JPH0264055A - 高誘電率磁器組成物及びセラミックコンデンサ - Google Patents
高誘電率磁器組成物及びセラミックコンデンサInfo
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- JPH0264055A JPH0264055A JP63214858A JP21485888A JPH0264055A JP H0264055 A JPH0264055 A JP H0264055A JP 63214858 A JP63214858 A JP 63214858A JP 21485888 A JP21485888 A JP 21485888A JP H0264055 A JPH0264055 A JP H0264055A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明は高誘電率磁器組成物に係り、’IIJこ寿命特
性に優れたpbを主成分とする高誘電率磁器組成物及び
セラミックコンデンサlこ関する。
性に優れたpbを主成分とする高誘電率磁器組成物及び
セラミックコンデンサlこ関する。
(従来の技術)
従来から各種の誘電体材料が研究されている。
従来から知られている高誘電率磁器組成物としてチタン
酸バリウムをベースとして、これに錫酸鉛、ジルコン酸
鉛、チタン酸鉛等を固溶したものがある。*かに誘電率
の高いものを得ることはできるが、誘電率が高くなると
誘電率集度係数(T。
酸バリウムをベースとして、これに錫酸鉛、ジルコン酸
鉛、チタン酸鉛等を固溶したものがある。*かに誘電率
の高いものを得ることはできるが、誘電率が高くなると
誘電率集度係数(T。
C,C,)が大きくなり、また、バイアス電界依存性も
大きくなりてしまうという問題がありた。さらに、チタ
ン酸バリウム系の材料の焼成集度は1300〜1400
℃程度と高畠であり、電極材料として必然的に白金、パ
ラジウム等の高区で耐えつる高師な材料を用いなければ
ならず、コスト高の原因となる。
大きくなりてしまうという問題がありた。さらに、チタ
ン酸バリウム系の材料の焼成集度は1300〜1400
℃程度と高畠であり、電極材料として必然的に白金、パ
ラジウム等の高区で耐えつる高師な材料を用いなければ
ならず、コスト高の原因となる。
このチタン酸バリウム系の問題点を解消すべく、各種組
成物の研究がなされている。例えば鉄ニオブ酸鉛を主体
としたもの(特開昭57−57204号)、マグネシウ
ム・ニオブ酸鉛を主体としたもの(特開昭55−517
58)、マグネシウム番タングステン酸鉛を主体とした
もの(特開昭52−21699号)等がある。鉄ニオブ
酸鉛を主体としたものは、 CR筐の焼成@度ζこよる
変化が大きく、特に高見におけるCR[の低下が大きい
という問題点がある。
成物の研究がなされている。例えば鉄ニオブ酸鉛を主体
としたもの(特開昭57−57204号)、マグネシウ
ム・ニオブ酸鉛を主体としたもの(特開昭55−517
58)、マグネシウム番タングステン酸鉛を主体とした
もの(特開昭52−21699号)等がある。鉄ニオブ
酸鉛を主体としたものは、 CR筐の焼成@度ζこよる
変化が大きく、特に高見におけるCR[の低下が大きい
という問題点がある。
マグネシウム・ニオブ酸鉛を主体としたものは焼成温度
が比較的高く、また、マグネシウム・タングステン酸鉛
を主体としたものは、CR[が大きいと誘電率が小さく
、誘電率が大きいとCRf[が小さいという問題点が有
りた。さらにこれらの材料のT、C,C,はチタン酸バ
リウム系より優れてはいるものの十分ではない。
が比較的高く、また、マグネシウム・タングステン酸鉛
を主体としたものは、CR[が大きいと誘電率が小さく
、誘電率が大きいとCRf[が小さいという問題点が有
りた。さらにこれらの材料のT、C,C,はチタン酸バ
リウム系より優れてはいるものの十分ではない。
さらに、マグネシウムニオブ酸鉛とチタン酸鉛との固溶
