JPH0240591B2 - Erebeetanoshikenuntensochi - Google Patents

Erebeetanoshikenuntensochi

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JPH0240591B2
JPH0240591B2 JP21279787A JP21279787A JPH0240591B2 JP H0240591 B2 JPH0240591 B2 JP H0240591B2 JP 21279787 A JP21279787 A JP 21279787A JP 21279787 A JP21279787 A JP 21279787A JP H0240591 B2 JPH0240591 B2 JP H0240591B2
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test
program
control
signal
elevator
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Kenji Yoneda
Masaaki Nakazato
Takeo Yuminaka
Kazuhiro Sakata
Soshiro Kuzunuki
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Description

【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕 本発明はエレベータの試験装置に係り、特にエ
レベータの信号制御部にマイクロココンピユータ
(以下マイコンと略称する)を用いたエレベータ
に好適な装置に関する。 〔従来の技術〕 近年の半導体の集積技術の進歩から、集積度は
MSI,LSIと進み、さらにマイコンが最近広く普
及してきた。このマイコンは、小形、低価格、高
機能、低電力消費ということで、各種産業製品に
取り入れられている。 マイコンはMPU(Micro Processer Unit)と、
ROM(Read Only Memory),RAM(Random
Access Memory)、I/O(Input/Output)ポー
ト等から構成されるが、これら製品の低価格化と
ともに、これらをワンチツプ化した、いわゆるワ
ンチツプMPUも製品化されている。 この様なマイコンは、エレベータ制御にも好適
である。すなわち、従来のエレベータ制御はリレ
ーを主体としており、このリレーは数百個にも及
び、このことにより制御装置が大型化し、リレー
シーケンスの複雑化、さらには機能向上の限界、
拡張性に対する乏しさなど多くの問題点をかかえ
ていた。これらの問題点は、マイコンをエレベー
タ制御装置に適用することによりほとんど解決可
能であり、マイコンによる信号制御部に限つてみ
れば信頼性も向上することができる。 しかし、エレベータには、乗かご内、昇降路
内、乗り場、機械室等に各種メカニカルスイツチ
やかご駆動装置等の電気装置、保護具等が多数散
在している。したがつて、エレベータ制御装置の
信号制御部をマイコンとしても、全体としての故
障は激減しない。 したがつて、従来のリレーにより構成したエレ
ベータと同様に制御状態を監視する必要がある。
また、エレベータ納入時、及びその後必要に応じ
て、調整、検査、保守等のために試験運転する必
要もある。 〔発明が解決しようとする問題点〕 従来のリレー回路においては、各部リレーのオ
ン、オフを確認することにより、エレベータの監
視をすることができる。これに対し、マイコンに
より構成した場合、シーケンスがどのように動作
しているか全つたく確認することができない。し
かしこの点に関しては、マイコンの制御データを
CRTデイスプレイに表示することにより、対処
することが考えられている。 また上記試験運転に関して従来のリレー回路に
おいては、保守員等が手でリレーを投入したり、
クリツプにより連続投入したりすることにより、
試験運転を行なつている。しかし、マイコンを用
いたエレベータでは、従来のような方法で試験で
きる箇所は少なく、十分な調整、検査あるいは保
守を行なうことができない。このため、何らかの
試験装置が望まれる。また、上記従来の試験方法
は次のような欠点があり、これらの点を同時に改
善することができれば、極めて有益である。 (1) 安全性の確保:上記したように、従来リレー
をクリツプにより連続投入、あるいは投入阻止
することにより試験運転するので、試験運転終
了時にこれらを戻し忘れると、正規のサービス
状態において異常状態となる恐れがある。 (2) 試験精度の向上:従来試験運転できるのは、
手動にてリレーを開閉できる範囲であり、制御
系全体の試験を行なうことは困難であつた。 (3) 試験運転の簡略化:従来熟練した保守員等が
必要であり、また、試験運転のために長時間を
必要としていた。このことは、複数台を並設し
た群管理エレベータにおいて一層顕著である。 本発明の目的とするところは、マイコンを信号
制御部に用いたエレベータを容易に試験運転する
