JPS601576B2 - 白色x線応力測定装置 - Google Patents

白色x線応力測定装置

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JPS601576B2
JPS601576B2 JP53029253A JP2925378A JPS601576B2 JP S601576 B2 JPS601576 B2 JP S601576B2 JP 53029253 A JP53029253 A JP 53029253A JP 2925378 A JP2925378 A JP 2925378A JP S601576 B2 JPS601576 B2 JP S601576B2
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JP
Japan
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rays
white
ray
measuring device
isotope
Prior art date
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Expired
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JP53029253A
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English (en)
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JPS54122176A (en
Inventor
韶 楠本
嘉男 福田
貞夫 根本
直樹 桜間
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Priority to GB7906847A priority patent/GB2017469B/en
Priority to US06/016,829 priority patent/US4284887A/en
Priority to DE2910250A priority patent/DE2910250C3/de
Publication of JPS54122176A publication Critical patent/JPS54122176A/ja
Publication of JPS601576B2 publication Critical patent/JPS601576B2/ja
Expired legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes

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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は白色X線応力測定装置に関する、さらに詳しく
は、白色X線を被測定物の結晶面に照射し、その散乱X
線のエネルギーを測定して被測定物の応力あるいは疲労
被害度を検出する白色X線応力測定装置に関するもので
ある。
従来の白色X線応力測定装置においては、そのX線源と
してX線管球が使用されている。
しかし前記の白色X線応力測定装置では、管球からX線
を発生させるための高電圧の安定電源装置および真空ポ
ンプと、前記管球を冷却するための冷却装置とを備えな
ければならない。
従って測定装置自体が大掛りなものとなるばかりでなく
、特にX線源は容量および重量が大となり、かつ高価な
ものとなる。また測定開始までの準備に長時間を必要と
する欠点があった。本発明は前記の点に鑑みて、X線源
としてアイソトープを使用することにより、従来の如き
X線管球、高電圧安定電源装置、真空ポンプおよび冷却
装置を全く必要とせず、小形軽量で、かつ測定開始まで
の準備もきわめて短時間に行なえる白色X線応力測定装
置を提供せんとするものである。
本発明はアイソトープを線源とし、該アイソトープから
照射口に至るy線の照射経路に、y線をコンブトン散乱
させて白色X線と同等の周波数をもつ電磁波とする物質
を介在させたことを特徴とする。以下、本発明の白色X
線応力測定装置の一実施例を第1図および第2図に基づ
いて説明する。
本発明の白色X線応力測定装置は、第1図に示した如く
アイソトープを内部に収納し、かつ該アイソトープのy
線を白色X線化した電磁波を被測定物Tに照射できるX
線源部1と、従来技術における半導体検出器2、プリァ
ンプ3、比例増幅器4、多重波高分析器5、コンピュー
タ6、記録計7とを備えている。そして被測定物Tの応
力を測定するには、前記X線源部1から放射されるX線
を被測定物Tの結晶面に照射する。該被測定物Tに照射
されたX線のうち被測定物Tの回折条件を満足したエネ
ルギーをもつX線のみが半導体検出器2により検出され
、電気信号に変換される。その電気信号はプリアンプ3
および比例増幅器4にて増幅され、多重波高分析器5に
よりエネルギー分布が求められ、コンピュータ6で解析
されたり、あるいはそのまま記録計7に記録される。第
2図は前記X線源部の構造を示したもので、アイソトー
プ(ロジウム、アメリシウム、ツリウム等)8は、放射
線遮へい物質(例えば鉛)で作った密閉容器9の取入口
10から該密閉容器9内の所定位置に設置されている。
そして前記アイソトープ81ま取入口10が栓11によ
り閉塞されることによって前記密閉容器9内に密封され
ている。前記密閉容器9は、X線取り出し口12を開設
していると共に、その先端側にX線を平行化して照射す
るためのソーラスリツト13を設けている。また密閉容
器9は、前記X線取り出しロー2を開閉する扉14を具
えている。前記アイソト−プ8の近傍で、かつ該アイソ
トープ8から照射口である前記ソーラスリット13に至
るy線の照射経路には、凹面鏡状の放射線反射体15が
サポート16を介して設置されている。該反射体15は
、例えば鉛で作られていると共に、その焦点が前記ソー
ラスリツト13とアイソトープ8とを結ぶ線上にあり、
かつアイソトープ8と一致する曲面に形成されている。
従ってアイソトープ8から放射されるy線の前記反射体
15への入射角が一定でなくなるため、前記y線はコン
ブトン散乱(y線のエネルギーが減少してX線領域のエ
ネルギーとなる)後に、ソーラスリツト13側に向う平
行ビームを作るX線となり、かつ該X線は種々のエネル
ギー値をとり白色X線化されたものとなる。そして前記
X線はソーラスリット13により完全に平行化されて第
1図の被測定物Tへ照射されることになる。従って、前
述の白色X線応力測定装置においては、従来技術の如き
高電圧安定電源装置、真空ポンプおよび冷却装置を全く
必要としない。
また応力測定に際しては、第2図の扉13を開くだけで
よいから準備時間をほとんど必要としないですむ。第3
