JPH0267999A - X線分析用コリメータ及びその生成方法 - Google Patents
X線分析用コリメータ及びその生成方法Info
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- JPH0267999A JPH0267999A JP1182739A JP18273989A JPH0267999A JP H0267999 A JPH0267999 A JP H0267999A JP 1182739 A JP1182739 A JP 1182739A JP 18273989 A JP18273989 A JP 18273989A JP H0267999 A JPH0267999 A JP H0267999A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
- G21K1/02—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
- G21K1/02—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators
- G21K1/025—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators using multiple collimators, e.g. Bucky screens; other devices for eliminating undesired or dispersed radiation
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- General Engineering & Computer Science (AREA)
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
主l上夏五且公立
本発明はソラー・スリット・コリメータ (Solle
rslit collimator)のような新しいX
線コリメータに関するものであり、またそんなコリメー
タの製造方法に関するものである。材料の特性を明らか
にするために用いるX線解析器具、例えばX線回折装置
とかX線分光計とかにおいては、入射ビームもしくは出
射ビームが平行光束をなすようにして、軸方向の発散が
最小となるようにすることが望ましい。粉末回折計にお
いては、ビームの軸発散を減少させることが、分解能及
び角度測定の精確性を改善して、不鮮明な収差をなくす
る。
rslit collimator)のような新しいX
線コリメータに関するものであり、またそんなコリメー
タの製造方法に関するものである。材料の特性を明らか
にするために用いるX線解析器具、例えばX線回折装置
とかX線分光計とかにおいては、入射ビームもしくは出
射ビームが平行光束をなすようにして、軸方向の発散が
最小となるようにすることが望ましい。粉末回折計にお
いては、ビームの軸発散を減少させることが、分解能及
び角度測定の精確性を改善して、不鮮明な収差をなくす
る。
X線分光計においては、入射ビームの微細コリメーショ
ンが測定の感度を改善するのに必要である。
ンが測定の感度を改善するのに必要である。
その他のXyA器具、例えばコンピュータ・トモグラフ
ィー(断層放射線写真撮影)のようなX線応用診断装置
においては、微細コリメーションが映像の不明瞭さをな
くするように作用できる。
ィー(断層放射線写真撮影)のようなX線応用診断装置
においては、微細コリメーションが映像の不明瞭さをな
くするように作用できる。
芝 の ′ネーとその口 占
コリメーションはしばしば、ソラー・スリットコリメー
タを使用することによって達成する。
タを使用することによって達成する。
これらのコリメータの使用は、十分に文献化されており
、例えば、1954年ニューヨークのJohnWile
y & 5ons 書店発行M、 P、にlung
及びり。
、例えば、1954年ニューヨークのJohnWile
y & 5ons 書店発行M、 P、にlung
及びり。
E、 Alexander著rX−ray Diffr
action Procedures」第241.24
2.251−253.275−277頁とか、Bran
dt他による米国特許第4,361.902号、Wol
fel による米国特許第4,364.122号、J
enkinsによる米国特許第4.322,618号、
Kusumoto 他による米国特許第4,284.
887号等に記載されている。
action Procedures」第241.24
2.251−253.275−277頁とか、Bran
dt他による米国特許第4,361.902号、Wol
fel による米国特許第4,364.122号、J
enkinsによる米国特許第4.322,618号、
Kusumoto 他による米国特許第4,284.