体で必要【こ応じ鉛の一部をバリウム、ストロンチウム
、カルシウムで置換した材料についても研究されている
(特開昭55−121959号)。
体で必要【こ応じ鉛の一部をバリウム、ストロンチウム
、カルシウムで置換した材料についても研究されている
(特開昭55−121959号)。
しかしながらこの材料のT、C,C,は−25〜85℃
で最良のものでも−59,8%であり、十分とは言えな
い。さらに、コンデンサ材料として最も重要なCR[f
こついては述べられず、コンデンサ材料としての有用性
は明らかではない。
で最良のものでも−59,8%であり、十分とは言えな
い。さらに、コンデンサ材料として最も重要なCR[f
こついては述べられず、コンデンサ材料としての有用性
は明らかではない。
また、特開昭57−25607号Iこはマグネシウム・
ニオブ酸鉛と亜鉛ニオブ酸鉛との固II体の材料lこつ
いても研究されている。しかしながらCR[、及びT、
C,C,については述べられておらず、コンデ/す材料
としての有用性は明らかではない。
ニオブ酸鉛と亜鉛ニオブ酸鉛との固II体の材料lこつ
いても研究されている。しかしながらCR[、及びT、
C,C,については述べられておらず、コンデ/す材料
としての有用性は明らかではない。
これらの問題点を考慮して誘電率が大きく、かつその温
度係数の少さい高誘電率磁器組成物が発明されている(
特開昭6l−155245)。
度係数の少さい高誘電率磁器組成物が発明されている(
特開昭6l−155245)。
コンデンサ材料には誘電率、T、C,C,、誘電損失、
誘電バイアス電界依存性、各量抵抗積等の優れた電気的
特性が要求されるが、さらlζコンデンサの信頼性、つ
まり寿命特性はそれ以上に重要である。しかしながら、
優れた電気的特性を有しかつ過酷な条件下(高へ、高湿
、一定電圧印加)でも特性の劣化の少ない高誘を率Mi
器組成物はまだ得られていない。
誘電バイアス電界依存性、各量抵抗積等の優れた電気的
特性が要求されるが、さらlζコンデンサの信頼性、つ
まり寿命特性はそれ以上に重要である。しかしながら、
優れた電気的特性を有しかつ過酷な条件下(高へ、高湿
、一定電圧印加)でも特性の劣化の少ない高誘を率Mi
器組成物はまだ得られていない。
(発明が解決しようとする課題)
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、寿命特性
に優れ信頼性の優れた高誘電率磁器組成物及びセラミッ
クコンデンサを提供することを目的とする。
に優れ信頼性の優れた高誘電率磁器組成物及びセラミッ
クコンデンサを提供することを目的とする。
本発明はpbを構成元素としてき有するべaブスカイト
系高誘電率磁器組成物に、イツトリウム(ト)をY、O
,に換算して重量比で100乃至50000ppm添7
1111オMすることを特徴とした高誘電率磁器組成物
であり、これを誘電体層として用いること番こより優れ
たセラミックコンデンサを設けることができる。
系高誘電率磁器組成物に、イツトリウム(ト)をY、O
,に換算して重量比で100乃至50000ppm添7
1111オMすることを特徴とした高誘電率磁器組成物
であり、これを誘電体層として用いること番こより優れ
たセラミックコンデンサを設けることができる。
イv トIJウムをY、t)、に換算して重量比で10
0≦Y、0.≦50000ppmfS加すると高ユ、高
湿状B4番こ2いても常時電圧を印7JOされた誘’t
it本の電気的特性(特に絶縁抵抗)はほとんど劣化し
ない。
0≦Y、0.≦50000ppmfS加すると高ユ、高
湿状B4番こ2いても常時電圧を印7JOされた誘’t
it本の電気的特性(特に絶縁抵抗)はほとんど劣化し
ない。
イツトリウムはlooppm以上の添710で効果をあ
られすが、特lこ500ppm以上の1/A7JOで優
れた効果を奏する。50000ppmを超えるとかえり
て寿命特性を劣化させる。
られすが、特lこ500ppm以上の1/A7JOで優
