JPH02269962A - 超音波検査装置 - Google Patents

超音波検査装置

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Publication number
JPH02269962A
JPH02269962A JP1090594A JP9059489A JPH02269962A JP H02269962 A JPH02269962 A JP H02269962A JP 1090594 A JP1090594 A JP 1090594A JP 9059489 A JP9059489 A JP 9059489A JP H02269962 A JPH02269962 A JP H02269962A
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JP
Japan
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plane
array
focus
transducers
ultrasonic
Prior art date
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Pending
Application number
JP1090594A
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English (en)
Inventor
Soji Sasaki
佐々木 荘二
Yoshihiko Takishita
芳彦 瀧下
Fumito Iwasaki
史十 岩崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Construction Machinery Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH02269962A publication Critical patent/JPH02269962A/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/04Wave modes and trajectories
    • G01N2291/044Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は超音波により物体内に形成されている接合部界
面の検査を行なう超音波検査装置に関する。
〔従来の技術〕
超音波検査装置は検査対象物体(被検体)を破壊するこ
となくその内部の欠陥を検出することができ、多くの分
野において用いられている。即ち、超音波検査装置は、
超音波探触子から被検体に対して超音波を放射し、被検
体からの反射波を超音波探触子で受信してこれに応じた
電気信号に変換し、この電気信号を所定の手段で処理し
て被検体内部又は外面の傷や亀裂、被検体内に形成され
る接合部の欠陥の有無等を判断する。この接合部として
は、被検体と他の物体との溶接部、はんだ付は部、ろう
付は部、接着部等が挙げられる。
ところで、通常、超音波による検査は被検体に超音波を
放射し、被検体内に縦波モードの超音波を伝播させるこ
とにより実行される。そして、この縦波による検査は、
被検体内部や外面の傷1亀裂等の欠陥の検査に対しては
有効であるが、上記接合部の検査には必ずしも有効では
ない。即ち、上記接合部では、本来の接合がなされず、
単に2つの部分が接触しているだけの欠陥状態が生じる
ことがあるが、この場合、縦波を用いると、縦波の多く
が上記接触しているだけの部分を透過してしまい、その
反射強度が低下して欠陥の発見が困難になるという事態
が生じる。
このため、特に接合部の界面の検査には、当該界面で剪
断応力の伝達が生じる横波モードの超音波を用いる手段
が提案されている。このように、被検体内を伝播する超
音波を横波モードとする手段として、集束性の超音波ビ
ームを被検体に対して所定の角度で放射する手段が用い
られている。
−例を挙げると、超音波探触子と被検体の間に介在する
伝達媒質が水(音速1480 / s ) 、被検体が
鋼板(縦波音速5880 ’″/ s )の場合、縦波
の臨界角は15度、横波の臨界角は27.5度であるか
