JP2891209B2 - 電子管用陰極 - Google Patents
電子管用陰極Info
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- JP2891209B2 JP2891209B2 JP28387796A JP28387796A JP2891209B2 JP 2891209 B2 JP2891209 B2 JP 2891209B2 JP 28387796 A JP28387796 A JP 28387796A JP 28387796 A JP28387796 A JP 28387796A JP 2891209 B2 JP2891209 B2 JP 2891209B2
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明はテレビ用ブラウン
管などに用いられる電子管用陰極の改良に関するもので
ある。本願は、特願平2−56855号(出願日平成2
年3月7日)を原出願とする分割出願である。
管などに用いられる電子管用陰極の改良に関するもので
ある。本願は、特願平2−56855号(出願日平成2
年3月7日)を原出願とする分割出願である。
【0002】
【従来の技術】図3は、例えば特公昭64−5417号
公報に開示されているような、テレビ用ブラウン管や撮
像管に用いられている電子管用陰極を示すものであり、
図において11はシリコン(Si)、マグネシウム(M
g)などの還元性元素を微量含む、主成分がニッケルか
らなる基体、12はニクロムなどで構成された陰極スリ
ーブ、15はこの基体11の上面に被着され、少なくと
もバリウムを含み、他にストロンチウムあるいは/及び
カルシウムを含むアルカリ土類金属酸化物21を主成分
とし、0.1〜20重量%の酸化スカンジウムなどの希
土類金属酸化物22を含んだ電子放射物質層、13は上
記基体11内に配設されたヒータで、加熱により上記電
子放射物質層15から熱電子を放出させるものである。
公報に開示されているような、テレビ用ブラウン管や撮
像管に用いられている電子管用陰極を示すものであり、
図において11はシリコン(Si)、マグネシウム(M
g)などの還元性元素を微量含む、主成分がニッケルか
らなる基体、12はニクロムなどで構成された陰極スリ
ーブ、15はこの基体11の上面に被着され、少なくと
もバリウムを含み、他にストロンチウムあるいは/及び
カルシウムを含むアルカリ土類金属酸化物21を主成分
とし、0.1〜20重量%の酸化スカンジウムなどの希
土類金属酸化物22を含んだ電子放射物質層、13は上
記基体11内に配設されたヒータで、加熱により上記電
子放射物質層15から熱電子を放出させるものである。
【0003】次に、このように構成された電子管用陰極
において、基体11への電子放射物質層15の被着方法
について説明すると、まずバリウム、ストロンチウム、
カルシウムの三元炭素塩と所定量の酸化スカンジウムを
バインダー及び溶剤とともに混合して、懸濁液を作成す
る。この懸濁液を基体11上にスプレイ法により約80
0μmの厚みで塗布し、その後、ブラウン管の真空排気
工程中にヒータ13によって加熱する。この時、アルカ
リ土類金属の炭酸塩はアルカリ土類金属酸化物に変わ
る。その後、アルカリ土類金属酸化物の一部を還元して
半導体的性質を有するように活性化を行なうことによ
り、基体11上にアルカリ土類金属酸化物21と希土類
金属酸化物22との混合物からなる電子放射物質層15
を被着せしめているものである。
において、基体11への電子放射物質層15の被着方法
について説明すると、まずバリウム、ストロンチウム、
カルシウムの三元炭素塩と所定量の酸化スカンジウムを
バインダー及び溶剤とともに混合して、懸濁液を作成す
る。この懸濁液を基体11上にスプレイ法により約80
0μmの厚みで塗布し、その後、ブラウン管の真空排気
工程中にヒータ13によって加熱する。この時、アルカ
リ土類金属の炭酸塩はアルカリ土類金属酸化物に変わ
る。その後、アルカリ土類金属酸化物の一部を還元して
半導体的性質を有するように活性化を行なうことによ
り、基体11上にアルカリ土類金属酸化物21と希土類
金属酸化物22との混合物からなる電子放射物質層15
を被着せしめているものである。
【0004】この活性化工程において、アルカリ土類金