れた効果を奏する。50000ppmを超えるとかえり
て寿命特性を劣化させる。
この原因は足かではないが、Pbを構成元素として含む
ペロブスカイト系高誘電率磁器組成物にはy、o、が固
溶しに<<、個々の粒子の3重点等にY!0.が局在す
るためと考えられる。従りてpbをきむべaブスカイト
系の高誘電率磁器組成物であれば特に限定されるもので
はない。pbの存在量としては、pbop算で30〜7
0wtが好ましく、この範囲で誘電率が高くなる。
ペロブスカイト系高誘電率磁器組成物にはy、o、が固
溶しに<<、個々の粒子の3重点等にY!0.が局在す
るためと考えられる。従りてpbをきむべaブスカイト
系の高誘電率磁器組成物であれば特に限定されるもので
はない。pbの存在量としては、pbop算で30〜7
0wtが好ましく、この範囲で誘電率が高くなる。
このpbを富むべaブスカイト系高誘電率磁器組成物と
しては、Pb (Mg+7.Nb*7s) o、 、
Pb (Zn、、。
しては、Pb (Mg+7.Nb*7s) o、 、
Pb (Zn、、。
Nb情) Us * P b T L Os * P
b ZrOs e P b (F el、Nk)y7.
)On * P b(F el/Fl/、 ) Os
* P b (Mg +4’M’+4. ) Os P
b(N i +、、N b +7.) Os等を基本
成分とするものが挙げられる。当然これらの複合系も挙
げられ、さらにMnOs + COs Os + L
atOm * S t)瀧Os 、 N iOI Mg
O*ZrO@等の各種添加物を含んでいても良いこと
は言うまでもない。
b ZrOs e P b (F el、Nk)y7.
)On * P b(F el/Fl/、 ) Os
* P b (Mg +4’M’+4. ) Os P
b(N i +、、N b +7.) Os等を基本
成分とするものが挙げられる。当然これらの複合系も挙
げられ、さらにMnOs + COs Os + L
atOm * S t)瀧Os 、 N iOI Mg
O*ZrO@等の各種添加物を含んでいても良いこと
は言うまでもない。
W 4CP b(Mg14Nb、/@)o、 I P
b (Z nt、、N 51m)Osのうち少なくと
も一種を50モル饅以上ff!する組成物にイッ) I
JウムをY、0.に換算して100≦Y、03≦500
00ppm添加することにより高い誘!皐を有しかつ寿
命特性の優れた材料が得られる。
b (Z nt、、N 51m)Osのうち少なくと
も一種を50モル饅以上ff!する組成物にイッ) I
JウムをY、0.に換算して100≦Y、03≦500
00ppm添加することにより高い誘!皐を有しかつ寿
命特性の優れた材料が得られる。
CCl) 1111合、pb原子の1〜35モルチをB
a 、 S r eC&のうち少なくともINで置換
する°ことにより高い誘電率と絶縁抵抗を一層高めるこ
とができる。
a 、 S r eC&のうち少なくともINで置換
する°ことにより高い誘電率と絶縁抵抗を一層高めるこ
とができる。
特に好ましい態様としては、一般式
%式%)
で表わしたとき、それぞれの成分を頂点とする三元図(
第1図)の a (x=0.50. y =0.OO,z=0.50
)b (x=1.oO,y=Q、QQ、 z=o、oo
)(! (X=0.20. y=0.80. z=0.
oo)d (x−70,05、y=0.90 、 z=
o、o 5 )で示される各点を結ぶ線内の基本組成(
ただし、abを4ぶ15+上は除く)のPbの一部を1
〜35mol%のBa及びSrの少なくとも一種で置換
した基本組成にイvトリウムω元累をYlO,1こ換算
して基本組成の取量に対して100≦Y、 O,≦50
000pprn添加した事を!!徴とする高誘IIL率
磁器組成物が挙げられる。
第1図)の a (x=0.50. y =0.OO,z=0.50
)b (x=1.oO,y=Q、QQ、 z=o、oo
)(! (X=0.20. y=0.80. z=0.
