JPH0239422A - Cvd反応容器における膜脱落防止装置 - Google Patents
Cvd反応容器における膜脱落防止装置Info
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- JPH0239422A JPH0239422A JP18944288A JP18944288A JPH0239422A JP H0239422 A JPH0239422 A JP H0239422A JP 18944288 A JP18944288 A JP 18944288A JP 18944288 A JP18944288 A JP 18944288A JP H0239422 A JPH0239422 A JP H0239422A
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- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 16
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 31
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的コ
(産業上の利用分野)
本発明はCVD反応容器の壁に付着した膜の脱落を防止
するCVD反応容器における膜脱落防止装置に関する。
するCVD反応容器における膜脱落防止装置に関する。
(従来の技術)
例えば、プラズマCVDは、CVD反応容器としての真
空チャンバ内に反応ガスを供給するとともに電極部に高
周波を印加して真空チャンバ内をプラズマ状態として被
処理体に薄膜を形成するものであるが、この薄膜形成中
には真空チャンバ内上方の電極部に近接したところ例え
ば真空チャンバの天井や電極部を支えるステーに薄膜が
付着する。これを防ぐために電極部を真空チャンバの天
井から離すことが行なわれている。
空チャンバ内に反応ガスを供給するとともに電極部に高
周波を印加して真空チャンバ内をプラズマ状態として被
処理体に薄膜を形成するものであるが、この薄膜形成中
には真空チャンバ内上方の電極部に近接したところ例え
ば真空チャンバの天井や電極部を支えるステーに薄膜が
付着する。これを防ぐために電極部を真空チャンバの天
井から離すことが行なわれている。
ところが、電極部を真空チャンバから離しても真空チャ
ンバの天井には膜が付着する。さらに、この付着した位
置は電極部から離れているために被処理体の温度と比較
して低くなっている。このため、真空チャンバの天井や
ステーへの薄膜の付着力は弱く、脱落して真空チャンバ
内のごみとなってしまう。又、最悪の場合、脱落した膜
が被処理体に落下することもある。
ンバの天井には膜が付着する。さらに、この付着した位
置は電極部から離れているために被処理体の温度と比較
して低くなっている。このため、真空チャンバの天井や
ステーへの薄膜の付着力は弱く、脱落して真空チャンバ
内のごみとなってしまう。又、最悪の場合、脱落した膜
が被処理体に落下することもある。
(発明が解決しようとする課題)
以上のように真空チャンバに付着した膜が脱落して真空
チャンバ内のごみとなってしまう。
チャンバ内のごみとなってしまう。
そこで本発明は、付着した膜の脱落を防止してごみを全
く出さない信頼性の高いCVD反応容器における膜脱落
防止装置を提供することを目的とする。
く出さない信頼性の高いCVD反応容器における膜脱落
防止装置を提供することを目的とする。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
本発明は、CVD反応容器内に被処理体を配置するとと
もに反応ガスを供給して被処理体に薄膜を形成するCV
D反応容器における膜脱落防止装置において、CVD反
応容器内の上方でかつ電極部に近接するとともに被処理
体の上方となる位置に配置された防着板と、この防着板
を被処理体への薄膜形成に影響を与えない高温に加熱す
る加熱手段とを備えて上記目的を達成しようとするCV
D反応容器における膜脱落防止装置である。
もに反応ガスを供給して被処理体に薄膜を形成するCV
D反応容器における膜脱落防止装置において、CVD反
応容器内の上方でかつ電極部に近接するとともに被処理
体の上方となる位置に配置された防着板と、この防着板
を被処理体への薄膜形成に影響を与えない高温に加熱す
る加熱手段とを備えて上記目的を達成しようとするCV
D反応容器における膜脱落防止装置である。
(作用)
このような手段を備えたことにより、CVD’反応容器
内の上方でかつ電極部に近接するとともに被処理体の上
方となる位置に配置された防着板は、加熱手段により被
処理体への薄膜形成に影響を与えない高温に加熱される
。しかるに、防着板に付着した膜はその付着力が強くな
る。
内の上方でかつ電極部に近接するとともに被処理体の上
方となる位置に配置された防着板は、加熱手段により被
処理体への薄膜形成に影響を与えない高温に加熱される
。しかるに、防着板に付着した膜はその付着力が強くな
る。
(実施例)
以下、本発明の一実施例をプラズマCVDに適用した場
合について第1図を参照して説明する。
合について第1図を参照して説明する。
