JPH027537B2 - - Google Patents
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- JPH027537B2 JPH027537B2 JP56129504A JP12950481A JPH027537B2 JP H027537 B2 JPH027537 B2 JP H027537B2 JP 56129504 A JP56129504 A JP 56129504A JP 12950481 A JP12950481 A JP 12950481A JP H027537 B2 JPH027537 B2 JP H027537B2
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- mesfet
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 4
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/003—Modifications for increasing the reliability for protection
- H03K19/00369—Modifications for compensating variations of temperature, supply voltage or other physical parameters
- H03K19/00384—Modifications for compensating variations of temperature, supply voltage or other physical parameters in field effect transistor circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/08—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
- H03K19/094—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors
- H03K19/0956—Schottky diode FET logic
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は半導体装置に関し、更に具体的に言え
ば半導体論理ゲート回路の改良に関するものであ
る。
ば半導体論理ゲート回路の改良に関するものであ
る。
砒化ガリウム(GaAs)を材料とするエンハン
スメント形メタル・セミコンダクタ・ゲート
FET、即ちシヨツトキバリヤ・ゲートFET
(MESFET)デバイスを用いる論理ゲート回路
は、閾値電圧の変動のために、大量生産を行うの
が困難である。即ち、ゲート・バイアス電圧がゼ
ロのとき完全に空乏状態になり、又、ターンオン
すると良好なデバイス相互、コンダクタンスを示
す様に、一様で非常に薄い能動チヤネル層を形成
するためには、非常に厳密な制御によつて閾値電
圧の変動を克服しなければならないのである。こ
の様なデバイス及びその製造方法についての詳し
い説明は、例えばIEEE Journal of Solid−
State Circuits、Vol.SC−14、No.2、April 1979
の第221乃至239頁に掲載された“The Prospects
for Ultrahigh−Speed VLSI GaAs Digital
Logic”と題するR.C.Edenその他による論文中に
示されている。
スメント形メタル・セミコンダクタ・ゲート
FET、即ちシヨツトキバリヤ・ゲートFET
(MESFET)デバイスを用いる論理ゲート回路
は、閾値電圧の変動のために、大量生産を行うの
が困難である。即ち、ゲート・バイアス電圧がゼ
ロのとき完全に空乏状態になり、又、ターンオン
すると良好なデバイス相互、コンダクタンスを示
す様に、一様で非常に薄い能動チヤネル層を形成
するためには、非常に厳密な制御によつて閾値電
圧の変動を克服しなければならないのである。こ
の様なデバイス及びその製造方法についての詳し
い説明は、例えばIEEE Journal of Solid−
State Circuits、Vol.SC−14、No.2、April 1979
の第221乃至239頁に掲載された“The Prospects
for Ultrahigh−Speed VLSI GaAs Digital
Logic”と題するR.C.Edenその他による論文中に
示されている。
本発明の目的は改良されたMESFETデバイス
を提供することである。
を提供することである。
本発明の他の目的はMESFET技術によつて具
体化されて従来のものに比べて容易に製造するこ
とのできる改良された論理ゲート回路を提供する
ことである。
体化されて従来のものに比べて容易に製造するこ
とのできる改良された論理ゲート回路を提供する
ことである。
本発明の更に他の目的はMESFET砒化ガリウ
ム・デバイスを用いながら、一様で非常に薄い能
動チヤネル層を必要としない改良された論理ゲー
ト回路を提供することである。
ム・デバイスを用いながら、一様で非常に薄い能
動チヤネル層を必要としない改良された論理ゲー
ト回路を提供することである。
これらの目的は閾値電圧の変動を許容する回路
構成を用いることによつて達成される。エンハン
スメント形MESFETデバイスを用いる本発明の
論理ゲート回路は、複数のデバイスが公称閾値電
圧からの同等の変動の影響を相互に補償する様に
なつているので、製造の際に従来の様な厳密な制
御を必要としない。