ら、被検体内に横波モードの超音波を伝播させるには、
超音波ビームの被検体への入射角度θは、15度〈θ<
27.5度であり、この角度および超音波の鋼板入射時
の屈折角度を考慮して振動子の設計が行なわれる。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記のように、接合部の検査は被検体内に横波モードの
超音波を伝播させ、その焦点を接合面に一致させること
により有効に行なわれる。しかし、被検体が交換され、
その厚み等が変化すると、超音波ビームの焦点を接合面
に一致させることが困難となる。即ち、焦点を接合部に
一致させるためには、振動子の位置又は被検体の位置を
種々調節すれば可能であるように考えられるが、実際に
は、超音波が上記のように所定の角度で入射することお
よび超音波の収差のため、被検体に屈折入射後の超音波
は接合部の一点におけるある断面で接合部が焦点となる
ように調節すると、他の断面、例えば90度異なる断面
では焦点を形成しないという現象が生じる。この現象を
第6図(a)、(b)に示す。各図で、x、  y、 
 zは座標軸、1は伝達媒質である水、2は交換後の被
検体、Sは接合部、Bは振動子から放射された超音波ビ
ーム、θは超音波ビームBの被検体2への入射角を示す
。第6図(a)に示すように、超音波ビームBがX−Z
面内で接合部Sに焦点を結ぶように振動子または被検体
2の位置を調節しても、第6図(b)に示すように、Y
−Z面内では超音波ビームBの焦点が接合部Sと一致し
ない状態となる。この結果、接合部界面では超音波に点
状の焦点を形成させることができず、このため、分解能
が太き(低下するという問題を生じる。
この問題を解決するためには、種々の焦点をもった振動
子を予め多数備えておき、異なる被検体の交換毎にそれ
ら振動子を選択適用する手段が考えられるが、このよう
な手段は、どのような被検体にも対応し得るだけの種類
の振動子を備えることは不可能であり、かつ、最適の振
動子の選択に多くの時間と手間を要し到底採用すること
はできない。
本発明の目的は、上記従来技術における課題を解決し、
被検体が変更されても正確かつ容易に焦点を接合部に一
致させることができる超音波検査装置を提供するにある
〔課題を解決するための手段〕 上記の目的を達成するため、本発明は、探触子からの超
音波を、横波モードにより伝播するように物体内に放射
し、この物体内方に形成される界面の接合状態を検査す
る超音波検査装置において、複数の振動子の配列より成
る振動子群を当該配列の方向に沿う面に関して対称位置
に2つ配置して前記探触子を構成し、前記各振動子に印
加される励振パルスを任意の遅延パターンで遅延させる
遅延素子を設けるとともに、前記各振動子からの超音波
を前記面と垂直な面で集束させるようにしたことを特徴
とする。
又、他の発明は、上記発明の構成に加えて、前記面およ
び前記垂直な面の2つの面に垂直な面内で、前記配列の
方向と垂直な方向に前記各振動子群を互いに逆方向に同
一距離移動させる移動手段を設けたことを特徴とする。
〔作  用〕
本発明においては、各振動子又はそれらのうちの所定数
の振動子を所定の遅延パターンで励振すると、それら振
動子の配列の方向に沿う面で超音波ビームをある点で集
束させることができる。この集束点(焦点)の位置は、
遅延パターンを変更することにより任意に選定すること
ができる。したがって、当該面と垂直な面における超音
波ビームの焦点が接合部と一致するように振動子群の位
置を調節しさえすれば接合部に点状の焦点を結ばせるこ
とができる。そして、一方の振動子群から超音波ビーム
を放射すると、この超音波ビームは横波モードで被検体
内を伝播し、接合部で反射して他方の振動子群の対応す
る振動子を励振し、これら振動子からはその励振の大き
さに比例した反射信号が出力される。
又、他の発明においては、移動手段により各振動子群を
同時に反対方向に同一距離移動させることができ、これ
により焦点の調節がさらに容易になる。
〔実施例〕
以下、本発明を図示の実施例に基づいて説明する。
第1図は本発明の実施例に係るアレイ探触子の構成概要
を示す斜視図である。図で、x、 y、  zは座標軸
を示す。1は伝達媒質である水、2は被検体、2a、2
bは被検体2を構成する2つの物体、Sは物体2a、2
