JPH0466297B2 - - Google Patents

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JPH0466297B2
JPH0466297B2 JP12681486A JP12681486A JPH0466297B2 JP H0466297 B2 JPH0466297 B2 JP H0466297B2 JP 12681486 A JP12681486 A JP 12681486A JP 12681486 A JP12681486 A JP 12681486A JP H0466297 B2 JPH0466297 B2 JP H0466297B2
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JP
Japan
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light
optical
lens
detector
self
Prior art date
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JP12681486A
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English (en)
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JPS62284220A (ja
Inventor
Toyohachi Yokota
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NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS62284220A publication Critical patent/JPS62284220A/ja
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    • G01J1/04Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
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    • G01J1/08Arrangements of light sources specially adapted for photometry standard sources, also using luminescent or radioactive material
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    • G01J1/02Details
    • G01J1/0228Control of working procedures; Failure detection; Spectral bandwidth calculation

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、光学系と検出器の動作良否等を自己
診断する機能を備えた光学センサに関する。
(従来の技術) 従来、自己診断機能を備える光学センサとして
は、例えば第2図に示すものが知られている。
第2図において、符号1は鏡胴であり、この鏡
胴1には、内奥に検出器2が配置され、開口部側
から検出器2に向かつてオプテイカルフラツトレ
ンズ3、組レンズ4、同5、同6の順に光学系を
構成する各種レンズを配置してある。検出器2は
2次元のCCD(Charge Coupled Device)イメー
ジセンサを備える受光部21と、信号処理部22
とからなる。また、鏡胴1の開口部側の外周囲の
所定部位には光源室7を突設してあり、この光源
室7には発光ダイオードやランプ等の光源8と、
ピンホール板9と、凸レンズ10とが設けてあ
る。
凸レンズ10は、ピンホール板9のピンホール
を介して入射する光源8の光を平行化し、それを
自己診断光11としてオプテイカルフラツトレン
ズ3の外表面に沿つて光軸12に直交する向きに
出射する。そして、オプテイカルフラツトレンズ
3の外表面の光軸位置にはハーフプリズム13を
貼着してあり、自己診断光11はこのハーフプリ
ズム13で直角方向に反射され、光学系を介して
検出器2で検出される。
要するに、この光学センサでは、検出器2の受
光部21において、自己診断光11の検出位置が
光軸位置からずれていれば光学系の各種レンズに
位置ずれが生じた、あるいは検出器2が移動して
受光部21の受光面に傾きが生じた等と診断でき
るようになつている。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、従来のこのような光学センサで
は、オプテイカルフラツトレンズ3の光軸位置等
にハーフプリズム13を設けているので、次の如
き種々の問題点がある。
まず、通常の使用においては、ハーフプリズム
13の影響を除去するために、余分の信号処理が
必要である。
また、この種の光学センサを衛星搭載用とした
場合、耐振性の要求に合致させようとすると、ハ
ーフプリズム13の重量分だけオプテイカルフラ
ツトレンズ3の厚みを増す必要が生じ、当該光学
センサの重量が増加する。一方、耐熱性の要求に
ついては、ハーフプリズム13を貼着する接着剤
として好適なものの入手が困難である。そして、
接着剤には経年変化があるので、これによりハー
フプリズム13の貼着位置にずれが生ずることが
想定され、一定内容の自己診断機能を安定的に特
続させることが困難である。
本発明は、このような従来の問題点に鑑みなさ
れたもので、その目的は、耐振性や耐熱性の要求
に簡単に対応でき、かつ自己診断機能の影響を除
去するための余分な信号処理を必要としない光学
センサを提供することにある。
(問題点を解決するための手段) 本発明の光学センサは、前記目的を達成するた
めに、次の如き構成を有する。
即ち、本発明の光学センサは、複数のレンズの
組合せからなる光学系を収容する鏡胴の内奥に、
その光学系を介して外部から入射する光を受光す
