JPH0260112B2 - - Google Patents
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- JPH0260112B2 JPH0260112B2 JP59007772A JP777284A JPH0260112B2 JP H0260112 B2 JPH0260112 B2 JP H0260112B2 JP 59007772 A JP59007772 A JP 59007772A JP 777284 A JP777284 A JP 777284A JP H0260112 B2 JPH0260112 B2 JP H0260112B2
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Landscapes
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(技術分野)
本発明はブルーミングを効果的に抑制し得ると
共にインターレース効果の得られる撮像装置に関
する。
共にインターレース効果の得られる撮像装置に関
する。
(従来技術)
従来特開昭56−138371号公報に示される如く
CCD等の固体イメージセンサにおいてブルーミ
ング防止の為に、受光面内にオーバー・フロー・
ドレインを設ける代わりに表面再結合を利用して
過剰キヤリアを消滅させるものが考えられてい
る。
CCD等の固体イメージセンサにおいてブルーミ
ング防止の為に、受光面内にオーバー・フロー・
ドレインを設ける代わりに表面再結合を利用して
過剰キヤリアを消滅させるものが考えられてい
る。
この方法によるものでは、受光面内の開口率を
犠牲にする事がないので感度が高く、又集積度を
向上させる事ができるので水平解像度がアツプす
る、等の利点を有する。
犠牲にする事がないので感度が高く、又集積度を
向上させる事ができるので水平解像度がアツプす
る、等の利点を有する。
第1図〜第3図はこのような表面再結合による
ブルーミング防止方法について説明する為の図
で、第1図は一般的なフレーム・トランスフアー
型CCDの正面図である。
ブルーミング防止方法について説明する為の図
で、第1図は一般的なフレーム・トランスフアー
型CCDの正面図である。
図中1は受光部で、感光性を有する複数の垂直
転送レジスタから成る。
転送レジスタから成る。
又、2は蓄積部で、遮光された複数の垂直転送
レジスタから成る。
レジスタから成る。
3は水平転送レジスタであつて、蓄積部2の各
垂直転送レジスタ内の情報を同時に1ビツトシフ
トする事によりこの水平転送レジスタに取り込
み、次いでレジスタ3を水平転送動作させる事に
より出力アンプ4からビデオ信号を得る事ができ
る。
垂直転送レジスタ内の情報を同時に1ビツトシフ
トする事によりこの水平転送レジスタに取り込
み、次いでレジスタ3を水平転送動作させる事に
より出力アンプ4からビデオ信号を得る事ができ
る。
一般に、受光部1の各垂直転送レジスタ内で形
成された情報は標準テレビジヨン方式における垂
直ブランキング期間内に、蓄積部2に垂直転送さ
れ、次の垂直走査期間内に水平転送レジスタ3よ
り順次1行ずつ読み出される。
成された情報は標準テレビジヨン方式における垂
直ブランキング期間内に、蓄積部2に垂直転送さ
れ、次の垂直走査期間内に水平転送レジスタ3よ
り順次1行ずつ読み出される。
尚、ここで受光部1、蓄積部2、水平転送レジ
スタ3は夫々2相駆動されるものとし、夫々の転
送電極P1,P2,P3,P4,P5,P6とし、その転送
クロツクを(φP1,φP2),(φP3,φP4),(φP5,
φP6)とする。
スタ3は夫々2相駆動されるものとし、夫々の転
送電極P1,P2,P3,P4,P5,P6とし、その転送
クロツクを(φP1,φP2),(φP3,φP4),(φP5,
φP6)とする。
第2図はこのような転送電極P1〜P6下のポテ
ンシヤル・プロフイールを示す図であつて、例え
ばP型シリコン基板6に絶縁層5を介して設けら
れた各電極下には、イオン注入等により電子から
見てポテンシヤルの低い部分と高い部分とが形成
されており、例えば電極P2,P4,P6にローレベ
ルの電圧−V1を印加し、電極P1,P3,P5にハイ
レベルの電圧V2を印加した時には、図中実線の