oo)d (x−70,05、y=0.90 、 z=
o、o 5 )で示される各点を結ぶ線内の基本組成(
ただし、abを4ぶ15+上は除く)のPbの一部を1
〜35mol%のBa及びSrの少なくとも一種で置換
した基本組成にイvトリウムω元累をYlO,1こ換算
して基本組成の取量に対して100≦Y、 O,≦50
000pprn添加した事を!!徴とする高誘IIL率
磁器組成物が挙げられる。
本発明に2いて基本組成を上記のようにa、b。
c、dの各点を結ぶ、線内としたのはこの範囲をはずれ
ると@ Pfa dの外側では焼成温度が1100℃以
上と高くなりでしまい、また絶縁抵抗も低下し高いCR
[を得ることができない。
ると@ Pfa dの外側では焼成温度が1100℃以
上と高くなりでしまい、また絶縁抵抗も低下し高いCR
[を得ることができない。
また、線分cdの外側では、キュリー温度がもともと常
温付近にあるため、Me酸成分よる置換で誘成遺が大幅
に低@側に移動して、常温における誘t=iが大幅に低
下してしまう。また、d。
温付近にあるため、Me酸成分よる置換で誘成遺が大幅
に低@側に移動して、常温における誘t=iが大幅に低
下してしまう。また、d。
(x=0.10 、 y=0.80 、 z=o、I
O)としたとき、線%cdlの内側がより好ましい。
O)としたとき、線%cdlの内側がより好ましい。
またマグネシウム・ニオブa tGは少昔の添加・ぎ有
でその効果を発揮するが実用上は1mol%以上まMす
ることが囁ましい。
でその効果を発揮するが実用上は1mol%以上まMす
ることが囁ましい。
また、CR[を考慮すると、亜鉛・ニオブ酸鉛を15m
01%以上す肩することが好ましく、さらには、20m
ol%以上富有することがより好ましい。20mol%
以上さ■する時は、誘電損失も特に小さい。
01%以上す肩することが好ましく、さらには、20m
ol%以上富有することがより好ましい。20mol%
以上さ■する時は、誘電損失も特に小さい。
ま1; (el (x=0.40 、 y=Q、60
@ z=0.00) 、 dB(x=o、15.y=0
.70.z=0.15)、d、(x=0.20゜y=0
.60 、 z=0.20 ) 、 C9(x=0.4
5 、y=0.55. z=o、oo)としたとき、線
分el a、の外側では、緻密な磁器を得るのが比較的
困難である。
@ z=0.00) 、 dB(x=o、15.y=0
.70.z=0.15)、d、(x=0.20゜y=0
.60 、 z=0.20 ) 、 C9(x=0.4
5 、y=0.55. z=o、oo)としたとき、線
分el a、の外側では、緻密な磁器を得るのが比較的
困難である。
このように、CR[、T、C,C,、焼結性等を考慮す
ると線分(el d、の内側、¥1#こ線f+c@r1
gさらには線分cHd島の内側が好ましい。しかしなが
ら誘電率等を考慮した場合には、この様な線分で区切ら
れた組成系でも十分な特性を有している。
ると線分(el d、の内側、¥1#こ線f+c@r1
gさらには線分cHd島の内側が好ましい。しかしなが
ら誘電率等を考慮した場合には、この様な線分で区切ら
れた組成系でも十分な特性を有している。
さらにはy :20.01 、 z、=0.01とPb
(Mgシ、Nbに)0、、PbTl0.が存在する元素
の方が好ましい。
(Mgシ、Nbに)0、、PbTl0.が存在する元素
の方が好ましい。
一方、Ba、Srは上記した一般式のペロブスカイト構
造を形成するため番こ必要な元素であり、1molチ以
下だと、−パイ・σクロア構造が混在し、高い誘電率お
よび高い絶縁抵抗を示さない、35mol%以上では誘
電率が1000程度以下と小さくなりてしまりたりして
しまう。よりて、Me酸成分の置換量は、(pb、αM
eα)と表わしたとき0.01(α(0,35 とする。
造を形成するため番こ必要な元素であり、1molチ以
下だと、−パイ・σクロア構造が混在し、高い誘電率お
よび高い絶縁抵抗を示さない、35mol%以上では誘
電率が1000程度以下と小さくなりてしまりたりして
しまう。よりて、Me酸成分の置換量は、(pb、αM
eα)と表わしたとき0.01(α(0,35 とする。
その他
x p b (Z n +/、N b”/5)01
−)’P b (Mgt、、Nby、) o、 −1
pb (N1t7.Nl)*7.) Osで表わしたと
き、それぞれの成分を頂点とする三゛元図の a (x =0.50 、 y=o、o O、ヱ=0.