bの接合部を示す。3Aはアレイ振動子であり、X軸方
向に配列された多数の振動子3A+ 〜3A、で構成さ
れる。3Bはアレイ振動子3Aと対向して配置された他
のアレイ振動子であり、X軸方向に配列された多数の振
動子3B1〜3B、、で構成される。4はアレイ振動子
3A、3Bより成るアレイ探触子を示す。5はアレイ振
動子3A、3Bの中間部に設置された遮・音板である。
各アレイ振動子3A、3Bは遮音板5に関して互いに対
称位置に配置され、かつ、それらから放射される超音波
ビーム6A、6Bが物体2aに入射したとき横波モード
となるように所定角度傾けて配置されている。アレイ振
動子3A。
3Bの各振動子は、Y−Z平面内において図示のように
弧状に形成されており、これにより、放射される超音波
ビームは集束性の超音波ビームとなり、各アレイ振動子
3A、3BのZ軸方向の位置を調節することにより接合
部Sの界面に沿う線F−F’上にY−Z平面内における
焦点を結ぶ。アレイ振動子3Aから放射された超音波ビ
ーム6Aは接合部Sで反射し、反射ビーム6Bとなって
アレイ振動子3Bに反射し、その各振動子3 B + 
〜3B、lを励振させることとなる。
ここで、アレイ振動子3AによるX−Z平面における超
音波ビーム6Aの集束について説明する。
第2図はアレイ振動子の一部の正面図である。
図で、3A、〜3Aqはアレイ振動子3Aの最初の9個
の振動子である。D、−D、は各振動子3A、〜3A、
に接続された遅延素子、pは各振動子3 A 1〜3A
9に入力されるパルスである。遅延素子り、、D、の遅
延時間(t19)は等しく設定されており、同じく、遅
延素子D2.DBの遅延時間(tzs) 、D3.D7
の遅延時間(t :17)、遅延素子D4.D6の遅延
時間(t 46)もそれぞれ等しく設定されている。そ
して、設定された各遅延時間の関係は、遅延素子Dsの
遅延時間をt5とすると次式の関係にある。
1、、< 128< 1ff、< 14.< 1.・・
・・・・・・・(1)今、各遅延素子D1〜D、の遅延
時間を、上記(1)式の関係を保持しながら所定の値に
設定してパルスpを人力すると、振動子3A1〜3Aq
から放射される超音波は上記設定された遅延時間にした
がって、振動子3Ax、3A、qから最も早く、又、振
動子Lasから最も遅く放射される。
このようにして放射された超音波は放射状に拡がって進
行するが、それら進行過程において各振動子の放射超音
波の振動の最大振幅がすべて合致する地点が生じる。第
2図でこの点が符号F、で示されている。点F1におけ
る超音波の大きさは他の点の超音波の大きさに比較して
這かに大きいので、恰も各振動子3AI〜3Aqからの
超音波が破線に示すように点F、に集束したのと同じ状
態となる。換言すれば、−列に配列した振動子からの超
音波放射に適切な遅延を与えてやれば、それらの超音波
をX−Z平面において点F1に集束したのと同様な状態
にすることができる。この点F。
が焦点である。さらに述べると、振動子3A、〜3A9
により、焦点F、で集束する破線で示すような超音波ビ
ーム6A、が出力されることになる。
(1)式の関係を保持しながら各遅延素子D1〜D、の
遅延時間を上記の遅延時間より小さく設定すれば、焦点
F、は一点鎖線(ビーム6A+’)で示すようにより長
い焦点F1′に移行する。したがって、各遅延素子り、
−D、の遅延時間を調節することにより、焦点の位置を
選択することが可能となり、これを被検体2の検査に適
用する場合、接合部Sの位置がどのように変化しても遅
延時間の調節により焦点をX−Z平面内でその接合部に
一致させることができる。
第3図はアレイ振動子3Aの全体構成図である。
図で3A、〜3Afiは第1図に示すものと同し振動子
である。各振動子3A+〜3A、、には、図示されてい
ないがそれぞれ第2図に示す遅延素子の出力が切換接続
されるようになっている。
図示の例では、まずm個のアレイ振動子3A。
〜3A、を選択し、それらから放射される超音波の遅延
時間を適切に設定することにより、前述のように超音波
をみかけ上1つの焦点に集める。この焦点が符号FI、
又、みかけ上の超音波ビームが符号6A、で示されてい
る。次に、振動子を1つずらして同じくm個の振動子3
Az〜3A−+に対して、前回の振動子3Al〜3A、
、に与えた遅延時間と同一のパターンの遅延時間を与え