ようなポテンシヤルが形成される。又、電極P1,
P3,P5にローレベル電圧V1を印加し、電極P2,
P4,P6にハイレベル電圧V2を印加した場合には
図中破線のようなポテンシヤルが形成される。
ンシヤル・プロフイールを示す図であつて、例え
ばP型シリコン基板6に絶縁層5を介して設けら
れた各電極下には、イオン注入等により電子から
見てポテンシヤルの低い部分と高い部分とが形成
されており、例えば電極P2,P4,P6にローレベ
ルの電圧−V1を印加し、電極P1,P3,P5にハイ
レベルの電圧V2を印加した時には、図中実線の
ようなポテンシヤルが形成される。又、電極P1,
P3,P5にローレベル電圧V1を印加し、電極P2,
P4,P6にハイレベル電圧V2を印加した場合には
図中破線のようなポテンシヤルが形成される。
従つて電極P1,P3,P5と電極P2,P4,P6とに
交番電圧を互いに逆位相で印加する事によりキヤ
リアは一方向(図では右方向)に順次転送されて
いく。
交番電圧を互いに逆位相で印加する事によりキヤ
リアは一方向(図では右方向)に順次転送されて
いく。
又、図中一点鎖線は電極に大きな正の電圧V3
を印加した場合のポテンシヤルを示し、このポテ
ンシヤルのウエルは反転状態となる為、所定量以
上の過剰なキヤリアは多数キヤリアと再結合し消
滅してしまう。
を印加した場合のポテンシヤルを示し、このポテ
ンシヤルのウエルは反転状態となる為、所定量以
上の過剰なキヤリアは多数キヤリアと再結合し消
滅してしまう。
第3図はこのような電極電圧と内部のポテンシ
ヤルの形状を半導体基板6の厚さ方向について示
した図で、図のように電極電圧V3に対してはポ
テンシヤル・ウエルは浅くなり、過剰キヤリアは
絶縁層との界面において多数キヤリアと再結合す
る第2の状態となる。
ヤルの形状を半導体基板6の厚さ方向について示
した図で、図のように電極電圧V3に対してはポ
テンシヤル・ウエルは浅くなり、過剰キヤリアは
絶縁層との界面において多数キヤリアと再結合す
る第2の状態となる。
一方、電極電圧−V1においては第1の状態と
してのアキユムレーシヨン状態となり、界面周辺
に多数キヤリアが集まり易くなり、例えば不図示
のチヤネル・ストツパー領域からこの多数キヤリ
アが供給される。
してのアキユムレーシヨン状態となり、界面周辺
に多数キヤリアが集まり易くなり、例えば不図示
のチヤネル・ストツパー領域からこの多数キヤリ
アが供給される。
従つて例えば電極P2に電圧−V1を印加する事
によつてバリアを形成した状態で、電極P1に電
圧−V1とV3を交互に印加する事により、電極P1
下に蓄積される少数キヤリアは所定量以下に制限
される。
によつてバリアを形成した状態で、電極P1に電
圧−V1とV3を交互に印加する事により、電極P1
下に蓄積される少数キヤリアは所定量以下に制限
される。
しかし、この第2図のような構成においては過
剰な電荷を除去する為の効率が低いという欠点が
ある。即ち、一般に転送電極は電荷の蓄積及び転
送に際して電荷が表面再結合しないようにする事
によつて転送効率を向上させており、その為には
転送電極下のポテンシヤルのウエルが基板表面か
ら充分に深く、且つウエルの底面を基板深さ方向
に広くしなければならない。
剰な電荷を除去する為の効率が低いという欠点が
ある。即ち、一般に転送電極は電荷の蓄積及び転
送に際して電荷が表面再結合しないようにする事
によつて転送効率を向上させており、その為には
転送電極下のポテンシヤルのウエルが基板表面か
ら充分に深く、且つウエルの底面を基板深さ方向
に広くしなければならない。
一方、電荷を効率的に再結合させる為にはこれ
と逆の条件が必要となる。
と逆の条件が必要となる。
即ち、電極下のポテンシヤルウエルの底面が基
板深さ方向に或る程度狭い方が効率良くオーバー
フローして再結合するので好ましい。
板深さ方向に或る程度狭い方が効率良くオーバー
フローして再結合するので好ましい。
従つて、従来の技術では転送効率を確保しよう
とすれば再結合の効率が落ち、再結合の効率を上
げようとすると転送効率が低下するという問題が
生じていた。
とすれば再結合の効率が落ち、再結合の効率を上
げようとすると転送効率が低下するという問題が
生じていた。
(目 的)
本発明は上述の如き従来技術の欠点を除去した
