JPH0231348A - 光ディスク及びその製造方法 - Google Patents
光ディスク及びその製造方法Info
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- JPH0231348A JPH0231348A JP63182161A JP18216188A JPH0231348A JP H0231348 A JPH0231348 A JP H0231348A JP 63182161 A JP63182161 A JP 63182161A JP 18216188 A JP18216188 A JP 18216188A JP H0231348 A JPH0231348 A JP H0231348A
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Landscapes
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、記録情報に応じて形成した凹凸の記録部を
有し、レーザ光を照射して情報の再生を図ることができ
る光ディスク及びその製造方法に関するものである。
有し、レーザ光を照射して情報の再生を図ることができ
る光ディスク及びその製造方法に関するものである。
近年、レーザ光を記録媒体に照射して記録された情報の
再生を図ることができる光デイスク装置が各種開発され
ている。
再生を図ることができる光デイスク装置が各種開発され
ている。
そして、この記録媒体として、例えば第10図に示すよ
うに、基板100上にレーザ光の反射用としてアルミニ
ウム(AI)や金(A u)等の金属膜101を形成し
、さらにその金属膜101上に保護用として樹脂膜10
2を形成した光ディスクが知られている。
うに、基板100上にレーザ光の反射用としてアルミニ
ウム(AI)や金(A u)等の金属膜101を形成し
、さらにその金属膜101上に保護用として樹脂膜10
2を形成した光ディスクが知られている。
ところで、通常この光ディスクは、第11図〜第17図
に示すような工程によって製造されている。
に示すような工程によって製造されている。
(1)ガラスで形成した円盤103の面上にフォトレジ
スト104を薄く均一に塗布したものを用意し、記録し
ようとする情報に応じた光強度でレーザ光105を照射
し、感光させる(第11図参照)。
スト104を薄く均一に塗布したものを用意し、記録し
ようとする情報に応じた光強度でレーザ光105を照射
し、感光させる(第11図参照)。
(II)次に、その感光された円盤103を現像すると
、第12図に示すように情報に応じた凹凸のピットが形
成された原盤105が得られる。
、第12図に示すように情報に応じた凹凸のピットが形
成された原盤105が得られる。
(II[)そして、第13図に示すように、この原盤1
05の記録部105aを形成した面側にメツキによって
ニッケル(Ni)等の金属106を形成する。
05の記録部105aを形成した面側にメツキによって
ニッケル(Ni)等の金属106を形成する。
(IV)このようにして形成した金属106を原盤10
5から取出し、これをスタンパ−とする。
5から取出し、これをスタンパ−とする。
(V)次に、このスタンパ−106を用いて第14図に
示すように、ポリカーボネイト(PC)等を所定の型内
に射出成形し、基板100を形成する。
示すように、ポリカーボネイト(PC)等を所定の型内
に射出成形し、基板100を形成する。
(VI)このようにして形成された第15図に示す基板
100の面上のうち、凹凸のピット(以下これを記録部
とよぶ)100aが形成された面上に、第16図に示す
ようにアルミニウム、金等の金属膜101をスパッタリ
ング等によって形成させる。
100の面上のうち、凹凸のピット(以下これを記録部
とよぶ)100aが形成された面上に、第16図に示す
ようにアルミニウム、金等の金属膜101をスパッタリ
ング等によって形成させる。
(■)そして、第17図に示すように、その金属[10
1上に熱硬化性或いは紫外線硬化性等の樹脂102を塗
布し、その後加熱或いは紫外線照射等の所定の処理を施
