JPH02288106A - 抵抗体ペースト及びセラミックス基板 - Google Patents
抵抗体ペースト及びセラミックス基板Info
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- JPH02288106A JPH02288106A JP1107728A JP10772889A JPH02288106A JP H02288106 A JPH02288106 A JP H02288106A JP 1107728 A JP1107728 A JP 1107728A JP 10772889 A JP10772889 A JP 10772889A JP H02288106 A JPH02288106 A JP H02288106A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野〕
本発明はセラミックス基板用の抵抗体ペーストに関する
ものである。
ものである。
[従来の技術]
従来混成集積回路における抵抗はセラミックス基板上又
は内部に銀(Ag)又はAg−パラジウム(Pd)導体
を形成し、その間に抵抗体ペーストを印刷し、空気等の
酸化性雰囲気中で約850〜900℃で焼成し、形成さ
れていた。
は内部に銀(Ag)又はAg−パラジウム(Pd)導体
を形成し、その間に抵抗体ペーストを印刷し、空気等の
酸化性雰囲気中で約850〜900℃で焼成し、形成さ
れていた。
その際に使用されていた抵抗体ペーストは主としてRu
b、とガラスからなっていた。
b、とガラスからなっていた。
しかし最近ではマイグレーション等の信頼性の面等から
Ag又はAg−Pd導体に代わり、銅(Cu)導体が使
用されるようになってきている。
Ag又はAg−Pd導体に代わり、銅(Cu)導体が使
用されるようになってきている。
しかしCu導体は窒素等の非酸化性雰囲気中で焼成しな
いと酸化されてしまうため、非酸化性雰囲気で還元され
抵抗を形成しないRuO□は使用できない。
いと酸化されてしまうため、非酸化性雰囲気で還元され
抵抗を形成しないRuO□は使用できない。
そこで最近、LaB5粉末とガラス粉末、 SnO□ド
ープ品とガラス粉末、珪化物とガラス粉末等が提案され
ている。
ープ品とガラス粉末、珪化物とガラス粉末等が提案され
ている。
しかし上記組み合わせは抵抗値や抵抗値温度係数(TC
R)がまだ十分に安定して得られないという欠点がある
。
R)がまだ十分に安定して得られないという欠点がある
。
また、特開昭62−11902号公報によってアンチモ
ンドープ酸化錫とCab−Bad−5ing系のガラス
フリットよりなる抵抗ペーストが報告されているが、B
aOを含有しているため、結晶化が早くなって、焼結性
が悪くなるとともに耐水性が悪(なる欠点があった。
ンドープ酸化錫とCab−Bad−5ing系のガラス
フリットよりなる抵抗ペーストが報告されているが、B
aOを含有しているため、結晶化が早くなって、焼結性
が悪くなるとともに耐水性が悪(なる欠点があった。
[発明の解決しようとする課題]
本発明は、窒素等の非酸化性雰囲気中で焼成が可能で、
抵抗値、抵抗値温度係数(TCR)が安定的に得られる
従来知られていなかった抵抗体ペースト及びセラミック
ス基板を新規に提供することを目的とするものである。
抵抗値、抵抗値温度係数(TCR)が安定的に得られる
従来知られていなかった抵抗体ペースト及びセラミック
ス基板を新規に提供することを目的とするものである。
[課題を解決するための手段]
本発明は、前述の問題点を解決すべくなされたものであ
り、無機成分が重量%表示でガラス粉末20〜70とS
nOオ及び/又はsbをドープした5nOt 30〜8
0からなり、当該ガラス粉末は重量%表示で実質的にS
iO□15〜50. Al*Os O〜20、 Mg
0 0 〜40. Ca0 0 〜40. Sr0
0 〜60゜MgO÷CaO+Sr0 20〜60.
LitO+Na*O+に、O+Cs*O(1〜10、P
b0 0 〜IO,Zn0 0 〜20.ZrO,+T
iO* O〜10、 B、0.10〜40からなり、
実質的に非酸化性雰囲気中で焼成するセラミックス基板
用抵抗体ペーストを提供するものである。
り、無機成分が重量%表示でガラス粉末20〜70とS
nOオ及び/又はsbをドープした5nOt 30〜8
0からなり、当該ガラス粉末は重量%表示で実質的にS
iO□15〜50. Al*Os O〜20、 Mg
0 0 〜40. Ca0 0 〜40. Sr0
0 〜60゜MgO÷CaO+Sr0 20〜60.