50)b (x−1,00、y=o、o O、z−0,
00)c (X=O,I O、y=0.90 、 z=
o、oo )で示される各点を結ぶ線丙の組成(ただし
、abCを結ぶ線分上は除く)のpbの一部を1〜30
mol%のBm及びSrの少なくとも一種で置換したも
の、 (1−x)(Pbt−a−bBaasrb)((Znl
/、Nb!/、)1−c−d(Mgt7.Nb57.)
cTid)Om・xBaTloa で表わしたとき、 0 ≦ a ≦ 0.35 0 ≦ b ≦ 0.35 0.01 ≦ a + b ≦ 0.35Q
(c ≦ 0.9 Q(d ≦ 0.5 0.3 ≦ X ≦ 0.5 を満たすもの、 x 11Pb (ZnysNbz) o、 −y @
pb (Mg%Nb[) Os ’z”PbTiol で表わしたとき、それぞれの成分を頂点とする三元図の a (x=0.60 、 y=0.40 、 z=0.
o O)b (x=0.60 、 y=0.05 、
z=0.35 )c (x=0.45 、 y=o、o
5 、 z=0.50 )d (x =0.01 、
y=0.49 、 z =0.50 )e (x=0
.01 、 y=0.85 、 z =O,l 4 )
f (x=0.15 、 y =0.85 、 z=0
.o O)で示される各点を結ぶ線内の組成のpbの一
部を2〜30mol%のCaで置換したもの等が挙げら
れる。
−)’P b (Mgt、、Nby、) o、 −1
pb (N1t7.Nl)*7.) Osで表わしたと
き、それぞれの成分を頂点とする三゛元図の a (x =0.50 、 y=o、o O、ヱ=0.
50)b (x−1,00、y=o、o O、z−0,
00)c (X=O,I O、y=0.90 、 z=
o、oo )で示される各点を結ぶ線丙の組成(ただし
、abCを結ぶ線分上は除く)のpbの一部を1〜30
mol%のBm及びSrの少なくとも一種で置換したも
の、 (1−x)(Pbt−a−bBaasrb)((Znl
/、Nb!/、)1−c−d(Mgt7.Nb57.)
cTid)Om・xBaTloa で表わしたとき、 0 ≦ a ≦ 0.35 0 ≦ b ≦ 0.35 0.01 ≦ a + b ≦ 0.35Q
(c ≦ 0.9 Q(d ≦ 0.5 0.3 ≦ X ≦ 0.5 を満たすもの、 x 11Pb (ZnysNbz) o、 −y @
pb (Mg%Nb[) Os ’z”PbTiol で表わしたとき、それぞれの成分を頂点とする三元図の a (x=0.60 、 y=0.40 、 z=0.