構成を用いることによつて達成される。エンハン
スメント形MESFETデバイスを用いる本発明の
論理ゲート回路は、複数のデバイスが公称閾値電
圧からの同等の変動の影響を相互に補償する様に
なつているので、製造の際に従来の様な厳密な制
御を必要としない。
第2図は本発明によるナンド・ゲート回路の構
成を示しており、第1図はその機能ブロツク図で
ある。MESFET2及び7は、集積回路チツプに
おいて互いに近接して配置されるので、それらの
閾値電圧はほぼ同等である。入力A、B、Cのい
ずれかが低レベルのとき、入力MESFET2は導
通して、抵抗器R1を通る電流を流す。抵抗器R
1における電圧降下はレベル・シフターとしての
ダイオード4を介して出力MESFET7に印加さ
れる。MESFET2及び7は共にエンハンスメン
ト形MESFETである。抵抗器R1における電圧
降下によりMESFET7のゲートの電圧が低レベ
ルになると、MESFET7はオフになり、負荷抵
抗器R3を流れる電流は減少する。従つて、高レ
ベルの出力電圧が出力ノードに現われる。次に、
もし入力A、B、Cが全て高レベルになると、
MESFET2は導通せず、MESFET7のゲートの
電圧は高レベルであるからMESFET7が導通し、
負荷抵抗器R3を流れる電流は増加する。従つ
て、低レベルの出力電圧が出力ノードに現われ
る。
成を示しており、第1図はその機能ブロツク図で
ある。MESFET2及び7は、集積回路チツプに
おいて互いに近接して配置されるので、それらの
閾値電圧はほぼ同等である。入力A、B、Cのい
ずれかが低レベルのとき、入力MESFET2は導
通して、抵抗器R1を通る電流を流す。抵抗器R
1における電圧降下はレベル・シフターとしての
ダイオード4を介して出力MESFET7に印加さ
れる。MESFET2及び7は共にエンハンスメン
ト形MESFETである。抵抗器R1における電圧
降下によりMESFET7のゲートの電圧が低レベ
ルになると、MESFET7はオフになり、負荷抵
抗器R3を流れる電流は減少する。従つて、高レ
ベルの出力電圧が出力ノードに現われる。次に、
もし入力A、B、Cが全て高レベルになると、
MESFET2は導通せず、MESFET7のゲートの
電圧は高レベルであるからMESFET7が導通し、
負荷抵抗器R3を流れる電流は増加する。従つ
て、低レベルの出力電圧が出力ノードに現われ
る。
MESFET2及び7の閾値電圧が公称値に比べ
て高い場合には、MESFET2に流れる電流の量
は閾値電圧が公称値であるときよりも減少し、従
つてMESFET7のゲートの電圧が一層高くなる
ので、MESFET7の高い閾値電圧に対する補償
がなされる。
て高い場合には、MESFET2に流れる電流の量
は閾値電圧が公称値であるときよりも減少し、従
つてMESFET7のゲートの電圧が一層高くなる
ので、MESFET7の高い閾値電圧に対する補償
がなされる。
第1図及び第2図に示した回路は論理レベルに
対するMESFETの閾値電圧の影響を排除してい
る。これは、特に0ボルト近くの閾値電圧を有す
るMESFETに関連して有効である。本発明の重
要な特徴は出力セクシヨンにおける閾値電圧のシ
フトを補償するのに入力セクシヨンを用いている
ことである。図示した実施例は正及び負の閾値電
圧のいずれをも許容しうる。
対するMESFETの閾値電圧の影響を排除してい
る。これは、特に0ボルト近くの閾値電圧を有す
るMESFETに関連して有効である。本発明の重
要な特徴は出力セクシヨンにおける閾値電圧のシ
フトを補償するのに入力セクシヨンを用いている
ことである。図示した実施例は正及び負の閾値電
圧のいずれをも許容しうる。
第3図はエンハンスメント形MESFET(閾値電
圧は0より高い)を用いる一層高性能のナンド回
路を示している。回路全体が同じ半導体チツプ上
に形成されている。第1のエンハンスメント形
MESFET2のソースは第1の論理入力Aに接続
されており、ドレイン及びゲートは第1のノード
に接続されている。抵抗器R1は第1の電位点
(+V)と第1のノードとの間に接続されていて、
電流源を形成している。抵抗器R2は第1のノー
ドに接続されている第2のノードと第2の電位点
(大地)との間に接続されていて、電流シンクを
形成している。第2のMESFET7のゲートは第
2のノードに接続され、ソースは第2の電位点に
接続され、ドレインは出力端子に接続されてい
る。MESFET2及び7はほぼ同等の閾値電圧を
有し、半導体基板上に互いに近接して形成されて
いる。この構成により、単一の入力に関する論理
反転機能が得られる。好適な実施例において、半
導体基板は砒化ガリウムである。第1のノードと
第2のノードとの間には電圧レベルをシフトする
レベル・シフターとしてのダイオード4が接続さ
れている。このレベル・シフターにより、
MESFET7のゲートに与えられる低レベル・バ
イナリー電圧は、MESFET2の入力Aの低レベ
ル・バイナリー電圧とほぼ同じレベルになる。
圧は0より高い)を用いる一層高性能のナンド回
路を示している。回路全体が同じ半導体チツプ上
に形成されている。第1のエンハンスメント形
MESFET2のソースは第1の論理入力Aに接続
されており、ドレイン及びゲートは第1のノード
に接続されている。抵抗器R1は第1の電位点
(+V)と第1のノードとの間に接続されていて、
電流源を形成している。抵抗器R2は第1のノー
ドに接続されている第2のノードと第2の電位点
(大地)との間に接続されていて、電流シンクを
形成している。第2のMESFET7のゲートは第
2のノードに接続され、ソースは第2の電位点に
接続され、ドレインは出力端子に接続されてい
る。MESFET2及び7はほぼ同等の閾値電圧を