LitO+Na*O+に、O+Cs*O(1〜10、P
b0 0 〜IO,Zn0 0 〜20.ZrO,+T
iO* O〜10、 B、0.10〜40からなり、
実質的に非酸化性雰囲気中で焼成するセラミックス基板
用抵抗体ペーストを提供するものである。
以下、本発明の詳細な説明する。
本発明の抵抗体ペーストは単層又は多層焼成後の固化し
たアルミナ基板等のセラミックス基板、あるいはセラミ
ックス基板用のグリーンシート上に印刷等の方法により
形成した後、窒素雰囲気中等の非酸化性雰囲気中で焼成
されるものである。尚%は特に記載しない限り、重量%
を意味する。
たアルミナ基板等のセラミックス基板、あるいはセラミ
ックス基板用のグリーンシート上に印刷等の方法により
形成した後、窒素雰囲気中等の非酸化性雰囲気中で焼成
されるものである。尚%は特に記載しない限り、重量%
を意味する。
本発明の抵抗体ペーストは無機成分が実質的に
ガラス粉末 20〜70%
導電物質粉末 30〜80%
からなり、以下順次これらについて説明する。
ガラス粉末は、低温度(例えば900℃以下)で充分に
流動性を有し、焼成時に上記導電物質粉末を覆って充分
に濡らし、かつ焼結するSiO*−8mOs系ガラスの
ものが好ましい。
流動性を有し、焼成時に上記導電物質粉末を覆って充分
に濡らし、かつ焼結するSiO*−8mOs系ガラスの
ものが好ましい。
かかるガラス粉末の含有量が20%より少ないと導電物
質粉末を充分に濡らすことができないため、焼結層に空
孔が多くなり、本発明の抵抗体ペーストを焼成すること
によって得られる抵抗体の強度が弱くなり、又抵抗値の
安定性が低下するので好ましくなく、70%を越えると
、導電物質粉末間の接着が少な(なり、上記抵抗値が大
きくなりすぎ適当でない。
質粉末を充分に濡らすことができないため、焼結層に空
孔が多くなり、本発明の抵抗体ペーストを焼成すること
によって得られる抵抗体の強度が弱くなり、又抵抗値の
安定性が低下するので好ましくなく、70%を越えると
、導電物質粉末間の接着が少な(なり、上記抵抗値が大
きくなりすぎ適当でない。
本発明にかかるガラス粉末は上記範囲中25〜65%の
範囲が望ましい。
範囲が望ましい。
一方導電物質粉末としては、通常市販されている5nO
i+ Sbを通常sb、o、の酸化物としてドープした
Snowが単独又は併用して使用できるが、その理由は
、かかる物質は、導電率が高い、すなわち抵抗率が低い
特性を有するため、導電物質とガラスとの複合体である
本発明にかかる抵抗体の抵抗値を目標に合致させること
が可能であるためである。
i+ Sbを通常sb、o、の酸化物としてドープした
Snowが単独又は併用して使用できるが、その理由は
、かかる物質は、導電率が高い、すなわち抵抗率が低い
特性を有するため、導電物質とガラスとの複合体である
本発明にかかる抵抗体の抵抗値を目標に合致させること
が可能であるためである。
sbをSnOオにドープしたものは、ドープしないSn
ugに比較して、抵抗値が低くなり、ドープ量が多くな
ると抵抗値が高くなる0本発明にかかる抵抗が10MΩ
以下のものなら、上記ドープ量はSbgOaの酸化物換
算で0〜20%が適正な範囲であり、望ましい範囲は0
.1〜15%、特に望ましい範囲は1〜lO%である。
ugに比較して、抵抗値が低くなり、ドープ量が多くな
ると抵抗値が高くなる0本発明にかかる抵抗が10MΩ
以下のものなら、上記ドープ量はSbgOaの酸化物換
算で0〜20%が適正な範囲であり、望ましい範囲は0
.1〜15%、特に望ましい範囲は1〜lO%である。
また本発明にかかる抵抗がIOMΩ以上ならば、上記ド
ープ量はSbgOaの酸化物換算で20%以上のものも
使用できる。
ープ量はSbgOaの酸化物換算で20%以上のものも
