JPH0264451A - 超音波探傷器 - Google Patents
超音波探傷器Info
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- JPH0264451A JPH0264451A JP63214979A JP21497988A JPH0264451A JP H0264451 A JPH0264451 A JP H0264451A JP 63214979 A JP63214979 A JP 63214979A JP 21497988 A JP21497988 A JP 21497988A JP H0264451 A JPH0264451 A JP H0264451A
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- JP
- Japan
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- flaw detector
- nugget
- probes
- ultrasonic
- ultrasonic flaw
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- Pending
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 24
- 230000005405 multipole Effects 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 18
- 238000002592 echocardiography Methods 0.000 abstract description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/07—Analysing solids by measuring propagation velocity or propagation time of acoustic waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
不発明はスポット溶接部のナゲツト径を測定する超音波
探傷器ｆｃｖ：Ｊする。
探傷器ｆｃｖ：Ｊする。
従来の超音波探傷器として、例えば「溶接技術」１９８
５年１０月号第５２頁憂こ記載されているようｔこ、発
信振動子と受信振動子とが斜角対向配置された斜角対向
探触子を備えたものが知られている。この斜角対向探触
子は、送信用振動子々受信用振動子の極（対）が１框で
あり、スポット溶接部をはさんだ形で超音波の減衰を測
定し、ナゲツト径を算出している。
５年１０月号第５２頁憂こ記載されているようｔこ、発
信振動子と受信振動子とが斜角対向配置された斜角対向
探触子を備えたものが知られている。この斜角対向探触
子は、送信用振動子々受信用振動子の極（対）が１框で
あり、スポット溶接部をはさんだ形で超音波の減衰を測
定し、ナゲツト径を算出している。
上記従来技術は、斜角対向探触子が１極であるので、超
音波探傷器を動かしてエコー高さの最小値をさがす動作
を必要とする。また実際のナゲツト径は必ずしも丸くな
いため、一方向のみでは真のナゲツト径を求めることが
できないので、スポット溶接部をはさんだ色々な角度か
ら測定を行う必要がある。即ち、スポット溶接部をはさ
んだ円周上憂こ沿って数回動かす必要があり、またその
都度エコー高ざの最小値を求めるための動作を必要とす
るので、測定ｌこ多大の時間を要すると共ｆこ、精度が
悪いという問題があった。
音波探傷器を動かしてエコー高さの最小値をさがす動作
を必要とする。また実際のナゲツト径は必ずしも丸くな
いため、一方向のみでは真のナゲツト径を求めることが
できないので、スポット溶接部をはさんだ色々な角度か
ら測定を行う必要がある。即ち、スポット溶接部をはさ
んだ円周上憂こ沿って数回動かす必要があり、またその
都度エコー高ざの最小値を求めるための動作を必要とす
るので、測定ｌこ多大の時間を要すると共ｆこ、精度が
悪いという問題があった。
本発明の目的は、測定時間の短縮及び測定精度の向上が
図れる超音波探傷器を提供することにある。
図れる超音波探傷器を提供することにある。
上記目的は、斜角対向探触子を円周上に多極配置するこ
とにより達成される。
とにより達成される。
円周上に斜角対向探触子を多極配置することにより、超
音波探傷器を２次元的に動かさなくても１回の測定で極
数分だけ測定でさる。即ち、各斜角対向探触子を、電子
スキャンによる遅延時間によって位相をずらして動作さ
せ、これによって得られる各斜角対向探触子からの超音
波を合成して、ナゲツト径又はナゲツト面積を求めるこ
とができる。またこの情報に超音波の反射時間から求め
られる深さの情報を付加すると、ナゲツトの３次元的位
置を求めることができる。
音波探傷器を２次元的に動かさなくても１回の測定で極
数分だけ測定でさる。即ち、各斜角対向探触子を、電子
