JPH0230830Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0230830Y2 JPH0230830Y2 JP9429384U JP9429384U JPH0230830Y2 JP H0230830 Y2 JPH0230830 Y2 JP H0230830Y2 JP 9429384 U JP9429384 U JP 9429384U JP 9429384 U JP9429384 U JP 9429384U JP H0230830 Y2 JPH0230830 Y2 JP H0230830Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- exterior body
- resin
- case
- chip
- epoxy resin
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 20
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 claims description 14
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 claims description 14
- 239000005011 phenolic resin Substances 0.000 claims description 10
- KXGFMDJXCMQABM-UHFFFAOYSA-N 2-methoxy-6-methylphenol Chemical compound [CH]OC1=CC=CC([CH])=C1O KXGFMDJXCMQABM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 229920001568 phenolic resin Polymers 0.000 claims description 8
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 claims description 3
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 claims description 3
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 4
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 4
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 3
- -1 chlorine ions Chemical class 0.000 description 3
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 3
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 3
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 3
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 3
- 239000004641 Diallyl-phthalate Substances 0.000 description 2
- QUDWYFHPNIMBFC-UHFFFAOYSA-N bis(prop-2-enyl) benzene-1,2-dicarboxylate Chemical compound C=CCOC(=O)C1=CC=CC=C1C(=O)OCC=C QUDWYFHPNIMBFC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008595 infiltration Effects 0.000 description 2
- 238000001764 infiltration Methods 0.000 description 2
- 229920002050 silicone resin Polymers 0.000 description 2
- RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N Dihydrogen sulfide Chemical compound S RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 239000012459 cleaning agent Substances 0.000 description 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 description 1
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 239000002529 flux (metallurgy) Substances 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 239000004850 liquid epoxy resins (LERs) Substances 0.000 description 1
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 238000001721 transfer moulding Methods 0.000 description 1
- 238000004506 ultrasonic cleaning Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
- Details Of Resistors (AREA)
Description
[産業上の利用分野]
この考案は、他のチツプ部品とともに例えば半
田浸漬法等によつてプリント基板上にハンダ付け
し得るように構成されたチツプ形電解コンデンサ
に関するものである。 [従来の技術] この種のチツプ部品は、プリント基板上に並べ
られた上で、約260℃の溶融ハンダに10秒間程度
浸漬されることにより一度にハンダ付けされるの