す等の工程を経て光ディスクが完成する。
1上に熱硬化性或いは紫外線硬化性等の樹脂102を塗
布し、その後加熱或いは紫外線照射等の所定の処理を施
す等の工程を経て光ディスクが完成する。
ところで、このような構成の光ディスクにあっては、レ
ーザ光の反射手段として先に説明したような金属膜を形
成しているが、その金属膜の形成には蒸着やスパッタリ
ング等の真空系の装置を使用するようになっているため
工程が複雑化し、生産性が悪くコスト高を招いている。
ーザ光の反射手段として先に説明したような金属膜を形
成しているが、その金属膜の形成には蒸着やスパッタリ
ング等の真空系の装置を使用するようになっているため
工程が複雑化し、生産性が悪くコスト高を招いている。
そこで、この発明は、上記した従来の欠点に鑑み、コス
トの低減を図るのに好適な光ディスクを提供することを
目的とするものである。
トの低減を図るのに好適な光ディスクを提供することを
目的とするものである。
また、この発明は、製造工程が簡単で、生産性が高く、
コストの低減を図ることができる光ディスクの製造方法
を提供することを目的とするものである。
コストの低減を図ることができる光ディスクの製造方法
を提供することを目的とするものである。
この発明の光ディスクは、所定の屈折率を有し、記録情
報に応じた微小凹凸の記録部を形成した第1基体と、こ
の第1基体の記録部を有する面側に接合されその第1基
体とは異なる屈折率を有する第2基体とを備えたもので
ある。
報に応じた微小凹凸の記録部を形成した第1基体と、こ
の第1基体の記録部を有する面側に接合されその第1基
体とは異なる屈折率を有する第2基体とを備えたもので
ある。
また、この発明の光ディスクは、第1基体の記録部に接
する第2基体の一面側にその第1基体の記録部の凹凸を
埋めるような凹凸を形成したものである。
する第2基体の一面側にその第1基体の記録部の凹凸を
埋めるような凹凸を形成したものである。
また、この発明の光ディスクは、第2基体の第1基体に
接する面側とは反対の面側に第3基体を設けたものであ
る。
接する面側とは反対の面側に第3基体を設けたものであ
る。
また、この発明の光ディスクは、第1基体の第2基体に
接する面とは反対の面側にその第1基体とは異なる硬度
の第4基体を設けたものである。
接する面とは反対の面側にその第1基体とは異なる硬度
の第4基体を設けたものである。
また、この発明の光ディスクは、第1基体の記録部に接
する第2基体の一面側がその記録部の凹状の溝部を残し
て接合するような略平面形状を有するものである。
する第2基体の一面側がその記録部の凹状の溝部を残し
て接合するような略平面形状を有するものである。
また、この発明の光ディスクは、第2基体の第1基体に
接する面側とは反対の面側に第3基体を設けたものであ
る。
接する面側とは反対の面側に第3基体を設けたものであ
る。
また、この発明の光ディスクは、第1基体の第2基体に
接する面側とは反対の面側にその第1基体とは異なる硬
度の第4基体を設けたものである。
接する面側とは反対の面側にその第1基体とは異なる硬
度の第4基体を設けたものである。
また、この発明の光ディスクは、第1基体の一面に微小
凹凸の記録部を形成する工程と、この第1基体の記録部
を有する面側に第1基体とは屈折率の異なる第2基体を
接合する工程とを含んだ工程によって形成するものであ
る。
凹凸の記録部を形成する工程と、この第1基体の記録部
を有する面側に第1基体とは屈折率の異なる第2基体を
接合する工程とを含んだ工程によって形成するものであ
る。
この発明の光ディスクは、記録部を有する第1基体とこ
の第1基体の記録部に接する第2基体とにおける屈折率
に差を設け、このときこれら屈折率の異なる界面に生じ
る反射率の増大作用を利用してレーザ光を反射させるこ
とができる。
の第1基体の記録部に接する第2基体とにおける屈折率
に差を設け、このときこれら屈折率の異なる界面に生じ
る反射率の増大作用を利用してレーザ光を反射させるこ
とができる。
以下、この発明の実施例について添付図面を参照しなが
ら説明する。
ら説明する。
第1図はこの発明に係る光ディスクの構成を示す断面図
であり、この第1実施例の光ディスクは、第1基体1と