転送効率が高く、かつ再結合の効率が高い、又、
インターレース効果の得られる撮像装置を提供す
る事を目的としている。
転送効率が高く、かつ再結合の効率が高い、又、
インターレース効果の得られる撮像装置を提供す
る事を目的としている。
(実施例)
以下実施例に基づき本発明を説明する。
第4図は本発明に係る撮像素子を用いた撮像装
置の一例を示す図である。本実施例では一相駆動
方式のフレームトランスフアー型CCDの場合に
つき説明する。
置の一例を示す図である。本実施例では一相駆動
方式のフレームトランスフアー型CCDの場合に
つき説明する。
図中第1〜第3図と同じ符番のものは同じ要素
を示す。
を示す。
本実施例では受光部に転送クロツクφP〓と共
に、過剰電荷を表面再結合中心でホールと再結合
させて消滅する為のクロツクφABが印加されてい
る。
に、過剰電荷を表面再結合中心でホールと再結合
させて消滅する為のクロツクφABが印加されてい
る。
又、蓄積部2、水平転送レジスタ3には夫々転
送用のクロツクφPS,φSが印加されている。
送用のクロツクφPS,φSが印加されている。
CKDはこれらのクロツクパルスφP〓,φAB,
φPS,φS等を撮像素子に供給する為の制御手段と
してのクロツクドライバー、CKGはこれらのパ
ルスを形成する為のタイミング信号を発生するク
ロツクジエネレータ、PAPは抑圧手段としての
プロセスアンプであつて後述の如く所定レベル以
上の信号を遮断もしくは非直線的に抑圧する為の
KNEE回路又はγ変換回路等を含む。ECDはエ
ンコーダであつてアンプPAPを介したビデオ信
号はこのエンコーダによつて例えばNTSC信号の
ような標準テレビジヨン方式の信号に変換され
る。
φPS,φS等を撮像素子に供給する為の制御手段と
してのクロツクドライバー、CKGはこれらのパ
ルスを形成する為のタイミング信号を発生するク
ロツクジエネレータ、PAPは抑圧手段としての
プロセスアンプであつて後述の如く所定レベル以
上の信号を遮断もしくは非直線的に抑圧する為の
KNEE回路又はγ変換回路等を含む。ECDはエ
ンコーダであつてアンプPAPを介したビデオ信
号はこのエンコーダによつて例えばNTSC信号の
ような標準テレビジヨン方式の信号に変換され
る。
第5図は受光部1と蓄積部2の境界領域の断面
の電極構造及びポテンシヤルの概略を示す図であ
る。
の電極構造及びポテンシヤルの概略を示す図であ
る。
図中PP〓は受光部の転送クロツクφP〓を印加す
る転送電極、PABを印加する為の再結合手段とし
ての再結合制御電極、PPSは蓄積部の転送クロツ
クφPSを印加する転送電極、図の実線のポテンシ
ヤル状態はφP〓,φPSとしてローレベルの電圧を印
加し、φABとしてハイレベルの電圧を印加した場
合のものであり、破線はφP〓,φPSをハイレベル、
φABをローレベルとした場合のものである。
る転送電極、PABを印加する為の再結合手段とし
ての再結合制御電極、PPSは蓄積部の転送クロツ
クφPSを印加する転送電極、図の実線のポテンシ
ヤル状態はφP〓,φPSとしてローレベルの電圧を印
加し、φABとしてハイレベルの電圧を印加した場
合のものであり、破線はφP〓,φPSをハイレベル、
φABをローレベルとした場合のものである。
尚、基板SS内にはイオン注入により図示のよ
うなポテンシヤルの階段が形成されている。又、
電極PP〓,PPS,PABによつて蔽われていない絶縁
層の下部即ち絶縁層と半導体基板との境界部分に
は図示はしていないが仮想電極(Virtual
electrode)を構成する為の例えばP型反転層が
形成されている。従つて電極に蔽われていない半
導体領域内のポテンシヤルは各電極へのバイアス
によつて変化しないようになつている。
うなポテンシヤルの階段が形成されている。又、
電極PP〓,PPS,PABによつて蔽われていない絶縁
層の下部即ち絶縁層と半導体基板との境界部分に
は図示はしていないが仮想電極(Virtual
electrode)を構成する為の例えばP型反転層が
形成されている。従つて電極に蔽われていない半
導体領域内のポテンシヤルは各電極へのバイアス
によつて変化しないようになつている。
尚、図中Xの領域を第1の領域、Yの領域を第
2の領域と考える。図示の如く、第2の領域は電
