JPH02288106A - 抵抗体ペースト及びセラミックス基板 - Google Patents

抵抗体ペースト及びセラミックス基板

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JPH02288106A
JPH02288106A JP1107728A JP10772889A JPH02288106A JP H02288106 A JPH02288106 A JP H02288106A JP 1107728 A JP1107728 A JP 1107728A JP 10772889 A JP10772889 A JP 10772889A JP H02288106 A JPH02288106 A JP H02288106A
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JP
Japan
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glass powder
resistance value
resistor paste
resistance
glass
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Pending
Application number
JP1107728A
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English (en)
Inventor
Ryuichi Tanabe
隆一 田辺
Yoshiyuki Nishihara
芳幸 西原
Jiro Chiba
次郎 千葉
Keiichi Kawakami
圭一 川上
Masuo Sugizaki
杉崎 満寿雄
Toshihiko Hiwatari
敏彦 樋渡
Eiji Ichikura
栄治 市倉
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AGC Inc
Original Assignee
Asahi Glass Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野〕 本発明はセラミックス基板用の抵抗体ペーストに関する
ものである。
[従来の技術] 従来混成集積回路における抵抗はセラミックス基板上又
は内部に銀(Ag)又はAg−パラジウム(Pd)導体
を形成し、その間に抵抗体ペーストを印刷し、空気等の
酸化性雰囲気中で約850〜900℃で焼成し、形成さ
れていた。
その際に使用されていた抵抗体ペーストは主としてRu
b、とガラスからなっていた。
しかし最近ではマイグレーション等の信頼性の面等から
Ag又はAg−Pd導体に代わり、銅(Cu)導体が使
用されるようになってきている。
しかしCu導体は窒素等の非酸化性雰囲気中で焼成しな
いと酸化されてしまうため、非酸化性雰囲気で還元され
抵抗を形成しないRuO□は使用できない。
そこで最近、LaB5粉末とガラス粉末、 SnO□ド
ープ品とガラス粉末、珪化物とガラス粉末等が提案され
ている。
しかし上記組み合わせは抵抗値や抵抗値温度係数(TC
R)がまだ十分に安定して得られないという欠点がある
また、特開昭62−11902号公報によってアンチモ
ンドープ酸化錫とCab−Bad−5ing系のガラス
フリットよりなる抵抗ペーストが報告されているが、B
aOを含有しているため、結晶化が早くなって、焼結性
が悪くなるとともに耐水性が悪(なる欠点があった。
[発明の解決しようとする課題] 本発明は、窒素等の非酸化性雰囲気中で焼成が可能で、
抵抗値、抵抗値温度係数(TCR)が安定的に得られる
従来知られていなかった抵抗体ペースト及びセラミック
ス基板を新規に提供することを目的とするものである。
[課題を解決するための手段] 本発明は、前述の問題点を解決すべくなされたものであ
り、無機成分が重量%表示でガラス粉末20〜70とS
nOオ及び/又はsbをドープした5nOt 30〜8
0からなり、当該ガラス粉末は重量%表示で実質的にS
iO□15〜50. Al*Os O〜20、  Mg
0 0 〜40.  Ca0 0 〜40.  Sr0
 0 〜60゜MgO÷CaO+Sr0 20〜60.