使用できる。
本発明にかかるガラスの粒度は、小さすぎると上記抵抗
値が大きくなりすぎ好ましくなく、大きすぎると、ガラ
スを充分に濡らすことができず、焼結層に空孔が多(な
り好ましくない。
値が大きくなりすぎ好ましくなく、大きすぎると、ガラ
スを充分に濡らすことができず、焼結層に空孔が多(な
り好ましくない。
平均粒径は0.5〜6μmが必要な範囲であり、望まし
い範囲は1〜5μmである。
い範囲は1〜5μmである。
−力木発明にかかる導電物質粉末の粒度は小さすぎると
抵抗値が大きくなり過ぎ好ましくなく、大きすぎるとセ
ラミックス基板上で不均一になり、抵抗値のバラツキが
大きくなるので好ましくない。平均粒径は0.01〜5
μmの範囲が必要な範囲であり、望ましい範囲は0.0
5〜3μmである。
抵抗値が大きくなり過ぎ好ましくなく、大きすぎるとセ
ラミックス基板上で不均一になり、抵抗値のバラツキが
大きくなるので好ましくない。平均粒径は0.01〜5
μmの範囲が必要な範囲であり、望ましい範囲は0.0
5〜3μmである。
本発明にかかるガラス粉末は、無機成分が実質的に
Stow 15〜50%A1□0,0
〜20% MgOO〜40% Ca00〜40% Sr0 0〜60% MgO÷CaO+Sr0 20〜60%LLO+
NaxO+KtO+C3z0 0〜10%pbo
o〜10%ZnOO〜20% ZrO* C1〜LO%B*Os
10〜40%からなり、順次これらにつ
いて説明する。
〜20% MgOO〜40% Ca00〜40% Sr0 0〜60% MgO÷CaO+Sr0 20〜60%LLO+
NaxO+KtO+C3z0 0〜10%pbo
o〜10%ZnOO〜20% ZrO* C1〜LO%B*Os
10〜40%からなり、順次これらにつ
いて説明する。
かかる組成において、5iOzはガラスのネットワーク
フォーマ−であり、15%より少ないと、軟化点が低く
なりすぎ耐熱性が低下し、再焼成時に変形を生じ易くな
るので好ましくない。
フォーマ−であり、15%より少ないと、軟化点が低く
なりすぎ耐熱性が低下し、再焼成時に変形を生じ易くな
るので好ましくない。
方SLO□が50%より多いと、軟化点が高(なり過ぎ
、焼成時にガラスの流動が悪くなり、導電物質粉末を覆
って濡らすことができず、焼結層の空孔が多くなりすぎ
、抵抗の安定性が悪くなるので適当でない。望ましくは
、20〜45%の範囲である。
、焼成時にガラスの流動が悪くなり、導電物質粉末を覆
って濡らすことができず、焼結層の空孔が多くなりすぎ
、抵抗の安定性が悪くなるので適当でない。望ましくは
、20〜45%の範囲である。
A1□0.は必須ではないが、添加することにより、耐
湿性の向上に効果がある。20%を越えるとガラスの軟
化温度が高(なり、焼結性が悪くなり適当でない。望ま
しくは18%以下である。
湿性の向上に効果がある。20%を越えるとガラスの軟
化温度が高(なり、焼結性が悪くなり適当でない。望ま
しくは18%以下である。
MgO+CaO÷SrOはガラス粉末製造時の溶解性を
向上さすため及び熱膨張係数を調整する目的で添加する
。20%より少ないと上記の溶解性が充分に向上しない
と共にガラス製造時に失透を生じやすく、60%を越え
ると熱膨張係数が大きくなりすぎ、いずれも適当でない
。望ましくは、25〜55%の範囲である。
向上さすため及び熱膨張係数を調整する目的で添加する
。20%より少ないと上記の溶解性が充分に向上しない
と共にガラス製造時に失透を生じやすく、60%を越え
ると熱膨張係数が大きくなりすぎ、いずれも適当でない
。望ましくは、25〜55%の範囲である。
また上記MgO+CaO÷SrOの内のMgO、CaO
はそれぞれ40%以上であると、熱膨張係数が大きくな
りすぎ、不適当である。望ましい範囲は0〜35%であ
