JPH0237645A - 電子管用陰極 - Google Patents
電子管用陰極Info
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- JPH0237645A JPH0237645A JP63186106A JP18610688A JPH0237645A JP H0237645 A JPH0237645 A JP H0237645A JP 63186106 A JP63186106 A JP 63186106A JP 18610688 A JP18610688 A JP 18610688A JP H0237645 A JPH0237645 A JP H0237645A
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- electron
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Landscapes
- Solid Thermionic Cathode (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、TV用ジブラウン管どに用いられる電子管
用陰極に関するものである。
用陰極に関するものである。
!2図は従来のTV用ジブラウン管撮像管に用いられて
いる陰極を示すものであり、図において、CI+[シリ
コン(si)、マグネシウム(Mg)などの還元性元素
を微量含む主成分がニッケルからなる有底筒状の基体、
(2)ニこの基体fi+の底部上面に被着され、少なく
ともバリウム(Ba)を含み、他にストロンチウム(S
r)および/またはカルシウム(Ca)’z含むアルカ
リ土類金属酸化物からなる電子放射物質1、(3)は上
記基体(11内に配設されたヒータ(31で、加熱によ
り上記電子放射物質層(2)から熱電子を放出させるた
めのものである。
いる陰極を示すものであり、図において、CI+[シリ
コン(si)、マグネシウム(Mg)などの還元性元素
を微量含む主成分がニッケルからなる有底筒状の基体、
(2)ニこの基体fi+の底部上面に被着され、少なく
ともバリウム(Ba)を含み、他にストロンチウム(S
r)および/またはカルシウム(Ca)’z含むアルカ
リ土類金属酸化物からなる電子放射物質1、(3)は上
記基体(11内に配設されたヒータ(31で、加熱によ
り上記電子放射物質層(2)から熱電子を放出させるた
めのものである。
このように構成され之電子管用陰極において、基体tl
+への電子放射物質層(2)の被着に次のようにして行
なわれる。まず、アルカリ土類金@(Ba +Sr 1
Ca)の三元炭酸塩からなる懸濁液を基体tl+の底部
上面に塗布し、真空排気工種中にヒータ(3)によって
加熱する。この時、アルカリ土類金属の炭酸塩にアルカ
リ土類金属の酸化物に変わる。その後、アルカリ土類金
属の酸化物の一部を還元して半導体的性質金有するよう
に活性化を行なうことにより、基体(1)上にアルカリ
土類金属の酸化物からなる電子放射物質層(21を被着
形成している。
+への電子放射物質層(2)の被着に次のようにして行
なわれる。まず、アルカリ土類金@(Ba +Sr 1
Ca)の三元炭酸塩からなる懸濁液を基体tl+の底部
上面に塗布し、真空排気工種中にヒータ(3)によって
加熱する。この時、アルカリ土類金属の炭酸塩にアルカ
リ土類金属の酸化物に変わる。その後、アルカリ土類金
属の酸化物の一部を還元して半導体的性質金有するよう
に活性化を行なうことにより、基体(1)上にアルカリ
土類金属の酸化物からなる電子放射物質層(21を被着
形成している。
この活性化工程において、アルカリ土類金属の酸化物の
一部は次のように反応する。つまり、基体(1)内に含
有されたシリコン、マグネシウム等の還元性元素は拡散
によりアルカリ土類金属の酸化物と基体fi+の界面に
移動し、アルカリ土類金属酸化物と反応する。たとえば
、アルカリ土類酸化物として酸化バリウム(Bad)で
あれば次式fil 、 +21のように反応する。
