JPH0232248A - 長尺材の渦流探傷装置 - Google Patents

長尺材の渦流探傷装置

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JPH0232248A
JPH0232248A JP63182957A JP18295788A JPH0232248A JP H0232248 A JPH0232248 A JP H0232248A JP 63182957 A JP63182957 A JP 63182957A JP 18295788 A JP18295788 A JP 18295788A JP H0232248 A JPH0232248 A JP H0232248A
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JP
Japan
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inspected
probe
inspection surface
flaw detection
eddy current
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JP63182957A
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English (en)
Inventor
Akira Ogawa
小川 旭
Kiyohiro Terao
寺尾 精太
Tomoo Hotta
知夫 堀田
Yasuhiro Yoshida
泰洋 吉田
Noboru Seike
清家 昇
Hiroyoshi Koyanagi
小柳 裕義
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Japan Aircraft Manufacturing Co Ltd
JFE Engineering Corp
Original Assignee
Japan Aircraft Manufacturing Co Ltd
NKK Corp
Nippon Kokan Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ある。
〔従来の技術〕
最近、金属材の表面傷や表面近傍の内部欠陥を検査する
探傷方法として、渦流探傷法が注目されている。
この渦流探傷法は、原理的には、励振コイルが発生する
渦電流を被検査材に流し、被検査材中に流れる渦電流の
変化を検査コイルで検出して電子回路により表面傷や内
部欠陥の有無を判定するもので、この渦流探傷法は、磁
気探傷法のように被検査材を磁化する必要がないし、ま
た高速で連続した探傷を行なえるために、レール、各種
型鋼、棒材等の長尺材の探傷に適している。
第5図は上記渦流探傷法によって長尺材を探傷する従来
の渦流探傷装置を示したもので、図中2は被検査材1の
走行路を構成する被検香材搬送ローラであり、被検査材
1はこの搬送ローラ2上を走行してくる。3は被検査材
1の走行路の途中に配置された渦流探傷プローブである
。このプローブ3は、磁心の外側に励振コイルと検査コ
イルとを設けたプローブコイルをケース内に収納したも
のであり、このプローブ3はプローブ支持機構4に支持
させて、その先端面が被検査材1の検査面に対し一定の
ギャップhを存して近接対向するように設けられている
。上記プローブ支持機構4は、固定フレーム5で案内さ
れて被検査材1に対し接離する方向に移動するロッド6
に支持されたプローブ支持部材7と、このプローブ支持
部材7に設けられた検査面倣いローラ8と、上記プロー
ブ支持部材7を被検査材1側に押圧してこの支持部材7
に設けられている検査面倣いローラ8を被検査材]の検
査面に接触させるコイルばね9とからなっており、プロ
ーブ3は上記プローブ支持部材7に取付けられている。
この渦流探傷装置は、被検査材1をその長さ方向に走行
させながら上記渦流探傷プローブ3によって被検査材1
を探傷するもので、この被検査材1の探傷は一般に自己
比較法(差動法ともいう)によって行なわれている。こ
の自己比較法は、励振コイルの誘起電圧と、被検査材1
中に流れる渦電流によって検査コイルに誘起する電圧(
励振コイルとは逆方向の電圧)との比較によって傷の有
無を検査する方法であり、被検査材1巾を流れる渦電流
が一様であれば、励振コイルと検査コイルとの誘起電圧
(逆方向の電圧)が互いに打消し合って出力電圧は出な
いが、被検査材1に表面傷や内部欠陥があると、被検査
材1中を流れる渦電流の分布が変化して検査コイルに誘
起する電圧の大きさおよび位相が変化し、この変化に応