o O)b (x=0.60 、 y=0.05 、
z=0.35 )c (x=0.45 、 y=o、o
5 、 z=0.50 )d (x =0.01 、
y=0.49 、 z =0.50 )e (x=0
.01 、 y=0.85 、 z =O,l 4 )
f (x=0.15 、 y =0.85 、 z=0
.o O)で示される各点を結ぶ線内の組成のpbの一
部を2〜30mol%のCaで置換したもの等が挙げら
れる。
積層タイプの素子を製造する場会は、前述の原料粉末ま
たは混會粉砕後の粉末にバインダー、溶封等をvOえス
ラリー化して、グリーンシートを形成しこのグリーンシ
ート上に内部重態を印刷した後、所定の枚数を積層・圧
着し、焼成することにより製造する。この時、本発明の
誘電体材料は低己で焼結ができるため、内部電極材料と
して例えばAg主体(Ag80〜50チ、 Pb 20
〜50%など)の安価な材料を用いることができる。
たは混會粉砕後の粉末にバインダー、溶封等をvOえス
ラリー化して、グリーンシートを形成しこのグリーンシ
ート上に内部重態を印刷した後、所定の枚数を積層・圧
着し、焼成することにより製造する。この時、本発明の
誘電体材料は低己で焼結ができるため、内部電極材料と
して例えばAg主体(Ag80〜50チ、 Pb 20
〜50%など)の安価な材料を用いることができる。
また、このように低置で焼成が可能であることから、回
路基板上等に印刷e焼成する厚膜誘電体ペーストの材料
としても有効である。
路基板上等に印刷e焼成する厚膜誘電体ペーストの材料
としても有効である。
この様な本発明d器組成物は、高誘電率かつ、その@度
特注が良好である。また、CR[も大きく、特に高直で
も十分な(直を有し、高邑での信頼性に優れたセラきツ
クコンデンテを得ることができる。
特注が良好である。また、CR[も大きく、特に高直で
も十分な(直を有し、高邑での信頼性に優れたセラきツ
クコンデンテを得ることができる。
さらに誘電率バイアス電界依存性も優れており、2kV
/mmでも10%以下程度の材料を得ることもできる。
/mmでも10%以下程度の材料を得ることもできる。
したがりて%MILのBX復性や高圧用の材料として有
効である。またI鑞損失が小さく、交流用、f:16闇
波用としても有効である。°さらに前述のととく誘電率
のに度特性に優れているため、電歪素子へ応用した場曾
でも変位量の直置変化の小さいものを得ることができる
。
効である。またI鑞損失が小さく、交流用、f:16闇
波用としても有効である。°さらに前述のととく誘電率
のに度特性に優れているため、電歪素子へ応用した場曾
でも変位量の直置変化の小さいものを得ることができる
。
(実施例)
以下lこ本発明の詳細な説明する。
実施例−1
fil原料としてpb、Ba、sr、Zn、NbeYe
Fe、W、Ti、Mg等の酸化物等の出発原料を用いて
所望の組成になるようにglltt、、た侵、ボールミ
ル等で混合し、700〜850℃で仮焼する0次いでこ
の仮焼体をボールミル等で粉砕し乾燥の浸、バインダー
28口え造粒し、プレスして直径17mm。
Fe、W、Ti、Mg等の酸化物等の出発原料を用いて
所望の組成になるようにglltt、、た侵、ボールミ
ル等で混合し、700〜850℃で仮焼する0次いでこ
の仮焼体をボールミル等で粉砕し乾燥の浸、バインダー
28口え造粒し、プレスして直径17mm。
厚さ約2 m mの円板状素体を形成した。混せ、粉砕
用のボールは、不純物の混入を防止するため、部分安定
化ジルコニアボール等の硬度が大きく、かつ靭性の高い
ボールを用いることが好ましい。
用のボールは、不純物の混入を防止するため、部分安定
化ジルコニアボール等の硬度が大きく、かつ靭性の高い
ボールを用いることが好ましい。
この具体を空気中980〜1080℃、2時間の条件で
焼結し、両面に銀重態を焼付けた。その後100V(7
)fil圧を2分間印カロした後、絶縁抵抗計を用いて
25°Cにて絶縁抵抗を測定した。寿命試験は55℃、
95チRHの恒l恒湿漕中に素子を保持し、100V印
7JOL/た。200時間経過後、素子を取り出し、民
面の水分を取り除き、室直に−昼夜装置した後、再び2
5℃において絶縁抵抗を測定した。
焼結し、両面に銀重態を焼付けた。その後100V(7
)fil圧を2分間印カロした後、絶縁抵抗計を用いて
25°Cにて絶縁抵抗を測定した。寿命試験は55℃、
95チRHの恒l恒湿漕中に素子を保持し、100V印
7JOL/た。200時間経過後、素子を取り出し、民
面の水分を取り除き、室直に−昼夜装置した後、再び2
5℃において絶縁抵抗を測定した。
容量はl KHz e l Vrms、 25℃の条件
でデジタルLCRメーターによる測定籠であり、この直