る。
これにより、焦点F2を有する超音波ビーム6Azが生
じる(図示されていない)。以下、振動子を1つずつ順
に切換えてゆき、最後に振動子3An−so1〜3A、
を選択して、同じノ(ターンの遅延時間を与え、焦点F
 11−16”l 、超音波ビーム6A6−+m+1を
得る。このような手段により、結果的に番よアレイ探触
子3Aによって焦点F、〜F n−m。1までの超音波
による走査が実行されたことGこなる。このような走査
は電子的に高速をもって行なわれるので、電子走査と称
される。
第4図は第1図に示すアレイ振動子3A、3Bの制御装
置のブロック図である。図で、3A、3Bは第1図に示
すアレイ振動子、5は第1図に示す遮音板である。10
は繰返し周波発生器、INよ繰返し周波発生器10から
のパルスを入力し、所定数(第3図に示す場合m本)の
遅延線に所定の遅延パターンで出力を発生する遅延線回
路網である。
12はマトリクススイッチ回路網であり、所定数(m個
)の振動子を順次1つずつずらしながら選択する。13
は選択された振動子にパルスを与えるパルス発生回路で
ある。14はアレイ振動子3Bの各振動子に接続された
前置増幅器であり、被検体2からの反射超音波に比例し
た電気信号を増幅する。15は受信側マトリクススイッ
チ回路網であり、前述のマトリクススイッチ回路網12
と同様に所定数(m個)の振動子を順次1つずつずらし
ながら選択してゆく。16は受信側遅延線回路網であり
、受信側マトリクススイッチ回路M415からの所定数
(m個)の出力信号に対して前記遅延線回路網11と同
様の遅延を与え、これら所定数の出力信号が同時に出力
されるようにする。即ち、所定数の出力信号が加算され
ることになる。17は加算された信号を増幅する主増幅
器、18は接合部Sからの信号のみを通過させる信号選
別ゲート、19は信号選別ゲート18から出力される信
号を画像化するための画像化処理部、20は接合部Sの
状態を表示する表示部である。21はマトリクススイッ
チ回路網12および受信側マトリクススイッチ回路網1
5の切換えを制御するコントローラである。
次に、本実施例の動作を説明する。まず、アレイ探触子
3又は被検体2あるいはその両者を調節して超音波ビー
ム6Aおよび超音波ビーム6BがY−2面において接合
面Sを通る線F−F’上に集束して焦点を結ぶように両
者の位置決めを行なう。この状態における各超音波ビー
ム6A、6Bの被検体2への入射角度は、入射した超音
波ビームが横波モードで伝播する角度である。
次いで、遅延線回路網11に対して、X−Z平面内の超
音波ビームが線F−F’上に集束するように遅延時間を
設定する。この状態で繰返し周波発生器IOからパルス
信号が出力されると、この信号は遅延線回路網11の遅
延パターンに従って所定数の遅延線上に出力され、マト
リクススイッチ回路網12で選択されたアレイ振動子3
Aにおける各振動子3A1〜3A、に接続された各パル
ス発生回路13を励起し、当該遅延パターンでそれら各
振動子3A、〜3A、にパルスが与えられる。これによ
り各振動子3 A +〜3A、は励振せしめられて超音
波を発生し、これらは超音波ビーム6A+ とじて被検
体2に入射され、被検体2内を横波となって伝播し、接
合部Sの界面に到達し反射する。
この反射波は、超音波ビーム6A、と対称的な超音波ビ
ーム6B、(図示していない)となってアレイ振動子3
Bの各振動子3B、〜3B、に入射し、振動子3B、〜
3B、はそれぞれ入射した反射波の強さに比例した電気
信号を出力する。
これらの信号は前置増幅器14で増幅され、受信側マト
リクススイッチ回路′y415で選択された配列順(こ
の場合、振動子3B、〜3B、の配列順)で出力される
。そして、これら信号は受信側遅延線回路網16で遅延
線回路網11と同様に遅延を受け、受信側遅延線回路網
16から同時点で出力される。
したがって、受信側遅延線回路網16からの出力信号は
、振動子3B+〜3B、の出力信号の加算信号となる。
この加算信号は主増幅器17で増幅されて信号選別ゲー
ト18に入力される。信号選別ゲート18は、超音波ビ
ーム6A+およびその反射波6B1の経路において、接
合部Sから反射された信号の到達時間を計算し、その時
間帯の信号のみを通過させる回路である。これにより、
信号選別ゲー目8の出力はほぼ接合部Sの反射波信号の
