JPH023974A - ゲートターンオフサイリスタの駆動方法 - Google Patents
ゲートターンオフサイリスタの駆動方法Info
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- JPH023974A JPH023974A JP63152826A JP15282688A JPH023974A JP H023974 A JPH023974 A JP H023974A JP 63152826 A JP63152826 A JP 63152826A JP 15282688 A JP15282688 A JP 15282688A JP H023974 A JPH023974 A JP H023974A
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- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 3
- SUDBRAWXUGTELR-HPFNVAMJSA-N 5-[[(2r,3r,4s,5s,6r)-3,4,5-trihydroxy-6-(hydroxymethyl)oxan-2-yl]oxymethyl]-1h-pyrimidine-2,4-dione Chemical compound O[C@@H]1[C@@H](O)[C@H](O)[C@@H](CO)O[C@H]1OCC1=CNC(=O)NC1=O SUDBRAWXUGTELR-HPFNVAMJSA-N 0.000 description 1
- 101100449816 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) GTO1 gene Proteins 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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Landscapes
- Thyristors (AREA)
- Thyristor Switches And Gates (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、第1ベース層および第2ベース層の双方にゲ
ート電極を設けたダブルゲート型のゲトターンオフサイ
リスク(以下、ダブルゲートGTO)の駆動方法に関す
る。
ート電極を設けたダブルゲート型のゲトターンオフサイ
リスク(以下、ダブルゲートGTO)の駆動方法に関す
る。
(従来の技術)
ダブルゲートGTOは、アノード側およびカソード側双
方のベース層にゲート電極を設けてGTOの特性を改冴
しようとするものである。これまでその素子構造はいく
つか提案されているが。
方のベース層にゲート電極を設けてGTOの特性を改冴
しようとするものである。これまでその素子構造はいく
つか提案されているが。
未だ開発途上のものであって、具体的な特性や問題点は
これまで明らかになっていない。ダブルゲートGTOと
して従来特許提案されているものに、特開昭54−75
7号公報、特開昭59−52876号公報、特開昭59
−217365号公報等か挙げられる。
これまで明らかになっていない。ダブルゲートGTOと
して従来特許提案されているものに、特開昭54−75
7号公報、特開昭59−52876号公報、特開昭59
−217365号公報等か挙げられる。
本発明者等が実際にダブルゲートGTOを試作して、特
性の評価を行ったところによると、ダブルゲートを用い
てもそのターンオフ特性はシングルゲートGTOの場合
とそれ程大きい差が認められなかった。即ちテイル期間
以外はシングルゲートの場合と何等変わらず、ティルミ
流の低減も10%程度、テイル期間の電力損失の低減も
10%程度であった。この原因は、一般にnベース層の
幅がnベース層のそれに比べて10倍程度以上あり、そ
の結果として素子がオン時のキャリア総量がnベース層
内でnベース層内の10倍以上になり、従ってターンオ
フ時にアノード側の第2のゲート電極によるキャリア吸
出しの効果が相対的に非常に小さいためである。
性の評価を行ったところによると、ダブルゲートを用い
てもそのターンオフ特性はシングルゲートGTOの場合
とそれ程大きい差が認められなかった。即ちテイル期間
以外はシングルゲートの場合と何等変わらず、ティルミ
流の低減も10%程度、テイル期間の電力損失の低減も
10%程度であった。この原因は、一般にnベース層の
幅がnベース層のそれに比べて10倍程度以上あり、そ
の結果として素子がオン時のキャリア総量がnベース層
内でnベース層内の10倍以上になり、従ってターンオ
フ時にアノード側の第2のゲート電極によるキャリア吸
出しの効果が相対的に非常に小さいためである。
一方、シングルゲートGTOにおいて、高速のターンオ
フ動作を実現するためにオフゲート・パルスによるゲー
)?Ii流を中央接合電流よりも大きい値に設定する方
法が提案されている(Wm。
フ動作を実現するためにオフゲート・パルスによるゲー
)?Ii流を中央接合電流よりも大きい値に設定する方
法が提案されている(Wm。
Frederlck Wirth 、 “tllgh