ことができるエレベータの試験運転装置を提供す
るにある。 〔問題点を解決するための手段〕 上記目的を達成するための本発明の特徴は、マ
イコンを用いたエレベータ制御装置に、平常の運
転制御の他に試験運転制御を行なう手段を設け、
更にこの試験運転制御手段を起動するための試験
運転信号を発生する手段と、この試験運転信号発
生手段の機能が停止したことを判断する手段と、
この制御手段に応じて試験運転制御から平常の運
転制御へ切替える手段を備えたところにある。 〔作用〕 これにより、マイコンにて試験運転を行なう場
合の試験の運転信号発生手段とエレベータ制御装
置相互の影響を少なくでき、保守員等が試験運転
信号発生手段からテスト中止指示の入力操作を忘
れた場合等であつてもトラブルを未然に防止でき
る。 〔実施例〕 以下本発明の一実施例を図面によつて詳細に説
明する。なお以下の説明では、1号機と2号機の
エレベータを群管理している場合を例に挙げて説
明する。 第1図は、本発明による実施例の全体構成を説
明するためのブロツク図である。 1号機のエレベータ制御系1は、安全のためと
エレベータ駆動などのシーケンスを構成するため
に使用する若干のリレーを有する制御回路15、
かご呼び等の釦11、運転選択などのスイツチ1
2、エレベータの安全確認をするリミツトスイツ
チ類13、かご呼び応答ランプ等の表示器14な
どから構成されている。 1号機のエレベータの信号制御装置2はエレベ
ータ制御系1との入出力インタフエース回路21
と、信号御御を行うマイコン22と、エレベータ
シーケンスプログラムムPGM2を一定周期ごと
に優先的に処理させるためにマイコン22に割込
をかける割込パルスを発生回路24と、本発明に
よるテスト運転操作を行うためのデータとエレベ
ータ制御データテーブルの内容を信号線DL1に
送受するインタフエース回路23と、群管理制御
装置7とのデータ送受するインタフエース回路2
5とから構成されている。 テスト装置3はエレベータ信号制御御装置2と
のデータ送受を行うインタフエース回路31と、
マイコン32と、エレベータ信号制御装置2など
から送信されて従来データとテスト装置の操作に
必要な情報を表示するCRT(Cathode Ray
Tube)装置などの表示装置34と、表示装置3
4に表示信号を出力するビデオ制御御回路33
と、キーボードなどによる制御卓やカセツトテー
プなどによる信号入力装置36と、信号入力装置
36とマイコン32との入出力インタフエース回
路35と、遠方保守装置4との通信を行うモデム
(MODEM)38と、モデム38とマイコン32
の入出力インタフエース回路37とから構成され
ている。 2号機エレベータ制御系6と2号機エレベータ
信号制御装置5は1号機の装置と同一の構成であ
り、信号機DL1によりテスト装置3と接続され
る。群管理制御装置7は1号機エレベータ信号制
御装置2とはハード的には入出力インタフエース
回路21に相当するものが無く、2号機や、さら
に台数の多い場合のそれら号機エレベータ信号制
御装置5などのインタフエース回路が追加される
点が異なる他は同一の構成である。 しかし後述するマイコンによる信号処理プログ
ラムは全つたく異なるものであるが、後で明確に
される本発明を群管理制御装置7に適用すること
は当該業者であれば容易に理解できることである
から、具体的な説明は省略する。 またエレベータ制御装置の全体を構成するエレ
ベータ制御系1及び6、号機エレベータ信号制御
装置2及び5は、この様な構成に限定されるもの
でなく、例えば群管理制御装置7を無くし、号機
エレベータ制御装置2と5によりその制御処理を
行なわせしめる構成であつても良い。 また信号DL1と信号線DL3,DL4とは共用
することができる。ここでは本発明の内容を簡潔
に説明するために別々の信号線を使用する場合を
例に挙げた。また保守機能の拡張をねらつて、テ
スト装置3にマイコン32を使用したが、信号入
力装置36とインタフエース回路23を直結した
簡素な構成とすることもできる。すなわち、テス
ト装置3は試験信号を発生するものであり、その
具体的構成には限定されない。 次に第1図を用いて本発明の概略動作を説明す
る。エレベータ信号制御装置2は、乗り場のホー
ル呼び釦、かご内の行先階釦(かご呼び釦と略
称)、かご内の運転盤のドア開閉釦などから成る
釦11からの制御入力信号を、入力インタフエー
ス回路21を経てマイコン22に入力する。マイ
コン22は、実用に供する時間より早い周期ごと
に割込パルス発生回路24からのパルスによりエ
レベータの信号制御するプログラムを起動し、上
記した呼びに能率良く安全にサービスする様に制
御し、入出力インタフエース21を経てエレベー
タ制御系1のリレーや装置やランプ等を駆動制御
する。 エレベータ制御装置ならびにエレベータ駆動メ
カニズム全体が常に正常であればこれで十分であ
り、本発明による信号の入出力インタフエース回
路23等は不要なものとなる。しかし前記したよ
うに、エレベータは年間数度の割合で大小さまざ
まなトララブルを発生する可能性がある。 このため、エレベータの状態を常に監視する監
視員や、監視に必要な情報を表示たり警報して知