であるが、その後、例えばフレオンやクロロセン
等の有機ハロゲン系基板洗浄剤にて洗浄される。
したがつて、電解コンデンサをチツプ化するに当
つては、耐熱性はもとより、洗浄時にコンデンサ
素子の腐触の原困となる溶剤やフラツクス中の塩
素イオンの浸入を防ぐように配慮する必要があ
る。そこで、従来においては、コンデンサ素子を
アルミニウム等のケース内に封入し、そのまわり
に合成樹脂からなる外装体をモールド成形するよ
うにしている。一般に、この外装体には、エポキ
シ樹脂、シリコン樹脂、フエノール樹脂、ジアリ
ルフタレート樹脂等が用いられている。しかしな
がら、エポキシ樹脂、シリコン樹脂、ジアリルフ
タレート樹脂の場合、耐洗浄性は良いのである
が、260℃の溶融ハンダ内に10秒間浸漬すると、
樹脂にひび割れが生じてしまうという問題があつ
た。他方、フエノール樹脂は耐熱性の面では殆ど
問題はないのであるが、コンデンサ素子のリード
等に対する密着性が劣るとともに、充填剤が60%
〜70%と大量に入つているため、微細な空孔が生
じ易く、洗浄時に上記の塩素イオンがケース内に
浸入し、コンデンサ素子を腐蝕してしまうという
欠点がある。 [考案の目的] したがつて、この考案の目的は、すぐれた耐熱
性と耐洗浄性とを併せ持つチツプ形電解コンデン
サを提供することある。 [考案の構成] 以下、この考案を添付図面に示された一実施例
を参照しながら詳細に説明する。 このチツプ形電解コンデンサ1は、アルミニウ
ム等からなる有底円筒状のケース2を有し、この
ケース2内には図示しないコンデンサ素子が組込
まれている。なお、図示されていないが、ケース
2の開口部は公知の如く例えばゴムからなる封口
体にて閉塞されている。ケース2には、上記コン
デンサ素子の1対のリード3,3がそれぞれ反対
方向に突設されており、その各々にはフレームと
呼ばれている外部端子4,4が固着されている。
そして、ケース2のまわりには合成樹脂からなる
外装体5が例えばトランスフアモールドにより一
体的に成形されるのであるが、この考案において
は、外装体5にはエポキシ樹脂等と比較して耐熱
性の点で優れているフエノール樹脂(例えば、ス
ミトモPM−950J)が用いられているとともに、
その表面にはエポキシ樹脂6(例えば、日本ペル
ノツクスME106)が外装体5の空孔内に含浸さ
れるように被膜状に形成されている。なお、この
エポキシ樹脂6を被膜状に形成するに際しては、
外部端子4,4をテープ等でマスキングし、低粘
度の液状エポキシ樹脂内に所定の真空条件下(例
えば10-2〜10-3Torr)で約3分間程浸漬して真
空含浸させ、しかるのち、例えば遠心分離機にて
余剰のエポキシ樹脂を取除き、一定時間加熱して
硬化させる。そして、外部端子4,4のマスキン
グテープを外し、外部端子4,4を図示の如く外
装体5に沿つて折曲げることにより、このチツプ
形電解コンデンサ1が得られる。 [考案の効果] 上記した実施例の説明から明らかなように、こ
の考案によれば、外装体5をフエノール樹脂と
し、その表面にエポキシ樹脂6を含漬させたこと
により、フエノール樹脂の耐熱性とエポキシ樹脂
の耐洗浄性とを併せ持つことができる。すなわ
ち、フエノール樹脂内の微細な空孔や外部端子4
との界面等にエポキシ樹脂が入り込むため、ハン
ダ浸漬後の洗浄工程において、コンデンサ素子の
腐蝕の原因となる塩素イオンの浸入が効果的に阻
止される。ここで、この考案によるものと、フエ
ノール樹脂にエポキシ樹脂を含浸させていないも
のとを260℃の溶融ハンダ内に10秒間浸漬してプ
リント基板にハンダ付けしたのち、フレオンにて
40℃、5分間の超音波洗浄を行ない、85℃で500
時間の高温負荷試験を行なつた結果の腐蝕による
不良品発生数を第1表に示す。
田浸漬法等によつてプリント基板上にハンダ付け
し得るように構成されたチツプ形電解コンデンサ
に関するものである。 [従来の技術] この種のチツプ部品は、プリント基板上に並べ
られた上で、約260℃の溶融ハンダに10秒間程度
浸漬されることにより一度にハンダ付けされるの
であるが、その後、例えばフレオンやクロロセン
等の有機ハロゲン系基板洗浄剤にて洗浄される。
したがつて、電解コンデンサをチツプ化するに当
つては、耐熱性はもとより、洗浄時にコンデンサ
素子の腐触の原困となる溶剤やフラツクス中の塩
素イオンの浸入を防ぐように配慮する必要があ
る。そこで、従来においては、コンデンサ素子を
アルミニウム等のケース内に封入し、そのまわり
に合成樹脂からなる外装体をモールド成形するよ
うにしている。一般に、この外装体には、エポキ
シ樹脂、シリコン樹脂、フエノール樹脂、ジアリ
ルフタレート樹脂等が用いられている。しかしな
がら、エポキシ樹脂、シリコン樹脂、ジアリルフ
タレート樹脂の場合、耐洗浄性は良いのである
が、260℃の溶融ハンダ内に10秒間浸漬すると、
樹脂にひび割れが生じてしまうという問題があつ
た。他方、フエノール樹脂は耐熱性の面では殆ど
問題はないのであるが、コンデンサ素子のリード
等に対する密着性が劣るとともに、充填剤が60%
〜70%と大量に入つているため、微細な空孔が生
じ易く、洗浄時に上記の塩素イオンがケース内に
浸入し、コンデンサ素子を腐蝕してしまうという
欠点がある。 [考案の目的] したがつて、この考案の目的は、すぐれた耐熱
性と耐洗浄性とを併せ持つチツプ形電解コンデン
サを提供することある。 [考案の構成] 以下、この考案を添付図面に示された一実施例
を参照しながら詳細に説明する。 このチツプ形電解コンデンサ1は、アルミニウ
ム等からなる有底円筒状のケース2を有し、この
ケース2内には図示しないコンデンサ素子が組込
まれている。なお、図示されていないが、ケース
2の開口部は公知の如く例えばゴムからなる封口
体にて閉塞されている。ケース2には、上記コン
デンサ素子の1対のリード3,3がそれぞれ反対
方向に突設されており、その各々にはフレームと
呼ばれている外部端子4,4が固着されている。
そして、ケース2のまわりには合成樹脂からなる
外装体5が例えばトランスフアモールドにより一
体的に成形されるのであるが、この考案において
は、外装体5にはエポキシ樹脂等と比較して耐熱
性の点で優れているフエノール樹脂(例えば、ス
ミトモPM−950J)が用いられているとともに、
その表面にはエポキシ樹脂6(例えば、日本ペル
ノツクスME106)が外装体5の空孔内に含浸さ
れるように被膜状に形成されている。なお、この