スキャンによる遅延時間によって位相をずらして動作さ
せ、これによって得られる各斜角対向探触子からの超音
波を合成して、ナゲツト径又はナゲツト面積を求めるこ
とができる。またこの情報に超音波の反射時間から求め
られる深さの情報を付加すると、ナゲツトの３次元的位
置を求めることができる。
以下、本発明の一実施例を第１図及び第２図により説明
する。第１図に示すように、超音波探傷器１は、発信振
動子２（２１，２２，２３，２４）と受信振動子３（３
１，３２，３３，３４）とが斜角対向配置された斜角対
向探触子２．３を有する。この斜角対向探触子２．３か
ら得られる超音波はブラウン管４にエコー５として表示
される。
する。第１図に示すように、超音波探傷器１は、発信振
動子２（２１，２２，２３，２４）と受信振動子３（３
１，３２，３３，３４）とが斜角対向配置された斜角対
向探触子２．３を有する。この斜角対向探触子２．３か
ら得られる超音波はブラウン管４にエコー５として表示
される。
前記斜角対向接触子２．３は、第２図に示すように、円
周上に多極（本実施例はＹ軸、Ｘ軸、２つの対角軸の４
極）２１と３１．２２と３２．２３と３３．２４と３４
配置されている。なお、第１図において、６は上板、７
は下板、８はナゲツトを示す。
周上に多極（本実施例はＹ軸、Ｘ軸、２つの対角軸の４
極）２１と３１．２２と３２．２３と３３．２４と３４
配置されている。なお、第１図において、６は上板、７
は下板、８はナゲツトを示す。
次ζこナゲツト８の測定方法について説明する。
送信用振動子２から発した超音波ビーム９は上板６へ入
射される。この入射した超音波ビーム９は上板６中を伝
搬し、ナゲツト８部分で一部は透過し、下板７Ｉこ伝搬
する。また超音波ビーム９の一部はナゲツト８周囲の上
板６底面で反射し、その超音波は受信用振動子３に受信
される。ナゲツト８の径が大きくなるほど超音波ビーム
９は下板７へ伝搬しやすく、上板６の底面で反射する量
が少なくなる。その結果、受信される超音波の量は減少
し、エコー５の高さは低くなる。
射される。この入射した超音波ビーム９は上板６中を伝
搬し、ナゲツト８部分で一部は透過し、下板７Ｉこ伝搬
する。また超音波ビーム９の一部はナゲツト８周囲の上
板６底面で反射し、その超音波は受信用振動子３に受信
される。ナゲツト８の径が大きくなるほど超音波ビーム
９は下板７へ伝搬しやすく、上板６の底面で反射する量
が少なくなる。その結果、受信される超音波の量は減少
し、エコー５の高さは低くなる。
そこで、各斜角対向探触子２１と３１．２２と３２．２
３と３３．２４と３４の各種を電子スキャンｆこよる遅
延時間着こよって位相をずらして動作させ、これによっ
て得られる超音波を合成すれば、ナゲツト８の径又は面
積が求められる。即ち、超音波探傷器１を２次元的に動
かさなくても１回の測定で極数分だけ測定でさる。また
上記情報に超音波の反射時間から求められる深さの情報
を付加すれば、ナゲツト８の３次元的位置を求めること
ができる。
３と３３．２４と３４の各種を電子スキャンｆこよる遅
延時間着こよって位相をずらして動作させ、これによっ
て得られる超音波を合成すれば、ナゲツト８の径又は面
積が求められる。即ち、超音波探傷器１を２次元的に動
かさなくても１回の測定で極数分だけ測定でさる。また
上記情報に超音波の反射時間から求められる深さの情報
を付加すれば、ナゲツト８の３次元的位置を求めること
ができる。
表１は、斜角対向探触子２．３の極数が１と４の場合に
ついて実際に測定した結果を示す。我１醗こおいて、測
定誤差は、５諺φのナゲツト径を１０回測定した時の測
定誤差で、測定時間は、ナゲツト１点当りの測定時間で
ある。
ついて実際に測定した結果を示す。我１醗こおいて、測
定誤差は、５諺φのナゲツト径を１０回測定した時の測
定誤差で、測定時間は、ナゲツト１点当りの測定時間で
ある。
弄 １
表１より明らかなよう−こ、斜角対向探触子２．３の極
数を４極とすると、測定精度が向上し、また測定時間も
大幅をこ短縮された。
数を４極とすると、測定精度が向上し、また測定時間も
大幅をこ短縮された。
なお、上記実施側番こおいては、斜角対向探触子２．３
が４極の場合ｌこついて説明したが、２極以上であれば
よい。勿論、極数を増すほど測定精度は向上する。
が４極の場合ｌこついて説明したが、２極以上であれば
よい。勿論、極数を増すほど測定精度は向上する。
本発明によれば、円周上ｆこ斜角対向探触子を多極配置
してなるので、超音波探傷器を２次元的に動かさなくて
も測定が可能で、測定時間の短縮及び測定精度の向上が
図れる。
してなるので、超音波探傷器を２次元的に動かさなくて
も測定が可能で、測定時間の短縮及び測定精度の向上が
図れる。
第１図は本発明の一実施例を示す断面図、第２図は斜角
対向探触子の配置図である。 １・・・超音波探傷器、 ２．２１〜２４・・・発
信振動子、 ３．３１〜３４・・・受信振動子。
対向探触子の配置図である。 １・・・超音波探傷器、 ２．２１〜２４・・・発