らせる監視盤等は従来通り必要である。 第1図のテスト装置3はこの監視盤の機能も備
えており、マイコン22からのエレベータ制御情
報を、インタフエース回路23と信号線DL1と
インタフエース回路31とを経てマイコン32に
入力する。従つてテスト装置3により、マイコン
22から入力された情報に基ずきエレベータの故
障診断を行ない、正常な時には監視員にサービス
状況を、トラブル発生時にはその内容と対策方法
をCRT34により知らせることができる。 さらに最近、保守サービスを向上するため、保
守センタにおける集中監視体勢が要望されてい
る。この様な場合には、保守会社の保守センタに
設置された遠方保守装置4との通信制御をモデム
38により行うことができる。さらにマイコン3
2により故障と診断した時や、保守センタから確
認のための要求があつた時のみ情報を送受すれば
良い場合には、モデム38に電話回線用網制御装
置(NCUと略称する)を追加することにより、
維持費の安い一般加入電話回線を使用して情報伝
送することができる。 エレベータ制御装置にマイコンを使用した際に
必要な機能はテスト機能である。 エレベータの据付完了による試運転時や調整運
転に限らず、定期点検におけるサービス機能チエ
ツクや群管理運転チエツクを行なうためには、高
能率でかつ信頼性の高い試験装置が望まれる。 例えば両端階床のかご呼びを常時登録し、各階
床のエレベータ位置表示器の玉切れ点検をした
り、かご重量を任意に設定した満員時のシーケン
スチエツクをしたり、群管理エレベータにおいて
必要となる交通量の検出機能のチエツクをする必
要がある。 この様なテストデータは信号入力装置36から
入力すれば良い。自動的にテストする場合には、
カセツトテープなどを使用して入力することによ
り、保守員はCRTによる点検に専念できるので
さらに高能率となる。またマイコン32の能力に
余裕があれば、カセツトテープからの正しい運転
モード情報により、合否判定や故障診断ができ
る。 これらの監視ならびに保守のために必要な試験
機能を発揮するために、本実施例ではエレベータ
信号制御装置2の中心をなすマイコン22とテス
ト装置3とを接続する入出力インタフエース回路
23と、この入出力制御をするプログラムを備え
ている。 以上に説明した第1図に示す本実施例によれ
ば、シーケンス状態を表示する必要のある特定信
号に対応した表示のための個別出力回路を備える
必要がない。またエレベータをテスト運転するた
めに必要な特定制御入力信号に対応した特定入力
回路を備えたり、特定テスト制御信号発生器(例
えば釦)からの信号とエレベータ制御系1の対応
する制御入力信号ラインに直列に挿入したり、切
り替えたり、並列接続したりする手段を備える必
要がない。 この結果、第1図実施例によればつぎの効果が
得られる。 (1) 多用途の目的で入出力に使用できる符号信号
インタフエース回路23により、若干の本数に
よる信号線DL1でテスト装置と接続できるの
で、テスト装置はエレベータ信号制御装置2と
を同一のキユービクル内に実装することに限定
されることなく、信号線DL1を1本のケーブ
ルとし、テスト装置3を着抜自在にして持ち運
びの容易な装置とできる。また符号信号インタ
フエース回路23の駆動電圧レベルを高くする
などのノイズマージン向上を図かれば、テスト
装置2は数百m離れた位置に設置することがで
きる。そこで機械室の任意の位置に移動したり
ビルの管理人室やかご内やかご上で使用するこ
とができるので故障の発見や復旧時間の短縮な
どの効果と、テスト装置を多数のエレベータで
共用して使用できる効果がある。 (2) テスト装置は単にテンキーボードだけとする
ことも可能であるし、マイコン32付とし、さ
らにモデム38を使用したりすることにより、
必要に応じて高機能な監視、ならびにテスト機
能をエレベータ制御装置に附加することが容易
となる。 これらはテスト装置3とマイコン22の一部プ
ログラムの追加や変替により対処できる。従つて
納入後の改良が極めて容易となつた。 以上、本発明による一実施例とその効果につい
て全般的な説明を行なつが、次に具体化した一実
施例について、第2図〜第19図を用いて説明す
る。 第2図はテスト装置の一実施例回路図であり、
符号信号インタフエース回路23との関係を示し
ている。 マイコン32はマイクロプロセツサ(MPUと
略称する)320と、ランダムアクセスメモリ
(RAMと略称する)321と、リードオンリー
メモリー(ROMと略称する)322とから構成
されている。MPU320にはアドレスバスAB、
データバスDB、コントロールバスCBがあり、こ
れらのバスにはエレベータ信号制御装置2などか
ら送信された来た信号や、信号入力装置の一種で
あるキーボード36からのキー入力信号を貯えて
おくRAM32と、テスト装置3の各種機能発揮
する様に組まれたプログラムを記憶しておく
ROM322が接続されている。さらにこれらバ
スには外部とのインタフエースを行うプリフエリ
アルインタフエースアダプター(PIAと略称す
る)311,312,CRT34に表示信号を出
力するビデオ制御回路33、モモデム38とのイ
