JPH0230769A - 無電解めっき用前処理液 - Google Patents
無電解めっき用前処理液Info
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Classifications
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- H05K3/381—Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal by special treatment of the substrate
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、無電解めっき用前処理液に関するものであり
、特に印刷配線板の無電解銅めっき用前処理液に関する
ものである。
、特に印刷配線板の無電解銅めっき用前処理液に関する
ものである。
(従来の技術)
印刷配線板は、銅張り又は、銅のない積層板を穴明けの
後、無電解めっきを行うことによって製造される。
後、無電解めっきを行うことによって製造される。
従来、無電解鋼めっきの前処理工程としては、アルカリ
脱脂工程、コンディショニング工程、表面銅箔のソフト
エツチング工程、酸洗工程、増感工程(触媒工程)、密
着促進工程等で行っている無電解めっき前処理液として
の密着促進剤の働きは、増感工程で処理された基板及び
基板表面のH! S n Oy (α錫酸)層を溶解
除去すると共にSn”°Pd”間に分子酸化還元反応を
起生せしめて基材表面にパラジウムの活性触媒(Pd’
)核を生成させることにある。
脱脂工程、コンディショニング工程、表面銅箔のソフト
エツチング工程、酸洗工程、増感工程(触媒工程)、密
着促進工程等で行っている無電解めっき前処理液として
の密着促進剤の働きは、増感工程で処理された基板及び
基板表面のH! S n Oy (α錫酸)層を溶解
除去すると共にSn”°Pd”間に分子酸化還元反応を
起生せしめて基材表面にパラジウムの活性触媒(Pd’
)核を生成させることにある。
(発明が解決しようとする課B)
しかしながら、従来の前処理液である塩酸、硫酸、硝酸
、フン酸、ホウフッ化水素酸、又は水酸化ナトリウム等
を用いると、パラジウムの表面を覆っているHtSn0
3の溶解除去が十分でない場合があり、銅張積層板のw
4箔とめっき間でしばしば密着不良を引き越していた。
、フン酸、ホウフッ化水素酸、又は水酸化ナトリウム等
を用いると、パラジウムの表面を覆っているHtSn0
3の溶解除去が十分でない場合があり、銅張積層板のw
4箔とめっき間でしばしば密着不良を引き越していた。
また、スルーホール内壁上へのめっきつき回り性の点で
も悪く、特に無電解銅めっき後の断面観察及びバンクラ
イトテストにおいてフッ酸、ホウフッ化水素酸等のフッ
化物は、ガラスクロスへのめっき不析出現象が起きてい
た。この為、半田揚げ試験でのブローホールが発生する
場合があるなどの問題点があった。
も悪く、特に無電解銅めっき後の断面観察及びバンクラ
イトテストにおいてフッ酸、ホウフッ化水素酸等のフッ
化物は、ガラスクロスへのめっき不析出現象が起きてい
た。この為、半田揚げ試験でのブローホールが発生する
場合があるなどの問題点があった。
本発明は、このような状況に鑑みてなされたものであり
、その目的は、化学めっき密着力に優れ、均一な無電解
銅めっき用前処理液を提供するものである。
、その目的は、化学めっき密着力に優れ、均一な無電解
銅めっき用前処理液を提供するものである。
(問題点を解決するための手段)
本発明は、鋭意研究を重ねた結果、無機酸、有機酸又は
これらを混合したものと金属錯化合物及び還元剤を含有
する水溶液をめっき前処理液として用いることが、化学
めっき密着力に優れ均一な無電解銅めっきを行うことを
可能にするという知見を得たことによってなされたもの
である。
これらを混合したものと金属錯化合物及び還元剤を含有
する水溶液をめっき前処理液として用いることが、化学
めっき密着力に優れ均一な無電解銅めっきを行うことを
可能にするという知見を得たことによってなされたもの
である。
本発明に用いる無機酸としては、塩酸(37%)、硫酸
(98%)又はこの混酸を用いることができ、有機酸と
しては、カルボン酸、オキシ酸、又はケト酸等があり好
適なものの具体例を示すと、カルボン酸として、酢酸、
ギ酸、安息香酸、シュウ酸、マロン酸、コハク酸、ゲル
タン酸、アジピン酸、ピメリン酸、スペリン酸、アゼラ