じた電圧信号が検査コイルから出力される。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、上記従来の渦流探傷装置では、検査面倣
いローラ8とプローブ3とを被検査材1の検査面に対し
て垂直に接離移動するプローブ支持部材7に設けている
ために、被検査材1に反りがあると、第6図に示すよう
にプローブ3と被検査材1の検査面との間のギャップh
が変化してしまい、このギャップの変化によってもプロ
ーブ3の出力か変化するために、これが誤探傷の原因と
なっていた。
本発明は上記のような実情にかんがみてなされたもので
あって、その目的とするところは、被検査材の反りに対
してもプローブと被検査材の検査面との間のギャップを
一定に保って信頼性の高い探傷を行うことができる長尺
材の渦流探傷装置を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は上記目的を達成するために、被検査材の検査面
に接する第1と第2の検査面倣いローラを備え、かつこ
の第1と第2の検査面倣いローラは前記被検査材の長さ
方向に間隔をおいて配置するとともに、前記検査面倣い
ローラの一方は、前記被検査材の検査面に対して接離移
動するプローブ支持ユニットに支持させ、他方の倣いロ
ーラは、前記プローブ支持ユニットに前記一方の倣いロ
ーラの設置位置を支点として前記被検査材の検査面に対
し接離回動可能に設けられかつばね力により前記被検査
材側に押圧される傾動テーブルに設けるとともに、前記
傾動テーブルに渦流探傷プローブを支持させたものであ
る。
〔作用〕
この渦流探傷装置によれば、被検査材に反りがあっても
、この被検査材の検査面に接する第1と第2の検査面倣
いローラが被検査材の反りに応じて変位し、この第1と
第2の検査面倣いローラの変位にともなって前記傾動テ
ーブルが被検査材と平行になるように回動するために、
この傾動テーブルに支持した渦流探傷プローブと、被検
査材の検査面との間のギャップが変化することはなく、
したがって、被検査材の反りに対してもプローブと被検
査材の検査面との間のギャップを一定に保って信頼性の
高い探傷を行なうことができる。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を、レールの足部を探傷する渦
流探傷装置について説明する。
第1図〜第3図において、図中11は探傷装置全体を支
持する昇降フレームであり、この昇降フレーム11は、
被検査レールIOの走行路と平行な左右2本の横梁12
.12と、レール走行路に対して直交する前後2本の水
平ロッド13.13とからなっている。この昇降フレー
ム11は、被検査レール10の走行路の下方に水平に設
けられており、レール走行路の両側に2本ずつ垂直に設
けられた4本の固定ガイドポスト14,14で左右の横
梁12.12の両端部を案内されて昇降するようになっ
ている。15は昇降フレーム11の2本のロッドia、
  13に摺動可能に支持されてレール走行路の幅方向
に移動する角枠状の横移動部材であり、この横移動部材
15は、上記各ロッド13.13の両端側にそれぞれ嵌
装したばね力の等しい一対のコイルばねte、 teに
より両側から押圧されて、常時はロッド13の長さ方向
中央部に位置している。17はこの横移動部材15を昇
降フレーム11とともに昇降させるメインシリンダ(エ
アーシリンダ)であり、このメインシリンダ17は、横
移動部材15の中央部に設けたブラケット18に連結さ
れている。なお、このメインシリンダ17は、横移動部
材15の横移動にともなって傾動するように設けられて
いる。19はプローブ支持ユニットであり、このプロー
ブ支持ユニット19は、上記横移動部材15に支持され
てその上側に設けられた揺動枠20と、この揺動枠20
内に設けられた前後一対の傾動テーブル21.21とか
らなっている。そして上記揺動枠20は、その前後面の
幅方向中央部を上記横移動部材15の前後部に設けたブ
ラケット22、22に支軸23により枢支されて、左右
方向(被検査レール10の幅方向)に傾き回動可能に支
持されている。24は揺動枠20の両測部中央と上記横
移動部材15との間に介在されたばね力が等しい一対の
コイルばねであり、揺動枠20は、このコイルばね24
.24によって水平状態に保持されている。また上記前
後一対の傾動テーブル21.21はそれぞれ、揺動枠中
央側の基端部を揺動枠20の前後方向中央部にレール走
行路と直交させて設けた支軸25に支持されて、この支
軸25を中心として上下方向つまり被検査レール10の
足裏面に対して接離する方向に回動可能に設けられてい
る。この各傾動テーブル21.21は、揺動枠20に設
けたばね受け26.26と傾動テーブル21.21の先
端部下面との間に介在させたコイルばね27.27によ
って上方に押圧されている。なお、この傾動テーブル2