る。上記MgO+CaO+SrOの内のSrQは60%
以上であると熱膨張係数が太き(なりすぎ、不適当であ
る。望ましい範囲は0〜55%である。
はそれぞれ40%以上であると、熱膨張係数が大きくな
りすぎ、不適当である。望ましい範囲は0〜35%であ
る。上記MgO+CaO+SrOの内のSrQは60%
以上であると熱膨張係数が太き(なりすぎ、不適当であ
る。望ましい範囲は0〜55%である。
Li、0+Na1O+に20+(:szOは必須ではな
いが、添加することによりガラスの溶解性の向上を図る
ことができ、又抵抗値を高くする作用がある。10%を
越えると、抵抗値が高くなりすぎ、適当でない。望まし
くは8%以下である。
いが、添加することによりガラスの溶解性の向上を図る
ことができ、又抵抗値を高くする作用がある。10%を
越えると、抵抗値が高くなりすぎ、適当でない。望まし
くは8%以下である。
PbOは必須ではないが、ガラスのフラックス成分とし
ての効果があり、又抵抗値を高(する作用がある。10
%を越えると抵抗値が高くなりすぎ適当でない。望まし
くは5%以下である。
ての効果があり、又抵抗値を高(する作用がある。10
%を越えると抵抗値が高くなりすぎ適当でない。望まし
くは5%以下である。
ZnOは必須ではないが、ガラスの溶解性の改善のため
に20%まで添加することが可能であり、15%以下が
望ましい範囲である。
に20%まで添加することが可能であり、15%以下が
望ましい範囲である。
ZrO□+Ti1tは必須ではないが、添加することに
より抵抗体の耐湿信願性を向上さすことができる。添加
量は10%が可能であるが、望ましくは7%以下である
。
より抵抗体の耐湿信願性を向上さすことができる。添加
量は10%が可能であるが、望ましくは7%以下である
。
B、0.はフラックス成分として用いるが、10%より
少ないと軟化点が高くなり、焼結不足となり、焼結層に
空孔が多くなりすぎる。また40%を越えるとガラスの
耐水性が低下し適当でない。望ましくは12〜38%の
範囲である。
少ないと軟化点が高くなり、焼結不足となり、焼結層に
空孔が多くなりすぎる。また40%を越えるとガラスの
耐水性が低下し適当でない。望ましくは12〜38%の
範囲である。
以上記載した望ましい範囲についてまとめると以下の通
りとなる。
りとなる。
Stow 20〜45%AI□
030〜18% MgO+CaO÷Sr0 25〜55%L
izO+Na、0+KzO+C5tOO〜8%pbo
o〜5%ZnO0〜15% Zr0z+TiO* O〜7%Bz
Oa 12〜38%本発明の抵
抗体ペーストの組成物は、各粉末が上記割合に混合され
ているものであり、以下本発明の抵抗体ペーストの作業
方法とそれを使用した厚膜回路の製造の一例について説
明する。
030〜18% MgO+CaO÷Sr0 25〜55%L
izO+Na、0+KzO+C5tOO〜8%pbo
o〜5%ZnO0〜15% Zr0z+TiO* O〜7%Bz
Oa 12〜38%本発明の抵
抗体ペーストの組成物は、各粉末が上記割合に混合され
ているものであり、以下本発明の抵抗体ペーストの作業
方法とそれを使用した厚膜回路の製造の一例について説
明する。
上記本発明の抵抗体ペーストの組成物に有機バインダー
、溶剤からなる有機ビヒクルを添加し、乾燥し、ペース
ト状とする。この有機バインダーとしては、エチルセル
ロース、アクリル樹脂、エチレン−酢酸ビニル共重合樹
脂、ポリα−メチルスチレン樹脂、溶剤としては、α−
テルピネオール、ブチルカルピトールアセテート、ブチ
ルカルピトール、 2,2.4−1−リメチルベンタン
ジオール−1,3,−モノイソブチレート、ジエチレン
グリコールジ−n−ブチルエーテル、等が通常使用でき
る。さらに分散剤として界面活性剤を添加してもよい。