イン酸、セヘシ酸等が好ましく、オキシ酸として、グリ
コール酸、乳酸、リンゴ酸、酒石酸、クエン酸、クマリ
酸、及びサリチル酸、マンデル酸などの芳香族オキシ酸
が好ましく、ケト酸として、ピルビン酸、アセト酢酸、
アセト酢酸エチルが好ましい、前記の無機酸又は有機酸
は、1種単独で用いても2種以上を組み合わせても良い
。
(98%)又はこの混酸を用いることができ、有機酸と
しては、カルボン酸、オキシ酸、又はケト酸等があり好
適なものの具体例を示すと、カルボン酸として、酢酸、
ギ酸、安息香酸、シュウ酸、マロン酸、コハク酸、ゲル
タン酸、アジピン酸、ピメリン酸、スペリン酸、アゼラ
イン酸、セヘシ酸等が好ましく、オキシ酸として、グリ
コール酸、乳酸、リンゴ酸、酒石酸、クエン酸、クマリ
酸、及びサリチル酸、マンデル酸などの芳香族オキシ酸
が好ましく、ケト酸として、ピルビン酸、アセト酢酸、
アセト酢酸エチルが好ましい、前記の無機酸又は有機酸
は、1種単独で用いても2種以上を組み合わせても良い
。
前記金属錯化物としては、酒石酸又はその塩、トリエタ
ノールアミン、ピロリン酸又はその塩、スルホサリチル
酸又はその塩、塩化物、グルコン酸などが挙げられる。
ノールアミン、ピロリン酸又はその塩、スルホサリチル
酸又はその塩、塩化物、グルコン酸などが挙げられる。
これらの中でも特に好適なものは、酒石酸又はその塩や
塩化物が挙げられる。面、これらの金属錯化物は、1種
単独で用いても良く、2種以上組み合わせても良い。
塩化物が挙げられる。面、これらの金属錯化物は、1種
単独で用いても良く、2種以上組み合わせても良い。
前記還元剤としては、例えば、ホルマリン(35%)、
次亜塩素酸ナトリウム、ボロハイドライド、グリオキサ
ールなどが挙げられる。これらの中でも特に好適なもの
は、安価なホルマリン挙げられる。
次亜塩素酸ナトリウム、ボロハイドライド、グリオキサ
ールなどが挙げられる。これらの中でも特に好適なもの
は、安価なホルマリン挙げられる。
本発明の無電解銅めっき用前処理液は、前記無機酸又は
有機酸(A成分)と前記金属錯化物(B成分)と前記還
元剤(C成分)とを水溶液とすることによって得ること
ができる。
有機酸(A成分)と前記金属錯化物(B成分)と前記還
元剤(C成分)とを水溶液とすることによって得ること
ができる。
この前処理液中の前記(A成分)、(B成分)(C成分
)の濃度は、通常衣の範囲に設定すれば良い。すなわち
、(A成分)の濃度を好ましくは、5.0〜60 g
/ eとしくB成分)の濃度ヲ好ましくは、0.3〜5
0g/lとし、かつ(C成分)の濃度を好ましくは、0
.3〜50 g/12とする。ここで、上記各成分の濃
度は、各成分について2種類以上のものを用いる場合に
は、その合計量から計算される値とする。上記各成分の
濃度が前記の範囲にないと、無電解めっきの前処理液と
して使用した際に、ヘース基材と電気めっき間で密着不
良が生じてり、スルーホール内壁のガラスクロス部への
めっきつき回りが悪い為にブローホルが発生する。
)の濃度は、通常衣の範囲に設定すれば良い。すなわち
、(A成分)の濃度を好ましくは、5.0〜60 g
/ eとしくB成分)の濃度ヲ好ましくは、0.3〜5
0g/lとし、かつ(C成分)の濃度を好ましくは、0
.3〜50 g/12とする。ここで、上記各成分の濃
度は、各成分について2種類以上のものを用いる場合に
は、その合計量から計算される値とする。上記各成分の
濃度が前記の範囲にないと、無電解めっきの前処理液と
して使用した際に、ヘース基材と電気めっき間で密着不
良が生じてり、スルーホール内壁のガラスクロス部への
めっきつき回りが悪い為にブローホルが発生する。
本発明の前処理液を使用するに当たっては、通常例えば
次のように行えばよい。すなわち、例えば、基材として
基板を用いる場合には、該基板に必要に応じて穴明けを
行った後に a、アルカリ脱脂:NaoH1界面活性剤ビルダー H
ENO浸ン貞 す、コンディショニング:界面活性剤への浸漬C,ソフ
トエツチング:過硫酸アンモニウム、又は過硫酸ナトリ
ウム水溶液への浸漬 d、希硫酸への浸漬 e、プリデイツプ:HC1またはNaC1水溶液への浸
漬 f、増感処理:Pd−3n−C1の錯体を含有する水溶
液への浸漬 G、密着促進:本発明の前処理液 り、無電解銅めっき:無電解めっき液への浸漬の工程で
行われる。印刷配線板の製造に当たっては、上記の無電
解銅めっきを行った基板に、さらに電解銅めっき工程、
ラミネート工程、焼付・露光工程、エツチング工程、レ
ジスト剥離工程の常法の処理を施して製品を得ることが
できる。