5peed、 5nubberlessOperat
Ion of G T O−s Using a N
ew GateDrlvlng Technlque
、 In Corlr、Rec、 19813IE
EE IAS、pp、453−457)。しかしこの
方法も、単にゲート電流を大きくするだけでなく。
5peed、 5nubberlessOperat
Ion of G T O−s Using a N
ew GateDrlvlng Technlque
、 In Corlr、Rec、 19813IE
EE IAS、pp、453−457)。しかしこの
方法も、単にゲート電流を大きくするだけでなく。
ゲート電流igの変化率d ig /d tを充分に大
きくしなければならず、限界があった。
きくしなければならず、限界があった。
(発明が解決しようとする課題)
以上のようにダブルゲートGTOは1本来ターンオフ時
のキャリア排出にを効と思われたアノード側のゲート電
極の効果が十分でなく、スイッチングの高速化に余り効
果が得られていない、という問題があった。
のキャリア排出にを効と思われたアノード側のゲート電
極の効果が十分でなく、スイッチングの高速化に余り効
果が得られていない、という問題があった。
本発明は、この聞届を解決して、ダブルゲート電極の効
果を十分に発揮して高速のターンオフ動作を可能とした
ダブルゲートGTOの駆動方法を提供することを目的と
する。
果を十分に発揮して高速のターンオフ動作を可能とした
ダブルゲートGTOの駆動方法を提供することを目的と
する。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
本発明は、第1エミッタ層側の高抵抗の第1ベース層と
これより低抵抗の第2エミッタ層側の第2ベース層にそ
れぞれ第1のゲート電極と第2のゲート電極が形成され
た構造のダブルゲートGTOをターンオフ駆動するに際
し、第1のゲート電極に対するオフゲート・パルスの印
加を第2のゲート電極に対するそれに先行させ、かつ第
1および第2のゲート電極に印加するオフゲート・パル
スによるゲート電流をそれぞれの投入時の中央接合電流
よりも大きい値に設定することを特徴とする。
これより低抵抗の第2エミッタ層側の第2ベース層にそ
れぞれ第1のゲート電極と第2のゲート電極が形成され
た構造のダブルゲートGTOをターンオフ駆動するに際
し、第1のゲート電極に対するオフゲート・パルスの印
加を第2のゲート電極に対するそれに先行させ、かつ第
1および第2のゲート電極に印加するオフゲート・パル
スによるゲート電流をそれぞれの投入時の中央接合電流
よりも大きい値に設定することを特徴とする。
(作用)
本発明の駆動方法によれば、第2のゲート電極へのオフ
ゲートパルスの印加に先行して第1のゲート電極にオフ
ゲートパルスを印加して、先ず全電流を第1エミッタ層
から第1ベース層側に転流させ、更に第2のゲート電極
にオフゲート・パルスを印加して全電流を第2エミッタ
層から第2ベース層へ転流させてnベース層とnベース
層からなるダイオードのみに電流を流すことにより、テ
イル期間の短いターンオフ動作が可能になる。またゲー
ト電流を充分大きい値に設定して上述のような電流動作
を行なわせることにより、ターンオフ時のエミッタ直下
の?Tt流集中を防止して、高い破壊耐量を得ることが
できる。
ゲートパルスの印加に先行して第1のゲート電極にオフ
ゲートパルスを印加して、先ず全電流を第1エミッタ層
から第1ベース層側に転流させ、更に第2のゲート電極
にオフゲート・パルスを印加して全電流を第2エミッタ
層から第2ベース層へ転流させてnベース層とnベース
層からなるダイオードのみに電流を流すことにより、テ
イル期間の短いターンオフ動作が可能になる。またゲー
ト電流を充分大きい値に設定して上述のような電流動作
を行なわせることにより、ターンオフ時のエミッタ直下
の?Tt流集中を防止して、高い破壊耐量を得ることが
できる。
(実施例)
以下2本発明の詳細な説明する。
第1図は、一実施例のダブルゲートGTO1(1工レメ
ント部のみ示す)とその駆動回路である。ダブルゲート
GTO1は、nエミッタ層(第1エミッタ層)11.n
ベース層(第1ベース層)12、nベース層(第2ベー
ス層)13およびnエミッタ層(第2エミッタ層)14
のpnpn構造を有する。nエミッタ層12はnベース
層13より高抵抗で厚い。nエミッタ層11にはアノー
ド電極15が、nエミッタ層15にはカソード電極16
が設けられ、nベース層12.nベース層13にはそれ
ぞれ第1のゲート電極17.第2のゲート電極18が設
けられている。2は主電源、3は負荷である。第1のゲ
ート電極17には第1ゲートパルス発生器4が接続され
、第2のゲート電極18には第2ゲートパルス発生器5
が接続されている。これらゲートパルス発生器4,5は
基準′パルス発生器6からの基準パルスを受けてそれぞ
れ必要なゲートパルスを発生するようになっている。第
2ゲートパルス発生器5内には、そのオフゲートパルス
を第1ゲートパルス発生器4からのオフゲートパルスに
対して遅らせる遅延回路を内蔵する。
ント部のみ示す)とその駆動回路である。ダブルゲート
GTO1は、nエミッタ層(第1エミッタ層)11.n
ベース層(第1ベース層)12、nベース層(第2ベー