一部は次のように反応する。つまり、基体(1)内に含
有されたシリコン、マグネシウム等の還元性元素は拡散
によりアルカリ土類金属の酸化物と基体fi+の界面に
移動し、アルカリ土類金属酸化物と反応する。たとえば
、アルカリ土類酸化物として酸化バリウム(Bad)で
あれば次式fil 、 +21のように反応する。
BaO+ 1/2S i −Ba + 1/23102
− [11BaO4Mg = Ba +Mg
O−+21この反応の結果、基体ill上に被着形成さ
れたアルカリ土類金属酸化物の一部が還元され、酸素欠
乏型の半導体となり、陰極温度700〜800℃の動作
温度で0.5〜0.8A/cm2の電子放射が得られる
ことになる。
− [11BaO4Mg = Ba +Mg
O−+21この反応の結果、基体ill上に被着形成さ
れたアルカリ土類金属酸化物の一部が還元され、酸素欠
乏型の半導体となり、陰極温度700〜800℃の動作
温度で0.5〜0.8A/cm2の電子放射が得られる
ことになる。
ところが、上記電子管用陰極でに、電子放射が0・5〜
0−8A/crn2以上の電流密度に取り出せない。
0−8A/crn2以上の電流密度に取り出せない。
その理由として、アルカリ土類金属酸化物の一部を還元
反応させた場合、上記+11 、 +21式からも明ら
かなように、基体tl+とアルカリ土類金属酸化物層と
の界面に3102 、MgOまfl f@ BaO−8
102などの複合酸化物層(中間層)が形成され、この
中間層が高抵抗層となって電流の流れを妨げること、お
よび上記中間層が基体ill中の還元性元素(Sl、M
g)が電子放射物質層(2)の表面側へ拡散するのを妨
げるため十分な量のバリウム(Ba )が生成されない
ためであると考えられている。つまり、電子管動作中に
基体il+と電子放射物質層(2)の界面近傍、特に基
体fi+表面近傍のニッケル結晶粒界と上記界面より1
0声m穆度電子放射物質層(21内側の位置に上記中間
層が偏析するため、電流の流れおよび電子放射物質層(
21表面側への還元性元素の拡散が妨げられ、高電流密
度下の十分な電子放出特性が得られないという問題があ
つ之。
反応させた場合、上記+11 、 +21式からも明ら
かなように、基体tl+とアルカリ土類金属酸化物層と
の界面に3102 、MgOまfl f@ BaO−8
102などの複合酸化物層(中間層)が形成され、この
中間層が高抵抗層となって電流の流れを妨げること、お
よび上記中間層が基体ill中の還元性元素(Sl、M
g)が電子放射物質層(2)の表面側へ拡散するのを妨
げるため十分な量のバリウム(Ba )が生成されない
ためであると考えられている。つまり、電子管動作中に
基体il+と電子放射物質層(2)の界面近傍、特に基
体fi+表面近傍のニッケル結晶粒界と上記界面より1
0声m穆度電子放射物質層(21内側の位置に上記中間
層が偏析するため、電流の流れおよび電子放射物質層(
21表面側への還元性元素の拡散が妨げられ、高電流密
度下の十分な電子放出特性が得られないという問題があ
つ之。
これに対して特願昭60−229303の出願には、基
体に0.01〜0・5重普チの希土類金属を含有させる
ことによって電子放射物質層を基体に被着形成する際の
活性化時に、アルカリ土類金属の炭酸塩が分解する際、
あるいは陰極としての動作中に酸化バリウムが解離反応
を起こす際に基体が酸化する反応を防止するとともに、
電子放射物質層中への基体に含有された還元性元素の拡
散を適度に制御し、還元性元素による複合酸化物からな
る中間層が基体と電子放射物質層との界面近傍に集中的
に形成されることを防止し、中間層を電子放射物質層内
に分散させるという技術が示されている。つまり、この
!2の従来例の電子管用陰極においてに、中間層が分散
されるために、1〜3A/am2a度の高電流@開動作
でのエミッション劣化が少ないという優れた特性を有す
るものである。ところがこのものにおいても、3A/c
m2を越える、たとえば4A/cm2の高電流密度動作
ではエミッション劣化が大きいという問題がある。更に
特願昭60−160851の出願にに、電子放射物質1