極PABを含む領域を指す。又、この第1の領域、
第2の領域は一相駆動に限らず多相の駆動方法に
よるものについても同様に当てはまる。
2の領域と考える。図示の如く、第2の領域は電
極PABを含む領域を指す。又、この第1の領域、
第2の領域は一相駆動に限らず多相の駆動方法に
よるものについても同様に当てはまる。
第6図は第5図示の領域における電極パターン
の例を示す図である。CSはチヤネルストツプで
あつて水平方向の電荷の移動を阻止する。
の例を示す図である。CSはチヤネルストツプで
あつて水平方向の電荷の移動を阻止する。
第4〜第6図示の実施例によれば電荷再結合の
為の電極PABの巾を転送電極PP〓の巾よりも充分
小さくできるので過剰電荷を除去する場合に除去
効率を高くできる。
為の電極PABの巾を転送電極PP〓の巾よりも充分
小さくできるので過剰電荷を除去する場合に除去
効率を高くできる。
又、一相駆動方式のCCDイメージセンサに於
いて電荷の再結合動作を転送動作と独立して行な
う事ができる。
いて電荷の再結合動作を転送動作と独立して行な
う事ができる。
しかも本実施例の撮像素子の再結合制御用構造
はチヤネルストツプと同一プロセスで製造可能な
電極用のポリシリコンゲート形成ステツプ及び内
部ポテンシヤルの階段を形成する為のイオン注入
ステツプで形成する事ができる。
はチヤネルストツプと同一プロセスで製造可能な
電極用のポリシリコンゲート形成ステツプ及び内
部ポテンシヤルの階段を形成する為のイオン注入
ステツプで形成する事ができる。
第7図は第4図示の撮像素子を駆動する為にク
ロツクドライバーCKDより出力されるクロツク
パルスφAB,φP〓,φPS,φS及びアンプ4の出力
VOUTの波形図である。
ロツクドライバーCKDより出力されるクロツク
パルスφAB,φP〓,φPS,φS及びアンプ4の出力
VOUTの波形図である。
図中、垂直同期信号VDは1テレビジヨンフイ
ールド毎に得られる。VDに同期して時刻t1〜t2、
及びt3〜t4の間に受光部1と蓄積部2の垂直方向
の画素数に相当する数のクロツクφP〓,φPSが同相
で供給される。
ールド毎に得られる。VDに同期して時刻t1〜t2、
及びt3〜t4の間に受光部1と蓄積部2の垂直方向
の画素数に相当する数のクロツクφP〓,φPSが同相
で供給される。
これにより受光部1内の各画素セル内の電荷は
蓄積部内の対応する蓄積セル内に転送されて蓄積
される。
蓄積部内の対応する蓄積セル内に転送されて蓄積
される。
この時、本発明では再結合電極PABに印加する
クロツクφABをV4に固定する。この電圧V4は例え
ば第8図示の如く電極PAB下のポテンシヤルレベ
ルが仮想電極部のポテンシヤルレベルの上限と下
限の間に位置するような電圧値である。
クロツクφABをV4に固定する。この電圧V4は例え
ば第8図示の如く電極PAB下のポテンシヤルレベ
ルが仮想電極部のポテンシヤルレベルの上限と下
限の間に位置するような電圧値である。
又、この時刻t1〜t2は標準テレビジヨン信号の
垂直ブランキング期間内に相当している。
垂直ブランキング期間内に相当している。
時刻t2〜t3にかけてクロツクφABが任意のタイ
ミングで複数個供給される。このクロツクφABの
供給は周期的なものであつても良いし、又、水平
ブランキング期間内でのみ行なうようにしても良
い。
ミングで複数個供給される。このクロツクφABの
供給は周期的なものであつても良いし、又、水平
ブランキング期間内でのみ行なうようにしても良
い。
又、クロツクφABの供給個数が多ければ多い程
過剰電荷の除去能力は高くなる。
過剰電荷の除去能力は高くなる。
又、時刻t2〜t3の間にはクロツクφPSとφSとによ
つて蓄積部の電荷が水平周期に同期して1行ずつ
読み出され水平ライン信号として出力される。こ
の期間t2〜t3は標準テレビジヨン信号の垂直走査
期間に相当している。
つて蓄積部の電荷が水平周期に同期して1行ずつ
読み出され水平ライン信号として出力される。こ
の期間t2〜t3は標準テレビジヨン信号の垂直走査
期間に相当している。
次に前述のごとき過剰電荷の拡散を防止する手
段をそなえた撮像素子を用いてビデオカメラを構
成する場合の駆動法の第2実施例について説明す
る。
段をそなえた撮像素子を用いてビデオカメラを構
成する場合の駆動法の第2実施例について説明す