1.21は図示しない長孔と長孔摺動ビンとにより傾動
範囲を規制されて、水平状態から上下方向にそれぞれ5
″〜IO″程度ずつだけ傾動するようになっている。そ
して、この各傾動テーブル21.21の上面には、それ
ぞれ、この傾動テーブル21.21と一体に傾動するプ
ローブ支持プレート28.28が被検査レール10の幅
方向に移動可能に設けられており、前側傾動テーブル2
1上のプローブ支持プレート28には、レール足部の右
側縁部を探傷する2個の固定プローブ30とレール足裏
面の右半分を探傷する旋回プローブ31が支持され、後
側傾動テーブル21上のプローブ支持プレート28には
、レール足部の左側縁部を探傷する2個の固定プローブ
30とレール足裏面の左半分を探傷する旋回プローブ3
1が支持されている。また、各プローブ支持プレート2
8.28はそれぞれ、傾動テーブル21.21に支持さ
せたエアーシリンダ29.29によって移動されるよう
になっており、上記固定プローブ30および旋回プロー
ブ31は、このプローブ支持プレート28.28の移動
により被検査レールIOの側縁部および足裏面に近接対
向されるようになっている。
上記各プローブ支持プレート28.28にそれぞれ支持
された2個の固定プローブ30の一方はレール足部の裏
面に対向し、他方のプローブはレール足部の側面に対向
しており、この固定プローブ30は、レール走行路を走
行してくる被検査レール10の足部側縁部をレール長さ
方向に直線状にスキャンしてレール足部側縁部を探傷す
る。そして、この2個の固定プローブ30は、プローブ
支持プレート28゜28に取付けたプローブ取付は部材
32に固定されており、またこのプローブ取付は部材3
2には、被検査レール10の足部側面に接して固定プロ
ーブ30とレール足部側縁との間のギャップを確保する
足部側面倣いローラ33が軸支されている。
また、各プローブ支持プレート2g、 Hにそれぞれ支
持された旋回プローブ31.31は、それぞれ、プロー
ブ支持プレート28に固定したモータ34に連結されて
回転する回転体35に、その回転中心からずらして2個
ずつ取付けられており、この旋回プローブ31は、回転
体35の回転により旋回されてレール足裏面の半分の領
域のほぼ全幅を円を描くようにスキャンする。なお、3
6は旋回プローブ31と図示しない探傷回路とを接続す
る非接触型中継器(例えばトランス)である。
第4図は各プローブ支持プレート28.28にそれぞれ
支持された旋回プローブ31.31のレール検査面スキ
ャン軌跡を示したもので、図中31a 、 31aは各
旋回プローブ31.31の有効探傷範囲を示している。
この図に示すように、各旋回プローブ31゜31は、レ
ール足裏面の右半分の領域と左半分の領域とをそれぞれ
この領域のほぼ全幅を円を描くようにスキャンする。ま
た、この実施例では、回転体35に2個の旋回プローブ
31を図示のような配置で取付けているから、レール足
裏面を、内側プローブと外側プローブとの有効探傷範囲
31aを加えた広幅の円を描くようにスキャンして、高
い探傷密度でレール足裏面を探傷することができる。ま
た、旋回プローブ31.31は、円を描くようにレール
足裏面をスキャンするから、レール長さ方向に沿う縦倍
も、斜め傷もレール長さ方向に沿う横倍もこれと交差す
る方向にスキャンすることになり、したがってこの旋回
プローブ31は、縦、斜め、横のいずれの傷も感度よく
検出する。
一方、第1図〜第3図において、37.38はプローブ
支持ユニット19の中間部と前後部とに設けられて被検
査レールIOの足裏面に接する足裏面倣いローラであり
、レール足裏面に対向する固定プローブ30および旋回
プローブ31とレール足裏面との間のギャップは、この
足裏面倣いローラ37.38によって確保されるように
なっている。この足裏面倣いローラのうち、中間の足裏
面倣いローラ37は、前記傾動テーブル21.21の傾
動中心の真上に位置させて揺動枠20の上部に横架1.
たローラ取付は板39上に設けられており、前後の足裏
面倣いローラ38、38はそれぞれ、上記傾動テーブル
21.21の先端部にそれぞれ立設したローラ取付は部
40.40の上端に軸支されている。なお、中間の足裏
面倣いローラ37は、前記傾動テーブル21.21が水
平状態にあるときに前後の足裏面倣いローラ38.3g
と同じレベルになる高さに設けられている。
上記渦流探傷装置は、レール走行路を走行してきた被検
査レールIOの先端が各足裏面倣いローラ37、38の
上を通過したときにメインシリンダ17によって上昇さ
れ、各足裏面倣いローラ37.38により被検査レール
lOの足裏面を倣いながら上記固定プローブ30.30
および旋回プローブ31.31により被検査レール10
の足裏面を探傷するもので、各足裏面倣いローラ37.