i1に0.1〜20重量%の希土類金属酸化物を含有さ
せることにより、eP12の従来例と同様、基体の酸化
を防止するとともに中間層を分散させるという技術が示
されている。
体に0.01〜0・5重普チの希土類金属を含有させる
ことによって電子放射物質層を基体に被着形成する際の
活性化時に、アルカリ土類金属の炭酸塩が分解する際、
あるいは陰極としての動作中に酸化バリウムが解離反応
を起こす際に基体が酸化する反応を防止するとともに、
電子放射物質層中への基体に含有された還元性元素の拡
散を適度に制御し、還元性元素による複合酸化物からな
る中間層が基体と電子放射物質層との界面近傍に集中的
に形成されることを防止し、中間層を電子放射物質層内
に分散させるという技術が示されている。つまり、この
!2の従来例の電子管用陰極においてに、中間層が分散
されるために、1〜3A/am2a度の高電流@開動作
でのエミッション劣化が少ないという優れた特性を有す
るものである。ところがこのものにおいても、3A/c
m2を越える、たとえば4A/cm2の高電流密度動作
ではエミッション劣化が大きいという問題がある。更に
特願昭60−160851の出願にに、電子放射物質1
i1に0.1〜20重量%の希土類金属酸化物を含有さ
せることにより、eP12の従来例と同様、基体の酸化
を防止するとともに中間層を分散させるという技術が示
されている。
この場合においては、4A/(m2以上の高電流密度動
作でも、エミッションの劣化を少なくできる。
作でも、エミッションの劣化を少なくできる。
しかしながら、このような従来の電子管用陰極において
は、通常の活性化工程を経た後4A/crn2以上の高
電流密度動作をさせると、バリウムの蒸発を抑える効果
が十分でないことがあり、このためエミッションの劣化
が大きい場゛合があるという問題点があった。
は、通常の活性化工程を経た後4A/crn2以上の高
電流密度動作をさせると、バリウムの蒸発を抑える効果
が十分でないことがあり、このためエミッションの劣化
が大きい場゛合があるという問題点があった。
この発明に上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、4A/Cm2以上の高電流密度動作において
、バリウムの蒸発を抑える効果が常にあり、長時間にわ
たって安定したエミッション特性を有する電子管用陰極
を得ることを目的とする。
たもので、4A/Cm2以上の高電流密度動作において
、バリウムの蒸発を抑える効果が常にあり、長時間にわ
たって安定したエミッション特性を有する電子管用陰極
を得ることを目的とする。
この発明に係る電子管用陰極に、主成分がニッケルから
なる基体上にイツトリウム、ランタン。
なる基体上にイツトリウム、ランタン。
セリウム、プラセオジム、ネオジム、サマリウム。
ガドリニウム、スカンジウム、ジスプロシウム。
ホルミウム、エルビウム、ツリウムから選ばれた希土類
金属の1種の粉末を焼結させ、その上に少なくともバリ
ウムを含むアルカリ土類金属酸化物を被着形成させたも
のである。
金属の1種の粉末を焼結させ、その上に少なくともバリ
ウムを含むアルカリ土類金属酸化物を被着形成させたも
のである。
この発明においてに、ニッケル基体上の希土類金属によ
り、還元性元素による複合酸化物からなる中間層が基体
と電子放射物質層との界面近傍に集中的に形成されるこ
とを防止し、中間層を電子放射物質層内に分散させ、ま
之上記電子放射物質層と基体との接着性を改善するとと
もに導電性を改善し、バリウムの蒸発を抑制するもので
ある。
り、還元性元素による複合酸化物からなる中間層が基体
と電子放射物質層との界面近傍に集中的に形成されるこ
とを防止し、中間層を電子放射物質層内に分散させ、ま
之上記電子放射物質層と基体との接着性を改善するとと
もに導電性を改善し、バリウムの蒸発を抑制するもので
ある。
以下に、この発明の一実施例を@1図に基づいて説明す
る。この図において、(1)は主成分がニッケルからな
る基体であシ、この基体(1)中にはSt。
る。この図において、(1)は主成分がニッケルからな