る。
第9図は上記第2実施例におけるクロツクドラ
イバーCKDの出力パルスのタイミングチヤート
である。
イバーCKDの出力パルスのタイミングチヤート
である。
図示の如く、本実施例と第7図示実施例との違
いは時刻〜t1・t2〜ta・t4〜にかけての蓄積期間
中にφP〓のレベルを−V1とV2の略中間レベルであ
るV5レベルに固定している点及び、蓄積期間の
終了時点でフイールド毎にφP〓を立上げるか立下
げるかを切換えている点である。
いは時刻〜t1・t2〜ta・t4〜にかけての蓄積期間
中にφP〓のレベルを−V1とV2の略中間レベルであ
るV5レベルに固定している点及び、蓄積期間の
終了時点でフイールド毎にφP〓を立上げるか立下
げるかを切換えている点である。
これにつき説明すると、蓄積期間中はφP〓をV5
レベルにする事により、第10図aに示す如く、
転送電極PP〓下の基板内の仮想電極下の基板内に
夫々ポテンシヤルウエルA,Cが形成され、夫々
のウエルに電荷が蓄積される。
レベルにする事により、第10図aに示す如く、
転送電極PP〓下の基板内の仮想電極下の基板内に
夫々ポテンシヤルウエルA,Cが形成され、夫々
のウエルに電荷が蓄積される。
この間第9図の如く、パルスφABが複数個供給
される為電極PAB下のポテンシヤルは第10図a
のように上下するが、このポテンシヤルが下がつ
た時にできるウエルB内の電荷の内絶縁層5近傍
に集められた過剰電荷はポテンシヤルが上がつた
時にはホールと再結合するので消滅しウエルAに
は漏れ込まない。
される為電極PAB下のポテンシヤルは第10図a
のように上下するが、このポテンシヤルが下がつ
た時にできるウエルB内の電荷の内絶縁層5近傍
に集められた過剰電荷はポテンシヤルが上がつた
時にはホールと再結合するので消滅しウエルAに
は漏れ込まない。
第9図時刻t1までの第1フイールドの蓄積期間
中にウエルA,C(もしくはB)にはいる電荷量
をそれぞれ第10図aのようにAINT,BINT,CINT
とする。次に第9図時刻t1から始まる垂直転送時
は第10図bに示すごとく、転送のはじめにφP〓
を中間レベルV5からV2レベルに立上げることに
よつて′と,′と…の部分に蓄積された電
荷が加算され、蓄積部に転送されていく。又、第
2フイールドは転送のはじめ(時刻ta)にφP〓を
中間レベルV5から−V1に立下げることによつて
と′,と′,と′…の部分に蓄積され
た電荷を加算する。このようにフイールド毎に加
算される電荷の組み合わせを変えることによつて
インタレース動作をおこなわせる。
中にウエルA,C(もしくはB)にはいる電荷量
をそれぞれ第10図aのようにAINT,BINT,CINT
とする。次に第9図時刻t1から始まる垂直転送時
は第10図bに示すごとく、転送のはじめにφP〓
を中間レベルV5からV2レベルに立上げることに
よつて′と,′と…の部分に蓄積された電
荷が加算され、蓄積部に転送されていく。又、第
2フイールドは転送のはじめ(時刻ta)にφP〓を
中間レベルV5から−V1に立下げることによつて
と′,と′,と′…の部分に蓄積され
た電荷を加算する。このようにフイールド毎に加
算される電荷の組み合わせを変えることによつて
インタレース動作をおこなわせる。
このように構成することにより少ない画素数で
インターレース効果を持たせる事がきると共に、
暗電流レベルもフイールド毎に変化せずフリツカ
も生じにくい。
インターレース効果を持たせる事がきると共に、
暗電流レベルもフイールド毎に変化せずフリツカ
も生じにくい。
又、本実施例ではウエルAの飽和電荷量AF、
ウエルB及びCから成るウエルA以外の部分の飽
和電荷量をDFとし、このウエルA以外の部分の
ウエルに再結合されずにたまる電荷量をDINTとし
た場合にAINT<DINTとした点に特徴を有する。
ウエルB及びCから成るウエルA以外の部分の飽
和電荷量をDFとし、このウエルA以外の部分の
ウエルに再結合されずにたまる電荷量をDINTとし
た場合にAINT<DINTとした点に特徴を有する。
これにつき以下説明する。
一般には次の関数がなりたたないと転送可能な
電荷量をAINT+DINTが超えてしまうため電荷転送
残りが生じてしまう。
電荷量をAINT+DINTが超えてしまうため電荷転送
残りが生じてしまう。