信振動子、 ３．３１〜３４・・・受信振動子。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、発信振動子と受信振動子とが斜角対向配置された斜
角対向探触子を備えた超音波探傷器において、前記斜角
対向探触子を円周上に多極配置したことを特徴とする超
音波探傷器。 ２、前記斜角対向探触子の多極は、それぞれに遅延時間
を与えて動作させられることを特徴とする特許請求の範
囲第１項記載の超音波探傷器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63214979A JPH0264451A (ja) | 1988-08-31 | 1988-08-31 | 超音波探傷器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63214979A JPH0264451A (ja) | 1988-08-31 | 1988-08-31 | 超音波探傷器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0264451A true JPH0264451A (ja) | 1990-03-05 |
Family
ID=16664710
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63214979A Pending JPH0264451A (ja) | 1988-08-31 | 1988-08-31 | 超音波探傷器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0264451A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007232525A (ja) * | 2006-02-28 | 2007-09-13 | Jfe Steel Kk | 超音波によるスポット溶接部の評価方法及び装置 |
| JP2007232526A (ja) * | 2006-02-28 | 2007-09-13 | Jfe Steel Kk | 超音波によるスポット溶接部の評価方法及び装置 |
| WO2009096146A1 (ja) * | 2008-01-30 | 2009-08-06 | Hino Motors, Ltd. | 溶接検査方法および溶接検査装置 |
| JP2010008257A (ja) * | 2008-06-27 | 2010-01-14 | Hino Motors Ltd | シーム溶接検査方法およびシーム溶接検査装置 |
| CN109164034A (zh) * | 2018-08-28 | 2019-01-08 | 河南科技大学 | 一种小麦种子质量检测装置及其检测方法 |
-
1988
- 1988-08-31 JP JP63214979A patent/JPH0264451A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007232525A (ja) * | 2006-02-28 | 2007-09-13 | Jfe Steel Kk | 超音波によるスポット溶接部の評価方法及び装置 |
| JP2007232526A (ja) * | 2006-02-28 | 2007-09-13 | Jfe Steel Kk | 超音波によるスポット溶接部の評価方法及び装置 |
| JP4728838B2 (ja) * | 2006-02-28 | 2011-07-20 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 超音波によるスポット溶接部の評価方法及び装置 |
| WO2009096146A1 (ja) * | 2008-01-30 | 2009-08-06 | Hino Motors, Ltd. | 溶接検査方法および溶接検査装置 |
| JP2009180602A (ja) * | 2008-01-30 | 2009-08-13 | Hino Motors Ltd | 溶接検査方法および装置 |
| US8627722B2 (en) | 2008-01-30 | 2014-01-14 | Hino Motors, Ltd. | Welding inspection method and welding inspection apparatus |
| JP2010008257A (ja) * | 2008-06-27 | 2010-01-14 | Hino Motors Ltd | シーム溶接検査方法およびシーム溶接検査装置 |
| CN109164034A (zh) * | 2018-08-28 | 2019-01-08 | 河南科技大学 | 一种小麦种子质量检测装置及其检测方法 |
| CN109164034B (zh) * | 2018-08-28 | 2021-01-08 | 河南科技大学 | 一种小麦种子质量检测装置及其检测方法 |
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