、第2基体2とから構成されている。
であり、この第1実施例の光ディスクは、第1基体1と
、第2基体2とから構成されている。
第1基体1は、比較的屈折率(n、)の小さなもの、例
えばポリカーボネイト(PC)、アクリル(PMMA)
、エポキシ系等の透明樹脂或いはガラス等が使用されて
いる。そして、この第1基体1には、一方何の面上に情
報に応じて凹凸形状の記録部1aが形成されており、こ
の第1基体1に下方側から入射してきたレーザ光をその
記録部1aで、即ち第1基体1と第2基体2との界面上
で、これらの屈折率の違いに伴い発生する反射率の増大
作用を利用して反射させるようになっている。
えばポリカーボネイト(PC)、アクリル(PMMA)
、エポキシ系等の透明樹脂或いはガラス等が使用されて
いる。そして、この第1基体1には、一方何の面上に情
報に応じて凹凸形状の記録部1aが形成されており、こ
の第1基体1に下方側から入射してきたレーザ光をその
記録部1aで、即ち第1基体1と第2基体2との界面上
で、これらの屈折率の違いに伴い発生する反射率の増大
作用を利用して反射させるようになっている。
第2基体2は、第1基体1よりも大きな屈折率(R2)
のもの、例えばポリシラン等の樹脂で形成されている。
のもの、例えばポリシラン等の樹脂で形成されている。
この第2基体2には、その1面側に第1基体1の記録部
1aの凹凸形状を丁度補うような凹凸部2aが形成され
てあり、この凹凸部2aを第1基体1の記録部la側に
嵌挿させるような状態で第2基体が第1基体に接合され
ている。
1aの凹凸形状を丁度補うような凹凸部2aが形成され
てあり、この凹凸部2aを第1基体1の記録部la側に
嵌挿させるような状態で第2基体が第1基体に接合され
ている。
なお、この第2基体2としては、第1基体1の記録部1
aの凹凸を埋める凹凸部を一面側に形成したガラス等で
あっても可能である。
aの凹凸を埋める凹凸部を一面側に形成したガラス等で
あっても可能である。
次に、この実施例において、第2図に示すように、第1
基体1に入射し、この第1基体1と第2基体2との界面
上にて反射し、再び第1基体1を外部に向けて透過する
ときに入射光αと反射光βとの割合について説明する。
基体1に入射し、この第1基体1と第2基体2との界面
上にて反射し、再び第1基体1を外部に向けて透過する
ときに入射光αと反射光βとの割合について説明する。
この割合を求めるには、次の3つの条件を同時に満足す
る必要がある。
る必要がある。
1、外部から第1基体1に入射した入射光αがそこで透
過(このときの透過率をT01反射率をRoとする)す
ること。
過(このときの透過率をT01反射率をRoとする)す
ること。
2、その第1基体1に透過してきた光が第2基体2との
界面上で反射(このときの反射率をR3、透過率をT1
とする)すること。
界面上で反射(このときの反射率をR3、透過率をT1
とする)すること。
3、この第1.第2基体1.2の界面上で反射した光が
第1基体1を再び透過して戻り(このときの透過率をT
1゜2反射率をR8゜とする)、外部に射出して透過光
βとなること。
第1基体1を再び透過して戻り(このときの透過率をT
1゜2反射率をR8゜とする)、外部に射出して透過光
βとなること。
イ)まず1の条件、即ち第1基体1aに入射し透過する
ときの透過率T0について求める。
ときの透過率T0について求める。
まず、一般に屈折率nl + ntの第1.第2の物
質の間において入射面に垂直に振動するその成分につい
ては、良(知られているフレネルの公式より、振幅反射
率が r =sin(θ2−θ、)/5in(θ2+θ1)
・・・■(但し、ここでθ、−は入射角、θ2は屈折角
とする)。
質の間において入射面に垂直に振動するその成分につい
ては、良(知られているフレネルの公式より、振幅反射
率が r =sin(θ2−θ、)/5in(θ2+θ1)
・・・■(但し、ここでθ、−は入射角、θ2は屈折角
とする)。
また、屈折の法則により、
n、sin θ、=n2sin θ2 ・・争
■ここで、垂直入射を考えると、 θ1=θ2=0 ・・・■以上■
、■、■の式から垂直入射の場合の振幅反射率rは、 r−(sin θ z ’ cos θ r