属酸化物の一部は次の様に反応しているものである。つ
まり基体11中に含有されたシリコン、マグネシウム等
の還元性元素は拡散によりアルカリ土類金属酸化物21
と基体11の界面に移動して、アルカリ土類金属酸化物
と反応する。例えば、アルカリ土類金属化合物として酸
化バリウム(BaO)であれば次式(1)、(2)の様
に反応するものである。 2BaO+1/2Si = Ba+1/2Ba2SiO4 ・・・・(1) BaO+Mg = Ba+MgO ・・・・(2) これらの反応の結果、基体11上に被着形成されたアル
カリ土類金属酸化物21の一部が還元されて、酸素欠乏
型の半導体となり、電子放射が容易になる。電子放射物
質層に希土類金属酸化物が含まれない場合で、陰極温度
700〜800℃の動作温度で0.5〜0.8A/cm
2の電流密度動作が可能であり、電子放射物質層中に希
土類酸化物が含まれた場合で、1.32〜2.64A/
cm2の電流密度動作が可能になる。
属酸化物の一部は次の様に反応しているものである。つ
まり基体11中に含有されたシリコン、マグネシウム等
の還元性元素は拡散によりアルカリ土類金属酸化物21
と基体11の界面に移動して、アルカリ土類金属酸化物
と反応する。例えば、アルカリ土類金属化合物として酸
化バリウム(BaO)であれば次式(1)、(2)の様
に反応するものである。 2BaO+1/2Si = Ba+1/2Ba2SiO4 ・・・・(1) BaO+Mg = Ba+MgO ・・・・(2) これらの反応の結果、基体11上に被着形成されたアル
カリ土類金属酸化物21の一部が還元されて、酸素欠乏
型の半導体となり、電子放射が容易になる。電子放射物
質層に希土類金属酸化物が含まれない場合で、陰極温度
700〜800℃の動作温度で0.5〜0.8A/cm
2の電流密度動作が可能であり、電子放射物質層中に希
土類酸化物が含まれた場合で、1.32〜2.64A/
cm2の電流密度動作が可能になる。
【0005】一般に酸化物陰極の電子放射能力は酸化物
中の過剰Baの存在量に依存するので、希土類金属酸化
物が含まれない場合には高電流動作に必要な十分の過剰
Baの供給が得られず、動作可能な電流密度が小さい。
すなわち、上記した反応時に生成される副生成物であっ
て中間層と呼ばれている酸化マグネシウム(MgO)や
バリウムシリケイト(Ba2SiO4)が基体11のニッ
ケルの結晶粒界や基体11と電子放射物質層15との界
面に集中的に形成されるため、上式(1)および(2)
の反応がこれら中間層中のマグネシウムおよびシリコン
の拡散速度に律速され、過剰Baの供給が不足するため
である。電子放射物質層中に希土類金属酸化物が含まれ
る場合は、酸化スカンジウム(Sc2O3)を例にとり説
明すると、陰極動作時の基体11と電子放射物質層15
との界面では基体11中を拡散移動してきた還元剤の一
部と酸化スカンジウム(Sc2O3)が次の(3)式の様
に反応して少量の金属状のスカンジウムが生成され、金
属状のスカンジウムの一部は基体11のニッケル中に固
溶し、一部は上記界面に存在する。 1/2Sc2O3 +3/2Mg = Sc+3/2MgO ・・・・(3) (3)式の様に反応して形成された金属状のスカンジウ
ムは基体11上あるいは基体11のニッケルの粒界に形
成された上記中間層を次の(4)式の様に分解する作用
を有するので、過剰Baの供給が改善され、希土類金属
化合物が含まれない場合よりも高電流密度動作が可能に
なると考えられている。 1/2Ba2SiO4 +4/3Sc = Ba+1/2Si+2/3Sc2O3 ・・・・(4)
中の過剰Baの存在量に依存するので、希土類金属酸化
物が含まれない場合には高電流動作に必要な十分の過剰
Baの供給が得られず、動作可能な電流密度が小さい。
すなわち、上記した反応時に生成される副生成物であっ
て中間層と呼ばれている酸化マグネシウム(MgO)や
バリウムシリケイト(Ba2SiO4)が基体11のニッ
ケルの結晶粒界や基体11と電子放射物質層15との界
面に集中的に形成されるため、上式(1)および(2)
の反応がこれら中間層中のマグネシウムおよびシリコン
の拡散速度に律速され、過剰Baの供給が不足するため
である。電子放射物質層中に希土類金属酸化物が含まれ
る場合は、酸化スカンジウム(Sc2O3)を例にとり説
明すると、陰極動作時の基体11と電子放射物質層15