から誘I!L率を求めた。容量抵抗積CRは25℃での
(訪1!を率)×(絶縁抵抗)×(真空の誘電率)から
求めた。
でデジタルLCRメーターによる測定籠であり、この直
から誘I!L率を求めた。容量抵抗積CRは25℃での
(訪1!を率)×(絶縁抵抗)×(真空の誘電率)から
求めた。
第1表にはCRの初期籠と200時間の寿命試験袋のC
RI直を示す。第1表から明らかなように本発明の磁器
組成物は高層、高湿かつ電圧印υ口状因においても各量
抵抗積の劣化が少なく、信頼性に優れていることがわか
る。
RI直を示す。第1表から明らかなように本発明の磁器
組成物は高層、高湿かつ電圧印υ口状因においても各量
抵抗積の劣化が少なく、信頼性に優れていることがわか
る。
(以下余白)
実施例−2
第2表に示す組成の焼結体を実tIA例−1と同様に作
成し、各特性を測定した。誘電損失、容量は、I KH
z、IVrms 、25℃の条件でのデジタルLCRメ
ーターによる測足儂であり、この直から誘1率を算出し
た。また、絶縁抵抗は、100Vの電圧を2分間印加し
た後、絶縁抵抗計を用いて測定した儂から算出した。容
量抵抗積は、25℃での(訪電率)X(絶縁抵抗)×(
真空の誘゛鑞率)から求めた。
成し、各特性を測定した。誘電損失、容量は、I KH
z、IVrms 、25℃の条件でのデジタルLCRメ
ーターによる測足儂であり、この直から誘1率を算出し
た。また、絶縁抵抗は、100Vの電圧を2分間印加し
た後、絶縁抵抗計を用いて測定した儂から算出した。容
量抵抗積は、25℃での(訪電率)X(絶縁抵抗)×(
真空の誘゛鑞率)から求めた。
寿命試験は、55℃、95%RHの恒は恒湿槽中に素子
を保持し、100V印加した。
を保持し、100V印加した。
200時間経過後、素子を暇り出し表面の水分を増り除
き室昌に一昼夜放置した後、容量、誘電損失および絶縁
抵抗を測定した。
き室昌に一昼夜放置した後、容量、誘電損失および絶縁
抵抗を測定した。
その結果を第2表に示す。第2表から明らかなように本
発明の磁器組成物は高11高湿かつ或圧印加状心におい
ても絶縁抵抗の劣化が少なく、信頼性に優れていること
がわかる。
発明の磁器組成物は高11高湿かつ或圧印加状心におい
ても絶縁抵抗の劣化が少なく、信頼性に優れていること
がわかる。
〔1明の効果〕
以上説明したよう1こ、本発明によれば、信頼性に優れ
かつ高誘電率でかつ1度特性、バイアス特性にも優れた
高1¥I電率i器組成物を得ることができる。特に、こ
の様な各種・特性に優れた磁器を低・1焼成で得ること
ができるため、積層セラミックコンデンサ、積層型セラ
ミック変位発生素子等の積1個タイプのセラミック素子
への応用に適している。
かつ高誘電率でかつ1度特性、バイアス特性にも優れた
高1¥I電率i器組成物を得ることができる。特に、こ
の様な各種・特性に優れた磁器を低・1焼成で得ること
ができるため、積層セラミックコンデンサ、積層型セラ
ミック変位発生素子等の積1個タイプのセラミック素子
への応用に適している。
第1図は本発明を示す組成図。
代理人 弁理士 則 近 vl 右同
松
山
光
之
Pb丁103
Claims (4)
- (1)Pbを構成元素として含有するペロブスカイト系
高誘電率磁器組成物に、イツトリウム(Y)をY_2O
_3に換算して重量比で100乃至50000ppm添
加含有することを特徴とした高誘電率磁器組成物。 - (2)前記ペロブスカイト系高誘電率磁器組成物は、P
b(Mg_1_/_3Nb_2_/_3)O_3及びP
b(Zn_1_/_3Nb_2_/_3)O_3の少な
くとも一種を50mol%以上含有し、Pbの1〜35
mol%をBa,Sr,Caの少なくとも一種で置換し
たものであることを特徴とする請求項1記載の高誘電率
磁器組成物。 - (3)前記ペロブスカイト系高誘電率磁器組成物は一般
式 xPb(Zn_1_/_3Nb_2_/_3)O_3−
yPb(Mg_1_/_3Nb_2_/_3)O_3−
zPbTiO_3で表わしたとき、それぞれの成分を頂
点とする三元図の a(x=0.50,y=0.00,z=0.50)b(
x=1.00,y=0.00,z=0.00)c(x=
0.20,y=0.80,z=0.00)d(x=0.
05,y=0.90,z=0.05)で示される各点を
結ぶ線内の基本組成(ただし、abを結ぶ線分上は除く
)のPbの一部を1〜35mol%のBa及びSrの少
なくとも一種で置換したものであることを特徴とする請
求項1記載の高誘電率磁器組成物。 - (4)請求項1,2又は3記載の高誘電率磁器組成物か