cos e z ° sin θ I)/(s
inθ、 ’ cosθl+cO3θz °sinθI
)= (nt nz )/ (nt +nz )ここ
で、実際に観測される光の反射率Rは、R= l r
l” −((nt−nz)/(n++nz)) ”とな
る。
■ここで、垂直入射を考えると、 θ1=θ2=0 ・・・■以上■
、■、■の式から垂直入射の場合の振幅反射率rは、 r−(sin θ z ’ cos θ r
cos e z ° sin θ I)/(s
inθ、 ’ cosθl+cO3θz °sinθI
)= (nt nz )/ (nt +nz )ここ
で、実際に観測される光の反射率Rは、R= l r
l” −((nt−nz)/(n++nz)) ”とな
る。
したがって、この0式を用いて、まず反射率・・・■
Roは、
RO= ((1−nl )/ (1+n+ )
) ”このため、透過率T0は、 To”I Re =1− ((1−nl )/(1+n+ ))”口)次
に、2の条件について、第1.第2基体1゜2の界面(
記録部1a)上での反射率R3は0式を用いで、 R+ = ((nl nz)/(n++nz))”と
なるが、 もとの入射光に対しその反射光の割合R、lは、R+
’ = T o・R3 =(1−((1−nυ/(1+nυ)2〕((nl
nz)/(n++nz)) ”ハ)さらに、■の条件に
ついて第1基体1と外部(空気)との間での透過率TI
Oは、0式を用いて、 T+o=I R+。
) ”このため、透過率T0は、 To”I Re =1− ((1−nl )/(1+n+ ))”口)次
に、2の条件について、第1.第2基体1゜2の界面(
記録部1a)上での反射率R3は0式を用いで、 R+ = ((nl nz)/(n++nz))”と
なるが、 もとの入射光に対しその反射光の割合R、lは、R+
’ = T o・R3 =(1−((1−nυ/(1+nυ)2〕((nl
nz)/(n++nz)) ”ハ)さらに、■の条件に
ついて第1基体1と外部(空気)との間での透過率TI
Oは、0式を用いて、 T+o=I R+。
= 1 ((n + 1)/ (n r +1))
”だから、元の入射光に対しその反射光の割合T、。
”だから、元の入射光に対しその反射光の割合T、。
° は、
T、、 =R菖’ ° Tl0= (1−(
(1−nl)/(1+nl) ” )((nl−n
り/(nl+tlり ”(1−((nl−1)/(n
l+1) ” )= (1−((1−nl)/
(i+n+) ” ) ”((nl−nz)
/(n++nz) ” ””■このようにして入射
光αに対する反射光βの割合、即ちこの実施例での光デ
ィスクの記録面において反射する反射率が0式から求め
られる。
(1−nl)/(1+nl) ” )((nl−n
り/(nl+tlり ”(1−((nl−1)/(n
l+1) ” )= (1−((1−nl)/
(i+n+) ” ) ”((nl−nz)
/(n++nz) ” ””■このようにして入射
光αに対する反射光βの割合、即ちこの実施例での光デ
ィスクの記録面において反射する反射率が0式から求め
られる。
次に、この実施例の光ディスクの製造方法について第3
図を参照しながら説明する。
図を参照しながら説明する。
1、この実施例の光ディスクは、まず従来と同様にして
、例えばニッケル等の金属によって形成したマスターを
スタンパ−として用い、射出成形法等によって第1基体
1を成形する。
、例えばニッケル等の金属によって形成したマスターを
スタンパ−として用い、射出成形法等によって第1基体
1を成形する。
なお、このとき成形材料として所定屈折率n。
の透明樹脂材を使用する。
2、次に、この成形した第1基体1の記録部1aを有す
る面上に、第2基体2を先の第1基体1の屈折率n1よ
りも大きな屈折率n=を有する熱硬化性または紫外線硬
化性の透明樹脂を用いてスピンコード法等によって塗布
する。
る面上に、第2基体2を先の第1基体1の屈折率n1よ
りも大きな屈折率n=を有する熱硬化性または紫外線硬
化性の透明樹脂を用いてスピンコード法等によって塗布
する。
3、その後、加熱或いは紫外線の照射によってその透明