との界面では基体11中を拡散移動してきた還元剤の一
部と酸化スカンジウム(Sc2O3)が次の(3)式の様
に反応して少量の金属状のスカンジウムが生成され、金
属状のスカンジウムの一部は基体11のニッケル中に固
溶し、一部は上記界面に存在する。 1/2Sc2O3 +3/2Mg = Sc+3/2MgO ・・・・(3) (3)式の様に反応して形成された金属状のスカンジウ
ムは基体11上あるいは基体11のニッケルの粒界に形
成された上記中間層を次の(4)式の様に分解する作用
を有するので、過剰Baの供給が改善され、希土類金属
化合物が含まれない場合よりも高電流密度動作が可能に
なると考えられている。 1/2Ba2SiO4 +4/3Sc = Ba+1/2Si+2/3Sc2O3 ・・・・(4)
【0006】また、特開昭52−91358号公報には
機械的強度を増大するW、Moなどの高融点金属とM
g、Al、Si、Zrなどの還元剤とを含有するNi合
金からなる基体上で、電子放射物質層が被着される面に
Ni−W、Ni−Moなどの合金層をコーティングする
直熱型の陰極技術が開示されている。
機械的強度を増大するW、Moなどの高融点金属とM
g、Al、Si、Zrなどの還元剤とを含有するNi合
金からなる基体上で、電子放射物質層が被着される面に
Ni−W、Ni−Moなどの合金層をコーティングする
直熱型の陰極技術が開示されている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上記の製造方法により
形成された電子管用陰極においては、希土類金属酸化物
が過剰Baの供給を改善するものの、過剰Baの供給速
度は基体のニッケル中の還元剤の拡散速度に律速され、
2A/cm2以上の高電流密度動作での寿命特性は著し
く低くなるという課題を有していた。
形成された電子管用陰極においては、希土類金属酸化物
が過剰Baの供給を改善するものの、過剰Baの供給速
度は基体のニッケル中の還元剤の拡散速度に律速され、
2A/cm2以上の高電流密度動作での寿命特性は著し
く低くなるという課題を有していた。
【0008】また、後者に示したものにおいては、基体
自身に電流を流しその発熱を利用して電子放射物質層か
ら熱電子を放射させる直熱型陰極固有の問題点である基
体の熱変形を、Ni−W,Ni−Moなどの合金層を基
体上にコーティングすることにより、改善するものであ
り、高電流密度動作を可能にすることができなかった。
自身に電流を流しその発熱を利用して電子放射物質層か
ら熱電子を放射させる直熱型陰極固有の問題点である基
体の熱変形を、Ni−W,Ni−Moなどの合金層を基
体上にコーティングすることにより、改善するものであ
り、高電流密度動作を可能にすることができなかった。
【0009】この発明は、上記の問題を解決するために
なされたもので、基体上に金属層を形成し、この金属層
を基体中に拡散させることにより、基体中の還元剤に加
え、基体中に拡散された金属層が過剰Baの供給に寄与
するとともに、界面でこの金属層が安定して中間層の分
解効果を有する希土類金属の生成にも寄与するように作
用させ、特に2A/cm2以上の高電流密度動作での寿
命特性を向上させることを目的とする。
なされたもので、基体上に金属層を形成し、この金属層
を基体中に拡散させることにより、基体中の還元剤に加
え、基体中に拡散された金属層が過剰Baの供給に寄与
するとともに、界面でこの金属層が安定して中間層の分
解効果を有する希土類金属の生成にも寄与するように作
用させ、特に2A/cm2以上の高電流密度動作での寿
命特性を向上させることを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】この発明に係る電子管用
陰極は、主成分がニッケルからなり、少なくとも一種類
の還元剤を含有してなる基体と、該基体上に配設され、
前記還元剤よりも還元性が同等かまたは小さく、かつニ
ッケルよりも還元性が大きい金属であって、タングステ
ン、モリブデン、タンタルのうち少なくとも一種類以上
の金属を主成分とする金属層と、該金属層上に被着形成
され、少なくともバリウムを含むアルカリ土類金属の酸
化物と0.01〜25重量%の希土類金属酸化物であっ
て酸化スカンジウム、酸化イットリウムのうち少なくと