ンタフエースを行うアンシンクローナスコミニユ
ケーシヨンインタフエースアダプタ(ACIAと略
称する)37が接続される。 マイコン22も回路的にはマイコン32と同一
構成となつており、符号信号をインタフエースす
る。PIA23はマイコン22により制御される上
記した3種のバスに接続される。 では次に1号機のマイコン22の動作概要を第
3図〜第5図により説明する。 第3図は、電源投入と同時に処理を始めるプロ
グラムPGM1のフローチヤートで、イニシヤラ
イズプログラムM100は、入出力インタフエー
ス回路21と符号信号インタフエース回路23に
使用するPIAの内部レジスタの初期設定と、
RAMの初期設定(一般には全エリアを“0”に
クリア)をする。同時にスタツクポインタの設定
も行なう。 次のステツプM110は、第2図に示すバス割
当信号線BC1の信号により、1号機のエレベー
タ信号制御装置2に対して符号信号を伝送するデ
ータ信号線DCBのバス使用許可中であるかを判
定する。もしそうであればプログラムM200へ
進み、キーボード36から入力された指令に基ず
くテストデータをマイコン22へ入力する制御を
行なう。次にプログラムM300へ進み、1号機
エレベータ信号制御装置2からテスト装置3へ送
信すべきモニター用データ送信プログラムの処理
を行う。そしてこれら2つのプログラムは、もし
群管理制御装置4のバス使用許可中であると1号
機のバス使用許可信号BC1は“0”であり、こ
の時はステツプM100の判定結果はNOとなり
ステツプM110で待機した様になり、バス使用
許可があるとこれら2つのプログラムはループ処
理を行う。(詳細は後述する。) 第4図は、以後特に詳細に説明をする。1号機
のマイコン22を例に挙げて図示したもので、
RAMやROMなどの割付状況を示したアドレス
マツプの概念図である。 アドレスエリアとしてa〜kのエリアがあり、
aはアドレス数値の小さい番地に属し、kはアド
レスの大きい番地に属する。 アドレスエリアaは、MPUで演算に必要な多
目的に使用するワークメモリエリアである。アド
レスエリアbは、エレベータ制御系1から入力し
た制御入力データを格納するエリアである。アド
レスエリアcは内部データメモリエリアで、kエ
リアに格納されているプログラムにより作成す
る。 アドレスエリアdはエレベータ制御系1へ出力
する制御出力データを格納するエリアで、kエリ
アに格納されているプログラムにより作成する。
このa,b,c,dエリア22を構成する第1の
RAM1のアドレス領域でもある。 次にアドレスエリアeはテスト装置3から送信
されてきた信号を格納するテストデータメモリエ
リアである。アドレスエリアfはiエリアに格納
されているテストデータ受信プログラムにより作
成される設定データやテスト用フラグ信号を格納
するテストフラグエリアである。 このe、fエリアは、マイコン22を構成する
第2のRAM2のアドレス領域でもある。 次にアドレスエリアgは第1図の入出力インタ
フエース用PIAのレジスターのエリア、アドレス
エリアgはテスト装置との符号信号インタフエー
ス回路23用PIAのレジスタのエリアである。 アドレスエリアi,j,kはプログラムエリア
であり、iはテストデータ受信とその処理を行う
プログラムエリア、jはRAM1に格納されている
情報の中でテスト装置3で必要とするデータを送
信するプログラムエリア、kは号機制御プログラ
ムエリアである。kのエリアはマイコン22を構
成する第1のROM1のエリアでもあり、iとjの
エリアは第2のROM2のエリアでもある。以上述
べたように一つのマイコン内においてはメモリ、
入出力インタフエース回路とも同一アドレス空間
に重複した割付けることはできない。 ここでテスト装置3を常時は必要としない場合
のエレベータ制御装置においては、RAM2、符号
信号インタフエース回路23、ROM2を不要とで
きるので、これらの回路を他の回路と別の実装体
とし、例えば試運転中や保守中のみ附加する運用
ができる。これによりこれらテストや保守のため
の回路は複数台当り1組を用意すれば良いので安
価なテストシステムとできる。 第5図は第1図割込パルス発生回路24からの
割込みパルスCL2により起動される号機制御プ
ログラムPGM2のジエネラルフローチヤート
(以下GFCと略称する)を示す。 外部からマイコン22のMPUに割込み信号が
入ると、まず第3図で述べたテスト装置に関連す
るステツプM110、プログラムM200,M3
00の処理を一時中断し、各種レジスを退避さ
せ、それから第5図のプログラムの処理を行う。 まず、プログラムM400のタイマー制御プロ
グラムの処理を実行し、シーケンスプログラム
PCM21でカウント要求のあるタイマーの時限
経過カウントと当該タイマーのカウント数値の大
きさよりプログラムされた所定時限を満了したか
を判定しタイマ出力フラグをセツトする等のタイ
マ制御を行う。全てのタイマー処理が終るとプロ
グラムM440に進みエレベータ制御系1からの
制御入力信号を入力するプログラムが処理され
る。 次に新たに入力された制御入力データとすでに
RAM1やRAM2に記憶している内部データ等を入