AINT+DINT≦min〔AF,DF〕=QSAT …(1)
即ち、(AINT+DINT)は飽和電荷量AF,DFの内の
小さい値以下でなければならない。
小さい値以下でなければならない。
この場合AINT+DINTは例えばAFとDFの最小値
すなわちQSATの70%程度に設定する。その値を最
大蓄積電荷量Qnaxとし、 Qnaxの電荷を得るために必要な光量をLnaxとす
ると、光量OからLnaxにいたるまでインタレース
動作を行なわせるには、 AINT=DINT …(2) となるよう設定すれば良い。
すなわちQSATの70%程度に設定する。その値を最
大蓄積電荷量Qnaxとし、 Qnaxの電荷を得るために必要な光量をLnaxとす
ると、光量OからLnaxにいたるまでインタレース
動作を行なわせるには、 AINT=DINT …(2) となるよう設定すれば良い。
ところがこのようにするとインターレースは可
能であるが充分な過剰電荷除去機能が得られな
い。
能であるが充分な過剰電荷除去機能が得られな
い。
即ち例えば2/3インチの画面サイズの中に必
要とされる画素数を確保する為には現実的には電
極PABの幅Wを3μm〜4μmという最小線幅に近い
値にする必要がある。
要とされる画素数を確保する為には現実的には電
極PABの幅Wを3μm〜4μmという最小線幅に近い
値にする必要がある。
このような状況で素子の再結合能力を高める為
には再結合する為の場所を増やしてやることも考
えられるがその場合には歩留りが低下してしまう
欠点がある。
には再結合する為の場所を増やしてやることも考
えられるがその場合には歩留りが低下してしまう
欠点がある。
一方再結合用の電極PABの面積を大きくしてや
る事も考えられる。
る事も考えられる。
即ち第11図示の如く、狭チヤネル効果により
電極の巾Wを3μmにした場合にはその下にできる
再結合に寄与するウエルの実効的な巾は0.5μm程
度であるのに対し電極の巾Wを4μmにした場合に
は再結合に寄与するウエルの実効的な巾は1.5μm
程度となる。従つてこのウエルに集められる電荷
が充分に存在する場合にはφAB1クロツク毎に消
去できる電荷量は約3倍に向上する。ところが、
この場合、前述した如く電極PAB下のウエルBに
集められる電荷が充分に多くないと再結合能力が
得られない。
電極の巾Wを3μmにした場合にはその下にできる
再結合に寄与するウエルの実効的な巾は0.5μm程
度であるのに対し電極の巾Wを4μmにした場合に
は再結合に寄与するウエルの実効的な巾は1.5μm
程度となる。従つてこのウエルに集められる電荷
が充分に存在する場合にはφAB1クロツク毎に消
去できる電荷量は約3倍に向上する。ところが、
この場合、前述した如く電極PAB下のウエルBに
集められる電荷が充分に多くないと再結合能力が
得られない。
又、QnaxはCCDの画素数と面積がきまつてし
まえばある定数となつてしまう。したがつてDINT
を増加させた分AINTを減らす必要がある。
まえばある定数となつてしまう。したがつてDINT
を増加させた分AINTを減らす必要がある。
そこで本実施例では第1の領域としての電極
PP〓下のウエル内の電荷AINTに対し、第2の領域
としての再結合電極下及び仮想電極下のウエル内
の再結合されないで残る電荷DINTが 0<AINT<DINT となるようにクロツクドライバーにより制御して
いるのでインターレース効果を得られるだけでな
く、高い再結合能力も得る事ができる 尚、この場合、例えばPABの幅Wを4μmしDINT
をQSATの50%AINTをQSATの20%程度に選べばイン
タレース能力はLnaxの57%程度までしかない。す
なわちそれを超える光量に対してはインタレース
しなくなるが、アンチブルーミング能力は従来の
3倍程度になる。ここで本実施例のビデオカメラ
の場合、画面の大部分はLnaxの20%以下となるよ
うに設定し、それ以上の光量に対応する信号成分
に対してはこれを圧縮等により抑圧する抑圧手段
を第4図の如く設けているので高輝度時のインタ
ーレース能力の低下は目立たなくなる。
PP〓下のウエル内の電荷AINTに対し、第2の領域
としての再結合電極下及び仮想電極下のウエル内
の再結合されないで残る電荷DINTが 0<AINT<DINT となるようにクロツクドライバーにより制御して