ス層)13およびnエミッタ層(第2エミッタ層)14
のpnpn構造を有する。nエミッタ層12はnベース
層13より高抵抗で厚い。nエミッタ層11にはアノー
ド電極15が、nエミッタ層15にはカソード電極16
が設けられ、nベース層12.nベース層13にはそれ
ぞれ第1のゲート電極17.第2のゲート電極18が設
けられている。2は主電源、3は負荷である。第1のゲ
ート電極17には第1ゲートパルス発生器4が接続され
、第2のゲート電極18には第2ゲートパルス発生器5
が接続されている。これらゲートパルス発生器4,5は
基準′パルス発生器6からの基準パルスを受けてそれぞ
れ必要なゲートパルスを発生するようになっている。第
2ゲートパルス発生器5内には、そのオフゲートパルス
を第1ゲートパルス発生器4からのオフゲートパルスに
対して遅らせる遅延回路を内蔵する。
第2図は、この実施例の動作タイミング図である。ター
ンオン時は負の第1ゲートパルスS2と正の第2ゲート
パルスS3を同時に印加する。ターンオフ時には、正の
第1ゲートパルスS2を第1のゲート電極17に印加し
た後、所定の時間Δを遅らせて負の第2ゲートパルスS
3を第2のゲート電極18に印加する。このターンオフ
時のゲートパルスS2.S3によるゲート電流はこの実
施例ではいずれもその時の中央接合電流よりも大きい値
になるように設定される。また、遅延時間Δtは5〜1
00μsecの範囲で選ぶ。
ンオン時は負の第1ゲートパルスS2と正の第2ゲート
パルスS3を同時に印加する。ターンオフ時には、正の
第1ゲートパルスS2を第1のゲート電極17に印加し
た後、所定の時間Δを遅らせて負の第2ゲートパルスS
3を第2のゲート電極18に印加する。このターンオフ
時のゲートパルスS2.S3によるゲート電流はこの実
施例ではいずれもその時の中央接合電流よりも大きい値
になるように設定される。また、遅延時間Δtは5〜1
00μsecの範囲で選ぶ。
第3図(a)(b)は、この実施例でのターンオフ動作
時の素子内部の電流分布を模式的に示している。第1の
ゲート電極17に正の第1ゲートパルスが印加されると
、(a)に示すように素子内部の電子は第1ゲート電極
17に向かって流れ始める。これにより、pエミッタ1
1からの正孔注入領域は縮小し始め、そのゲート電流を
中央接合電流と同程度またはそれより大きくすることに
より、エミッタ中央への電流集中を生じることなく、p
エミッタの電流を転流することができる。
時の素子内部の電流分布を模式的に示している。第1の
ゲート電極17に正の第1ゲートパルスが印加されると
、(a)に示すように素子内部の電子は第1ゲート電極
17に向かって流れ始める。これにより、pエミッタ1
1からの正孔注入領域は縮小し始め、そのゲート電流を
中央接合電流と同程度またはそれより大きくすることに
より、エミッタ中央への電流集中を生じることなく、p
エミッタの電流を転流することができる。
こうしてGTOはトランジスタ・モードとなる。
その後第2ゲート電極18に負の第2ゲートパルスが印
加されると、素子内部の正孔が第2のゲート電極18に
向かって流れ始める。このときもゲト電流を中央接合電
流と同程度またはそれより大きく設定することにより、
nエミッタに流れていた電流をエミッタ中央での電流集
中を防止して転流することがてきる。これによりGTO
は。
加されると、素子内部の正孔が第2のゲート電極18に
向かって流れ始める。このときもゲト電流を中央接合電
流と同程度またはそれより大きく設定することにより、
nエミッタに流れていた電流をエミッタ中央での電流集
中を防止して転流することがてきる。これによりGTO
は。
(b)に示すようにアノード・カソード間には電流が流
れていないが、残留電荷により第1のゲート電極17と
第2のゲート電極18間でのみ電流が流れるダイオード
・モードを経て、やがてターンオフする。
れていないが、残留電荷により第1のゲート電極17と
第2のゲート電極18間でのみ電流が流れるダイオード
・モードを経て、やがてターンオフする。
第4図は1以上のターンオンからターンオフ動作におけ
る各部の電流、電圧および電力損失を示している。破線
は1通常のシングルゲートGT。
る各部の電流、電圧および電力損失を示している。破線
は1通常のシングルゲートGT。
での特性である。この実施例によれば、ターンオフ時の
ゲート電流の大きさおよび第1.第2ゲートパルスの印
加タイミングを設定することにより。
ゲート電流の大きさおよび第1.第2ゲートパルスの印
加タイミングを設定することにより。
中央接合電流の降下時間が大きく短縮され、またティル
ミ流の初期値の減少、テイル期間の短縮が図られている
。従ってこの実施例によれば。
ミ流の初期値の減少、テイル期間の短縮が図られている
。従ってこの実施例によれば。
GTO内部の電力損失を効果的に減少することができる
。電力損失の減少はスイッチング速度の向上にもつなが
り、GTOの高周波駆動を可能とする。
。電力損失の減少はスイッチング速度の向上にもつなが
り、GTOの高周波駆動を可能とする。
[発明の効果〕
以−L述べたように本発明の方法によれば、ダブルゲー
トGTOをターンオフ駆動する際に、第1のゲート電極
に対するオフゲートパルス印加を先行させ、またゲート