力データとするシーケンスプログラムPGM21
の処理を行う。シーケンスプログラムPGM21
の代表的な機能を制御する。タスクプログラムと
して第5図ではプログラムM470〜プログラム
M650から成る7つのタスクプログラムを示し
ているが、一般にこれらはるかに多いプログラム
が組み入れられる。なお、本発明は第5図に示す
号機制御プログラムに関連するが、説明を簡潔に
する目的でこれらの全般的な機能の説明は省略
し、本発明と直接関連するプログラムに関する説
明を後述する第17図〜第19図の説明の際に行
う。 これらのシーケンスプログラムPGM21の処
理の結果、すなわち制御出力データメモリエリア
eにストアされたデータをプログラムM690に
よりエレベータ制御系1へ出力することにより、
たとえばかご応答灯の点灯やドア開閉制御指令を
行う。 以上の処理が終ると割込みプログラムの処理は
全て終り、再び第3図に示す繰り返えし処理をす
るテスト装置に関係するプログラムの処理へ戻
る。 では次にテスト装置3のマイコン32の動作概
要を第6図と第7図により説明する。 第6図は電源投入と同時に起動を始めるプログ
ラムPGM70のフローチヤードで、イニシヤラ
イズプログラムM710は第2図に示すPIA31
1と、PIA312と、インタフエース回路35の
一実施例であるPIAと、ACIA37の内部レジス
ターの初期設定と、RAM321と、ビデオ制御
回路33の内部メモリの初期設定(RAM321
は一般に全エリアを“0”にクリアする)とを行
う。次にプログラムM720,M730をループ
処理する。プログラムM720はテスト運転操作
に必要な指令を入力する信号入力装置36の入出
力制御を行い、プログラムM730はCRTに表
示したいデータの出力制御を行う。 第7図は、エレベータ制御ブロツク(第2図の
2,4,5)からの割込み信号RCにより起動さ
れるプログラムPGM80であり、共通データバ
スDCBの使用許可信号の制御、テストデータの
送信、制御データの受信、故障検出とその自動記
録や報知などの制御を行う。 第7図の具体的説明に先立つて第8図により、
共通バスDCBの制御方法や本発明を具体的に適
用した第2図の全体的な動作を第8図のタイムチ
ヤートにより説明する。 1号機のバス使用許可信号BC1が“1”の時
に1号機の運転制御を行う割込処理プログラム
PGM2が終了すると、直ちにテストと保守のた
めに必要な符号化された信号を送受したりテスト
データを処理しテスト運転制御を行うプログラム
M200とM300(記号)が実行される。こ
れの処理が終ると同時にバス使用許可信号BC1
は“0”となり、1号機のプログラムPGM1は、
ステツプM110をループすることになる。 そして時点t1やt2における割込みパルスCL2の
立下りにより、プログラムPGM2が一定周期ご
とに起動されるので、エレベータは必要な応答速
度を持つマイコン22により円滑に運転制御され
る。 バス許可信号DC1〜BC3は、第8図に示す様
に決してラツプすることなく循環制御されてお
り、他の制御装置ブロツクも平等に制御される様
になつている。 テスト測置3は第8図に示す如く、割込処理プ
ログラムPGM80が起動されていない時間帯を
つなぎ合わせる様にしてキーボードなどによる入
力装置とのインタフエース処理やCRTへの表示
データの作成処理をを行うプログラムM720と
M730をループ処理する。 再び第7図の説明に戻る。ステツプM805は
割込み信号RCにより一旦プログラムPGM80が
起動されると、これが終了するまで送受制御信号
RCを割込信号としてではなく、データ確立信号
として使用する目的で割込みマスクをかける。 ステツプM810は第10図に示す様に、第1
に送信されてくるブロツク信号とバス使用許可信
号を出力している制御装置ブロツク信号を示す整
数lとが一致していることを確認する。もし不一
致のためNOあればその時のlや受信したブロツ
ク番号を記録し、次のブロツクは正常かもしれな
いので、プログラムM850へジヤンプする。 YESであればテストデータ送信プログラムM
820とと制御データ受信プログラムM840
は、許可されているブロツクのマイコンとハンド
シエイク方式により処理する。これが終るとステ
ツプM849によりバス使用許可信号を一時
OFFにし、各ブロツクにおけるプログラムPGM
1に対応する処理をテスト装置が故障関係プログ
ラムM890〜M894を実行中に無駄に進むの
を阻止している。次にプログラムM840で受信
した信号の合理性チエツクや安全性チエツクを行
うプログラムM890を処理した結果をステツプ
892で判定し、万一故障と判定されるとACIA
37とモデム38を至てそのビルの管理人室や別
ビルの保守会社に設置された遠方保守装置へ警報
または通報情報を送るとともにこれを記憶してお
くなどの制御を行う。 以上でブロツクlの処理が終了したのでプログ
ラムM850でlの循環制御を行い、プログラム
M870でこれを出力し、ステツプM880で割
込みを解除し、テスト装置は次のブロツクの処理
への移行準備を完了する。 あるブロツクが完全に停止状態にある時の対策
として第6図にプログラムM740を追加し、一