いるのでインターレース効果を得られるだけでな
く、高い再結合能力も得る事ができる 尚、この場合、例えばPABの幅Wを4μmしDINT
をQSATの50%AINTをQSATの20%程度に選べばイン
タレース能力はLnaxの57%程度までしかない。す
なわちそれを超える光量に対してはインタレース
しなくなるが、アンチブルーミング能力は従来の
3倍程度になる。ここで本実施例のビデオカメラ
の場合、画面の大部分はLnaxの20%以下となるよ
うに設定し、それ以上の光量に対応する信号成分
に対してはこれを圧縮等により抑圧する抑圧手段
を第4図の如く設けているので高輝度時のインタ
ーレース能力の低下は目立たなくなる。
(効果)
以上説明した如く本願の第1の発明によればブ
ルーミング防止能力を高める事ができると共にイ
ンターレース効果を得る事ができる。
ルーミング防止能力を高める事ができると共にイ
ンターレース効果を得る事ができる。
又、本願の第2の発明によれば更に高輝度時に
おいてインターレース効果の低下を目立たなくす
る事ができ、広い輝度範囲で高い性能を有する撮
像装置を得る事ができる。
おいてインターレース効果の低下を目立たなくす
る事ができ、広い輝度範囲で高い性能を有する撮
像装置を得る事ができる。
(効果)
以上説明した如く本願の第1の発明によればブ
ルーミング防止能力を高める事ができると共にイ
ンターレース効果を得る事ができる。
ルーミング防止能力を高める事ができると共にイ
ンターレース効果を得る事ができる。
又、本願の第2の発明によれば更に高輝度時に
おいてインターレース効果の低下を目立たなくす
る事ができ、広い輝度範囲で高い性能を有する撮
像装置を得る事ができる。
おいてインターレース効果の低下を目立たなくす
る事ができ、広い輝度範囲で高い性能を有する撮
像装置を得る事ができる。
第1図は従来のCCDイメージセンサーの模式
図、第2図は第1図示センサーの駆動方法を説明
する図、第3図は表面電荷再結合の原理を説明す
る図、第4図は本発明の撮像装置の構成例を示す
図、第5図は本発明の撮像装置に適した撮像素子
の構造例を示す断面模式図、第6図は第5図示素
子の電極パターン例を示す図、第7図は本発明の
撮像装置の駆動方法の第1実施例のタイミングチ
ヤート、第8図は第5図示素子のポテンシヤル状
態を説明する図、第9図は本発明の撮像装置の駆
動方法の第2実施例のタイミングチヤート、第1
0図a,bは同第2実施例におけるポテンシヤル
状態を説明する図、第11図は狭チヤネル効果に
つき説明する図である。 X…第1の領域、Y…第2の領域、PAB…再結
合手段としての再結合制御電極、CKD…制御手
段としてのクロツクドライバー、PAP…抑圧手
段としてのプロセスアンプ。
図、第2図は第1図示センサーの駆動方法を説明
する図、第3図は表面電荷再結合の原理を説明す
る図、第4図は本発明の撮像装置の構成例を示す
図、第5図は本発明の撮像装置に適した撮像素子
の構造例を示す断面模式図、第6図は第5図示素
子の電極パターン例を示す図、第7図は本発明の
撮像装置の駆動方法の第1実施例のタイミングチ
ヤート、第8図は第5図示素子のポテンシヤル状
態を説明する図、第9図は本発明の撮像装置の駆
動方法の第2実施例のタイミングチヤート、第1
0図a,bは同第2実施例におけるポテンシヤル
状態を説明する図、第11図は狭チヤネル効果に
つき説明する図である。 X…第1の領域、Y…第2の領域、PAB…再結
合手段としての再結合制御電極、CKD…制御手
段としてのクロツクドライバー、PAP…抑圧手
段としてのプロセスアンプ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 電荷転送電極を有し該電荷転送電極に印加さ
れる信号により内部のポテンシヤルが変化する第
1の領域と、 電荷転送電極を有さず内部のポテンシヤルが前
記電荷転送電極により変化しない第2の領域と、 該第2の領域の内所定の一部領域のみに設けら
れ、該一部領域のポテンシヤルを変化させること
により前記第2の領域内の電荷の一部を他極性の
電荷と再結合させる為の再結合電極と、 前記電荷転送電極に信号を印加する為の転送信
号路と、 前記再結合電極に信号を印加する為の再結合信
号路と、 を有する1相駆動式撮像素子と、該1相駆動式撮