も一方を含む希土類金属酸化物とを含有してなる電子放
射物質層とを備えたものである。
陰極は、主成分がニッケルからなり、少なくとも一種類
の還元剤を含有してなる基体と、該基体上に配設され、
前記還元剤よりも還元性が同等かまたは小さく、かつニ
ッケルよりも還元性が大きい金属であって、タングステ
ン、モリブデン、タンタルのうち少なくとも一種類以上
の金属を主成分とする金属層と、該金属層上に被着形成
され、少なくともバリウムを含むアルカリ土類金属の酸
化物と0.01〜25重量%の希土類金属酸化物であっ
て酸化スカンジウム、酸化イットリウムのうち少なくと
も一方を含む希土類金属酸化物とを含有してなる電子放
射物質層とを備えたものである。
【0011】
実施の形態1.以下に、この発明の一実施の形態を図1
に基づいて説明する。図において、4は基体1の上面に
構成された例えばW、Mo、Taなどの少なくとも一種
の金属層、5はこの金属層4上に被着され、少なくとも
バリウムを含み、他にストロンチウムあるいは/及びカ
ルシウムを含むアルカリ土類金属酸化物6を主成分と
し、0.01〜25重量%の酸化スカンジウム、酸化イ
ットリウムなどの希土類金属酸化物7を含む電子放射物
質層である。
に基づいて説明する。図において、4は基体1の上面に
構成された例えばW、Mo、Taなどの少なくとも一種
の金属層、5はこの金属層4上に被着され、少なくとも
バリウムを含み、他にストロンチウムあるいは/及びカ
ルシウムを含むアルカリ土類金属酸化物6を主成分と
し、0.01〜25重量%の酸化スカンジウム、酸化イ
ットリウムなどの希土類金属酸化物7を含む電子放射物
質層である。
【0012】次に、この様に構成された電子管用陰極に
おいて、基体1への金属層4の形成方法について説明す
ると、まず少量のSi、Mgを含有するNi基体1を陰
極スリーブ2に溶接した後、この陰極基体部を例えば電
子ビーム蒸着装置内に配設し、10ー5〜10ー8Torr
程度の真空雰囲気でWを電子ビームで加熱蒸着するもの
である。その後、この陰極基体部を例えば水素雰囲気中
で800〜1100℃で加熱処理をするが、これは上記
金属層4内部あるいは表面に残存する酸素などの不純物
を除去し、またこの金属層4を焼結あるいは再結晶化あ
るいは基体1中への拡散をさせるためである。この様な
方法で金属層4が形成された陰極基体部上に従来と同様
に電子放射物質層5を被着形成するものである。
おいて、基体1への金属層4の形成方法について説明す
ると、まず少量のSi、Mgを含有するNi基体1を陰
極スリーブ2に溶接した後、この陰極基体部を例えば電
子ビーム蒸着装置内に配設し、10ー5〜10ー8Torr
程度の真空雰囲気でWを電子ビームで加熱蒸着するもの
である。その後、この陰極基体部を例えば水素雰囲気中
で800〜1100℃で加熱処理をするが、これは上記
金属層4内部あるいは表面に残存する酸素などの不純物
を除去し、またこの金属層4を焼結あるいは再結晶化あ
るいは基体1中への拡散をさせるためである。この様な
方法で金属層4が形成された陰極基体部上に従来と同様
に電子放射物質層5を被着形成するものである。
【0013】図2はこの様な方法で作成した本発明を実
施してなる電子管用陰極を通常のテレビジョン装置用ブ
ラウン管に装着し、通常の排気工程をへて完成したブラ
ウン管を電流密度2A/cm2の条件で動作させた時の
寿命特性を、従来例と比較して示したものである。ここ
で、金属層4としては膜厚0.2μmのW膜を形成し、
水素雰囲気中で1000℃で加熱処理を施した。なお、
電子放射物質層5としては、比較のため実施例および従
来例ともに、7重量%の酸化スカンジウムを含むアルカ
リ土類金属酸化物6を用いた。この図2から明らかなよ
うに、本実施の形態のものは従来例のものに比べ寿命中
のエミッション劣化が著しく少ないことがわかる。
施してなる電子管用陰極を通常のテレビジョン装置用ブ
ラウン管に装着し、通常の排気工程をへて完成したブラ
ウン管を電流密度2A/cm2の条件で動作させた時の
寿命特性を、従来例と比較して示したものである。ここ
で、金属層4としては膜厚0.2μmのW膜を形成し、
水素雰囲気中で1000℃で加熱処理を施した。なお、
電子放射物質層5としては、比較のため実施例および従
来例ともに、7重量%の酸化スカンジウムを含むアルカ