樹脂を硬化させるとでき上がる。なお、この実施例では
第2基体2を第1基体1にスピンコード法等によって塗
布させているが、その第2基体を予めガラス等で形成し
ておき、接着剤で接着させても良い。また、この実施例
の第1基体1は射出成形によって形成されているが、特
にこれに限定されるものではなく、例えば2 P (P
HOTO−POLYMER)法やエツチング法でも良い
。
樹脂を硬化させるとでき上がる。なお、この実施例では
第2基体2を第1基体1にスピンコード法等によって塗
布させているが、その第2基体を予めガラス等で形成し
ておき、接着剤で接着させても良い。また、この実施例
の第1基体1は射出成形によって形成されているが、特
にこれに限定されるものではなく、例えば2 P (P
HOTO−POLYMER)法やエツチング法でも良い
。
次に、この発明に係る光ディスクの第2実施例について
第4図を参照しながら説明する。
第4図を参照しながら説明する。
この第2実施例の光ディスクは、第1基体3と、第2基
体4と、第3基体5とから構成されている。
体4と、第3基体5とから構成されている。
第1基体3は、先の第1実施例における第1基体1と同
様の構成となっており、所定の屈折率n。
様の構成となっており、所定の屈折率n。
を有する透明樹脂材或いはガラス等で形成されている。
第2基体4は、第1実施例における第2基体2と同様の
構成となっており、所定の屈折率n2(nl <fi、
)を有するポリシラン等の樹脂で形成されている。な
お、この第2基体4としては、第1基体3の記録部3a
の凹凸を埋めるような凹凸部を一面側に形成したガラス
等のものであっても可能である。
構成となっており、所定の屈折率n2(nl <fi、
)を有するポリシラン等の樹脂で形成されている。な
お、この第2基体4としては、第1基体3の記録部3a
の凹凸を埋めるような凹凸部を一面側に形成したガラス
等のものであっても可能である。
第3基体5は、第2基体4を保護するものであり、ポリ
カーボネイト(PC)、アクリル(PMMA)、エポキ
シ等の熱硬化性或いは紫外線硬化性樹脂で形成されてい
るが、ガラス等であっても良い。
カーボネイト(PC)、アクリル(PMMA)、エポキ
シ等の熱硬化性或いは紫外線硬化性樹脂で形成されてい
るが、ガラス等であっても良い。
したがって、第2実施例の光ディスクによると、第3基
体6の存在によって、第2基体4の耐久性が高まる。
体6の存在によって、第2基体4の耐久性が高まる。
次に、この第2実施例の光ディスクの製造方法について
第5図を参照しながら説明する。なお、この第2実施例
では、第1.第2基体4.5は第1実施例と同様の方法
によって形成されているため、その部分の製造方法につ
いての説明を省略する。
第5図を参照しながら説明する。なお、この第2実施例
では、第1.第2基体4.5は第1実施例と同様の方法
によって形成されているため、その部分の製造方法につ
いての説明を省略する。
加熱或いは紫外線照射によって第1基体3上の第2基体
4が硬化したならば、第3基体5を熱硬化性或いは紫外
線硬化性の樹脂をスピンコード法等によって塗布した後
、第2基体4と同様に加熱或いは紫外線を照射して硬化
させるとでき上がる。
4が硬化したならば、第3基体5を熱硬化性或いは紫外
線硬化性の樹脂をスピンコード法等によって塗布した後
、第2基体4と同様に加熱或いは紫外線を照射して硬化
させるとでき上がる。
なお、第2実施例の第3基体5は、所定の樹脂にて形成
しであるが、ガラスを用いても可能であり、その場合に
は第2基体4にそのガラスを接着させれば良い。
しであるが、ガラスを用いても可能であり、その場合に
は第2基体4にそのガラスを接着させれば良い。
次に、この発明に係る光ディスクの第3実施例について
第6図を参照しながら説明する。
第6図を参照しながら説明する。
第3実施例の光ディスクは、第1基体7と、第2基体8
と、第3基体9と、第4基体10とから構成されている
。第1基体7.第2基体8.第3基体9は、それぞれ第
2実施例の第1基体3.第2基体4.第3基体5と同様
の構成となっている。
と、第3基体9と、第4基体10とから構成されている
。第1基体7.第2基体8.第3基体9は、それぞれ第
