させろことが可能とな
る。
、画像読取装置の画像品質を安定させろことが可能とな
る。
第1図は本発明の一実施例の平面鏡を示した斜視図、第
2図は本発明による表裏を判別する方法を示した説明図
、第3図および第4図は反射面が表となりている場合の
観察像を示した説明図、第5図および第6図は反射面が
裏となっている場合の観察像を示した説明図である。 1・・・・・・・・・・・・反射面 2・・・・・・・・・・・・非反射部 5・・・・・・・・・・・・反射性能有効範囲4・・・
・・・・・・・・・母材 5・・・・・・・・・・・・平面鏡 6・・・・・・・・・・・・光源 7・・・・・−・・・・・観察者 8・・・・・・・・・・・・明部 9・・・・・・・・・・・・暗部
2図は本発明による表裏を判別する方法を示した説明図
、第3図および第4図は反射面が表となりている場合の
観察像を示した説明図、第5図および第6図は反射面が
裏となっている場合の観察像を示した説明図である。 1・・・・・・・・・・・・反射面 2・・・・・・・・・・・・非反射部 5・・・・・・・・・・・・反射性能有効範囲4・・・
・・・・・・・・・母材 5・・・・・・・・・・・・平面鏡 6・・・・・・・・・・・・光源 7・・・・・−・・・・・観察者 8・・・・・・・・・・・・明部 9・・・・・・・・・・・・暗部
Claims (1)
- 1、光を透過する直方体と該直方体の片面に光を反射す
る物質を付着させた平面鏡において、該物質を付着させ
た面と物質を付着させていない面を区別するために、反
射性能に影響のない部分に印を設けたことを特徴とする
平面鏡反射面判別方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23245588A JPH0281002A (ja) | 1988-09-19 | 1988-09-19 | 平面鏡反射面判別方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23245588A JPH0281002A (ja) | 1988-09-19 | 1988-09-19 | 平面鏡反射面判別方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0281002A true JPH0281002A (ja) | 1990-03-22 |
Family
ID=16939556
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23245588A Pending JPH0281002A (ja) | 1988-09-19 | 1988-09-19 | 平面鏡反射面判別方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0281002A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10714899B2 (en) | 2018-02-02 | 2020-07-14 | Fanuc Corporation | Semiconductor laser module and laser oscillator |
-
1988
- 1988-09-19 JP JP23245588A patent/JPH0281002A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10714899B2 (en) | 2018-02-02 | 2020-07-14 | Fanuc Corporation | Semiconductor laser module and laser oscillator |
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