LitO+Na*O+に、O+Cs*O(1〜10、P
b0 0 〜IO,Zn0 0 〜20.ZrO,+T
iO*  O〜10、 B、0.10〜40からなり、
実質的に非酸化性雰囲気中で焼成するセラミックス基板
用抵抗体ペーストを提供するものである。
以下、本発明の詳細な説明する。
本発明の抵抗体ペーストは単層又は多層焼成後の固化し
たアルミナ基板等のセラミックス基板、あるいはセラミ
ックス基板用のグリーンシート上に印刷等の方法により
形成した後、窒素雰囲気中等の非酸化性雰囲気中で焼成
されるものである。尚%は特に記載しない限り、重量%
を意味する。
本発明の抵抗体ペーストは無機成分が実質的に ガラス粉末   20〜70% 導電物質粉末  30〜80% からなり、以下順次これらについて説明する。
ガラス粉末は、低温度(例えば900℃以下)で充分に
流動性を有し、焼成時に上記導電物質粉末を覆って充分
に濡らし、かつ焼結するSiO*−8mOs系ガラスの
ものが好ましい。
かかるガラス粉末の含有量が20%より少ないと導電物
質粉末を充分に濡らすことができないため、焼結層に空
孔が多くなり、本発明の抵抗体ペーストを焼成すること
によって得られる抵抗体の強度が弱くなり、又抵抗値の
安定性が低下するので好ましくなく、70%を越えると
、導電物質粉末間の接着が少な(なり、上記抵抗値が大
きくなりすぎ適当でない。
本発明にかかるガラス粉末は上記範囲中25〜65%の
範囲が望ましい。
一方導電物質粉末としては、通常市販されている5nO
i+ Sbを通常sb、o、の酸化物としてドープした
Snowが単独又は併用して使用できるが、その理由は
、かかる物質は、導電率が高い、すなわち抵抗率が低い
特性を有するため、導電物質とガラスとの複合体である
本発明にかかる抵抗体の抵抗値を目標に合致させること
が可能であるためである。
sbをSnOオにドープしたものは、ドープしないSn
ugに比較して、抵抗値が低くなり、ドープ量が多くな
ると抵抗値が高くなる0本発明にかかる抵抗が10MΩ
以下のものなら、上記ドープ量はSbgOaの酸化物換
算で0〜20%が適正な範囲であり、望ましい範囲は0
.1〜15%、特に望ましい範囲は1〜lO%である。
また本発明にかかる抵抗がIOMΩ以上ならば、上記ド
ープ量はSbgOaの酸化物換算で20%以上のものも
使用できる。
本発明にかかるガラスの粒度は、小さすぎると上記抵抗
値が大きくなりすぎ好ましくなく、大きすぎると、ガラ
スを充分に濡らすことができず、焼結層に空孔が多(な
り好ましくない。
平均粒径は0.5〜6μmが必要な範囲であり、望まし
い範囲は1〜5μmである。
−力木発明にかかる導電物質粉末の粒度は小さすぎると
抵抗値が大きくなり過ぎ好ましくなく、大きすぎるとセ
ラミックス基板上で不均一になり、抵抗値のバラツキが
大きくなるので好ましくない。平均粒径は0.01〜5
μmの範囲が必要な範囲であり、望ましい範囲は0.0
5〜3μmである。
本発明にかかるガラス粉末は、無機成分が実質的に Stow         15〜50%A1□0,0
〜20% MgOO〜40% Ca00〜40% Sr0         0〜60% MgO÷CaO+Sr0    20〜60%LLO+
NaxO+KtO+C3z0 0〜10%pbo   
       o〜10%ZnOO〜20% ZrO*         C1〜LO%B*Os  
       10〜40%からなり、順次これらにつ
いて説明する。
かかる組成において、5iOzはガラスのネットワーク
フォーマ−であり、15%より少ないと、軟化点が低く
なりすぎ耐熱性が低下し、再焼成時に変形を生じ易くな
るので好ましくない。
方SLO□が50%より多いと、軟化点が高(なり過ぎ
、焼成時にガラスの流動が悪くなり、導電物質粉末を覆
って濡らすことができず、焼結層の空孔が多くなりすぎ
、抵抗の安定性が悪くなるので適当でない。望ましくは
、20〜45%の範囲である。
A1□0.は必須ではないが、添加することにより、耐
湿性の向上に効果がある。20%を越えるとガラスの軟
化温度が高(なり、焼結性が悪くなり適当でない。望ま
しくは18%以下である。
MgO+CaO÷SrOはガラス粉末製造時の溶解性を
向上さすため及び熱膨張係数を調整する目的で添加する
。20%より少ないと上記の溶解性が充分に向上しない
と共にガラス製造時に失透を生じやすく、60%を越え
ると熱膨張係数が大きくなりすぎ、いずれも適当でない
。望ましくは、25〜55%の範囲である。
また上記MgO+CaO÷SrOの内のMgO、CaO
はそれぞれ40%以上であると、熱膨張係数が大きくな