2実施例の第1基体3.第2基体4.第3基体5と同様
の構成となっている。
第4基体10は、第1基体7を保護するものであり、レ
ーザ光の入射面に付着したゴミ等を除去する際のブラシ
等による摩耗を少なくするため、硬度が高く耐摩耗性に
優れた材料で、例えばアルミナ(AlxO3)等を使用
しているが、これ以外に例えば酸化シリコン(S i
O□)、酸化タンタル(Tat Os ) 、窒化シリ
コン(S13N4)等で形成することも可能である。
ーザ光の入射面に付着したゴミ等を除去する際のブラシ
等による摩耗を少なくするため、硬度が高く耐摩耗性に
優れた材料で、例えばアルミナ(AlxO3)等を使用
しているが、これ以外に例えば酸化シリコン(S i
O□)、酸化タンタル(Tat Os ) 、窒化シリ
コン(S13N4)等で形成することも可能である。
したがって、第3実施例の光ディスクによれば、その光
ディスクのレーザ光入射面での摩耗が極力防止できるた
め、ゴミが付着した場合等であってもブラシ等による清
掃を簡単に行うことができる。
ディスクのレーザ光入射面での摩耗が極力防止できるた
め、ゴミが付着した場合等であってもブラシ等による清
掃を簡単に行うことができる。
次に、第3実施例の光ディスクの製造方法について第7
図を参照しながら説明する。なお、第三実施例では、第
1.第2.第3基体?、8.9は、第2実施例と同様の
方法によって形成されているため、その部分の製造方法
については省略する。
図を参照しながら説明する。なお、第三実施例では、第
1.第2.第3基体?、8.9は、第2実施例と同様の
方法によって形成されているため、その部分の製造方法
については省略する。
第1.第2.第3基体7. 8. 9ができ上がったな
らば第4基体10を形成するため、第1基体7の記録部
7aを形成した面と反対側の面上に、蒸着、 スパッタ
、イオンビームスパ、ツタ、イオンブレーティング等の
方法によってアルミナ(AlxO3)等を形成し、紫外
線を照射するとでき上がる。
らば第4基体10を形成するため、第1基体7の記録部
7aを形成した面と反対側の面上に、蒸着、 スパッタ
、イオンビームスパ、ツタ、イオンブレーティング等の
方法によってアルミナ(AlxO3)等を形成し、紫外
線を照射するとでき上がる。
さらに、この発明に係る光ディスクの第4実施例につい
て第8図を参照しながら説明する。
て第8図を参照しながら説明する。
第4実施例の光ディスクは、第1基体11と。
第2基体12とから構成されている。
第1基体11は、先の第1乃至第3実施例のものと同様
の構成となっており、−面側に凹凸の記録部11aが形
成されている。
の構成となっており、−面側に凹凸の記録部11aが形
成されている。
第2基体12は、第1基体11の記録面11a側に配置
されており、その第1基体11とは異なる屈折率のもの
、この場合には屈折率の高い第1乃至第3実施例のもの
と同様の材料で形成されている。そして、第4実施例の
第2基体12には、先の第1乃至第3実施例のものとは
異なり、第1基体11の記録部11aの凹状の溝11b
はそのまま残した状態でその第1基体11に接合されて
おり、このためその溝11bは空気等の気体で満たされ
ている。
されており、その第1基体11とは異なる屈折率のもの
、この場合には屈折率の高い第1乃至第3実施例のもの
と同様の材料で形成されている。そして、第4実施例の
第2基体12には、先の第1乃至第3実施例のものとは
異なり、第1基体11の記録部11aの凹状の溝11b
はそのまま残した状態でその第1基体11に接合されて
おり、このためその溝11bは空気等の気体で満たされ
ている。
次に、第4実施例の光ディスクの製造方法について第9
図を参照しながら説明する。
図を参照しながら説明する。
第1基体11は、先の第1乃至第3実施例と同様にして
形成する。
形成する。
次に、薄板状のガラス等の第2基体12の第1基体11
の記録面と対向する側にスピンコード法等によって所定
の熱硬化性或いは紫外線硬化樹脂を適度な厚さに塗布し
た後、第1基体11を貼り合せて所定の温度で加熱或い
は紫外線照射を行い、樹脂を硬化させるとでき上がる。
の記録面と対向する側にスピンコード法等によって所定