887号等に記載されている。
しばしば使用されるソラー・スリット・コリメータとは
、平行に配置され、もっと狭い空隙で隔離され、収納ア
センブリの中へ相互に固定されている薄いブレードの積
層を有し、そのブレードは用いられるX線に対し吸収性
の素材の薄片(フォイル)で形成されるものである。
、平行に配置され、もっと狭い空隙で隔離され、収納ア
センブリの中へ相互に固定されている薄いブレードの積
層を有し、そのブレードは用いられるX線に対し吸収性
の素材の薄片(フォイル)で形成されるものである。
この型のコリメータは、厖大な手作業の組立てを要する
ので極めて高価である。のみならず、ブレードの薄さ、
ブレード間の空隙の狭さ、従ってコリメーションの微細
さには、これらのコリメータの場合限界があって、それ
は特にブレード等が薄くなるのに伴い、アセンブリに収
納固定するとき薄片のブレードは曲りやすい傾向をもつ
という事実によるのである。それ故このようなコリメー
タの精細さを改善するには長く作ることが必要であるが
、コリメータはできるだけ短いことが多くの場合望まし
い。
ので極めて高価である。のみならず、ブレードの薄さ、
ブレード間の空隙の狭さ、従ってコリメーションの微細
さには、これらのコリメータの場合限界があって、それ
は特にブレード等が薄くなるのに伴い、アセンブリに収
納固定するとき薄片のブレードは曲りやすい傾向をもつ
という事実によるのである。それ故このようなコリメー
タの精細さを改善するには長く作ることが必要であるが
、コリメータはできるだけ短いことが多くの場合望まし
い。
。 占 ”2する
本発明の目的は構造を改善して、高価な時間の掛る機械
的構築方法を排したソラー・スリットX線コリメータを
提供することである。
的構築方法を排したソラー・スリットX線コリメータを
提供することである。
本発明のもう1つの目的は、ブレードの曲りが避けられ
、コリメーションの程度を改善することが達成できるソ
ラー・スリットX線コリメータを提供することである。
、コリメーションの程度を改善することが達成できるソ
ラー・スリットX線コリメータを提供することである。
これらの目的は本発明による新規斬新なコリメータによ
り達成される。本発明の斬新なコリメータは、2つの直
方形のセラミックのブロックを有し、そのブロックの各
々は本質的に同一の組成及び形状であり、またその各々
はX線輻射の吸収を改善するために重い元素を含むこと
を好適とし、さらに各ブロックは固い壁部分から突き出
る多数の平行なブレードを持ち、各ブレードは、もう−
方のブロックの対応するブレードと接触かつ平行に向い
合う関係にあり、また両ブロックはその側壁部分の対応
する向い合う表面において相互に粘着固定されているも
のである。
り達成される。本発明の斬新なコリメータは、2つの直
方形のセラミックのブロックを有し、そのブロックの各
々は本質的に同一の組成及び形状であり、またその各々
はX線輻射の吸収を改善するために重い元素を含むこと
を好適とし、さらに各ブロックは固い壁部分から突き出
る多数の平行なブレードを持ち、各ブレードは、もう−
方のブロックの対応するブレードと接触かつ平行に向い
合う関係にあり、また両ブロックはその側壁部分の対応
する向い合う表面において相互に粘着固定されているも
のである。
本発明の更に別の面は、ソラー・スリットX線コリメー
タを生成する斬新かつ改善された方法に関するものであ
る。
タを生成する斬新かつ改善された方法に関するものであ
る。
本発明の方法は、薄い突起部すなわちブレードで隔離さ
れた薄い本質的に同一の寸法で平行な多数の同一の溝を
形成する段階を有し、そこで直方形のセラミック・ブロ
ックの同種の表面では各ブレードの長さは溝の長さと整
合し、各ブロックは本質的同一の組成及び形状でX線輻
射の吸収能力があり、溝は各ブロックが溝に平行な側壁
部分を具備するようなやり方で形成され、各溝はブロッ
クを完全に通り抜けて伸びているものである。
れた薄い本質的に同一の寸法で平行な多数の同一の溝を
形成する段階を有し、そこで直方形のセラミック・ブロ
ックの同種の表面では各ブレードの長さは溝の長さと整
合し、各ブロックは本質的同一の組成及び形状でX線輻
射の吸収能力があり、溝は各ブロックが溝に平行な側壁
部分を具備するようなやり方で形成され、各溝はブロッ
クを完全に通り抜けて伸びているものである。
それから2つのブロックは次のようなやり方で相互に向
かい合う関係にもち込まれる、すなわち側壁部分の対応
する表面及び対応するブレードは、互に接触し、相互に
本質的に平行な関係にあるようにする、そしてこの接触