りすぎ、不適当である。望ましい範囲は0〜35%であ
る。上記MgO+CaO+SrOの内のSrQは60%
以上であると熱膨張係数が太き(なりすぎ、不適当であ
る。望ましい範囲は0〜55%である。
Li、0+Na1O+に20+(:szOは必須ではな
いが、添加することによりガラスの溶解性の向上を図る
ことができ、又抵抗値を高くする作用がある。10%を
越えると、抵抗値が高くなりすぎ、適当でない。望まし
くは8%以下である。
PbOは必須ではないが、ガラスのフラックス成分とし
ての効果があり、又抵抗値を高(する作用がある。10
%を越えると抵抗値が高くなりすぎ適当でない。望まし
くは5%以下である。
ZnOは必須ではないが、ガラスの溶解性の改善のため
に20%まで添加することが可能であり、15%以下が
望ましい範囲である。
ZrO□+Ti1tは必須ではないが、添加することに
より抵抗体の耐湿信願性を向上さすことができる。添加
量は10%が可能であるが、望ましくは7%以下である
B、0.はフラックス成分として用いるが、10%より
少ないと軟化点が高くなり、焼結不足となり、焼結層に
空孔が多くなりすぎる。また40%を越えるとガラスの
耐水性が低下し適当でない。望ましくは12〜38%の
範囲である。
以上記載した望ましい範囲についてまとめると以下の通
りとなる。
Stow            20〜45%AI□
030〜18% MgO+CaO÷Sr0       25〜55%L
izO+Na、0+KzO+C5tOO〜8%pbo 
            o〜5%ZnO0〜15% Zr0z+TiO*          O〜7%Bz
Oa            12〜38%本発明の抵
抗体ペーストの組成物は、各粉末が上記割合に混合され
ているものであり、以下本発明の抵抗体ペーストの作業
方法とそれを使用した厚膜回路の製造の一例について説
明する。
上記本発明の抵抗体ペーストの組成物に有機バインダー
、溶剤からなる有機ビヒクルを添加し、乾燥し、ペース
ト状とする。この有機バインダーとしては、エチルセル
ロース、アクリル樹脂、エチレン−酢酸ビニル共重合樹
脂、ポリα−メチルスチレン樹脂、溶剤としては、α−
テルピネオール、ブチルカルピトールアセテート、ブチ
ルカルピトール、 2,2.4−1−リメチルベンタン
ジオール−1,3,−モノイソブチレート、ジエチレン
グリコールジ−n−ブチルエーテル、等が通常使用でき
る。さらに分散剤として界面活性剤を添加してもよい。
次いで焼成後の固化したアルミナ基板、又はガラスセラ
ミックス基板等のセラミックス基板上に導体を作成する
ために、Cuペーストを所定の回路に印刷、乾燥後、酸
素濃度zo ppm以下の窒素雰囲気中で850〜95
0℃、5〜lO分で焼成する。この焼成条件の望ましい
範囲は880〜920℃、7〜15分である。次いで抵
抗を設けるべき所定の箇所に上記本発明の抵抗体ペース
トを印刷した後乾燥させ、上記窒素雰囲気中。
850〜950℃、5〜20で焼成する。この焼成条件
の望ましい範囲は880〜920℃、7〜15分である
多層セラミックス基板−括焼成の場合は、上記Cuペー
ストと本発明の抵抗体ペーストを印刷したセラミックス
基板用等のセラミックスのグリーンシートな熱圧1i後
積層し、上記窒素雰囲気中で850〜950℃、数分〜
数時間で一括焼成し、多層基板を作成する。
尚本発明の抵抗体ペーストには、着色のために金属酸化
物、耐熱性無機顔料等の着色顔料を0〜5%添加するこ
とができる。
また、ガラス溶解時に清澄剤、溶融促進剤として硝酸塩
、亜ヒ酸、酸化アンチモン、硫酸塩、フッ化物、塩化物
等を0〜5%添加することができる。
[実施例] 本発明にかかるガラス粉末の各原料を酸化物換算で表−
1に示す割合で調合し、これを白金ルツボに入れ、13
50〜1500℃で2〜3時間撹拌しつつ加熱撹拌した
。次いでこれを水砕又はフレーク状とし、更に粉砕装置
により平均粒径0.5〜6μmになるように粉砕し、ガ
ラス粉末を製造した6次いで導電物質としてSnow及
び/又はsbをsb、onの酸化物換算で5%ドープし
たSnO□の粉末を平均粒径0.01〜5μmになるよ
うに調整した。次いでこれらのガラス粉末と上記導電物
質粉末を表−1に記載の割合で混合し、本発明の抵抗体
ペーストにかかる組成物を得た。
次いでこれらに有機バインダーとしてエチルセルロース
、溶剤としてα−テルピネオールからなる有機ビヒクル
を添加し、混練し、粘度が30X 10’ cpsのペ
ーストを作成した。次いで固化したアルミナ基板上に本
発明にかかる抵抗の電極としてCuペーストを所定の回
路にスクリーン印刷、乾燥し、酸素1度20 ppm以