みとなる。この信号は画像化処理部19で処理された後
、所定の表示形態で表示部20に表示される。
次いで、全(同様の動作により、焦点F2を有する超音
波ビーム6Azが放射され、その反射波がアレイ振動子
3Bの各振動子3B+ 〜3B、、。
により受信され、画像表示される。このようにして、接
合部Sの線F−F’上が電子走査され、焦点Fl−F7
−1゜1の反射波が画像表示される。線F−F’の電子
走査が終了すると、アレイ探触子4と被検体2が相対移
動せしめられ、線F−F’の次の線上において上記と同
じ手段により接合部Sの画像表示がなされる。かくして
、接合部Sの所定領域の反射波画像を得ることができ、
この画像に基づいて接合部Sの界面の接合状態の良否が
判断される。
なお、上記実施例の説明では、各振動子を弧状に形成す
ることによりY−Z平面内で超音波ビームを集束させる
ようにした例について説明したが、各振動子を平板とし
、凹部を有する音響レンズを用いて超音波ビームを集束
させるようにしてもよい(このような集束手段は、後述
する第5図に示す実施例に示される)。
このように、本実施例では、Y−Z平面内の焦点を接合
部界面に一致させ、X−Z平面の焦点をアレイ振動子の
遅延時間により自由に調節するようにしたので、被検体
が変更され、又は接合部が変化しても、超音波ビームの
点状の焦点を接合部界面に容易に一致させることができ
る。又、アレイ探触子により電子走査を行なうようにし
たので、接合部界面の検査を高速で行なうことができる
第5図は本発明の他の実施例に係るアレイ探触子の調整
機構の側面図である。図で、第1図に示す部分と同−又
は等価な部分には同一符号を付して説明を省略する。7
A、7Bは上面i水平に、下面を凹面に形成された音響
レンズである。アレイ振動子3A、3Bの各振動子はそ
れぞれ平板に形成され、音響レンズ7A、7Bの上面に
付着されている。音響レンズ7A、7Bにより集束性の
超音波ビーム6A、6Bが形成される。25は調整機構
を示し、フレーム板26、このフレーム板26の垂直壁
に可回動に装架された蝶棒27、この蝶棒27を回転さ
せるハンドル28、および蝶棒27に非回動に螺装され
かつ音響レンズ7A、7Bを支持する支持体29A、2
9Bにより構成されている。蝶棒27の螺旋ねじは、左
半部と右半分で逆方向に形成されている。30は調整機
構およびアレイ探触子を支持する支持棒である。
アレイ振動子3A、3Bは、実線で示されるように、被
検体である物体2a、2bの接合部界面にY−7面にお
ける焦点が一致せしめられた位置にある。この状態にお
いて検査すべき被検体が交換され、厚みの異なる物体2
a′、2b′より成る被検体(破線で示されている)の
接合部界面を検査する場合、ハンドル28を一方向に回
転すると、アレイ振動子3A、3B、音響レンズ7A、
7Bは破線で示されるように、同時に、互いに離れる方
向に等距離移動する。次に、被検体を載置する図示しな
いテーブルを下方に移動し、(又は調整機構25を上方
に移動し)超音波ビーム6A、6Bを破線で示すように
形成させ、物体2a’、2b’の接合部界面に新たな焦
点を一致させる。実際には、アレイ振動子3A、3B、
音響レンズ7A。
7Bの横方向の移動と、前述のテーブル(又は調整機構
25)の縦方向の移動とを交互に繰返しながら調節が行
なわれることになる。
このように、本実施例では、アレイ探触子を横方向(ア
レイ振動子の配列方向と垂直方向)に移動させる調整機
構を設け、両アレイ振動子を同時に等距離、逆方向に移
動させるようにしたので、さきの実施例の効果に加え、
Y−Z平面の焦点の調節を極めて容易に行なうことがで
きるという効果を奏する。
なお、上記各実施例の説明では、アレイ振動子により電
子走査を行なう例について説明したが、必ずしも電子走
査を行なう必要はなく、接合部の界面の所定点を、アレ
イ探触子と被検体との相対移動により検査するようにし
てもよい。この場合、アレイ振動子における配列振動子
数は1つの超音波ビームを形成する数のみでよいのは明
らかである。
〔発明の効果〕
以上述べたように、本発明では、探触子を、対称位置に
配置した2つの振動子群で構成し、各振動子より放射さ
れるy−z面内の焦点は探触子と被検体の位置の調節で
界面と一致させるようにし、一方、X−Z面内の焦点は