関係にあるブロックは側壁部分の対応する表面に沿って
粘着固定されるようにする。
かい合う関係にもち込まれる、すなわち側壁部分の対応
する表面及び対応するブレードは、互に接触し、相互に
本質的に平行な関係にあるようにする、そしてこの接触
関係にあるブロックは側壁部分の対応する表面に沿って
粘着固定されるようにする。
立−里
本発明の好適な方法においては、本質的には同一の組成
及び形状の2つの直方形セラミックのブロックは、各々
がX線輻射の吸収能力がある素材で形成され、一方のブ
ロックの表面がもう一方のブロックの表面に平行に、か
つ対面するようなやり方で単一平面上に置かれ、一方の
上記ブロックの軸はもう一方のブロックの軸に収束し、
またこの位置においてこの2つの表面に垂直に多数の薄
い溝を形成し、それらの溝は相互に平行で、セラミック
・ブロックの表面から突き出ている薄い突起部すなわち
ブレードによって隔離されているようにする。それらの
溝は、各ブロックが溝に平行な側壁部分を具備するよう
なやり方でブロック中に形成される。その次に2つのブ
ロックは次のようなやり方すなわち、側壁部分の対応す
る表面及びブロック中に形成された対応するブレードは
、相互に接触しかつ相互に本質的には平行な関係におか
れるようなやり方で、相互に対面する関係に持込まれ、
次いでこうして接触しているブロックは、側壁部分の対
応する表面に沿って粘着固定される。
及び形状の2つの直方形セラミックのブロックは、各々
がX線輻射の吸収能力がある素材で形成され、一方のブ
ロックの表面がもう一方のブロックの表面に平行に、か
つ対面するようなやり方で単一平面上に置かれ、一方の
上記ブロックの軸はもう一方のブロックの軸に収束し、
またこの位置においてこの2つの表面に垂直に多数の薄
い溝を形成し、それらの溝は相互に平行で、セラミック
・ブロックの表面から突き出ている薄い突起部すなわち
ブレードによって隔離されているようにする。それらの
溝は、各ブロックが溝に平行な側壁部分を具備するよう
なやり方でブロック中に形成される。その次に2つのブ
ロックは次のようなやり方すなわち、側壁部分の対応す
る表面及びブロック中に形成された対応するブレードは
、相互に接触しかつ相互に本質的には平行な関係におか
れるようなやり方で、相互に対面する関係に持込まれ、
次いでこうして接触しているブロックは、側壁部分の対
応する表面に沿って粘着固定される。
本発明のコリメータは、ブレードの薄さが、溝のサイズ
のみにより限定されるだけであり、15ミクロン程度に
まで薄くできるので、遥かに微細なコリメーションの達
成の能力があるという利点を有する。なおまた、従来技
術のコリメータとは異なり、本発明のコリメータでは、
ブレードが機械的にアセンブリされていないので、それ
に由来する反りや曲りが起ることがない。更にまた、従
来技術のソラー・スリット・コリメータに用いられる多
数のブレードのアセンブリに要する時間と費用とは、本
発明のコリメータの生産では消去される。
のみにより限定されるだけであり、15ミクロン程度に
まで薄くできるので、遥かに微細なコリメーションの達
成の能力があるという利点を有する。なおまた、従来技
術のコリメータとは異なり、本発明のコリメータでは、
ブレードが機械的にアセンブリされていないので、それ
に由来する反りや曲りが起ることがない。更にまた、従
来技術のソラー・スリット・コリメータに用いられる多
数のブレードのアセンブリに要する時間と費用とは、本
発明のコリメータの生産では消去される。
好適な溝の形成方法は、鋸、特に半導体工業に於ては広
く用いられている精密賽の目鋸によるものである。
く用いられている精密賽の目鋸によるものである。
精密賽の目鋸の操作にはいろいろ解説文献もあるが、益
ではZimring による米国特許第4,557゜
599号の記述内容を引用参照することにしたい。
ではZimring による米国特許第4,557゜
599号の記述内容を引用参照することにしたい。
−Flには溝の幅は約50〜1000ミクロンであるが
、180 ミクロンから300ミクロンまでを好適とす
る。ブレードの厚みは約50〜200ミクロンであるが
、約100ミクロンから200ミクロンまでを好適とし
、僅か25ミクロン厚のブレードをもつコリメータさえ
も生産されている。本発明のコリメータ用として特に有
用なセラミックのブロックは、B吸収物質、例えば重金
属の酸化物又は塩を含むものとする、すなわち鉛、ジル
コニウム及びチタン又はそれらの混合物が好適である。
、180 ミクロンから300ミクロンまでを好適とす