定時限以上割込みパルスRCが入力されないと次
のブロツクへ進める様に改良した。 次に本発明の中心を成すテストデータ受信プロ
グラムM200について、第9図によりその一実
施例を詳細に説明する。 まずステツプM202において、自分のブロツ
ク番号とテストデータの送信要求であることをテ
スト装置で確認させるためのコードを第1送受信
データとしてテスト装置へ送信すると共に、第7
図の割込プログラムPGM80を起動させる通信
制御信号RCに“1”を送信する。次にテスト装
置3から第10図に示す5つのデータを受信処理
するための初期設定を、ステツプM204で行な
う。 次にステツプM206とステツプM207のル
ープにより、テスト装置3からの1バイトデータ
送信完了信号の役割を持つRTB“1”になるまで
待つ。 これが入力されるデータバスDTBの第1送受
信データELNOのブロツク番号と自ブロツク番号
との一致を確認し、一致すれば再び信号RTBの
監視ステツプであるM210とM218をループ
する。 テスト装置3からデータバスDTBに第2受信
データTSTCDを送信すると、このループの判定
はステツプM210でYESとなり、ステツプM
212で第2受信データを第4図のエリアeに格
納する。次にステツプM214でカウンタCの+
1カウントUPを行う。尚カウンタCはステツプ
M204で数値0に設定されているので、カウン
タCは数値1となる。次々に受信する第3、第
4、第5受信データをステツプM212でそれぞ
れのアドレスへ格納する際に、カウンタCの数値
を使用するので1、2、3を増やす役割を持つて
いる。 ステツプM216は、第5受信データを受信す
ると本実施例においては受信完了であるから、カ
ウンタCの数値が4に達したかを判断し、ステツ
プM220へ進める。 ここではすでにテストデータメモリーエリアe
に格納されているテストコードTSTCDを調ら
べ、これに対応するプログラムの先頭アドレスを
選出し、次のステツプM222では選択された先
頭アドレスのテストプログラムへジヤンプし、こ
れを実行する。 尚、ここでステツプM207とM218はテス
ト装置3におけるテスト操作停止中またはテスト
データ送信関係のソフトまたはハードのトラブル
によりテストデータが送信されて来ないことを検
出するもので、第8図のタイムTiより長い時限
のオーバタイムにプログラムしてある。 またテスト終了によりテスト装置3を、例えば
ソケツトとコネクタなどによる着抜自在な接続器
26により、エレベータ信号制御装置2から切り
離したとする。これによりテストデータの受信が
なされないので、ステツプM207またはM21
8によりオーバータイムと判定され、ステツプM
224が起動され、過去に作成したテストデータ
フラグをオールクリアする。尚ここで、切り離な
されたブロツクのバス使用許可信号は“1”と成
る様に構成してあり、第3図のステツプM110
の判定はYESとなる様にしてある。 またテスト装置3のトラブルにより、所定時限
間隔以内にテストデータを送信しないとオーバタ
イムと判定され、誤動作しているとステツプ20
8でNOと判定され、ステツプM224のプログ
ラムが起動される。 ステツプM224が実行されると、全てのテス
ト機能を停止させることができるので機能的には
故障したテスト装置を自動的に切り離したことに
なる。 第9図に関する実施例の効果としてはテスト装
置の信頼性とエレベータ信号制装置の信頼性の相
互影響を極めて低くできる。 またテスト装置の入力操作によるテスト動作の
中止指示の忘れ等によるトラブルを未然に防止で
きる。 テストコードTSTCDとそのテスト機能の一実
施例を第10図と、下記第1表に示す。
【表】
【表】 ここでは第11図〜第15図によりテストコー
ド02のタイマ早め制御のテストプログラムM23
0からテストコード10のかご重量設定制御まで
のテストプログラムM270の具体的実施例を説
明する。他のテスト運転制御のプログラムも同様
に作成することができるが、具体的説明は省略す
る。 なお、第10図に示す第3受信データから第5
受信データに入るテストデータの示す情報の種類
は、テストコードにより異なる。またサービス階
床が24階床を越える場合がある時にはもつて多く
のテストデータとなり、この時は第9図のステツ
プM216の判定数値4を大きくすれば良い。 またテストコードTSTCDに応じて信号するデ
ータ長を可変にしたり、テストコードの一部を独
立させたり、テストコードの前後のデータ長を示
すコードを追加して制御する事は容易である。 この様な時はステツプM216の数値4は変数
となり、第9図は若干のフローの変更を必要とす
るが当該業者であれば容易なことである。 では第11図と第16図と第17図によりタイ
マーの早めテスト制御における一実施例を詳細に
説明する。 第11図のプログラムM230は、第2受信デ
ータTSTCDの数値が02の時に第9図のステツプ
M222で起動され実行処理されるタイマ早め制
御用テストプログラムM230を示す。 ステツプM232において第10図に示す第1
テストデータTSTDT1の数値を判定し、01が否