る検出器を配設するとともに、その鏡胴の外周囲
の所定部位に、前記光学系の光軸と交差する向き
に自己診断光を出射する光源を配設した光学セン
サにおいて;前記光学系の任意の1つのレンズの
周縁端部に、前記自己診断光を受けてそれを前記
検出器が受光すべく反射する切削面を形成してあ
ることを特徴とする。
(作用) 次に、前記の如く構成される本発明の光学セン
サの作用を説明する。
自己診断光は、光学系の任意の1つのレンズの
端面に切削形成してある切削面で反射され、光学
系を介して検出器に受光される。
従つて、従来の光学センサと同等の自己診断機
能が得られる。
このように、本発明の光学センサによれば、光
学系のレンズ表面に、ハーフプリズムを設けない
ので、従来の如き余分な信号処理は不要となる。
また、反射面はレンズの周縁端部に切削形成す
るのであるから、耐振性や耐熱性の要求に対して
簡単に対応できる。さらに、従来のものよりも部
品点数が減少するので、信頼性が一段と向上し、
長期間に渡つて一定内容の自己診断機能を安定的
に維持させ得るという優れた効果が得られる。
(実施例) 以下、本発明の実施例を図面を参照して説明す
る。第1図は、本発明の一実施例に係る光学セン
サを示す。なお、従来装置と同一構成部分には同
一名称符号を付しその説明を省略する。
この実施例においては、オプテイカルフラツト
レンズ3の外周縁部端面内側に、傾斜角45゜の切
削面Aを切削形成し、この切削面は鏡面処理によ
つて所望の反射面となつている。従つて、光源室
7は、切削面Aの形成位置直上の鏡胴1外周面に
突設される。
図示例では、自己診断光11の切削面Aにおけ
る反射角は90゜であるので、自己診断光11は切
削面Aで直角方向に反射され、光軸12に平行し
て組レンズ4に入射し、その後組レンズ5、同6
を介して受光部21の光軸位置に入射するように
なつている。
なお、自己診断光11の受光部21への入射位
置は光軸位置である必要はないので、切削面Aの
傾斜角は45゜以外の任意の角度が選択できる。
また、切削面Aを形成するレンズは、この実施
例では製作容易性を考慮して一番外側のオプテイ
カルフラツトレンズ3に形成したが、内側の組レ
ンズ4、同5等に形成してもよい。
(発明の効果) 以上詳述したように、本発明の光学センサによ
れば、光学系のレンズ表面に、ハーフプリズムを
設けないので、従来の如き余分な信号処理は不要
となる。また、反射面はレンズの周縁端部に切削
形成するのであるから、耐振性や耐熱性の要求に
対して簡単に対応できる。さらに、従来のものよ
りも部品点数が減少するので、信頼性が一段と向
上し、長期間に渡つて一定内容の自己診断機能を
安定的に持続させ得るという優れた効果が得られ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係る光学センサの
側面断面図、第2図は従来装置の側面断面図であ
る。 1……鏡胴、2……検出器、3……オプテイカ
ルフラツトレンズ、4,5,6……組レンズ、8
……光源、9……ピンホール板、10……凸レン
ズ、11……自己診断光、12……光軸、A……
切削面。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 複数のレンズの組合せからなる光学系を収容
    する鏡胴の内奥に、その光学系を介して外部から
    入射する光を受光する検出器を配設するととも
    に、その鏡胴の外周囲の所定部位に、前記光学系
    の光軸と交差する向きに自己診断光を出射する光
    源を配設した光学センサにおいて;前記光学系の
    任意の1つのレンズの周縁端部に、前記自己診断
    光を受けてそれを前記検出器が受光すべく反射す
    る切削面を形成してあることを特徴とする光学セ
    ンサ。
JP12681486A 1986-05-31 1986-05-31 光学センサ Granted JPS62284220A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12681486A JPS62284220A (ja) 1986-05-31 1986-05-31 光学センサ

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JP12681486A JPS62284220A (ja) 1986-05-31 1986-05-31 光学センサ

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Publication Number Publication Date
JPS62284220A JPS62284220A (ja) 1987-12-10
JPH0466297B2 true JPH0466297B2 (ja) 1992-10-22

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JP12681486A Granted JPS62284220A (ja) 1986-05-31 1986-05-31 光学センサ

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2656420B1 (fr) * 1989-12-22 1994-07-29 Centre Nat Etd Spatiales Dispositif pour etalonner un instrument d'optique et ses applications.
DE69202539T2 (de) * 1991-09-20 1995-11-02 Nippon Electric Co System zum Kalibrieren eines optischen Instruments in einem Satellit mittels einer Referenz-Lichtquelle.

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JPS62284220A (ja) 1987-12-10

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