像素子の前記転送信号路に所定の信号を供給する
ことにより所定期間前記撮像素子の前記第1、第
2の領域に夫々電荷を蓄積させ、その間に前記再
結合信号路に所定の駆動信号を供給することによ
り、第1の領域における蓄積電荷量AINTと第2の
領域において再結合されずに残る電荷量DINTとを AINT<DINT とすると共に、その後第1、第2の領域の電荷を
加算して読み出すよう前記転送信号路及び再結合
信号路に所定の信号を供給する制御手段と、 を有する撮像装置。 2 電荷転送電極を有し該電荷転送電極に印加さ
れる信号により内部のポテンシヤルが変化する第
1の領域と、 電荷転送電極を有さず内部のポテンシヤルが前
記電荷転送電極により変化しない第2の領域と、 該第2の領域の内所定の一部領域のみに設けら
れ、該一部領域のポテンシヤルを変化させること
により前記第2の領域内の電荷の一部を他極性の
電荷と再結合させる為の再結合電極と、 前記電荷転送電極に信号を印加する為の転送信
号路と、 前記再結合電極に信号を印加する為の再結合信
号路と、 を有する1相駆動式撮像素子と、 該1相駆動式撮像素子の前記転送信号路に所定
の信号を供給することにより所定期間前記撮像素
子の前記第1、第2の領域に夫々電荷を蓄積さ
せ、その間に前記再結合信号路に所定の駆動信号
を供給することにより、第1の領域における蓄積
電荷量AINTと第2の領域において再結合されずに
残る電荷量DINTとを AINT<DINT とすると共に、その後第1、第2の領域の電荷を
加算して読み出すよう前記転送信号路及び再結合
信号路に所定の信号を供給する制御手段と、 前記制御手段により前記1相駆動式撮像素子よ
り読み出された第1、第2の領域の電荷の加算情
報の一部を抑圧する抑圧手段と、 を有する撮像装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59007772A JPS60152181A (ja) | 1984-01-18 | 1984-01-18 | 撮像装置 |
DE19853501138 DE3501138A1 (de) | 1984-01-18 | 1985-01-15 | Bildaufnahmevorrichtung |
DE3546841A DE3546841C2 (de) | 1984-01-18 | 1985-01-15 | Bildaufnahmevorrichtung |
US07/129,946 US4774585A (en) | 1984-01-18 | 1987-11-25 | Image pickup apparatus |
US07/196,853 US4821105A (en) | 1984-01-18 | 1988-05-17 | Image pickup apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59007772A JPS60152181A (ja) | 1984-01-18 | 1984-01-18 | 撮像装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60152181A JPS60152181A (ja) | 1985-08-10 |
JPH0260112B2 true JPH0260112B2 (ja) | 1990-12-14 |
Family
ID=11674963
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59007772A Granted JPS60152181A (ja) | 1984-01-18 | 1984-01-18 | 撮像装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60152181A (ja) |
-
1984
- 1984-01-18 JP JP59007772A patent/JPS60152181A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS60152181A (ja) | 1985-08-10 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |