JPH0252554B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、穀物等の粒状物に照明し、粒状物か
ら得られる光量変化を受光素子によつて検出し、
粒状物中に混入する異色粒子を選別除去する色彩
選別機の受光装置に関する。

従来技術とその問題点 穀粒その他の粒状物中に混入する異色粒子を受
光素子によつて検出し、その検出信号によつて作
動するエジエクターにより異色粒子を選別除去す
る色彩選別機において、単一のシユートから供給
される粒子に対して複数個の受光装置を配設した
ものは特開昭57−130579号公報により公知である
が、上記公知例の色彩選別機を第５図および第６
図によつて説明する。

振動機１７によつて振動する振動台１６にホツ
パー１５から流出する米粒１３は、実質上平らな
底１２を持つシユート１１に供給され、米粒１３
はシユート１１の底から重力によつて自然流下し
て選別帯域１４を通過する。蛍光灯２３，２３は
選別帯域１４を降下する個々の米粒１３に光をあ
てるために設けられ、また蛍光灯２３ａは背景２
２に光をあてるように設けられている。選別帯域
１４中で選別される対象物１３を観察する複数個
の光感応検知器２０…に像を結ぶレンズ２１が設
けられ、例えば、複数個の検出器２０…の各々最
左端にある検出器２０ａは、それぞれのシユート
１１の最特右側の最右端の部分１１ａから落下す
る米粒１３だけを観察すると共に、それぞれの背
景２２の対応部分２２ａを観察する。同様に、検
知器２０ｂ，２０ｃ，２０ｄはシユート１１の最
も右側の部分１１ｂ，１１ｃ，１１ｄのみを観察
するように形設され、変色した米粒を吹き飛ばす
圧搾空気排除器２４と、検出器２０…のそれぞれ
はプロセツサ２６に連結され、また収容箱２７と
排除箱２８とを設けられているので、選別帯域１
４中に落下する米粒１３と背景２２の輝度が同一
のときにはプロセツサ２６から排除器２４には信
号が出されず、検出器２０…が変色した米粒の落
下により背景２２の輝度よりも小さい検出信号を
プロセツサに２６に連絡すると、プロセツサ２６
からの制御信号によつて空気排除器２４を作動
し、変色した米粒に向つて圧搾空気を吹きつけ、
移動路を変化して排除箱２８に流下させて選別分
離される。

ところで、検知器の複数個を第７図に示すよう
に隣接させて配設する場合において、複数個の検
知器となる受光素子S₁，S₂，S₃，S₄等は、セラミ
ツク基板１上に隣接する受光素子S₁，S₂，S₃，S₄
のそれぞれが絶縁状にマウントされ、その表層面
にガラス板２を接着してある。P₁，P₁₆は受光素
子S₁の端子であり、P₂，P₁₆は受光素子S₂の端子
である。受光素子S₁，S₂との隣接部分には、絶縁
のためにわずかな隙間ｇを必要とする。

上記隙間ｇの選別精度に及ぼす影響について第
８図により説明すると、複数個の受光素子S₁，S₂
等をマウントした基板１には、流下樋５から流下
する粒状物Ｍの局部を観察するようにスリツト４
を設けた不透光性のスリツト板３を取着し、流下
する粒状物と受光素子Ｓとの間にレンズ６を設
け、受光素子とS₁，S₂の受光幅w₁，w₂は、レン
ズ６を透過することによつて流下樋５部分では、
W₁，W₂に拡大されて粒状物M₁，M₂を観察す
る。しかし受光素子S₁，S₂との隙間ｇは、レンズ
６を通して流下樋５部分では、受光素子S₁，S₂に
よつて粒状物Ｍを観察できない幅Ｇに拡大し、粒
状物M₁，M₂との間に粒状物M₃が流下すると、
異色粒子または部分的に斑点のある粒状物は、受
光素子Ｓに観察されることなく正常粒子に混入し
て機外に排出して選別精度を低下するものであ
る。

本発明は、上記問題点を改善するために、複数
個の受光素子の配置に工夫を凝らし、供給部から
流下する粒状物の流下軌跡の全流域に亘り、受光
素子の観察範囲を行き届かせ、観察ミスによる選
別精度の低下を防止することを技術的課題とす
る。

問題点を解決するための手段 上記技術的課題を達成するために本発明は、原
料供給部から整然と流下する異色粒混入粒子の流
下軌跡の近傍に光源とバツクグランドと受光素子
とエジエクターとを設け、前記軌跡に沿つて流下
する粒子に前記光源から照射して得られる光量変
化を前記受光素子によつて検出し、その検出信号
を連絡した制御装置に設けた基準値と比較して出
力する信号により前記エジエクターを作動し、異
色粒子を選別除去する色彩選別機において、前記
流下軌跡に流下する粒子の全流域に亘り受光素子
が受光するように、受光素子の複数個を一つおき
に交互にずらして配設して長尺の受光素子に形成
した構成よりなる。

作 用 上記構成により、流下軌跡に流下する粒状物に
光源から照射し、粒状物とバツクグランドから得
られる光量を受光素子によつて検出し、その検出
信号を連絡した制御装置に設けた基準値と比較し
て出力する信号によりエジエクターを作動し、異
色粒子を選別除去するものであるが、本発明では
受光素子の複数個を交互にずらして配設し、長尺
の受光素子に形成したので、流下軌跡に流下する
粒状物の全流域に亘り粒状物をミスすることなく
観察するので、高精度の選別を実施できるもので
ある。

実施例 本発明の実施例を第１図および第２図に基づき
説明する。

第１図において、供給ホツパー３０の下部を電
磁石３１を備えた振動供給樋３２に接続し、供給
樋３２の先端部を流下樋３３に接続して原料供給
部に形成する。選別室３４内の粒状物の流下軌跡
Ａの近傍には、光源３５、バツクグランド３６、
レンズ筒に受光素子３７を装着して形成する受光
装置３８、エジエクター３９とを設け、流下軌跡
Ａの延長線上に精品排出樋４０を立設し、排出筒
４０の先端部に飛散防止弁４１を装着してある。
選別室３４の底壁４２の開口部４３を異色粒子排
出口４４とし、下端部に飛散防止バルブ４５を装
着してある。流下樋４３の下端部と精品排出筒４
０の上端部との間に粒状物の通過する通孔４６を
設けた山形状仕切壁４７を横架し、仕切壁４７に
よつて区画した選別室３４の上部を光電検出部４
８に、その下部を粒子選別部４９に形成し、選別
室３４の側壁５０の開口部５１に排風装置５２を
連結し、受光素子４８、バツクグランド３６、エ
ジエクター３９等は制御装置５３にそれぞれ連結
してある。

次に受光装置３８の詳細について以下に説明す
る。（第２図参照）凸レンズ５４をレンズ筒５５
の一側部に装着し、フイルターを内設したレンズ
筒５５の他側端部に受光素子３７ａ，３７ｂ，３
７ｃ，３７ｄのそれぞれを上下関係の交互にずら
して基板５６に配設して受光装置３８に形成す
る。各受光素子３７…の右側面Ｒと左側面Ｌとは
一直線に位置させてあるが、受光素子３７ａ，３
７ｃの下端面と受光素子３７ｂ，３７ｄの上端面
とには隙間Ｃを設けてあるので各受光素子３７
ａ，３７ｂ，３７ｃ，３７ｄは個々に絶縁されて
おり、上記構成により複数個の受光素子３７…を
以つて実質的に長尺な受光素子３７に形成し、受
光素子３７…の前面にスリツト５７ａ，５７ｂを
開設した無透光のスリツト板５８を貼着してあ
る。

第３図に示すものは、複数個の受光素子を前後
関係の交互にずらして配設し、実質的に長尺な受
光素子に形成した別実施例である。受光素子３７
ｅ，３７ｇを前側に、受光素子３７ｆ，３７ｈを
後側となるように交互にずらして基板５６にマウ
ントしてある。受光方向を正面とする各受光素子
３７ｅ，３７ｆ，３７ｇ，３７ｈの両側端面と、
隣設する受光素子３７…の側端面とは正面上から
は同一面上にあるが、前後関係にずらしてあるた
め受光素子３７…は個々に絶縁されている。受光
素子３７の前面にはスリツト５９を開設したスリ
ツト板６０を貼着してある。

以下に上記構成における作用を説明する。（第
１図参照）供給ホツパー３０から振動供給樋３２
に流出した異色粒混入粒子は、流下樋３３によつ
て整流すると共に滑流速度を加速し、粒子群を密
粒状から散粒状として選別室３４の空中に放出す
る。選別室３４の流下軌跡Ａに流下する粒子に光
源３５…から照射し、粒子とバツクグランド３
６，３６から得られる光量変化を受光素子３７，
３７によつて検出し、その検出信号を連絡した制
御装置５３に設けた基準値と比較して出力する信
号によりエジエクター３９を作動し、流下軌跡Ａ
を流下する異色粒を流下軌跡Ａ外に排除し、異色
粒子を異色粒子排出口４４から機外に排出すると
共に、標準色の精品粒子を精品排出筒４０から機
外に排出する。上記選別作用中に粒子から離脱し
て浮遊する粉塵を、流下樋３３の開口部から流入
する空気を排風装置５２によつて吸引し機外に排
除する。

次に複数個の受光素子をひつとおきに交互にず
らして長尺な受光素子に形成した作用について説
明する。

（第２図および第４図参照）流下樋３３を流下
する粒状物Ｍから得られる光量を凸レンズを介し
て受光素子３７ａ，３７ｂ，３７ｃ，３７ｄが受
光し、その受光検出値を増幅器６１を介して制御
装置５３に連絡し、基準値より異る検出信号のと
きにエジエクター３９を作動させるものである
が、各受光素子３７…の両側面を一直線上となる
ように配設してあるので、例えば受光素子３７ａ
の右側面Ｒと受光素子３７ｂの左側面Ｌとの境界
部に相当する箇所に異色粒子が流下しても、受光
素子３７ａ，３７ｂともに異色粒子を検出し、そ
れぞれの受光素子に個別に対応するエジエクター
３９，３９に作動信号を発するものであるが、受
光素子３７ａの異色粒子の検出時機と、受光素子
３７ｂの検出時機とには、スリツト５７ａとスリ
ツト５７ｂとの間隔だけ受光素子３７ｂの検出が
遅れる。しかし、受光素子３７ａ，３７ｂの異色
粒子検出に対し、それぞれのエジエクター３９，
３９に作動信号を出力する場合、受光素子３７
ａ，３７ｂそれぞれが異色粒子を検出し、異色粒
子がエジエクターの位置まで流下するまでの時間
差があり、この時間差を調整するための遅延回路
が制御装置５３に設けてあるので、受光素子３７
ａ，３７ｂそれぞれに対応するエジエクター３
９，３９とが同時に作動するように遅延回路を調
整しておけば何等支障はない。上記のように同一
粒子を複数の受光素子３７端部で検出できる位で
あるから、流下樋３３から流下する粒子の流下流
域Ｄに対して受光装置３８による受光面積は充分
に確保され、異色粒子の検出ミスをすることなく
高精度の色彩選別を達成することができる。

なお、第３図における実施例においても、上記
に説明したことと同様に、受光素子３７…間に隙
間がないので異色粒子の検出ミスが発生しないも
のであり、この実施例では遅延回路の調節を全部
同一状態にしておけばよい点に特徴がある。

発明の効果 上記に説明した如く本発明によれば、複数個の
受光素子を一つおきに交互にずらして配設し、受
光素子間に隙間のない長尺の受光素子に形成した
ので、流下樋から供給される粒状物の粒子の流下
全流域に亘り受光検出できるものであり、異色粒
子の検出ミスを生じることなく高精度な色彩選別
を実施できるものである。

【図面の簡単な説明】

第１図〜第４図は本発明の実施例図であり、第
１図は色彩選別機の全体構成を示す側断面図、第
２図は受光装置の一部を破断した正面図、第３図
は受光素子の配設状態を示した斜視図、第４図は
受光装置と流下樋との関係を示した斜視図、第５
図は装置の構成を示す公知例図、第６図は同部分
拡大平面図、第７図は第６図の一部を示す正面
図、第８図は公知例の作用説明図である。 １……セラミツク基板、２……ガラス板、３…
…スリツト板、４……スリツト、５……流下樋、
６……レンズ、１１，１１ａ，１１ｂ，１１ｃ，
１１ｄ……シユート、１２……底、１３……米
粒、１４……選別帯域、１５……ホツパー、１６
……振動台、１７……振動機、２０，２０ａ，２
０ｂ，２０ｃ，２０ｄ……光感応検知器、２１…
…レンズ、２２，２２ａ……背景、２３，２３ａ
……蛍光灯、２４……圧搾空気排除器、２６……
プロセツサ、２７……収容箱、２８……排除箱、
３０……供給ホツパー、３１……電磁石、３２…
…振動供給樋、３３……流下樋、３４……選別
室、３５……光源、３６……バツクグランド、３
７，３７ａ，３７ｂ，３７ｃ，３７ｄ，３７ｅ，
３７ｆ，３７ｇ，３７ｈ……受光素子、３８……
受光装置、３９……エジエクター、４０……精品
排出筒、４１……飛散防止弁、４２……底壁、４
３……開口部、４４……異色粒子排出口、４５…
…飛散防止バルブ、４６……通孔、４７……仕切
板、４８……光電検出部、４９……粒子選別部、
５０……側壁、５１……開口部、５２……排風装
置、５３……制御装置、５４……凸レンズ、５５
……レンズ筒、５６……基板、５７ａ，５０ｂ…
…スリツト、５８……スリツト板、５９……スリ
ツト、６０……スリツト板、６１……増幅器、Ａ
……流下軌跡、Ｃ……隙間、Ｄ……流下流域、
Ｇ，ｇ……隙間、Ｌ……左側面、Ｍ，M₁，M₂，
M₃……粒状物、P₁，P₂，P₁₅，P₁₆……端子、Ｒ
……右側面、Ｓ，S₁，S₂，S₃，S₄……受光素子、
W₁，W₂，w₁，w₂……受光幅。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 原料供給部から整然と流下する異色粒混入粒
   子の流下軌跡の近傍に光源とバツクグランドと受
   光素子とエジエクターとを設け、前記軌跡に沿つ
   て流下する粒子に前記光源から照射して得られる
   光量変化を前記受光素子によつて検出し、その検
   出信号を連絡した制御装置に設けた基準値と比較
   して出力する信号により前記エジエクターを作動
   し、異色粒子を選別除去する色彩選別機におい
   て、前記流下軌跡に流下する粒子の全流域に亘り
   受光素子が受光するように、受光素子の複数個を
   一つおきに交互にずらして配設して長尺の受光素
   子に形成したことを特徴とする色彩選別機の受光
   装置。 ２ 前記受光素子を上下関係にずらして配設した
   特許請求の範囲第１項記載の色彩選別機の受光装
   置。 ３ 前記受光素子を前後関係にずらして配設した
   特許請求の範囲第１項記載の色彩選別機の受光装
   置。