る。ブレードの厚みは約50〜200ミクロンであるが
、約100ミクロンから200ミクロンまでを好適とし
、僅か25ミクロン厚のブレードをもつコリメータさえ
も生産されている。本発明のコリメータ用として特に有
用なセラミックのブロックは、B吸収物質、例えば重金
属の酸化物又は塩を含むものとする、すなわち鉛、ジル
コニウム及びチタン又はそれらの混合物が好適である。
セラミックのブロックは何か適当な接着剤で粘着結合す
ればよい。好適な接着剤は、露光又は触媒によって、好
適には室温で、硬化するものである。
ればよい。好適な接着剤は、露光又は触媒によって、好
適には室温で、硬化するものである。
使用される接着剤の実例は、エポキシを基盤にした接着
剤及びアクリル酸シアン・エステルの接着剤である。
剤及びアクリル酸シアン・エステルの接着剤である。
尖施±
以下、本発明の好適実施例を図面と下記の具体例により
説明する。
説明する。
各々がX線輻射を吸収する能力を有し、本質的には同一
の組成(鉛の含有量が重量比で60%を超えるような量
でチタン酸鉛を含む)の直方形セラミック・ブロックl
及び2は、その大きさが例えば長さ12.5mm 、幅
40mm 、厚さ6.5+nmであって、精密賽の目鋸
の鋸台3上に搭載され、その載せ方は上記セラミック・
ブロックの夫々の表面4及び5が単一の軸に沿い、かつ
鋸台3の案内棚6に密着して置かれる。次に、セラミッ
ク・ブロックを載せた鋸台3は、上記軸と平行な方向に
回転鋸刃7へ向って移動し、回転鋸刃7の回転軸は上記
鋸台の移動方向に垂直とする。鋸台3の位置及び動きは
、回転鋸刃7に関連して鋸刃7がセラミック・ブロック
1及び2中に溝8及び9をそれぞれ切込み、線溝8及び
9は単一軸に沿い上記表面4及び5に平行になるように
し、かつ線溝8及び9は幅が約0 、250mm、長さ
が約12.5mm 、深さが約3mmとなるようにする
。
の組成(鉛の含有量が重量比で60%を超えるような量
でチタン酸鉛を含む)の直方形セラミック・ブロックl
及び2は、その大きさが例えば長さ12.5mm 、幅
40mm 、厚さ6.5+nmであって、精密賽の目鋸
の鋸台3上に搭載され、その載せ方は上記セラミック・
ブロックの夫々の表面4及び5が単一の軸に沿い、かつ
鋸台3の案内棚6に密着して置かれる。次に、セラミッ
ク・ブロックを載せた鋸台3は、上記軸と平行な方向に
回転鋸刃7へ向って移動し、回転鋸刃7の回転軸は上記
鋸台の移動方向に垂直とする。鋸台3の位置及び動きは
、回転鋸刃7に関連して鋸刃7がセラミック・ブロック
1及び2中に溝8及び9をそれぞれ切込み、線溝8及び
9は単一軸に沿い上記表面4及び5に平行になるように
し、かつ線溝8及び9は幅が約0 、250mm、長さ
が約12.5mm 、深さが約3mmとなるようにする
。
その次に鋸台は、鋸刃の軸に平行な方向に、かつ上記表
面4及び5に平行な上記セラミック・ブロックの表面に
向って、図には示されていないが、上記溝8及び9から
約0.325 mmの距離だけ移動し、然る後に、上述
の鋸操作と鋸台3の移動とを繰返して、セラミック・ブ
ロック1及び2中に上記最初に形成された溝8及び9と
平行でしかも同一な一連の溝8及び9を追加して形成す
るようにして、その結果これらの溝は第2図に示すよう
に、セラミック・ブロック1及び2の底壁部分12及び
13から突き出ている0、83 mm厚、12.5 m
m長のブレード10及び工1を1つ宛切り分けたことに
なる。
面4及び5に平行な上記セラミック・ブロックの表面に
向って、図には示されていないが、上記溝8及び9から
約0.325 mmの距離だけ移動し、然る後に、上述
の鋸操作と鋸台3の移動とを繰返して、セラミック・ブ
ロック1及び2中に上記最初に形成された溝8及び9と
平行でしかも同一な一連の溝8及び9を追加して形成す
るようにして、その結果これらの溝は第2図に示すよう
に、セラミック・ブロック1及び2の底壁部分12及び
13から突き出ている0、83 mm厚、12.5 m
m長のブレード10及び工1を1つ宛切り分けたことに
なる。
図に示されていないが、例えばr Permabond
910」のようなポリアクリル酸シアン接着剤の粘着被
膜が、側壁部分14.15.16.17の表面1B、
19゜20.21に用いられる。筏で1対の上記表面す
なわち18 と20と及び19と21とは、ブレード1
0及び11並びに溝8及び9によって互に隔離されてい
るのである。
910」のようなポリアクリル酸シアン接着剤の粘着被
膜が、側壁部分14.15.16.17の表面1B、
19゜20.21に用いられる。筏で1対の上記表面す