の熱硬化性或いは紫外線硬化樹脂を適度な厚さに塗布し
た後、第1基体11を貼り合せて所定の温度で加熱或い
は紫外線照射を行い、樹脂を硬化させるとでき上がる。
なお、第4実施例において、第2基体として所定の材質
でテープ状に形成されたものを使用し、これを第1基体
11の記録面側に接着させるようにしても良く、この場
合にはその製造作業が一層簡単に行える。
でテープ状に形成されたものを使用し、これを第1基体
11の記録面側に接着させるようにしても良く、この場
合にはその製造作業が一層簡単に行える。
なお、説明を簡単にするため、第1基体の夫々の屈折率
nl+ nZに対し、nl <n2として例示したが
、■式、0式からも明らかなように、n、>n、であっ
ても同様の効果が得られる。
nl+ nZに対し、nl <n2として例示したが
、■式、0式からも明らかなように、n、>n、であっ
ても同様の効果が得られる。
以上説明してきたように、この発明に係る光ディスクに
よれば1.第1.第2基体の屈折率に差を設けることに
より、これらの界面上に生じる反射率の増大作用を利用
した反射手段で構成されており、その反射手段として従
来必要としていた金属膜がなくても必要レベルの反射率
が確保できるため、大幅な製造コストの低減を図ること
ができる。
よれば1.第1.第2基体の屈折率に差を設けることに
より、これらの界面上に生じる反射率の増大作用を利用
した反射手段で構成されており、その反射手段として従
来必要としていた金属膜がなくても必要レベルの反射率
が確保できるため、大幅な製造コストの低減を図ること
ができる。
また、この発明に係る光ディスクの製造方法によれば、
操作が複雑で扱い難い真空系の装置を用いなくても製造
が可能であり、その分製造工程が簡単になるため、高生
産性、かつコストの削減等を図ることができる。
操作が複雑で扱い難い真空系の装置を用いなくても製造
が可能であり、その分製造工程が簡単になるため、高生
産性、かつコストの削減等を図ることができる。
第1図はこの発明に係る光ディスクを示す部分断面図、
第2図はこの発明に係る光ディスクの反射作用の原理を
説明するための光路図、第3図は第1図における光ディ
スクを製造するときの製造方法を説明するための断面図
、第4図はこの発明に係る光ディスクの第2実施例を説
明するための部分断面図、第5図は第4図に示す光ディ
スクを製造するときの製造方法を説明するための断面図
、第6図はこの発明に係る光ディスクの第3実施例を説
明するための部分断面図、第7図は第6図に示す光ディ
スクの製造方法を説明するための断面図、第8図はこの
発明に係る光ディスクの第4実施例を説明するための部
分断面図、第9図は第8図に示す光ディスクを製造する
ときの製造方法を説明するための断面図、第10図は従
来型の光ディスクの構成を示す部分断面図、第11図乃
至第17図はそれぞれ第10図に示す光ディスクを製造
するときの製造方法を説明するための工程図である。 la、3a、lla・・・記録部。 1.3,7.11・・・第1基体。 2、 4. 8. 12・・・第2基体。 5.9・・・第3基体。 10 ・・・第4基体。 第8図 第9図 第3図 ;N10” 第 図 第 曇 第 図 第 図 第15 図 第 × 第 17 ン
第2図はこの発明に係る光ディスクの反射作用の原理を
説明するための光路図、第3図は第1図における光ディ
スクを製造するときの製造方法を説明するための断面図
、第4図はこの発明に係る光ディスクの第2実施例を説
明するための部分断面図、第5図は第4図に示す光ディ
スクを製造するときの製造方法を説明するための断面図
、第6図はこの発明に係る光ディスクの第3実施例を説
明するための部分断面図、第7図は第6図に示す光ディ
スクの製造方法を説明するための断面図、第8図はこの
発明に係る光ディスクの第4実施例を説明するための部
分断面図、第9図は第8図に示す光ディスクを製造する
ときの製造方法を説明するための断面図、第10図は従
来型の光ディスクの構成を示す部分断面図、第11図乃
至第17図はそれぞれ第10図に示す光ディスクを製造