図は本発明におけるX線源部の他の例を示したもので、
アイソトープ80Gま、そのy線がソーラスリット13
の方向に一様な強さで放射できるように円板状に形成さ
れ、該アイソトープ80からソーラスリット13に至る
y線の照射経路、さらに正確にはX線取り出しロー2の
入口近傍には、y線のコンブトン散乱を行える物質、例
えば鉛で作られたスクリーン17を密閉容器9にサポー
トさせて設置してある。
前記のX線源構造は、前記アイソトープ80のy線を第
2図と同様に白色X線化し被測定物に照射できるもので
ある。
そして前記X線源部は特に比較的狭い範囲の白色X線を
必要とする場合に適している。第4図も本発明における
X線源部の他の例を示したもので、アイソトープ800
は、粉末のものが使用され、y線のコンブトン散乱を行
なえる物質、例えば鉛18にてモールド成形されている
即ちアイソト−プ800からソーラスリツト13に至る
y線の照射経路にコンブトン散乱を行なえる物質が介在
されたと同じ状態となっている。前記のX線源構造は、
y線がモールド材である鉛18から外表面に放出したと
きには、それまで鉛18を通過した距離がy線発生位置
によれ夫々異なるので、広いエネルギー範囲のX線、即
ち白色X線となっている。そして該白色X線はソーラス
リット13により平行ビームとされて照射されることに
なる。尚、本発明においては、X線源としてアイソトー
プを使用することにより線源の強さが時間経過に伴なつ
て減少する問題があるが、半減期の長いアイソトープ、
例えばアメリシウム(半減期約400年)を使用するこ
とによって対処できる。
例えば使用時間が半減期の1′100とすれば、その間
の線源の強度減少は1%となり、従来のX線管球より変
動幅をより小さなものとすることができる。以上の如く
、本発明の白色X線応力測定装置は、従来の如きX線管
球、高電圧安定電源装置、真空ポンプおよび冷却装置を
全く必要としないから、装置自体、特にX線源部を小形
、軽量かつ安価とすることができると共に、測定におけ
る準備時間を大幅に短縮できる。
また本発明の白色X線応力測定装置は、アイソトープを
線源としたから、該アイソトープの種類を選択すること
によりX線エネルギーを広範囲に容易に変えることがで
き、被測定物の回折層(測定層)の位置を、従来技術に
比べて広範囲に深さ方向に変化させることもできる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の白色X線応力測定装置を示す概略図、
第2図は本発明におけるX線源部の一礎造例を示す断面
図、第3図および第4図はX線源部の他の構造例を示す
断面図である。 1・・・・・・X線源部、2・…・・半導体検出部、3
・・・・・・プリアンブ、4・・・・・・比例増幅器、
5・・・・・・多重波高分析器、6……コンピュータ、
7……記録計、8,80,800・・・・・・アイソト
ープ、9・・・・・・密閉容器、13・…・・ソーラス
リット、15・・・・・・放射線反射体、17・・・・
・・スクリーン、18……鉛(モールド材)。 多/図 多2図 多3図 多ム図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 白色X線を被測定物の結晶面に照射し、その散乱X
    線のエネルギーを測定して被測定物の応力あるいは疲労
    被害度を検出する白色X線応力測定装置において、アイ
    ソトープを線源とし、該アイソトープから照射口に至る
    γ線の照射経路に、γ線をコンプトン散乱させて白色X
    線と同等の周波数をもつ電磁波とする物質を介在させた
    ことを特徴とする白色X線応力測定装置。
JP53029253A 1978-03-16 1978-03-16 白色x線応力測定装置 Expired JPS601576B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP53029253A JPS601576B2 (ja) 1978-03-16 1978-03-16 白色x線応力測定装置
GB7906847A GB2017469B (en) 1978-03-16 1979-02-27 Polychromatic x-ray source for diffraction apparaturs
US06/016,829 US4284887A (en) 1978-03-16 1979-03-02 Polychromatic X-ray source for diffraction apparatus using _polychromatic X-rays
DE2910250A DE2910250C3 (de) 1978-03-16 1979-03-15 Quelle für polychromatische Röntgenstrahlung

Applications Claiming Priority (1)

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JP53029253A JPS601576B2 (ja) 1978-03-16 1978-03-16 白色x線応力測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS54122176A JPS54122176A (en) 1979-09-21
JPS601576B2 true JPS601576B2 (ja) 1985-01-16

Family

ID=12271100

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP53029253A Expired JPS601576B2 (ja) 1978-03-16 1978-03-16 白色x線応力測定装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4284887A (ja)
JP (1) JPS601576B2 (ja)
DE (1) DE2910250C3 (ja)
GB (1) GB2017469B (ja)

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Also Published As

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GB2017469A (en) 1979-10-03
DE2910250B2 (de) 1980-11-13
GB2017469B (en) 1982-04-15
JPS54122176A (en) 1979-09-21
DE2910250A1 (de) 1979-09-20
US4284887A (en) 1981-08-18
DE2910250C3 (de) 1981-10-22

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