エポキシ樹脂6を被膜状に形成するに際しては、
外部端子4,4をテープ等でマスキングし、低粘
度の液状エポキシ樹脂内に所定の真空条件下(例
えば10-2〜10-3Torr)で約3分間程浸漬して真
空含浸させ、しかるのち、例えば遠心分離機にて
余剰のエポキシ樹脂を取除き、一定時間加熱して
硬化させる。そして、外部端子4,4のマスキン
グテープを外し、外部端子4,4を図示の如く外
装体5に沿つて折曲げることにより、このチツプ
形電解コンデンサ1が得られる。 [考案の効果] 上記した実施例の説明から明らかなように、こ
の考案によれば、外装体5をフエノール樹脂と
し、その表面にエポキシ樹脂6を含漬させたこと
により、フエノール樹脂の耐熱性とエポキシ樹脂
の耐洗浄性とを併せ持つことができる。すなわ
ち、フエノール樹脂内の微細な空孔や外部端子4
との界面等にエポキシ樹脂が入り込むため、ハン
ダ浸漬後の洗浄工程において、コンデンサ素子の
腐蝕の原因となる塩素イオンの浸入が効果的に阻
止される。ここで、この考案によるものと、フエ
ノール樹脂にエポキシ樹脂を含浸させていないも
のとを260℃の溶融ハンダ内に10秒間浸漬してプ
リント基板にハンダ付けしたのち、フレオンにて
40℃、5分間の超音波洗浄を行ない、85℃で500
時間の高温負荷試験を行なつた結果の腐蝕による
不良品発生数を第1表に示す。
【表】
この表から分るように、エポキシ樹脂を含浸し
ない場合、20個のうち8個の不良品が発生した
が、エポキシ樹脂を含浸してなるものについては
1つも不良品が発生せず、この考案の効果が認め
られた。
ない場合、20個のうち8個の不良品が発生した
が、エポキシ樹脂を含浸してなるものについては
1つも不良品が発生せず、この考案の効果が認め
られた。
図はこの考案の一実施例を示した断面図であ
る。 図中、1はチツプ形電解コンデンサ、2はケー
ス、3はリード、4は外部端子、5は外装体、6
はエポキシ樹脂である。
る。 図中、1はチツプ形電解コンデンサ、2はケー
ス、3はリード、4は外部端子、5は外装体、6
はエポキシ樹脂である。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) コンデンサ素子を内蔵したアルミニウム等か
らなるケースを有し、該ケースから突設された
上記コンデンサ素子の1対のリードの各々に外
部端子を固着し、上記ケースにまわりに合成樹
脂からなる外装体をモールド成形するととも
に、上記外部端子を上記外装体に沿つて所定方
向に折曲げてなるチツプ形電解コンデンサにお
いて、 上記外装体はフエノール樹脂からなるととも
に、その表面にはエポキシ樹脂が含浸されてい
ることを特徴とするチツプ形電解コンデンサ。 (2) 実用新案登録請求の範囲(1)において、上記エ
ポキシ樹脂は、真空条件下で上記フエノール樹
脂に含浸されることを特徴とするチツプ形電解
コンデンサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9429384U JPS619831U (ja) | 1984-06-23 | 1984-06-23 | チツプ形電解コンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9429384U JPS619831U (ja) | 1984-06-23 | 1984-06-23 | チツプ形電解コンデンサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS619831U JPS619831U (ja) | 1986-01-21 |
JPH0230830Y2 true JPH0230830Y2 (ja) | 1990-08-20 |
Family
ID=30652722
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9429384U Granted JPS619831U (ja) | 1984-06-23 | 1984-06-23 | チツプ形電解コンデンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS619831U (ja) |
-
1984
- 1984-06-23 JP JP9429384U patent/JPS619831U/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS619831U (ja) | 1986-01-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6229687B1 (en) | Solid electrolytic capacitor | |
JPH0230830Y2 (ja) | ||
JP3491744B2 (ja) | 半導体装置 | |
JPS6028128Y2 (ja) | チツプ形アルミニウム電解コンデンサ | |
JPH0418453B2 (ja) | ||
JPH0142356Y2 (ja) | ||
JPH0519942Y2 (ja) | ||
JPH07169646A (ja) | 電子部品の製造方法 | |
JPS6332248B2 (ja) | ||
JPS5931018A (ja) | 金属化プラスチツクフイルムコンデンサの製造方法 | |
JPS6112666Y2 (ja) | ||
JPS6011634Y2 (ja) | 電解コンデンサ | |
JPH0528752Y2 (ja) | ||
JP3033647B2 (ja) | ヒューズ入り固体電解コンデンサ及びその製造方法 | |
JPH02301115A (ja) | チップ形固体電解コンデンサ | |
JPH0246025Y2 (ja) | ||
JPH027457Y2 (ja) | ||
JPH069476Y2 (ja) | チップ状電子部品 | |
JPH03116917A (ja) | 筒型セラミックコンデンサ | |
KR0126435Y1 (ko) | 돌출턱을 구비한 탄탈콘덴서 | |
JPH0115165Y2 (ja) | ||
JPH0529297B2 (ja) | ||
JPS59124709A (ja) | 固体電解コンデンサの製造方法 | |
JPH0378775B2 (ja) | ||
JP2587561Y2 (ja) | 電子部品の実装方法 |