次のように行えばよい。すなわち、例えば、基材として
基板を用いる場合には、該基板に必要に応じて穴明けを
行った後に a、アルカリ脱脂:NaoH1界面活性剤ビルダー H
ENO浸ン貞 す、コンディショニング:界面活性剤への浸漬C,ソフ
トエツチング:過硫酸アンモニウム、又は過硫酸ナトリ
ウム水溶液への浸漬 d、希硫酸への浸漬 e、プリデイツプ:HC1またはNaC1水溶液への浸
漬 f、増感処理:Pd−3n−C1の錯体を含有する水溶
液への浸漬 G、密着促進:本発明の前処理液 り、無電解銅めっき:無電解めっき液への浸漬の工程で
行われる。印刷配線板の製造に当たっては、上記の無電
解銅めっきを行った基板に、さらに電解銅めっき工程、
ラミネート工程、焼付・露光工程、エツチング工程、レ
ジスト剥離工程の常法の処理を施して製品を得ることが
できる。
(作用)
本発明の前処理液を用いると、増感工程で処理された基
板及び基材表面のH□SnO,(α錫酸)層を完全に溶
解除去することができるとともに、スルーホール内壁の
ガラスクロスへのめっきつき回り性に優れる為、ベース
基材と電解銅めっき間で密着不良を防止でき、またガラ
スクロスへのめっきつき回り性が優れる結果、優れた印
刷配線板等の製品を安定にかつ高品質で効率よく製造で
きる。これらの著しい改善効果は、本発明の前処理液が
、前記の如く特定の成分組成を有していることにより生
じるものである。
板及び基材表面のH□SnO,(α錫酸)層を完全に溶
解除去することができるとともに、スルーホール内壁の
ガラスクロスへのめっきつき回り性に優れる為、ベース
基材と電解銅めっき間で密着不良を防止でき、またガラ
スクロスへのめっきつき回り性が優れる結果、優れた印
刷配線板等の製品を安定にかつ高品質で効率よく製造で
きる。これらの著しい改善効果は、本発明の前処理液が
、前記の如く特定の成分組成を有していることにより生
じるものである。
各成分の作用機構については、次のように述べることが
できる。
できる。
すなわち、本発明の前処理液中の無機酸又は有機酸は、
H!5n03を溶解除去する。つまり、(Pd−3n−
C1’J錯体中のスズはパラジウムを被覆(Hz S
n Oy層)し、パラジウムの触媒活性を阻害する為、
下記に述べる金属錯化物を添加し、スズと錯化させるこ
とによりHzSnO+層を取り除いている。ここでの無
機酸又は、有機酸は、上記の金属錯化物の錯化(キレー
ト化)を促進しているものと考えられる。また、増感工
程後の水洗で発生する酸化銅を除去し密着力を上げる効
果も兼ね添えている。
H!5n03を溶解除去する。つまり、(Pd−3n−
C1’J錯体中のスズはパラジウムを被覆(Hz S
n Oy層)し、パラジウムの触媒活性を阻害する為、
下記に述べる金属錯化物を添加し、スズと錯化させるこ
とによりHzSnO+層を取り除いている。ここでの無
機酸又は、有機酸は、上記の金属錯化物の錯化(キレー
ト化)を促進しているものと考えられる。また、増感工
程後の水洗で発生する酸化銅を除去し密着力を上げる効
果も兼ね添えている。
本発明の金属錯化剤は、パラジウムを被覆しているH、
SnO,(α錫M)との錯イし剤であり、存効的にHz
SnOxと錯化しパラジウム核から取り除くことにある
。取り除かれたH、SnO。
SnO,(α錫M)との錯イし剤であり、存効的にHz
SnOxと錯化しパラジウム核から取り除くことにある
。取り除かれたH、SnO。
及び3 n 2+、Sn”は液中に存在する為過剰の錯
化量により錯体を生成することによって、基材表面への
核金属イオンの再付着を防止する作用を果たすものであ
る。
化量により錯体を生成することによって、基材表面への
核金属イオンの再付着を防止する作用を果たすものであ
る。
本発明の還元剤は、基材の表面に付着している不純物、
例えば酸化物や過剰のスズイオンあるいはパラジウム触
媒核を還元する作用を果たす。また、好適な還元剤ホル
マリンは、インヒビターとして働き、基板からの銅溶解
が少ないので長寿命につながり薬液のランニングコスト
も安くなるメリットもある。そして、これらの各成分の
協同作用によって前記した優れた効果が生じるものと考
えられる。
例えば酸化物や過剰のスズイオンあるいはパラジウム触
媒核を還元する作用を果たす。また、好適な還元剤ホル
マリンは、インヒビターとして働き、基板からの銅溶解
が少ないので長寿命につながり薬液のランニングコスト
も安くなるメリットもある。そして、これらの各成分の
協同作用によって前記した優れた効果が生じるものと考
えられる。
実施例1
印刷配線板の絶縁部分の熱硬化性樹脂の補強材として使