なわち18 と20と及び19と21とは、ブレード1
0及び11並びに溝8及び9によって互に隔離されてい
るのである。
次に、セラミック・ブロック1は、マークMを目印にし
て、セラミック・ブロック2と接触するように位置させ
るのであるが、そのやり方は、粘着被膜付表面19が粘
着被膜付表面18と接触し、粘着被膜付表面21が粘着
被膜付表面20と接触し、かつセラミック・ブロック1
のブレード10がセラミック・ブロック2の対応するブ
レード11と、ブレード10の軸が対応するブレード1
1の軸と平行になるように接触させるのである。それか
ら粘着層が硬化するようにし、2つのブロック1と2を
互に固着させ、それによって第3図に示すようなソラー
・スリット23を設けたソラー・スリット・コリメータ
22を形成するのである。
て、セラミック・ブロック2と接触するように位置させ
るのであるが、そのやり方は、粘着被膜付表面19が粘
着被膜付表面18と接触し、粘着被膜付表面21が粘着
被膜付表面20と接触し、かつセラミック・ブロック1
のブレード10がセラミック・ブロック2の対応するブ
レード11と、ブレード10の軸が対応するブレード1
1の軸と平行になるように接触させるのである。それか
ら粘着層が硬化するようにし、2つのブロック1と2を
互に固着させ、それによって第3図に示すようなソラー
・スリット23を設けたソラー・スリット・コリメータ
22を形成するのである。
その次に、このコリメータの許容角度が、後述の手順で
次のように決定される、そのテスト用アセンブリが第4
図に概念図として示されている。
次のように決定される、そのテスト用アセンブリが第4
図に概念図として示されている。
この手順を第4図を引用して説明すると、テストされる
ソラー・スリット22の開空領域と同じサイズの鉛シー
ルド44中の開孔42を通過するX線ビーム40は、X
線経路の軸と直交する軸50の周りを回転するX線経路
中の回転台上に搭載されたソラー・スリットに突き当る
ようにさせられる。X%’i!輻射検出器46及び計数
率計48がソラー・スリット・コリメータのX線源とは
反対側に設けられる。ソラー・スリット・コリメータを
搭載した回転台を計数率計が数値を表示しなくなるまで
回転させ、続いて回転台を反対方向に回転させて、例え
ば円弧の10分ごとに計数値を読取る。
ソラー・スリット22の開空領域と同じサイズの鉛シー
ルド44中の開孔42を通過するX線ビーム40は、X
線経路の軸と直交する軸50の周りを回転するX線経路
中の回転台上に搭載されたソラー・スリットに突き当る
ようにさせられる。X%’i!輻射検出器46及び計数
率計48がソラー・スリット・コリメータのX線源とは
反対側に設けられる。ソラー・スリット・コリメータを
搭載した回転台を計数率計が数値を表示しなくなるまで
回転させ、続いて回転台を反対方向に回転させて、例え
ば円弧の10分ごとに計数値を読取る。
上記実施のソラー・スリット・コリメータを用いて得ら
れたデータは次の第1表にまとめられている。
れたデータは次の第1表にまとめられている。
第1表 ソラー・スリットP2#2の
いる。但しここでβは2θに等しく、tan θはブレ
ード間の空隙部の幅をブレードの長さしで割ったものに
等しいとする。この実例では247を12.5で割るの
で、θは1.1”に等しくなり、従って、βは2.2@
に等しくなる。
ード間の空隙部の幅をブレードの長さしで割ったものに
等しいとする。この実例では247を12.5で割るの
で、θは1.1”に等しくなり、従って、βは2.2@
に等しくなる。
このソラー・スリット・コリメータに対する許容角度は
測定の結果、この表から2°10′すなわち2.16°
と決定された。これは理論的すなわち計算上の許容角度
βと満足すべき一致を示して
測定の結果、この表から2°10′すなわち2.16°
と決定された。これは理論的すなわち計算上の許容角度
βと満足すべき一致を示して
第1図は本発明の方法に用いるセラミック・ブロックに
溝を刻むやり方を示す概略図であり、第2図は第1図の
方法による溝を備えた整合する1対のセラミック・ブロ
ックの斜視図であり、第3図は第2図の溝を刻んだセラ
ミック・ブロックから形成されソラー・スリット・コリ
メータの斜視図であり、 第4図は本発明のソラー・スリット・コリメータの許容
角度βを測定するテスト用アセンブリの概略図である。 1、2・・・直方形のセラミック・ブロック3・・・鋸
台 4.5・・・セラミック・ブロックの表面6・・・鋸台
3の案内棚 7・・・回転鋸刃 8.9・・・セラミック・ブロックに刻んだ溝10、1