下の窒素雰囲気中900℃、10分で焼成した。
次いで抵抗所定箇所に上記抵抗体ペーストを200メツ
シユスクリーンでスクリーン印刷、乾燥し、酸素濃度2
0 ppm以下の窒素雰囲気中で900℃、10分で焼
成した。焼成膜厚は約15μmであった。
このようにしてセラミック基板上に回路を作成した。こ
の回路について、抵抗値、抵抗値温度係数(TCR)、
高温放置による抵抗値ドリフトを測定した。これらの結
果を表−1に記載した。表−1から明らかなように本発
明にかかる抵抗体ペーストは抵抗特性に優れ、厚膜回路
用抵抗体ペーストとして十分使用できる特性を有するこ
とが認められる。
比較例として本発明にかかる抵抗体ペースト以外のもの
についても同様の評価を行ったので表−2に記載した。
なお各特性の測定方法は次の通りである。
iン  抵抗値及び抵抗値温度係数(TCP)25℃、
−55℃、+125℃の抵抗値(Ris。
R−s−、R12g )を恒温槽中で抵抗計により測定
し、 次の式により算出した。
ppm/’C) ppm/’C) it) 高温放置による抵抗値ドリフト ℃の恒温槽中で 100時間放置し、 次の式 により算出した。
上式において R1゜。、= 100時間後の抵抗値 =抵抗の初期値 [発明の効果] 本発明の抵抗体ペーストは窒素雰囲気等の非酸化性雰囲
気中で焼成が可能で安定した信頼性の高い抵抗をセラミ
ックス基板上に形成可能であるとともに焼結性、耐水性
がよ(、特に高温放置による抵抗値ドリフト特性に優れ
ているという効果も認められる。
手続補正書 ■、事件の表示 平成1年特許願第107728号 2、発明の名称 抵抗体ペースト及びセラミックス基板 3、補正をする者 事件との関係  特許出願人 住 所  東京都千代田区丸の内二丁目1番2号名称 
(004)旭硝子株式会社 6、補正により増加する発明の数 7、補正の対象 なし

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)無機成分が重量%表示でガラス粉末20〜70と
    SnO_2及び/又はSbをドープしたSnO_230
    〜80からなり、当該ガラス粉末は重量%表示で実質的
    にSiO_215〜50,Al_2O_30〜20,M
    gO0〜40,CaO0〜40,SrO0〜60,Mg
    O+CaO+SrO_20〜60,Li_2O+Na_
    2O+K_2O+Cs_2O0〜10,PbO0〜10
    ,ZnO0〜20,ZrO_2+TiO_20〜10,
    B_2O_310〜40からなり、実質的に非酸化性雰
    囲気中で焼成するセラミックス基板用抵抗体ペースト。
  2. (2)第1項記載の抵抗体ペーストを使用して焼成され
    たセラミックス基板。
JP1107728A 1989-04-28 1989-04-28 抵抗体ペースト及びセラミックス基板 Pending JPH02288106A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4866007A (en) * 1987-03-18 1989-09-12 Sumitomo Electric Industries Co. Method for preparing single-crystal ZnSe
US7763189B2 (en) 2001-05-16 2010-07-27 E. I. Du Pont De Nemours And Company Dielectric composition with reduced resistance

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4866007A (en) * 1987-03-18 1989-09-12 Sumitomo Electric Industries Co. Method for preparing single-crystal ZnSe
US7763189B2 (en) 2001-05-16 2010-07-27 E. I. Du Pont De Nemours And Company Dielectric composition with reduced resistance
US8298449B2 (en) 2001-05-16 2012-10-30 E I Du Pont De Nemours And Company Dielectric composition with reduced resistance

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