有し、半導体基板上に互いに近接して形成されて
いる。この構成により、単一の入力に関する論理
反転機能が得られる。好適な実施例において、半
導体基板は砒化ガリウムである。第1のノードと
第2のノードとの間には電圧レベルをシフトする
レベル・シフターとしてのダイオード4が接続さ
れている。このレベル・シフターにより、
MESFET7のゲートに与えられる低レベル・バ
イナリー電圧は、MESFET2の入力Aの低レベ
ル・バイナリー電圧とほぼ同じレベルになる。
第3図の回路は更に第3のエンハンスメント形
MESFET2′を含む。これも同じ半導体基板上に
形成されており、ソースは第2の論理入力Bに接
続され、ドレイン及びゲートは第1のノードに接
続されている。従つて、この回路は2つの入力に
関してナンド論理動作を行う。
MESFET2′を含む。これも同じ半導体基板上に
形成されており、ソースは第2の論理入力Bに接
続され、ドレイン及びゲートは第1のノードに接
続されている。従つて、この回路は2つの入力に
関してナンド論理動作を行う。
第3図の回路では、第2図の回路における入力
ダイオード3a及び3bの構能はMESFET2及
び2′に組込まれている。
ダイオード3a及び3bの構能はMESFET2及
び2′に組込まれている。
第3図の回路は更に複雑な論理機能を果たす大
きな回路を構成するために他の同等の回路と接続
可能である。その場合、MESFET7のドレイン
に接続されている出力端子を次段の回路の入力端
子に接続すると、次段の回路の入力インピーダン
スがMESFET7の負荷として用いられる。
きな回路を構成するために他の同等の回路と接続
可能である。その場合、MESFET7のドレイン
に接続されている出力端子を次段の回路の入力端
子に接続すると、次段の回路の入力インピーダン
スがMESFET7の負荷として用いられる。
なお、第3図の回路では、第2図の回路の負閾
値バイアス・ダイオード6も除去されている。第
3図の回路における論理0は約0.2ボルト以下で
あり、論理1は約1.0ボルト以上である。レベ
ル・シフト用のダイオード4の数を増すことによ
つて、使用可能な論理レベル・スイングを更に大
きくすることができる。
値バイアス・ダイオード6も除去されている。第
3図の回路における論理0は約0.2ボルト以下で
あり、論理1は約1.0ボルト以上である。レベ
ル・シフト用のダイオード4の数を増すことによ
つて、使用可能な論理レベル・スイングを更に大
きくすることができる。
以上の様な本発明による論理ゲート回路は、従
来の回路よりも閾値電圧のシフトに対する許容度
が高いという利点がある。なお、本発明は図示し
た実施例に限定されることなく種々の態様で実施
可能である。
来の回路よりも閾値電圧のシフトに対する許容度
が高いという利点がある。なお、本発明は図示し
た実施例に限定されることなく種々の態様で実施
可能である。
第1図は本発明による論理ゲート回路の構成要
素の機能を示すブロツク図、第2図は本発明によ
る論理ゲート回路の第1の実施例を示す図、第3
図は本発明による論理ゲート回路の第2の実施例
を示す図である。 1…電流源(抵抗器R1)、2及び7…
MESFET、3…入力ダイオード、4…レベル・
シフター(ダイオード)、5…電流シンク(抵抗
器R2)、6…負閾値バイアス(ダイオード)、8
…電流源(抵抗器R3)。
素の機能を示すブロツク図、第2図は本発明によ
る論理ゲート回路の第1の実施例を示す図、第3
図は本発明による論理ゲート回路の第2の実施例
を示す図である。 1…電流源(抵抗器R1)、2及び7…
MESFET、3…入力ダイオード、4…レベル・
シフター(ダイオード)、5…電流シンク(抵抗
器R2)、6…負閾値バイアス(ダイオード)、8
…電流源(抵抗器R3)。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 入力端子に接続されたソース、第1のノード
に接続されたドレイン及び該第1のノードに接続
されたゲートを有する第1のエンハンスメント形
MESFETと、 上記第1のノードと第1の電位点との間に接続
されていて電流源を形成する第1のインピーダン
ス手段と、 上記第1のノードに接続され、上記第1のノー
ドの電圧レベルの変化と対応して電圧レベルが変
化する第2のノードと、 上記第2のノードと第2の電位点との間に接続
されていて電流シンクを形成する第2のインピー
ダンス手段と、 上記第2のノードに接続されたゲート、上記第
2の電位点に接続されたソース、及び出力端子に
接続されたドレインを有する第2のエンハンスメ
ント形MESFETと、 上記第1の電位点と上記出力端子との間に接続
された第3のインピーダンス手段と を含み、上記第1及び第2のエンハンスメント形
MESFETは半導体基板上に互いに近接して形成
されており、ほぼ等しい値だけ公称閾値電圧から
変動した閾値電圧を有することを特徴とする。 論理反転動作を行う論理ゲート回路。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/213,440 US4400636A (en) | 1980-12-05 | 1980-12-05 | Threshold voltage tolerant logic |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS57113631A JPS57113631A (en) | 1982-07-15 |
JPH027537B2 true JPH027537B2 (ja) | 1990-02-19 |
Family
ID=22795143