するときの製造方法を説明するための工程図である。 la、3a、lla・・・記録部。 1.3,7.11・・・第1基体。 2、 4. 8. 12・・・第2基体。 5.9・・・第3基体。 10 ・・・第4基体。 第8図 第9図 第3図 ;N10” 第 図 第 曇 第 図 第 図 第15 図 第 × 第 17 ン
Claims (8)
- (1)所定の屈折率を有し、記録情報に応じた微小凹凸
の記録部を形成した第1基体と、 この第1基体の記録部を有する面側に接合されその第1
基体とは異なる屈折率を有する第2基体と を備えたことを特徴とする光ディスク。 - (2)第1基体の記録部に接する第2基体の一面側にそ
の第1基体の記録部の凹凸を埋めるような凹凸を形成し
たことを特徴する請求項(1)に記載の光ディスク。 - (3)第2基体の第1基体に接する面側とは反対の面側
に第3基体を設けたことを特徴する請求項(2)に記載
の光ディスク。 - (4)第1基体の第2基体に接する面とは反対の面側に
その第1基体とは異なる硬度の第4基体を設けた請求項
(3)に記載の光ディスク。 - (5)第1基体の記録部に接する第2基体の一面側がそ
の記録部の凹状の溝部を残して接合するような略平面形
状を有することを特徴とする請求項(1)に記載の光デ
ィスク。 - (6)第2基体の第1基体に接する面側とは反対の面側
に第3基体を設けたことを特徴とする請求項(5)に記
載の光ディスク。 - (7)第1基体の第2基体に接する面側とは反対の面側
にその第1基体とは異なる硬度の第4基体を設けた請求
項(6)に記載の光ディスク。 - (8)第1基体の一面に微小凹凸の記録部を形成する工
程と、 この第1基体の記録部を有する面側に第1基体とは屈折
率の異なる第2基体を接合する工程とを含んだ工程によ
って形成することを特徴とする光ディスクの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63182161A JPH0231348A (ja) | 1988-07-21 | 1988-07-21 | 光ディスク及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63182161A JPH0231348A (ja) | 1988-07-21 | 1988-07-21 | 光ディスク及びその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0231348A true JPH0231348A (ja) | 1990-02-01 |
Family
ID=16113421
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63182161A Pending JPH0231348A (ja) | 1988-07-21 | 1988-07-21 | 光ディスク及びその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0231348A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002086881A1 (fr) * | 2001-04-19 | 2002-10-31 | Sony Corporation | Support d'enregistrement d'informations optique et procede de reproduction d'informations |
-
1988
- 1988-07-21 JP JP63182161A patent/JPH0231348A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002086881A1 (fr) * | 2001-04-19 | 2002-10-31 | Sony Corporation | Support d'enregistrement d'informations optique et procede de reproduction d'informations |
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