る基体であシ、この基体(1)中にはSt。
Mgなどの還元剤が含有されている。12)ニ基体+1
1の底部上面に被着された電子放射物質層である。
1の底部上面に被着された電子放射物質層である。
具体的にはバリウム、ストロンチウム、カルシウムの三
元酸化物である。(4)ハ希土類金属粉の焼結層である
。上記バリウムなどのアルカリ土類金属酸化物に、にじ
め炭酸塩で混合し、従来と同様に炭酸塩から酸化物への
分解過程及び酸化物の一部を還元する活性化過程を経る
。
元酸化物である。(4)ハ希土類金属粉の焼結層である
。上記バリウムなどのアルカリ土類金属酸化物に、にじ
め炭酸塩で混合し、従来と同様に炭酸塩から酸化物への
分解過程及び酸化物の一部を還元する活性化過程を経る
。
@3図u、@IC)具体例としてバリウム、ストロンチ
ウム、カルシウムの酸化物を電子放射物質層とし、スカ
ンジウム金属粉を基体il+の上面に焼結させたもの(
曲線B)、g!J2の具体例としてイツ) IJウム金
属粉を基体11+の上面に焼結させたもの(曲線C)を
用いて電子管用陰極を上記の方法で作成し、この電子管
用陰極を用いて2極真空管を作成し、4−4−3AAの
電流密度で動作させて寿命試験を行った場合のエミッシ
ョン電流の変化を調べた結果を示したものである。なお
、図中には従来例として酸化スカンジウム(SC203
)を4重量%含むもの(曲線A)を合わせて示しである
。
ウム、カルシウムの酸化物を電子放射物質層とし、スカ
ンジウム金属粉を基体il+の上面に焼結させたもの(
曲線B)、g!J2の具体例としてイツ) IJウム金
属粉を基体11+の上面に焼結させたもの(曲線C)を
用いて電子管用陰極を上記の方法で作成し、この電子管
用陰極を用いて2極真空管を作成し、4−4−3AAの
電流密度で動作させて寿命試験を行った場合のエミッシ
ョン電流の変化を調べた結果を示したものである。なお
、図中には従来例として酸化スカンジウム(SC203
)を4重量%含むもの(曲線A)を合わせて示しである
。
5c203を4重量%含むもの(A)に比較して、Sc
あるいにYを基体illに焼結したものにエミッション
劣化が少ない。
あるいにYを基体illに焼結したものにエミッション
劣化が少ない。
上述のように、ScやYの希土類金属を基体上面に焼結
させることにより従来に比較して優れた特性が得られる
のは、以下の理由によると考えられる。
させることにより従来に比較して優れた特性が得られる
のは、以下の理由によると考えられる。
電子管用陰極の動作とともに、SCの一部が基体(1)
の表面から約20.umの深さまで拡散する。−方、基
体+11内の還元剤S i 、Mg f”I Scとは
逆に表面へ拡散し、表面でBaOと反応し、遊離Baを
つくるが、又BaS to3を生成する。このBaSi
O3は中間層と呼ばれ、還元剤のBaOとの反応を阻害
する。
の表面から約20.umの深さまで拡散する。−方、基
体+11内の還元剤S i 、Mg f”I Scとは
逆に表面へ拡散し、表面でBaOと反応し、遊離Baを
つくるが、又BaS to3を生成する。このBaSi
O3は中間層と呼ばれ、還元剤のBaOとの反応を阻害
する。
しかし、この発明でに基体il+の表層に存在するSc
によって、上記中間m’を分解するので、還元剤81に
電子放射物質層(2)内へさらに移動でき、電子放射に
寄与する。
によって、上記中間m’を分解するので、還元剤81に
電子放射物質層(2)内へさらに移動でき、電子放射に
寄与する。
また、Sc[基体上面に粒子状に焼結されているので、
電子放射物質@(2)の基体fi+との接着性を改善す
る。その結果、導電性がよくなり、電子放射物質層の過
度の加熱がなくなす、Baの蒸発が少なくなるものであ
る。また、Yによる効果も同一である。Sc 、Y以外
にランタン、セリウム、プラセオジム、ネオジム、サマ
リウム、カドリニウム、ジスプロシウム、ホルミウム、
エルビウム、ツリウムも同様な効果がある。
電子放射物質@(2)の基体fi+との接着性を改善す
る。その結果、導電性がよくなり、電子放射物質層の過