同図において1は真空チャンバであって、この真空チャ
ンバ1内には反応ガスが流量設定されて供給されるよう
になっている。又、この真空チャンバ1の内部には電極
部ステー2によって電極部3が上部から吊着される如く
支持されている。
ンバ1内には反応ガスが流量設定されて供給されるよう
になっている。又、この真空チャンバ1の内部には電極
部ステー2によって電極部3が上部から吊着される如く
支持されている。
方、真空チャンバ1の内部には基板カート4か設けられ
、この基板カート4上に基板ホルダ5か電極部3を囲む
如く立設されている。そして、これら基板ホルダ5には
それぞれ被処理体である基板6が電極部3と対向する面
側に配置されている。
、この基板カート4上に基板ホルダ5か電極部3を囲む
如く立設されている。そして、これら基板ホルダ5には
それぞれ被処理体である基板6が電極部3と対向する面
側に配置されている。
又、基板ホルダ5の基板6を支持する面とは反対の面と
対向する真空チャンバ1の面には、それぞれ基板加熱用
ヒータ7が配設されている。
対向する真空チャンバ1の面には、それぞれ基板加熱用
ヒータ7が配設されている。
ところで、真空チャンバ1の上方における電極部3に近
接した位置、例えば電極部3と基板6との間の距離と同
一距離おいた電極部3からの位置でかつ基板6の上方に
はステンレスから成る防着板8が着脱可能に取り付けら
れている。そして、この防着板8の電極部3側とは反対
の面側にはこの防着板8を加熱するシーズヒータ9が設
けられている。又、防着板8には熱電対から構成される
温度センサ10が取り付けられている。そして、シーズ
ヒータ9はフランジ11を介してヒータ電力コントロー
ラ12に接続されるとともに温度センサ10は同フラン
ジ11を介してPIDコントローラ13に接続されてい
る。このPIDコントローラ13は温度センサ10から
の温度検出信号を受けて加熱設定温度信号と比較してそ
の温度差を求め、この温度差が零となるようなヒータ電
力制御信号を求めてヒータ電力コントローラ12に送出
する機能を有するものである。なお、加熱設定温度は3
00〜350℃となっている。このヒータ電力コントロ
ーラ12はヒータ電力制御信号を受けてシーズヒータ9
に供給する電力を制御する機能を有するものである。
接した位置、例えば電極部3と基板6との間の距離と同
一距離おいた電極部3からの位置でかつ基板6の上方に
はステンレスから成る防着板8が着脱可能に取り付けら
れている。そして、この防着板8の電極部3側とは反対
の面側にはこの防着板8を加熱するシーズヒータ9が設
けられている。又、防着板8には熱電対から構成される
温度センサ10が取り付けられている。そして、シーズ
ヒータ9はフランジ11を介してヒータ電力コントロー
ラ12に接続されるとともに温度センサ10は同フラン
ジ11を介してPIDコントローラ13に接続されてい
る。このPIDコントローラ13は温度センサ10から
の温度検出信号を受けて加熱設定温度信号と比較してそ
の温度差を求め、この温度差が零となるようなヒータ電
力制御信号を求めてヒータ電力コントローラ12に送出
する機能を有するものである。なお、加熱設定温度は3
00〜350℃となっている。このヒータ電力コントロ
ーラ12はヒータ電力制御信号を受けてシーズヒータ9
に供給する電力を制御する機能を有するものである。
次に上記の如く構成された装置の作用について説明する
。
。
真空チャンバ1内に反応ガスが供給されるとともに電極
部3に高周波が供給されると、電極部3によって真空チ
ャンバ1内はプラズマ状態となる。
部3に高周波が供給されると、電極部3によって真空チ
ャンバ1内はプラズマ状態となる。
又、これと同時に基板加熱用ヒータ7が通電されて各基
板6が温度300〜350℃に加熱される。これにより
、真空チャンバ1内の反応が促進して基板6の表面に薄
膜が形成される。
板6が温度300〜350℃に加熱される。これにより
、真空チャンバ1内の反応が促進して基板6の表面に薄
膜が形成される。
このように基板6に薄膜が形成されている間にシーズヒ
ータ9にはヒータ電力コントローラ12によって電力が
供給され、これによりシーズヒータ9は防着板8を加熱
する。この防着板8の温度は温度センサ10によって検
出されてその温度検出信号がPIDコントローラ13に
送られる。このPIDコントローラ13は温度検出信号
を受けて検出温度と加熱設定温度とを比較してその温度
差を求め、この温度差を零とするようなヒータ電力制御
信号を求めてヒータ電力コントローラ12に送出する。
ータ9にはヒータ電力コントローラ12によって電力が
供給され、これによりシーズヒータ9は防着板8を加熱
する。この防着板8の温度は温度センサ10によって検
出されてその温度検出信号がPIDコントローラ13に
送られる。このPIDコントローラ13は温度検出信号
を受けて検出温度と加熱設定温度とを比較してその温度
差を求め、この温度差を零とするようなヒータ電力制御
信号を求めてヒータ電力コントローラ12に送出する。
かくして、ヒータ電力コントローラ12によってシーズ
ヒータ9へ供給する電力量が制御され、もって防着板8
は加熱設定温度300〜350℃に保たれる。この結果