1・・・12.13から突き出るブレード12、13・
・・セラミック・ブロックの底壁部分14、15.16
.17・・・セラミック・ブロックの側壁部分 1B、 19.20.21・・・側壁部分の表面22・
・・ソラー・スリット・コリメータ23・・・ソラー・
スリット。
溝を刻むやり方を示す概略図であり、第2図は第1図の
方法による溝を備えた整合する1対のセラミック・ブロ
ックの斜視図であり、第3図は第2図の溝を刻んだセラ
ミック・ブロックから形成されソラー・スリット・コリ
メータの斜視図であり、 第4図は本発明のソラー・スリット・コリメータの許容
角度βを測定するテスト用アセンブリの概略図である。 1、2・・・直方形のセラミック・ブロック3・・・鋸
台 4.5・・・セラミック・ブロックの表面6・・・鋸台
3の案内棚 7・・・回転鋸刃 8.9・・・セラミック・ブロックに刻んだ溝10、1
1・・・12.13から突き出るブレード12、13・
・・セラミック・ブロックの底壁部分14、15.16
.17・・・セラミック・ブロックの側壁部分 1B、 19.20.21・・・側壁部分の表面22・
・・ソラー・スリット・コリメータ23・・・ソラー・
スリット。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、X線分析に用いるコリメータを生成する方法におい
て、 a)本質的に同一の形状及び組成をもちX線輻射を吸収
することのできる2つの直方形 のセラミック・ブロックの2つの平行な表 面に垂直に多数の幅の狭い溝を形成し、該 溝の各々は幅の狭いブレードによって相互 に隔離されており、上記セラミック・ブロ ックは上記溝に平行な上部壁部分と下部壁 部分とを備えていることと、 b)上記の溝を刻んだセラミック・ブロックを相互に対
面する関係に位置させて、上部 壁部分及び下部壁部分の対応する表面同士 と該セラミック・ブロックの対応するブレ ード同士とを互に接触させ、本質的に相互 に平行な関係にあるようにすることと、 c)上記セラミック・ブロックの最上端及び最下端の壁
部分の対応する表面に沿って、 該セラミック・ブロックを相互に粘着固定 させること を含むことを特徴とするコリメータを生成する方法。 2、X線分析に用いるコリメータを生成する方法におい
て、 a)本質的に同一の組成及び形状をもちX線輻射を吸収
することのできる2つの直方形 のセラミック・ブロックを、該ブロックの 一方の表面が他のブロックの表面に平行に かつ向い合っており、一方のブロックの軸 が他方のブロックの軸に収束するように、 位置させることと、 b)上記セラミック・ブロックの上記2つの表面に垂直
に多数の溝を同時に形成し、該 溝の各々は上記セラミック・ブロックの表 面から突き出ているブレードにより相互に 隔離されており、上記溝の各々は約50ないし1000
ミクロンの幅を有し、上記ブレードの各々は50ないし
200ミクロンの厚みを有し、上記セラミック・ブロッ
クは上記溝に 平行な上部壁部分と下部壁部分とを備えて いることと、 c)上記の溝を刻んだセラミック・ブロックを相互に対
面する関係に位置させて、上部 壁部分及び下部壁部分の対応する表面同士 と該セラミック・ブロックの対応するブレ ード同士とを互に接触させ、本質的に相互 に平行な関係にあるようにすることと、 d)上記セラミック・ブロックの最上端及び最下端の壁
部分の対応する表面に沿って、 該セラミック・ブロックを相互に粘着固定 させること を含むことを特徴とするコリメータを生成する方法。 3、X線分析に用いるコリメータにおいて、2つの直方
形セラミック・ブロックを含み、該ブロックの各々は本
質的に同一の組成と形状をもち、該ブロックの各々は重
い元素を含みX線輻射の吸収ができるものであり、 また上記ブロックの各々は、固体壁部分か ら突き出ておりかつもう一方の上記ブロックの対応する
ブレードに接触し平行に対面する関係にある多数の平行
ブレードを有し、 さらに上記ブロックはその上部壁部分及び 下部壁部分の対応する表面においてもう一方と粘着固定
して成ることを特徴とするコリメータ。 4、セラミック・ブロックは、鉛、ジルコニウム及びチ
タンから成るグループから選んだ少なくとも1つの元素
の酸化物を含むことを特徴とする請求項2に記載の方法
。 5、セラミック・ブロックは、鉛、ジルコニウム及びチ
タンから成るグループから選んだ少なくとも1つの元素
の酸化物を含むことを特徴とする請求項3に記載のコリ
メータ。 6、溝は約150ミクロンの幅であり、またブレードは
約25ミクロンの厚みであることを特徴とする請求項4