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56129504A Granted JPS57113631A (en) | 1980-12-05 | 1981-08-20 | Logic gate circuit |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4400636A (ja) |
EP (1) | EP0053664B1 (ja) |
JP (1) | JPS57113631A (ja) |
DE (1) | DE3166341D1 (ja) |
Families Citing this family (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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DE3276988D1 (en) * | 1981-09-30 | 1987-09-17 | Toshiba Kk | Logic circuit operable by a single power voltage |
KR910008521B1 (ko) * | 1983-01-31 | 1991-10-18 | 가부시기가이샤 히다찌세이사꾸쇼 | 반도체집적회로 |
JPS61272964A (ja) * | 1985-05-28 | 1986-12-03 | Fujitsu Ltd | 半導体抵抗素子 |
FR2589019B1 (fr) * | 1985-10-18 | 1991-04-12 | Thomson Csf | Porte logique a coincidence, triplet de portes logiques et circuit logique sequentiel mettant en oeuvre cette porte logique |
NL8503331A (nl) * | 1985-12-03 | 1987-07-01 | Philips Nv | Geintegreerde schakeling bevattende een lastkapaciteit en geintegreerde referentiebron. |
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US8476689B2 (en) | 2008-12-23 | 2013-07-02 | Augustine Wei-Chun Chang | Super CMOS devices on a microelectronics system |
US11342916B2 (en) | 2008-12-23 | 2022-05-24 | Schottky Lsi, Inc. | Schottky-CMOS asynchronous logic cells |
US9853643B2 (en) | 2008-12-23 | 2017-12-26 | Schottky Lsi, Inc. | Schottky-CMOS asynchronous logic cells |
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---|---|---|---|---|
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US4049980A (en) * | 1976-04-26 | 1977-09-20 | Hewlett-Packard Company | IGFET threshold voltage compensator |
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FR2483146A1 (fr) * | 1980-05-23 | 1981-11-27 | Thomson Csf | Operateur logique rapide, a grande entrance, a fonction logique complexe, utilisant au moins un transistor a effet de champ a faible tension de seuil |
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-
1980
- 1980-12-05 US US06/213,440 patent/US4400636A/en not_active Expired - Lifetime
-
1981
- 1981-08-20 JP JP56129504A patent/JPS57113631A/ja active Granted
- 1981-10-05 DE DE8181107923T patent/DE3166341D1/de not_active Expired
- 1981-10-05 EP EP81107923A patent/EP0053664B1/en not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3166341D1 (en) | 1984-10-31 |
JPS57113631A (en) | 1982-07-15 |
EP0053664A1 (en) | 1982-06-16 |
US4400636A (en) | 1983-08-23 |
EP0053664B1 (en) | 1984-09-26 |
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