リ土類金属酸化物6を用いた。この図2から明らかなよ
うに、本実施の形態のものは従来例のものに比べ寿命中
のエミッション劣化が著しく少ないことがわかる。
【0014】この様に、この発明を実施してなる電子管
用陰極の優れた特性の原因は以下の様に考えられる。即
ち、この発明の金属層4は膜厚の薄い層として形成され
ているので、動作時において金属層4は基体1のNiの
結晶粒上または結晶粒内に分布し、このNiの結晶粒界
は基体1上面で電子放射物質層5側に露出しているの
で、基体1中の還元剤は金属層4の影響を受けず前述の
反応式(1)、(2)に基づき過剰Baを供給する。そ
れに加えて、金属層4であるWは次式(5)の様に、電
子放射物質層5の還元による過剰Baの供給にも寄与す
る。 2BaO+1/3W = Ba+1/3Ba2WO3 ・・・・(5) さらに、Wは基体1の還元剤であるSi、Mgよりも還
元性が小さいが、基体1のNi粒子上または粒子内に分
布しているので、電子放射物質層5内の酸化スカンジウ
ムとの反応が比較的容易に起こり、中間層分解の効果を
有するScの生成にも寄与する。
用陰極の優れた特性の原因は以下の様に考えられる。即
ち、この発明の金属層4は膜厚の薄い層として形成され
ているので、動作時において金属層4は基体1のNiの
結晶粒上または結晶粒内に分布し、このNiの結晶粒界
は基体1上面で電子放射物質層5側に露出しているの
で、基体1中の還元剤は金属層4の影響を受けず前述の
反応式(1)、(2)に基づき過剰Baを供給する。そ
れに加えて、金属層4であるWは次式(5)の様に、電
子放射物質層5の還元による過剰Baの供給にも寄与す
る。 2BaO+1/3W = Ba+1/3Ba2WO3 ・・・・(5) さらに、Wは基体1の還元剤であるSi、Mgよりも還
元性が小さいが、基体1のNi粒子上または粒子内に分
布しているので、電子放射物質層5内の酸化スカンジウ
ムとの反応が比較的容易に起こり、中間層分解の効果を
有するScの生成にも寄与する。
【0015】上記実施の形態においては、金属層4がW
である場合を例にとり説明したが、金属層4は基体1中
の還元剤の少なくとも一つの還元剤よりも還元性が同等
または小さく、Niより還元性が大きいことが望まし
い。その理由は、金属層4の還元性がNiよりも小さい
と過剰Baの供給効果が少なく、基体1中の還元剤の還
元性より大きいと過剰Baの主たる供給反応は金属層4
と電子放射物質層5との界面で起こり、基体1中の還元
剤の過剰Ba供給効果が小さくなり、上述した酸化スカ
ンジウムの中間層分解効果の特性への寄与が小さくなる
からである。
である場合を例にとり説明したが、金属層4は基体1中
の還元剤の少なくとも一つの還元剤よりも還元性が同等
または小さく、Niより還元性が大きいことが望まし
い。その理由は、金属層4の還元性がNiよりも小さい
と過剰Baの供給効果が少なく、基体1中の還元剤の還
元性より大きいと過剰Baの主たる供給反応は金属層4
と電子放射物質層5との界面で起こり、基体1中の還元
剤の過剰Ba供給効果が小さくなり、上述した酸化スカ
ンジウムの中間層分解効果の特性への寄与が小さくなる
からである。
【0016】上記金属層4としては基体1中の還元剤の
構成に依存するが、W、Mo、Taなどの少なくとも一
種の金属を選択すれば良い。また、上記金属層4は基体
1中の還元剤の少なくとも一つの還元剤よりも還元性が
同等または小さくNiより還元性が大きい金属、例えば
W、Mo、Taに、Niの還元性以下の金属、例えばN
iを加えた合金層で構成しても良い。
構成に依存するが、W、Mo、Taなどの少なくとも一
種の金属を選択すれば良い。また、上記金属層4は基体
1中の還元剤の少なくとも一つの還元剤よりも還元性が
同等または小さくNiより還元性が大きい金属、例えば
W、Mo、Taに、Niの還元性以下の金属、例えばN
iを加えた合金層で構成しても良い。
【0017】また、上記金属層4の厚みが2.0μm以
下であることが望ましく、特に0.8μm以下であると
高電流密度動作での寿命特性向上が著しい。これは、金
属層4の厚みが2.0μm以上では基体1中の還元元素
の電子放射物質層5への拡散がこの金属層4によって律
速され、還元元素によるBa供給が不足するためであ
る。
下であることが望ましく、特に0.8μm以下であると
高電流密度動作での寿命特性向上が著しい。これは、金