用されているガラスクロス(E−ガラス)30X50m
−と、両面銅張積層板FR−4(+。
用されているガラスクロス(E−ガラス)30X50m
−と、両面銅張積層板FR−4(+。
6t、30 X 100 aysに1.0曹■のドリル
にて穴明けし、パフ研磨、ホーニング処理したもの)と
をクリーナーコンディショナーCLC−201(日立化
成工業株式会社、商品名)に浸漬して脱脂及びコンディ
ショニング処理を行い、水洗後、200g/lの過硫酸
アンモニウム(ソフトエツチング液)、10%HtSn
Oa(酸洗い洗)、ブリティップ液270g/IPD−
201(日立化成工業株式会社、商品名)、増悪剤MS
−201B(日立化成工業株式会社、商品名)の順に浸
漬処理し、硫酸(98%):40g/l、酒石酸カリウ
ムナトリウム(ロソセル塩):10g/7!、ホルマリ
ン(35%>:5g/I!を含む水溶液の前処理液に常
温下で5分間浸漬した。その後、水洗後、無電解銅めっ
き液CUST−201(日立化成工業株式会社、商品名
)によって無電解めっきを施した。ガラスクロスは、3
分と5分めっきを施し、スルーホール基板は15分間め
っきを施した。ガラスクロスはめっき後、硝酸で銅を溶
解後原子吸光法で定量した。スルーホール基板はめっき
しスルーホールの中心で切断したものを、バンクライト
テストにより無電解銅めっきのカバーリング性を評価し
た。バックライトテスト結果の評価は、 A:不透過 B:20%の光が洩れる C:50%の光が洩れる とし、その結果を第1表に示す。
にて穴明けし、パフ研磨、ホーニング処理したもの)と
をクリーナーコンディショナーCLC−201(日立化
成工業株式会社、商品名)に浸漬して脱脂及びコンディ
ショニング処理を行い、水洗後、200g/lの過硫酸
アンモニウム(ソフトエツチング液)、10%HtSn
Oa(酸洗い洗)、ブリティップ液270g/IPD−
201(日立化成工業株式会社、商品名)、増悪剤MS
−201B(日立化成工業株式会社、商品名)の順に浸
漬処理し、硫酸(98%):40g/l、酒石酸カリウ
ムナトリウム(ロソセル塩):10g/7!、ホルマリ
ン(35%>:5g/I!を含む水溶液の前処理液に常
温下で5分間浸漬した。その後、水洗後、無電解銅めっ
き液CUST−201(日立化成工業株式会社、商品名
)によって無電解めっきを施した。ガラスクロスは、3
分と5分めっきを施し、スルーホール基板は15分間め
っきを施した。ガラスクロスはめっき後、硝酸で銅を溶
解後原子吸光法で定量した。スルーホール基板はめっき
しスルーホールの中心で切断したものを、バンクライト
テストにより無電解銅めっきのカバーリング性を評価し
た。バックライトテスト結果の評価は、 A:不透過 B:20%の光が洩れる C:50%の光が洩れる とし、その結果を第1表に示す。
両面銅張積層板(1,6t、1.0鰭φ250X250
mm>を前処理し、めっき工程により処理後、ピロリン
酸銅めっきを3 A / d mで64分間行い、不要
な箇所をエツチング除去して回路を形成した後ブローホ
ールの発生テストを行った。
mm>を前処理し、めっき工程により処理後、ピロリン
酸銅めっきを3 A / d mで64分間行い、不要
な箇所をエツチング除去して回路を形成した後ブローホ
ールの発生テストを行った。
ブローホールテストは湿度90%、温度40%中の恒温
恒温中に12hr、24hr。
恒温中に12hr、24hr。
72hr放置し十分吸湿させたのち260±5℃に加熱
された溶解半田浴に浸漬したときのブローホールの数を
測定した。その結果を第2表に示す。
された溶解半田浴に浸漬したときのブローホールの数を
測定した。その結果を第2表に示す。
実施例2
前処理液として、硫酸(98%):40g/ffi、グ
リコール酸:20g/l、ホルマリン(35%):5g
/ρを含む水溶液を用いたほかは実施例1と同様とした
。
リコール酸:20g/l、ホルマリン(35%):5g
/ρを含む水溶液を用いたほかは実施例1と同様とした
。
実施例3
前処理液として、しゅう酸:5g/i塩化ナトリウム:
3g/12、ホルマリン(35%):5g/(lを含む
水溶液を用いたほかは実施例1と同様とした。
3g/12、ホルマリン(35%):5g/(lを含む
水溶液を用いたほかは実施例1と同様とした。
比較例1
前処理液として、HBF、(40%):40g/lの水
溶液を用いたほかは実施例1と同様とした。
溶液を用いたほかは実施例1と同様とした。
比較例2
前処理液として、硫酸(98%):40g/n、ホルマ