、溶剤からなる有機ビヒクルを添加し、乾燥し、ペース
ト状とする。この有機バインダーとしては、エチルセル
ロース、アクリル樹脂、エチレン−酢酸ビニル共重合樹
脂、ポリα−メチルスチレン樹脂、溶剤としては、α−
テルピネオール、ブチルカルピトールアセテート、ブチ
ルカルピトール、 2,2.4−1−リメチルベンタン
ジオール−1,3,−モノイソブチレート、ジエチレン
グリコールジ−n−ブチルエーテル、等が通常使用でき
る。さらに分散剤として界面活性剤を添加してもよい。
次いで焼成後の固化したアルミナ基板、又はガラスセラ
ミックス基板等のセラミックス基板上に導体を作成する
ために、Cuペーストを所定の回路に印刷、乾燥後、酸
素濃度zo ppm以下の窒素雰囲気中で850〜95
0℃、5〜lO分で焼成する。この焼成条件の望ましい
範囲は880〜920℃、7〜15分である。次いで抵
抗を設けるべき所定の箇所に上記本発明の抵抗体ペース
トを印刷した後乾燥させ、上記窒素雰囲気中。
ミックス基板等のセラミックス基板上に導体を作成する
ために、Cuペーストを所定の回路に印刷、乾燥後、酸
素濃度zo ppm以下の窒素雰囲気中で850〜95
0℃、5〜lO分で焼成する。この焼成条件の望ましい
範囲は880〜920℃、7〜15分である。次いで抵
抗を設けるべき所定の箇所に上記本発明の抵抗体ペース
トを印刷した後乾燥させ、上記窒素雰囲気中。
850〜950℃、5〜20で焼成する。この焼成条件
の望ましい範囲は880〜920℃、7〜15分である
。
の望ましい範囲は880〜920℃、7〜15分である
。
多層セラミックス基板−括焼成の場合は、上記Cuペー
ストと本発明の抵抗体ペーストを印刷したセラミックス
基板用等のセラミックスのグリーンシートな熱圧1i後
積層し、上記窒素雰囲気中で850〜950℃、数分〜
数時間で一括焼成し、多層基板を作成する。
ストと本発明の抵抗体ペーストを印刷したセラミックス
基板用等のセラミックスのグリーンシートな熱圧1i後
積層し、上記窒素雰囲気中で850〜950℃、数分〜
数時間で一括焼成し、多層基板を作成する。
尚本発明の抵抗体ペーストには、着色のために金属酸化
物、耐熱性無機顔料等の着色顔料を0〜5%添加するこ
とができる。
物、耐熱性無機顔料等の着色顔料を0〜5%添加するこ
とができる。
また、ガラス溶解時に清澄剤、溶融促進剤として硝酸塩
、亜ヒ酸、酸化アンチモン、硫酸塩、フッ化物、塩化物
等を0〜5%添加することができる。
、亜ヒ酸、酸化アンチモン、硫酸塩、フッ化物、塩化物
等を0〜5%添加することができる。
[実施例]
本発明にかかるガラス粉末の各原料を酸化物換算で表−
1に示す割合で調合し、これを白金ルツボに入れ、13
50〜1500℃で2〜3時間撹拌しつつ加熱撹拌した
。次いでこれを水砕又はフレーク状とし、更に粉砕装置
により平均粒径0.5〜6μmになるように粉砕し、ガ
ラス粉末を製造した6次いで導電物質としてSnow及
び/又はsbをsb、onの酸化物換算で5%ドープし
たSnO□の粉末を平均粒径0.01〜5μmになるよ
うに調整した。次いでこれらのガラス粉末と上記導電物
質粉末を表−1に記載の割合で混合し、本発明の抵抗体
ペーストにかかる組成物を得た。
1に示す割合で調合し、これを白金ルツボに入れ、13
50〜1500℃で2〜3時間撹拌しつつ加熱撹拌した
。次いでこれを水砕又はフレーク状とし、更に粉砕装置
により平均粒径0.5〜6μmになるように粉砕し、ガ
ラス粉末を製造した6次いで導電物質としてSnow及
び/又はsbをsb、onの酸化物換算で5%ドープし
たSnO□の粉末を平均粒径0.01〜5μmになるよ
うに調整した。次いでこれらのガラス粉末と上記導電物
質粉末を表−1に記載の割合で混合し、本発明の抵抗体