38のうち、中間の足裏面倣いローラ37はメインシリ
ンダ17の押力によってレール足裏面に押付けられ、前
後の足裏面倣いローラ38、38は、傾動テーブル21
.21を上方つまり被検査レール10側に押圧している
コイルばね27.27のばね力によってレール足裏面に
押付けられる。
そして、上記渦流探傷装置では、中間の足裏面倣いロー
ラ37は被検査レール10の検査面(足裏面)に対して
接離移動するプローブ支持ユニット19に支持させ、前
後の足裏面倣いローラ38.38は、前記プローブ支持
ユニット19に前記中間の倣いローラ37の設置位置を
支点として前記被検査レール10の検査面に対し接離回
動可能に設けられかつばね力により前記被検査レール1
0側に押圧される傾動テーブル21.21に設けるとと
もに、前記傾動テーブル21.21にそれぞれ、その上
に設けたプローブ支持プレート28.28に支持させて
渦流探傷プローブ(固定プローブ30と旋回プローブ3
1)を設けているから、この4渦流探傷装置によれば、
被検査レール10に上下方向の反りがあっても、この披
検査レールIOの検査面に接する中間と前後の検査面倣
いローラ37.38が被検査レール10の反りに応じて
変位し、この中間と前後の検査面倣いローラ37゜38
の変位にともなって前記傾動テーブル21が被検査レー
ル10と平行になるように回動するために、この傾動テ
ーブル21に支持したプローブao、 aiと、被検査
レール10の検査面との間のギャップが変化することは
ない。したがって、上記渦流探傷装置によれば、被検査
レール10の反りに対してもプローブ30.31と被検
査レールIOの検査面との間のギャップを一定に保って
信頼性の高い探傷を行なうことができる。
なお、上記実施例では、レール足部の右側縁部とレール
足裏面の右半分を探傷する固定プローブ30および旋回
プローブ31と、レール足部の左側縁部とレール足裏面
の左半分を探傷する固定プローブ30および旋回プロー
ブ31とを、それぞれ別の傾動テーブル21.21に支
持させているが、これらプローブ30.31は全て同じ
傾動テーブル21に支持させてもよい。また上記実施例
では、レール足部側縁とレール足裏面を探傷する装置に
ついて説明したか、本発明は、レール頭部の頂面やレー
ル頭部の側面を探傷する装置にも、またレール以外の長
尺材の探傷装置にも適用できるし、また使用する渦流探
(易プローブも、旋回プローブに限らず、多数の固定プ
ローブを被検査材の検査面の幅方向に並べて配置しても
よい。
〔発明の効果〕
本発明の渦流探傷装置によれば、被検査材に反りがあっ
ても、この被検査材の検査面に接する第1と第2の検査
面倣いローラが被検査材の反りに応じて変位し、この第
1と第2の検査面倣いローラの変位にともなって前記傾
動テーブルが被検査材と平行になるように回動するため
に、この傾動テーブルに支持した渦流探傷プローブと、
被検査材の検査面との間のギャップが変化することはな
く、したがって、被検査材の反りに対してもプローブと
被検査材の検査面との間のギャップを一定に保って信頼
性の高い探傷を行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第4図は本発明をレールの足部を探傷する渦流
探傷装置に適用した一実施例を示したもので、第1図は
第2図のI−I線に沿う断面図、第2図は渦流探傷装置
の平面図、第3図は第2図の■−■線に沿う断面図、第
4図は旋回プローブのレール検査面スキャン軌跡図であ
る。第5図および第6図は従来の渦流探傷装置の原理図
および披検査Hの反りによるプローブと被検査材の検査
面との間のギャップの変化を示す拡大図である。 10・・・彼検査レール、19・・・プローブ支持ユニ
ット、21・・・傾動テーブル、25・・・支軸、27
・・・各カ、均テーブル押圧用コイルばね、28・・・
プローブ支持プレート、30・・・固定プローブ、31
・・・旋回プローブ、34・・・モータ、35・・・回
転体、37.38・・・足裏面倣いローラ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 長尺の被検査材をその長さ方向に走行させながらこの被
    検査材の検査面に対向する渦流探傷プローブにより前記
    被検査材を探傷する渦流探傷装置において、前記被検査
    材の検査面に接する第1と第2の検査面倣いローラを備
    え、かつこの第1と第2の検査面倣いローラは前記被検
    査材の長さ方向に間隔をおいて配置するとともに、前記
    検査面倣いローラの一方は、前記被検査材の検査面に対
    して接離移動するプローブ支持ユニットに支持させ、他
    方の倣いローラは、前記プローブ支持ユニットに前記一
    方の倣いローラの設置位置を支点として前記被検査材の
    検査面に対し接離回動可能に設けられかつばね力により
    前記被検査材側に押圧される傾動テーブルに設けるとと
    もに、前記傾動テーブルに渦流探傷プローブを支持させ
    たことを特徴とする長尺材の渦流探傷装置。
JP63182957A 1988-07-22 1988-07-22 長尺材の渦流探傷装置 Pending JPH0232248A (ja)

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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5564093A (en) * 1991-11-22 1996-10-08 Kabushiki Kasiha Toshiba Frequency modulation receiving apparatus having two intermediate-frequency band pass filters