に記載の方法。 7、溝は約150ミクロンの幅であり、またブレードは
約25ミクロンの厚みであることを特徴とする請求項5
に記載のコリメータ。 8、セラミック・ブロックの各々はチタン酸鉛を含むこ
とを特徴とする請求項4に記載の方法。 9、セラミック・ブロックの各々はチタン酸鉛を含むこ
とを特徴とする請求項5に記載のコリメータ。 10、溝は鋸で刻んで形成することを特徴とする請求項
2に記載の方法。 11、セラミック・ブロックはエポキシ接着剤により相
互に粘着固定されていることを特徴とする請求項2に記
載の方法。 12、セラミック・ブロックはエポキシ接着剤により相
互に粘着固定されていることを特徴とする請求項3に記
載のコリメータ。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/220,775 US4856043A (en) | 1988-07-18 | 1988-07-18 | Two piece ceramic Soller slit collimator for X-ray collimation |
US220775 | 1988-07-18 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0267999A true JPH0267999A (ja) | 1990-03-07 |
Family
ID=22824920
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1182739A Pending JPH0267999A (ja) | 1988-07-18 | 1989-07-17 | X線分析用コリメータ及びその生成方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4856043A (ja) |
EP (1) | EP0354605B1 (ja) |
JP (1) | JPH0267999A (ja) |
DE (1) | DE68919296T2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000098091A (ja) * | 1998-09-28 | 2000-04-07 | Rigaku Corp | ソーラスリット及びx線装置 |
JP2012225658A (ja) * | 2011-04-15 | 2012-11-15 | Seiko Instruments Inc | X線タルボ干渉計用回折格子及びその製造方法、並びにx線タルボ干渉計 |
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IN187505B (ja) * | 1995-03-10 | 2002-05-11 | Gen Electric | |
US5771270A (en) * | 1997-03-07 | 1998-06-23 | Archer; David W. | Collimator for producing an array of microbeams |
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1988
- 1988-07-18 US US07/220,775 patent/US4856043A/en not_active Expired - Fee Related
-
1989
- 1989-07-12 DE DE68919296T patent/DE68919296T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1989-07-12 EP EP89201825A patent/EP0354605B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-07-17 JP JP1182739A patent/JPH0267999A/ja active Pending
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EP0354605B1 (en) | 1994-11-09 |
EP0354605A3 (en) | 1990-03-07 |
EP0354605A2 (en) | 1990-02-14 |
DE68919296T2 (de) | 1995-06-08 |
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