かを判定することにより、タイマー早め制御を開
始するテスト命令であるか、タイマー早め制御を
打ち切るテスト命令であるかを判断する。 前者の場合(TSTDT1=01)はYESとなり、
ステツプM234によりタイマー早めテストフラ
グFTIMを“1”にセツトする。 後者の場合はNOとなり、ステツプM236に
よりタイマー早めテストフラグFTIMを“0”に
クリアする。 また先にも説明した様に第9図のステツプM2
24のプログラムが実行された時もテストフラグ
FTIMは“0”にクリアされる。 この様にテストデータ受信プログラムM200
で制御されるテストフラグFTIMは、タイマー制
御プログラムM400でタイマーを早める制御を
するか否かに使用される。 第17図に示すタイマー制御プログラムM40
0の説明を容易にする目的でタイマー制御全般の
概説を行う。 タイマー制御プログラムM400は第8図に示
す様に割込みパルスCL2の周期ごとに起動され
る。例えばこの周期が10mSであるとすると、プ
ログラムPG2の一部を構成しているタイマー制
御プログラムは10mSごとに起動されるので、マ
イコン22のMPUが8bitマイコンであるとし、
シーケンスタイマーカウンター用内部データーレ
ジスターとして1バイト(8bit)を使用するもの
とする。この時得られる最大のデイレー時限は、
28×10mS=256×10mS=2.56秒である。これで
は自動ドア閉時限や、M−G自動停止時限や、ド
ア開延長時限や、ロープ伸び補償打切り時限、時
計用タイマー、交通量をサンプルするタイマー等
の長時限を必要とするタイマーを作ることはでき
ない。 また、テスト装置3からの指示によりタイマー
早めを行ないたいタイマー(上記した7つの事例
は全て含む)と、例えばM−GのY−△切替時限
の様に安全上タイマー早めが好ましくないもの
と、1秒未満のタイマーの様にタイマー早めをし
てもテスト効率が向上しない場合とがある。 上記した2つの実状をふまえ本実施例において
は、おのおの1バイトの2種類のタイマー用の基
準パルスレジスターPTMAとPTMBを設け、第
17図に示すプログラムM418においては、各
シーケンスタイマーのカウントはこれら基準パル
スの中から任意のパルスを選択し、このパルスが
“1”の時のみカウントUPし、“0”の時はカウ
ント数値を保持する様に処理される。 但し、基準パルスレジスターPTMBのみをタ
イマー早めテストフラグの指示によりパルス間隔
を1/32に短縮することができる様に構成してい
る。従つてタイマー早めを必要とするシーケンス
タイマーは基準パルスとしてレジスターPTMB
のパルスを使用する。 例えばタイマー早めを必要とする60秒のシーケ
ンスタイマーAでは、レジスターPTMBの0bit
目の0.64mS(後述する)の基準パルスを94カウン
トしたら、このシーケンスタイマーAの出力を
“1”とする様にプログラムを構成する。 60秒のタイマーは、タイマー早めテスト機能に
より早め動作にすると約2秒で動作するのでシー
ケンスチエツクのスピードUPの効果が得られる。 第16図は基準パルスPTMAを作成するプロ
グラムM401の具体的動作を説明している。 まずカウンタCTMAなる内部データをステツ
プM402によりACCA(accumulatorA)へロー
ドし、さらに補数を取る。すなわち第16図に示
す「ACCA←CTMA)の処理を行う。 ステツプM404によりカウンタCTMAのプ
ラス1カウントUPと行う。すなわち「CTMA←
CTMAtlの処理を行う。 次にステツプM406によりACCAとカウンタ
ーCTMAの論理積を各bitごとに取つた結果を基
準パルスレジターPTMAへストアする。 すなわち「PTMA←CTMA・ACCA」の処理
を行う。 プログラムM407によるレジスターCTMB
基本的には以上の動作により作成される。 これを要約すると次の通りである。両方のプロ
グラム共に、カウンタの各bitの中で“0”から
“1”に変化したたbitと同一の基準パルスレジス
ターのbitが、次にプログラムM400が起動さ
れる10mSの期間のみ“1”となる。 プログラムM407とプログラムM401の相
異点はステツプM410とステツプM412が追
加になつている点にあり、その他のステツプM4
08,M414,M416の処理の方法はプログ
ラムM401と同一である。 ステツプM410は前述したテストフラグ
FTIMがタイマー早め指令により、“1”となつ
ているか否かを判定する。 もし“0”であればNOとなりステツプM41
2より基準パルスレジスターPTMAの4bit目の
基準パルスPTMA4の判定を行う。もし“1”
であればステツプM414へ進めカウンター
CTMBを+1カウントUPさせるし、もし“0”
であればカウンターCTMBの数値は保留されス
テツプM416ではレジスターPTMBは全bit
“0”となる。 すなわち基準パルスレジスターPTMBの0bit
目の基準パルスPTMB0のパルス間隔は640sm(2
×21+4×10mS)となる。 これは10mSごとにプログラムM401が起動
され、さらに立上り検出により基準パルスを作る
ので基準パルスPTMA0のパルス間隔は20mS(2