各振動子の励振の遅延パターンにより任意に調節できる
ようにしたので、被検体自身の交換や界面位置の変更が
あっても、超音波ビームの焦点を容易に界面に一致させ
ることができる。
又、対称に配置された2つの探触子間の距離を調節でき
るようにしたので、超音波ビームの焦点を更に容易に界
面に一致させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例に係るアレイ振動子の構成概要
を示す斜視図、第2図および第3図はアレイ振動子の動
作を説明する説明図、第4図は第1図に示すアレイ振動
子を制御する制′a装置のブロック図、第5図は本発明
の他の実施例に係るアレイ探触子の調整機構の側面図、
第6図(a)。 (b)は超音波ビームの焦点位置を説明する説明図であ
る。 2・・・被検体、3A、3B・・・アレイ振動子、3A
。 〜3A、、3B1〜3B、・・・振動子、4・・・アレ
イ探触子、6A、6B・・・超音波ビーム、?A、7B
・・・音響レンズ、25・・・調整機構、27・・・蝶
棒、S・・・接合部。 □−□、、−5 代理人 弁理士  武 顕次部 (外1名)□゛)、′
ツノ′ 第1図 ム2 S:接合部 第2図 第3図 A n−m 第4図 第5図 第6図

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)探触子からの超音波を、横波モードにより伝播す
    るように物体内に放射し、この物体内方に形成される界
    面の接合状態を検査する超音波検査装置において、複数
    の振動子の配列より成る振動子群を2つ当該配列の方向
    に沿う面に関して対称位置に配置して前記探触子を構成
    し、前記各振動子に印加される励振パルスを任意の遅延
    パターンで遅延させる遅延素子を設けるとともに、前記
    各振動子からの超音波を前記面と垂直な面で集束させる
    ようにしたことを特徴とする超音波検査装置。
  2. (2)請求項(1)において、前記各振動子は、前記垂
    直な面で超音波を集束させるように当該面内で弧状に形
    成されていることを特徴とする超音波検査装置。
  3. (3)請求項(1)において、前記各振動子は平板形状
    に形成され、かつ、凹面を有する音響レンズに付着され
    ていることを特徴とする超音波検査装置。
  4. (4)請求項(1)において、前記各振動子は、所定数
    ずつ、かつ、1つずつずらしながら同一の遅延パターン
    で励振されることを特徴とする超音波検査装置。
  5. (5)請求項(1)記載の超音波検査装置において、前
    記面および前記垂直な面の2つの面に垂直な面内で、前
    記配列の方向と垂直な方向に前記各振動子群を互いに逆
    方向に同一距離移動させる移動手段を設けたことを特徴
    とする超音波検査装置。
JP1090594A 1989-04-12 1989-04-12 超音波検査装置 Pending JPH02269962A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003057214A (ja) * 2001-08-10 2003-02-26 Nkk Corp 隅肉溶接部の超音波探傷方法およびその装置
JP2011247676A (ja) * 2010-05-25 2011-12-08 Toshiba Corp 超音波探傷装置
JP2012127812A (ja) * 2010-12-15 2012-07-05 Jfe Steel Corp 鋼片の品質評価方法及び装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003057214A (ja) * 2001-08-10 2003-02-26 Nkk Corp 隅肉溶接部の超音波探傷方法およびその装置
JP2011247676A (ja) * 2010-05-25 2011-12-08 Toshiba Corp 超音波探傷装置
JP2012127812A (ja) * 2010-12-15 2012-07-05 Jfe Steel Corp 鋼片の品質評価方法及び装置

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