電流を中央接合電流と同程度またはそれより大きく設定
することにより、極めて低電力で高速のターンオフ動作
が可能になる。
トGTOをターンオフ駆動する際に、第1のゲート電極
に対するオフゲートパルス印加を先行させ、またゲート
電流を中央接合電流と同程度またはそれより大きく設定
することにより、極めて低電力で高速のターンオフ動作
が可能になる。
第1図は本発明の一実施例のダブルゲートGTOの駆動
回路を示す図、第2図はその駆動のタイミング図、第3
図(a)(b)はそのターンオフ時の素子内部電流分布
を示す図、第4図は同じく各部の電流、電圧および電力
損失の時間変化を示す図である。 1・・・ダブルゲートGT0,1.1・・・pエミッタ
層(第1エミッタ層)、12・・・nベース層(第1ベ
ースJ’W)、13・・・pベース層(第2ベース層)
、14・・・nエミッタ層(第2エミッタ層)。 15・・・アノード電極(第1の主電極)、16・・・
カソード電極(第2の主電極)、17・・・第1のゲー
ト電極、18・・・第2のゲート電極、2・・・主電源
。 3・・・負荷、4・・・第1ゲートパルス発生器、5・
・・第2ゲートパルス発生器、6・・・基阜パルス発生
器。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第 図 第 図
回路を示す図、第2図はその駆動のタイミング図、第3
図(a)(b)はそのターンオフ時の素子内部電流分布
を示す図、第4図は同じく各部の電流、電圧および電力
損失の時間変化を示す図である。 1・・・ダブルゲートGT0,1.1・・・pエミッタ
層(第1エミッタ層)、12・・・nベース層(第1ベ
ースJ’W)、13・・・pベース層(第2ベース層)
、14・・・nエミッタ層(第2エミッタ層)。 15・・・アノード電極(第1の主電極)、16・・・
カソード電極(第2の主電極)、17・・・第1のゲー
ト電極、18・・・第2のゲート電極、2・・・主電源
。 3・・・負荷、4・・・第1ゲートパルス発生器、5・
・・第2ゲートパルス発生器、6・・・基阜パルス発生
器。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第 図 第 図
Claims (1)
- 第1導電型の第1エミッタ層、第2導電型で高抵抗の第
1ベース層、第1導電型の第2ベース層および第2導電
型の第2エミッタ層がこの順に積層され、第1ベース層
および第2ベース層にそれぞれ第1のゲート電極および
第2のゲート電極が形成されたゲートターンオフサイリ
スタをターンオフ駆動するに際し、第1のゲート電極に
対するオフゲート・パルスを第2のゲート電極に対する
それに先行させ、かつ第1および第2のゲート電極に対
するオフゲート・パルスによるゲート電流をそれぞれの
投入時刻における中央接合電流と同程度またはそれより
大きい値に設定することを特徴とするゲートターンオフ
サイリスタの駆動方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63152826A JPH023974A (ja) | 1988-06-21 | 1988-06-21 | ゲートターンオフサイリスタの駆動方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63152826A JPH023974A (ja) | 1988-06-21 | 1988-06-21 | ゲートターンオフサイリスタの駆動方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH023974A true JPH023974A (ja) | 1990-01-09 |
Family
ID=15548988
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63152826A Pending JPH023974A (ja) | 1988-06-21 | 1988-06-21 | ゲートターンオフサイリスタの駆動方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH023974A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS50116428U (ja) * | 1974-03-06 | 1975-09-22 | ||
JPS50143522A (ja) * | 1974-05-07 | 1975-11-19 |
-
1988
- 1988-06-21 JP JP63152826A patent/JPH023974A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS50116428U (ja) * | 1974-03-06 | 1975-09-22 | ||
JPS50143522A (ja) * | 1974-05-07 | 1975-11-19 | ||
JPS5423811B2 (ja) * | 1974-05-07 | 1979-08-16 |
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