リン(35%):5g/lを含む水溶液を用いたほかは
実施例1と同様とした。
リン(35%):5g/lを含む水溶液を用いたほかは
実施例1と同様とした。
(以下余白)
第1表
(発明の効果)
本発明によると、印刷配線板用基板の基材へのめっきつ
き回り性に優れ、穴明は基板のブローホールの抑制に効
果があり、印刷配線板の品質を高めることができる優れ
た無電解めっき用前処理液を提出することができる。
き回り性に優れ、穴明は基板のブローホールの抑制に効
果があり、印刷配線板の品質を高めることができる優れ
た無電解めっき用前処理液を提出することができる。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、無機酸、有機酸、又はこれらを混合したものと、金
属錯化剤と、還元剤とを水に配合して成る無電解めっき
用前処理液。 2、無機酸が塩酸又は硫酸、有機酸がオキシ酸又はケト
酸である特許請求の範囲第1項記載の無電解めっき用前
処理液。 3、金属錯化剤が酒石酸又はその塩、塩化物、トリエタ
ノールアミン、ピロリン酸又はその塩、スルホサリチル
酸又はその塩、グリコン酸及びそれらの混合物より成る
特許請求の範囲第1項記載の無電解めっき用前処理液。 4、還元剤がホルマリン、次亜塩素酸ナトリウム、グリ
オキサールから成る特許請求の範囲第1項記載の無電解
めっき用前処理液。 5、無機酸又は有機酸の含有量が5.0〜60g/lで
ある特許請求の範囲第2項記載の無電解めっき用前処理
液。 6、金属錯化剤の含有量が0.3〜50g/lである特
許請求の範囲第3項記載の無電解めっき用前処理液。 7、還元剤の含有量が0.3〜50g/lである特許請
求の範囲第4項記載の無電解めっき用前処理液。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17841088A JPH0230769A (ja) | 1988-07-18 | 1988-07-18 | 無電解めっき用前処理液 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17841088A JPH0230769A (ja) | 1988-07-18 | 1988-07-18 | 無電解めっき用前処理液 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0230769A true JPH0230769A (ja) | 1990-02-01 |
Family
ID=16048005
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17841088A Pending JPH0230769A (ja) | 1988-07-18 | 1988-07-18 | 無電解めっき用前処理液 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0230769A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1996020294A1 (fr) * | 1994-12-27 | 1996-07-04 | Ibiden Co., Ltd. | Solution de pre-traitement pour depot autocatalytique, bain et procede de depot autocatalytique |
EP1117283A1 (en) * | 1998-09-14 | 2001-07-18 | Ibiden Co., Ltd. | Printed wiring board and its manufacturing method |
JP2002053973A (ja) * | 2000-08-07 | 2002-02-19 | Ibiden Co Ltd | 無電解めっき用前処理液、無電解めっき用処理液、および、多層プリント配線板の製造方法 |
JP2004190042A (ja) * | 2002-03-05 | 2004-07-08 | Daiwa Fine Chemicals Co Ltd (Laboratory) | 無電解めっきの触媒付与のための前処理液、該液を使用する前処理方法、該方法を使用して製造した無電解めっき皮膜及び(又は)めっき被覆体 |
-
1988
- 1988-07-18 JP JP17841088A patent/JPH0230769A/ja active Pending