、防着板8の温度は基板6の温度と同一となり、防着板
8に付着する膜の付着力は増大する。従って、この防着
板8に付着した膜は脱落することが無くなる。
ヒータ9へ供給する電力量が制御され、もって防着板8
は加熱設定温度300〜350℃に保たれる。この結果
、防着板8の温度は基板6の温度と同一となり、防着板
8に付着する膜の付着力は増大する。従って、この防着
板8に付着した膜は脱落することが無くなる。
このように上記一実施例においては、真空チャンバ1内
の上方でかつ電極部3に近接するとともに基板6の上方
となる位置に配置された防着板8を薄膜形成中の基板6
の温度とほぼ同一温度に加熱するように構成したので、
防着板8への膜の付着力か強くなって膜が脱落すること
がなくなる。
の上方でかつ電極部3に近接するとともに基板6の上方
となる位置に配置された防着板8を薄膜形成中の基板6
の温度とほぼ同一温度に加熱するように構成したので、
防着板8への膜の付着力か強くなって膜が脱落すること
がなくなる。
従って、真空チャンバ1内に脱落した膜によりごみが生
じることがなくなる。又、防着板8への付着量が多くな
れば、真空チャンバ1から防着板8を取り外して真空チ
ャンバ1の外部で酸処理等を行って膜を除去すればよい
。このようにすることにより防着板8を長期に亙って使
用できる。
じることがなくなる。又、防着板8への付着量が多くな
れば、真空チャンバ1から防着板8を取り外して真空チ
ャンバ1の外部で酸処理等を行って膜を除去すればよい
。このようにすることにより防着板8を長期に亙って使
用できる。
なお、本発明は上記一実施例に限定されるものでなくそ
の主旨を逸脱しない範囲で変形してもよい。例えば、防
着板8の温度は基板6とほぼ同一温度としたが、防着板
8の温度は基板6に影響を与えなければできる限り高温
の方が良く、高温にすればするほど付着力が大きくなる
。
の主旨を逸脱しない範囲で変形してもよい。例えば、防
着板8の温度は基板6とほぼ同一温度としたが、防着板
8の温度は基板6に影響を与えなければできる限り高温
の方が良く、高温にすればするほど付着力が大きくなる
。
又、第2図に示すように横型のCVD装置にも適用でき
る。この場合、真空チャンバ20の内部には基板21が
配置されるとともにこの基板21の対向位置に放電部2
2が設けられている。なお、23はヒータである。そし
て、真空チャンバ20の上方で放電部22に近接した位
置に防着板24か配置されるとともにこの防着板24を
加熱するシーズヒータ25が設けられている。しかるに
、かかる構成でも上記一実施例と同様の効果を奏するこ
とができる。
る。この場合、真空チャンバ20の内部には基板21が
配置されるとともにこの基板21の対向位置に放電部2
2が設けられている。なお、23はヒータである。そし
て、真空チャンバ20の上方で放電部22に近接した位
置に防着板24か配置されるとともにこの防着板24を
加熱するシーズヒータ25が設けられている。しかるに
、かかる構成でも上記一実施例と同様の効果を奏するこ
とができる。
さらに本発明はプラズマCVDに限らず常圧CVDや低
圧CVDにも適用できる。
圧CVDにも適用できる。
[発明の効果]
以上詳記したように本発明によれば、付着した膜の脱落
を防止してごみを全く出さない信頼性の高いCVD反応
容器における膜脱落防止装置を提供できる。
を防止してごみを全く出さない信頼性の高いCVD反応
容器における膜脱落防止装置を提供できる。
第1図は本発明に係わるCVD反応容器における膜脱落
防止装置をプラズマCVDに適用した場合の一実施例を
示す断面構成図、第2図は変形例を示す断面構成図であ
る。 1・・・真空チャンバ、2・・・電極部ステー 3・・
・電極部、4・・・基板カート、5・・・基板ホルダ、
6・・・基板、7・・・基板加熱用ヒータ、8・・・防
着板、9・・・シーズヒータ、10・・・温度センサ、
11・・・フランジ、12・・・ヒータ電力コントロー
ラ、13・・・PIDコントローラ。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図
防止装置をプラズマCVDに適用した場合の一実施例を
示す断面構成図、第2図は変形例を示す断面構成図であ
る。 1・・・真空チャンバ、2・・・電極部ステー 3・・
・電極部、4・・・基板カート、5・・・基板ホルダ、
6・・・基板、7・・・基板加熱用ヒータ、8・・・防
着板、9・・・シーズヒータ、10・・・温度センサ、
11・・・フランジ、12・・・ヒータ電力コントロー
ラ、13・・・PIDコントローラ。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図
Claims (1)
- CVD反応容器内に被処理体を配置するとともに反応ガ
スを供給して前記被処理体に薄膜を形成するCVD反応
容器における膜脱落防止装置において、前記CVD反応
容器内の上方でかつ電極部に近接するとともに前記被処
理体の上方となる位置に配置された防着板と、この防着
板を前記被処理体への薄膜形成に影響を与えない高温に
加熱する加熱手段とを具備したことを特徴とするCVD