×10mS)となる。従つて基準パルスPTMA4
320mS(2×24×10mS)となるためである。 一方タイマー早め指令によりテストフラグ
FTIM=“1”であるとステツプM410の判定
がYESとなり、基準パルスレジスターPTMAプ
ログラムM401と同様に毎回カウンター
CTMBがカウントUPされるので、基準パルス
PTMB0のパルス間隔は640mSであつたものが
20mSに短縮される。 従つてステツプM418により制御する各シー
ケンスタイマーの中で、基準パルスとして基準パ
ルスレジスタPTMBを使用したものはタイマー
時限の1/32の早め動作とできるので、保守時のシ
ーケンスチエツク効率が向上する。 次に第12図によりかご呼びセツト制御におけ
るテストプログラムM240の一実施例を説明す
る。 第2受信データTSTCDの数値が04の時に第1
2図に示すテストプログラムM240が起動され
る。次にステツプM242により割込パルスCL
2によりこのプログラムが中断されるのを阻止す
るために割込みマスクを行う。(理由は後述する)
次にステツプM244によりテストテストデータ
TSTDT1とTSTDT2をかご呼び釦入力データ
テーブルへ格納する。次のステツプには第5図に
示す号機制御プログラムPGM2の一部を構成す
る。 かご呼び登録プログラムM500のサブルーチ
ン(詳細は後述する)をそのまま流用して起動し
実行させる。 これによりテスト装置から送るテストデータの
信号により一部または全てのかご呼びの新規登録
(セツト)を行うことができる。 ステツプM246では割り込みマスクを解除
し、プログラムPGM2を起動できる様に制御す
る。 この実施例ではかご呼びセツト用テストデータ
をかご釦からの制御入力データをストアする番地
へストアし、本来の号機制御プログラムPGM2
の一部を流用してテスト処理させている。 このためにもしこのテスト処理中に割込みが入
り、プログラムPGM2が起動されるとプログラ
ムM440によりテストデータはこわされてしま
うので、これを防止するために短時間の間だけ割
込み処理を阻止する必要がある。 次に第13図と第19図によりかご呼びの登録
取り消しテスト制御における一実施例を詳細に説
明する。 第13図のテストプログラムM250は第2受
信データの数値が06の時に第9図のステツプM2
22で起動される。 ステツプ252によりかご呼びをオールクリア
するテストフルグFCRGCRを“1”にセツトし
次のステツプでサブルーチンM500を起動する
と、テストフラグFCRGCRが“1”であると、
全てのかご呼びがクリアされる。 次のステツプM254ではテストフラグ
FCRGCRを“0”に戻し、以後にプログラム
PGM2によりサブルーチンが実行した時にはか
ご呼びオール取り消しテスト制御を行なわない様
にしている。 第19図はサブルーチン化されたかご呼び登録
プログラムM500を詳細に説明したフローチヤ
ートである。 第1ステツプ502ではサービス方式選択制御
プログラムM470で作成された内部データであ
るサービスモードSMNOの数値が8以上である
か否かを判定する。 このテストモード番号SMNOの数値とサービ
ス方式の関係の一実施例を第2表に示す。
【表】
【表】

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 多階床間に就役するエレベータの信号制御部
    にマイクロコンピユータを用いてエレベータの運
    転制御を行なうものにおいて、平常の運転制御の
    他に試験運転制御を行う手段と、この試験運転制
    御手段を起動するための試験運転信号を発生する
    手段と、この試験運転信号発生手段の機能が停止
    したことを判断する手段と、この判断手段に応じ
    て上記試験運転制御から平常の運転制御へ切替え
    る手段を備えたことを特徴とするエレベータの試
    験運転装置。 2 特許請求の範囲第1項において、上記機能が
    停止したことを判断する手段は、上記試験運転信
    号発生手段からの信号が所定時間生じないことを
    検出する手段により構成したエレベータの試験運
    転装置。
JP21279787A 1987-08-28 1987-08-28 Erebeetanoshikenuntensochi Expired - Lifetime JPH0240591B2 (ja)

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JPH0791002B2 (ja) * 1988-07-23 1995-10-04 株式会社日立ビルシステムサービス 高速エレベータ調速機の試験装置
JPH0825699B2 (ja) * 1988-09-02 1996-03-13 三菱電機株式会社 エレベータ試験装置
JP2008132832A (ja) * 2006-11-27 2008-06-12 Isuzu Motors Ltd 車両のキャブロック機構

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