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1996020294A1 (fr) * | 1994-12-27 | 1996-07-04 | Ibiden Co., Ltd. | Solution de pre-traitement pour depot autocatalytique, bain et procede de depot autocatalytique |
KR100235850B1 (ko) * | 1994-12-27 | 1999-12-15 | 엔도 마사루 | 무전해 도금용 전처리액, 무전해 도금욕 및 무전해 도금방법 |
US6146700A (en) * | 1994-12-27 | 2000-11-14 | Ibiden Co., Ltd. | Pretreating solution for electroless plating, electroless plating bath and electroless plating process |
US6174353B1 (en) | 1994-12-27 | 2001-01-16 | Ibiden Co., Ltd. | Pretreating solution for electroless plating, electroless plating bath and electroless plating process |
EP1117283A4 (en) * | 1998-09-14 | 2004-06-23 | Ibiden Co Ltd | PRINTED CIRCUIT BOARD AND MANUFACTURING METHOD THEREOF |
EP1117283A1 (en) * | 1998-09-14 | 2001-07-18 | Ibiden Co., Ltd. | Printed wiring board and its manufacturing method |
EP1667506A1 (en) * | 1998-09-14 | 2006-06-07 | Ibiden Co., Ltd. | Electroless plating solution, electroless plating process, and printed circuit board |
US7230188B1 (en) | 1998-09-14 | 2007-06-12 | Ibiden Co., Ltd. | Printed wiring board and its manufacturing method |
EP1919266A3 (en) * | 1998-09-14 | 2009-08-05 | Ibiden Co., Ltd. | Electroless plating solution, electroless plating process, and printed circuit board |
US7691189B2 (en) | 1998-09-14 | 2010-04-06 | Ibiden Co., Ltd. | Printed wiring board and its manufacturing method |
US7827680B2 (en) | 1998-09-14 | 2010-11-09 | Ibiden Co., Ltd. | Electroplating process of electroplating an elecrically conductive sustrate |
US8065794B2 (en) | 1998-09-14 | 2011-11-29 | Ibiden Co., Ltd. | Printed wiring board and its manufacturing method |
JP2002053973A (ja) * | 2000-08-07 | 2002-02-19 | Ibiden Co Ltd | 無電解めっき用前処理液、無電解めっき用処理液、および、多層プリント配線板の製造方法 |
JP2004190042A (ja) * | 2002-03-05 | 2004-07-08 | Daiwa Fine Chemicals Co Ltd (Laboratory) | 無電解めっきの触媒付与のための前処理液、該液を使用する前処理方法、該方法を使用して製造した無電解めっき皮膜及び(又は)めっき被覆体 |
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