属層4の厚みが2.0μm以上では基体1中の還元元素
の電子放射物質層5への拡散がこの金属層4によって律
速され、還元元素によるBa供給が不足するためであ
る。
【0018】金属層4の形成された基体1は真空中また
は還元雰囲気中で最高温度が800〜1100℃で加熱
処理を施すが、この加熱処理により、金属層4を主に基
体1のNi粒子上または粒子内に分布するように制御す
ることが可能になり、基体1中の還元元素の電子放射物
質層5への拡散が適正に維持できる。
は還元雰囲気中で最高温度が800〜1100℃で加熱
処理を施すが、この加熱処理により、金属層4を主に基
体1のNi粒子上または粒子内に分布するように制御す
ることが可能になり、基体1中の還元元素の電子放射物
質層5への拡散が適正に維持できる。
【0019】この発明を実施してなる電子管用陰極はテ
レビ用ブラウン管や撮像管に適用可能であるが、投射型
テレビあるいは大型テレビなどのブラウン管に適用して
高電流で動作することにより、高輝度化が実現できる。
特にハイビジョンテレビ用ブラウン管の高輝度化に有効
である。また、ディスプレイモニタ用ブラウン管に高電
流密度で適用すること、即ち電流取出し面積を従来より
小さくして適用することにより、従来よりも高精細のブ
ラウン管が実現できる。
レビ用ブラウン管や撮像管に適用可能であるが、投射型
テレビあるいは大型テレビなどのブラウン管に適用して
高電流で動作することにより、高輝度化が実現できる。
特にハイビジョンテレビ用ブラウン管の高輝度化に有効
である。また、ディスプレイモニタ用ブラウン管に高電
流密度で適用すること、即ち電流取出し面積を従来より
小さくして適用することにより、従来よりも高精細のブ
ラウン管が実現できる。
【0020】
【発明の効果】この発明は以上述べた様に、電子管用陰
極において、主成分がニッケルからなり、少なくとも一
種類の還元剤を含有してなる基体と、該基体上に配設さ
れ、前記還元剤よりも還元性が同等かまたは小さく、か
つニッケルよりも還元性が大きい金属であって、タング
ステン、モリブデン、タンタルのうち少なくとも一種類
以上の金属を主成分とする金属層と、該金属層上に被着
形成され、少なくともバリウムを含むアルカリ土類金属
の酸化物と0.01〜25重量%の希土類金属酸化物で
あって酸化スカンジウム、酸化イットリウムのうち少な
くとも一方を含む希土類金属酸化物とを含有してなる電
子放射物質層とを備えたので、基体中の還元剤に加え、
基体中に拡散された金属層が過剰Baの供給に寄与する
とともに、界面でこの金属層が安定して中間層の分解効
果を有する希土類金属の生成にも寄与するように作用す
る。これにより、従来の酸化物陰極では適用困難であっ
た2A/cm2以上の高電流密度動作が可能な電子管用
陰極を提供できるようになり、従来では困難であった高
輝度、高精細のブラウン管を実現するという効果を有す
る。
極において、主成分がニッケルからなり、少なくとも一
種類の還元剤を含有してなる基体と、該基体上に配設さ
れ、前記還元剤よりも還元性が同等かまたは小さく、か
つニッケルよりも還元性が大きい金属であって、タング
ステン、モリブデン、タンタルのうち少なくとも一種類
以上の金属を主成分とする金属層と、該金属層上に被着
形成され、少なくともバリウムを含むアルカリ土類金属
の酸化物と0.01〜25重量%の希土類金属酸化物で
あって酸化スカンジウム、酸化イットリウムのうち少な
くとも一方を含む希土類金属酸化物とを含有してなる電
子放射物質層とを備えたので、基体中の還元剤に加え、
基体中に拡散された金属層が過剰Baの供給に寄与する
とともに、界面でこの金属層が安定して中間層の分解効
果を有する希土類金属の生成にも寄与するように作用す
る。これにより、従来の酸化物陰極では適用困難であっ
た2A/cm2以上の高電流密度動作が可能な電子管用
陰極を提供できるようになり、従来では困難であった高
輝度、高精細のブラウン管を実現するという効果を有す
る。
【図1】 この発明の一実施の形態による電子管用陰極
の断面図である。
の断面図である。
【図2】 この発明を実施してなる電子管用陰極を装着
したブラウン管の寿命試験時間とエミッション電流比を
示す特性図である。
したブラウン管の寿命試験時間とエミッション電流比を
示す特性図である。