反応容器における膜脱落防止装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18944288A JPH0239422A (ja) | 1988-07-28 | 1988-07-28 | Cvd反応容器における膜脱落防止装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18944288A JPH0239422A (ja) | 1988-07-28 | 1988-07-28 | Cvd反応容器における膜脱落防止装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0239422A true JPH0239422A (ja) | 1990-02-08 |
Family
ID=16241319
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18944288A Pending JPH0239422A (ja) | 1988-07-28 | 1988-07-28 | Cvd反応容器における膜脱落防止装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0239422A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0562035A1 (en) † | 1990-12-11 | 1993-09-29 | Lam Research Corporation | Minimization of particle generation in cvd reactors and methods |
US5326404A (en) * | 1991-12-19 | 1994-07-05 | Sony Corporation | Plasma processing apparatus |
KR100455426B1 (ko) * | 2002-03-29 | 2004-11-06 | 주식회사 엘지이아이 | 열교환기 연속 표면처리장비의 2열처리구조 |
WO2009063629A1 (ja) * | 2007-11-14 | 2009-05-22 | Emd Corporation | プラズマ処理装置 |
CN103710684A (zh) * | 2013-12-31 | 2014-04-09 | 中国航空工业集团公司北京航空制造工程研究所 | 一种用于化学气相沉积反应的一体化在线检测系统 |
CN114540947A (zh) * | 2022-02-24 | 2022-05-27 | 北京北方华创微电子装备有限公司 | 工艺腔室和半导体工艺设备 |
-
1988
- 1988-07-28 JP JP18944288A patent/JPH0239422A/ja active Pending
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0562035A1 (en) † | 1990-12-11 | 1993-09-29 | Lam Research Corporation | Minimization of particle generation in cvd reactors and methods |
EP0562035B2 (en) † | 1990-12-11 | 2001-09-05 | Lam Research Corporation | Minimization of particle generation in cvd reactors and methods |
US5326404A (en) * | 1991-12-19 | 1994-07-05 | Sony Corporation | Plasma processing apparatus |
KR100455426B1 (ko) * | 2002-03-29 | 2004-11-06 | 주식회사 엘지이아이 | 열교환기 연속 표면처리장비의 2열처리구조 |
WO2009063629A1 (ja) * | 2007-11-14 | 2009-05-22 | Emd Corporation | プラズマ処理装置 |
JP2009123906A (ja) * | 2007-11-14 | 2009-06-04 | Emd:Kk | プラズマ処理装置 |
US8931433B2 (en) | 2007-11-14 | 2015-01-13 | Emd Corporation | Plasma processing apparatus |
CN103710684A (zh) * | 2013-12-31 | 2014-04-09 | 中国航空工业集团公司北京航空制造工程研究所 | 一种用于化学气相沉积反应的一体化在线检测系统 |
CN114540947A (zh) * | 2022-02-24 | 2022-05-27 | 北京北方华创微电子装备有限公司 | 工艺腔室和半导体工艺设备 |
CN114540947B (zh) * | 2022-02-24 | 2023-11-14 | 北京北方华创微电子装备有限公司 | 工艺腔室和半导体工艺设备 |
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