らなる誘電体層を有するセラミツクコンデンサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63214858A JP2660010B2 (ja) | 1988-08-31 | 1988-08-31 | 高誘電率磁器組成物及びセラミックコンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63214858A JP2660010B2 (ja) | 1988-08-31 | 1988-08-31 | 高誘電率磁器組成物及びセラミックコンデンサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0264055A true JPH0264055A (ja) | 1990-03-05 |
JP2660010B2 JP2660010B2 (ja) | 1997-10-08 |
Family
ID=16662720
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63214858A Expired - Lifetime JP2660010B2 (ja) | 1988-08-31 | 1988-08-31 | 高誘電率磁器組成物及びセラミックコンデンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2660010B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04108655A (ja) * | 1990-08-28 | 1992-04-09 | Nec Corp | 磁器組成物 |
JPH04243952A (ja) * | 1991-01-31 | 1992-09-01 | Nec Corp | 磁器組成物 |
US5357839A (en) * | 1990-07-12 | 1994-10-25 | Albany International Corp. | Solid braid structure |
US5385077A (en) * | 1990-05-11 | 1995-01-31 | Murata Kikai Kabushiki Kaisha | Braid and braiding method |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56160372A (en) * | 1980-05-08 | 1981-12-10 | Nippon Electric Co | High dielectric constant ceramic composition |
JPS6355813A (ja) * | 1986-08-27 | 1988-03-10 | 株式会社村田製作所 | 誘電体磁器組成物 |
-
1988
- 1988-08-31 JP JP63214858A patent/JP2660010B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56160372A (en) * | 1980-05-08 | 1981-12-10 | Nippon Electric Co | High dielectric constant ceramic composition |
JPS6355813A (ja) * | 1986-08-27 | 1988-03-10 | 株式会社村田製作所 | 誘電体磁器組成物 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5385077A (en) * | 1990-05-11 | 1995-01-31 | Murata Kikai Kabushiki Kaisha | Braid and braiding method |
US5357839A (en) * | 1990-07-12 | 1994-10-25 | Albany International Corp. | Solid braid structure |
JPH04108655A (ja) * | 1990-08-28 | 1992-04-09 | Nec Corp | 磁器組成物 |
JPH04243952A (ja) * | 1991-01-31 | 1992-09-01 | Nec Corp | 磁器組成物 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2660010B2 (ja) | 1997-10-08 |
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Legal Events
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