JP2009052891A (ja) * 2007-08-23 2009-03-12 Ryoei Engineering Kk 孔付鋳造粗材検査装置
US20110253720A1 (en) * 2010-04-19 2011-10-20 Merrilee Kick Container
WO2015166533A1 (ja) * 2014-04-28 2015-11-05 東京製綱株式会社 ワイヤロープの検査装置
USD911179S1 (en) 2019-10-10 2021-02-23 Merrilee Kick Container
USD911843S1 (en) 2019-10-10 2021-03-02 Merrilee Kick Container
US11484152B2 (en) 2019-10-10 2022-11-01 Merrilee Kick Container apparatus

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5441187A (en) * 1977-09-08 1979-04-02 Nippon Kokan Kk Device for detecting surface flaw of columnar or cylindrical metal
JPS5447695A (en) * 1977-09-22 1979-04-14 Nippon Kokan Kk Sensor block for scanning external surface of tested material of circular crossssectional outline
JPS5447694A (en) * 1977-09-22 1979-04-14 Nippon Kokan Kk Surface flaw sensor block with marking means
JPS55119559A (en) * 1979-03-10 1980-09-13 Japan National Railway Eddy current type high speed raillflow detector

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5441187A (en) * 1977-09-08 1979-04-02 Nippon Kokan Kk Device for detecting surface flaw of columnar or cylindrical metal
JPS5447695A (en) * 1977-09-22 1979-04-14 Nippon Kokan Kk Sensor block for scanning external surface of tested material of circular crossssectional outline
JPS5447694A (en) * 1977-09-22 1979-04-14 Nippon Kokan Kk Surface flaw sensor block with marking means
JPS55119559A (en) * 1979-03-10 1980-09-13 Japan National Railway Eddy current type high speed raillflow detector

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5564093A (en) * 1991-11-22 1996-10-08 Kabushiki Kasiha Toshiba Frequency modulation receiving apparatus having two intermediate-frequency band pass filters
JP2009052891A (ja) * 2007-08-23 2009-03-12 Ryoei Engineering Kk 孔付鋳造粗材検査装置
US20110253720A1 (en) * 2010-04-19 2011-10-20 Merrilee Kick Container
US10604296B2 (en) * 2010-04-19 2020-03-31 Merrilee Kick Container
WO2015166533A1 (ja) * 2014-04-28 2015-11-05 東京製綱株式会社 ワイヤロープの検査装置
JPWO2015166533A1 (ja) * 2014-04-28 2017-04-20 東京製綱株式会社 ワイヤロープの検査装置
US10222351B2 (en) 2014-04-28 2019-03-05 Tokyo Rope Manufacturing Co., Ltd. Wire rope inspection apparatus
USD911179S1 (en) 2019-10-10 2021-02-23 Merrilee Kick Container
USD911843S1 (en) 2019-10-10 2021-03-02 Merrilee Kick Container
US11484152B2 (en) 2019-10-10 2022-11-01 Merrilee Kick Container apparatus

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