度の加熱がなくなす、Baの蒸発が少なくなるものであ
る。また、Yによる効果も同一である。Sc 、Y以外
にランタン、セリウム、プラセオジム、ネオジム、サマ
リウム、カドリニウム、ジスプロシウム、ホルミウム、
エルビウム、ツリウムも同様な効果がある。
なお、これら希土類金属の基体への焼結は、種種の方法
があるが、例えば金属粉を含むペースト全印刷方法によ
り基体11+上に塗布し、真空中でこれを800〜10
00℃で加熱することで得られる。
があるが、例えば金属粉を含むペースト全印刷方法によ
り基体11+上に塗布し、真空中でこれを800〜10
00℃で加熱することで得られる。
この発明に係る電子管用陰極は以上述べたように、ニッ
ケルからなる基体上に、少なくともバリウムを含むアル
カリ土類金属酸化物を塗布するものにおいて、基体上に
イツトリウム、ランタン。
ケルからなる基体上に、少なくともバリウムを含むアル
カリ土類金属酸化物を塗布するものにおいて、基体上に
イツトリウム、ランタン。
セリウム、プラセオジム、ネオジム、サマリウム。
ガドリニウム、スカンジウム、ジスプロシウム。
ホルミウム、エルビウム、ツリウムから選ばれた少なく
とも1種を焼結させたことにより、4A7cm2以上の
高電流密度による動作の下での長寿命を確実に実現でき
るという効果を有する。
とも1種を焼結させたことにより、4A7cm2以上の
高電流密度による動作の下での長寿命を確実に実現でき
るという効果を有する。
第1図にこの発明の一実施例による電子管用陰極を示す
断面図、第2図は従来の電子管用陰極を示す断面図、第
3図は電子管用陰極を用い之2極真空管の寿命試、験時
間とエミッション電流との関係を示す図である。 なお、各図中、同一符号に同一、又は相当部分を示す。
断面図、第2図は従来の電子管用陰極を示す断面図、第
3図は電子管用陰極を用い之2極真空管の寿命試、験時
間とエミッション電流との関係を示す図である。 なお、各図中、同一符号に同一、又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 主成分がニッケルからなる基体上に、少なくともバリウ
ムを含むアルカリ土類金属酸化物を主成分とする電子放
射物質層を被着するものにおいて、上記ニッケル基体上
にイットリウム、ランタン、セリウム、プラセオジム、
ネオジム、サマリウム、ガドリニウム、スカンジウム、
ジスプロシウム、ホルミウム、エルビウム、ツリウムか
ら選ばれた少なくとも1種の希土類金属粉末を焼結させ
たことを特徴とする電子管用陰極。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63186106A JPH0237645A (ja) | 1988-07-25 | 1988-07-25 | 電子管用陰極 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63186106A JPH0237645A (ja) | 1988-07-25 | 1988-07-25 | 電子管用陰極 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0237645A true JPH0237645A (ja) | 1990-02-07 |
Family
ID=16182467
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63186106A Pending JPH0237645A (ja) | 1988-07-25 | 1988-07-25 | 電子管用陰極 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0237645A (ja) |
-
1988
- 1988-07-25 JP JP63186106A patent/JPH0237645A/ja active Pending
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