【図3】 従来の電子管用陰極の構造を示す断面図であ
る。
る。
1 基体、 2 陰極スリーブ、 3 ヒータ、 4
金属層、5 電子放射物質層、 6 アルカリ土類金
属酸化物、7 希土類金属酸化物
金属層、5 電子放射物質層、 6 アルカリ土類金
属酸化物、7 希土類金属酸化物
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大平 卓也 神奈川県鎌倉市大船2丁目14番40号 三 菱電機株式会社 生活システム研究所内 (72)発明者 渡部 勁二 神奈川県鎌倉市大船2丁目14番40号 三 菱電機株式会社 生活システム研究所内 (72)発明者 中西 寿夫 京都府長岡京市馬場図所1番地 三菱電 機株式会社 京都製作所内 (72)発明者 佐野 金治郎 京都府長岡京市馬場図所1番地 三菱電 機株式会社 京都製作所内 (72)発明者 鎌田 豊一 京都府長岡京市馬場図所1番地 三菱電 機株式会社 京都製作所内 (72)発明者 新庄 孝 京都府長岡京市馬場図所1番地 三菱電 機株式会社 京都製作所内 (56)参考文献 特開 昭62−195826(JP,A) 実開 昭52−144653(JP,U) 特公 昭64−5417(JP,B2) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01J 1/26,1/14 H01J 9/04,29/04
Claims (1)
- 【請求項1】 主成分がニッケルからなり、少なくとも
一種類の還元剤を含有してなる基体と、該基体上に配設
され、前記還元剤よりも還元性が同等かまたは小さく、
かつニッケルよりも還元性が大きい金属であって、タン
グステン、モリブデン、タンタルのうち少なくとも一種
類以上の金属を主成分とする金属層と、該金属層上に被
着形成され、少なくともバリウムを含むアルカリ土類金
属の酸化物と0.01〜25重量%の希土類金属酸化物
であって酸化スカンジウム、酸化イットリウムのうち少
なくとも一方を含む希土類金属酸化物とを含有してなる
電子放射物質層とを備えたことを特徴とする電子管用陰
極。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28387796A JP2891209B2 (ja) | 1996-10-25 | 1996-10-25 | 電子管用陰極 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP28387796A JP2891209B2 (ja) | 1996-10-25 | 1996-10-25 | 電子管用陰極 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5685590A Division JP2758244B2 (ja) | 1990-03-07 | 1990-03-07 | 電子管用陰極 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09106750A JPH09106750A (ja) | 1997-04-22 |
JP2891209B2 true JP2891209B2 (ja) | 1999-05-17 |
Family
ID=17671342
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28387796A Expired - Fee Related JP2891209B2 (ja) | 1996-10-25 | 1996-10-25 | 電子管用陰極 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2891209B2 (ja) |
-
1996
- 1996-10-25 JP JP28387796A patent/JP2891209B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
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JPH09106750A (ja) | 1997-04-22 |
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