ペーストにかかる組成物を得た。
次いでこれらに有機バインダーとしてエチルセルロース
、溶剤としてα−テルピネオールからなる有機ビヒクル
を添加し、混練し、粘度が30X 10’ cpsのペ
ーストを作成した。次いで固化したアルミナ基板上に本
発明にかかる抵抗の電極としてCuペーストを所定の回
路にスクリーン印刷、乾燥し、酸素1度20 ppm以
下の窒素雰囲気中900℃、10分で焼成した。
、溶剤としてα−テルピネオールからなる有機ビヒクル
を添加し、混練し、粘度が30X 10’ cpsのペ
ーストを作成した。次いで固化したアルミナ基板上に本
発明にかかる抵抗の電極としてCuペーストを所定の回
路にスクリーン印刷、乾燥し、酸素1度20 ppm以
下の窒素雰囲気中900℃、10分で焼成した。
次いで抵抗所定箇所に上記抵抗体ペーストを200メツ
シユスクリーンでスクリーン印刷、乾燥し、酸素濃度2
0 ppm以下の窒素雰囲気中で900℃、10分で焼
成した。焼成膜厚は約15μmであった。
シユスクリーンでスクリーン印刷、乾燥し、酸素濃度2
0 ppm以下の窒素雰囲気中で900℃、10分で焼
成した。焼成膜厚は約15μmであった。
このようにしてセラミック基板上に回路を作成した。こ
の回路について、抵抗値、抵抗値温度係数(TCR)、
高温放置による抵抗値ドリフトを測定した。これらの結
果を表−1に記載した。表−1から明らかなように本発
明にかかる抵抗体ペーストは抵抗特性に優れ、厚膜回路
用抵抗体ペーストとして十分使用できる特性を有するこ
とが認められる。
の回路について、抵抗値、抵抗値温度係数(TCR)、
高温放置による抵抗値ドリフトを測定した。これらの結
果を表−1に記載した。表−1から明らかなように本発
明にかかる抵抗体ペーストは抵抗特性に優れ、厚膜回路
用抵抗体ペーストとして十分使用できる特性を有するこ
とが認められる。
比較例として本発明にかかる抵抗体ペースト以外のもの
についても同様の評価を行ったので表−2に記載した。
についても同様の評価を行ったので表−2に記載した。
なお各特性の測定方法は次の通りである。
iン 抵抗値及び抵抗値温度係数(TCP)25℃、
−55℃、+125℃の抵抗値(Ris。
−55℃、+125℃の抵抗値(Ris。
R−s−、R12g )を恒温槽中で抵抗計により測定
し、 次の式により算出した。
し、 次の式により算出した。
ppm/’C)
ppm/’C)
it)
高温放置による抵抗値ドリフト
℃の恒温槽中で
100時間放置し、
次の式
により算出した。
上式において
R1゜。、=
100時間後の抵抗値
=抵抗の初期値
[発明の効果]
本発明の抵抗体ペーストは窒素雰囲気等の非酸化性雰囲
気中で焼成が可能で安定した信頼性の高い抵抗をセラミ
ックス基板上に形成可能であるとともに焼結性、耐水性
がよ(、特に高温放置による抵抗値ドリフト特性に優れ
ているという効果も認められる。
気中で焼成が可能で安定した信頼性の高い抵抗をセラミ
ックス基板上に形成可能であるとともに焼結性、耐水性
がよ(、特に高温放置による抵抗値ドリフト特性に優れ
ているという効果も認められる。
手続補正書
■、事件の表示
平成1年特許願第107728号
2、発明の名称
抵抗体ペースト及びセラミックス基板
3、補正をする者
事件との関係 特許出願人
住 所 東京都千代田区丸の内二丁目1番2号名称
(004)旭硝子株式会社 6、補正により増加する発明の数 7、補正の対象 なし
(004)旭硝子株式会社 6、補正により増加する発明の数 7、補正の対象 なし
Claims (2)
- (1)無機成分が重量%表示でガラス粉末20〜70と
SnO_2及び/又はSbをドープしたSnO_230
〜80からなり、当該ガラス粉末は重量%表示で実質的
にSiO_215〜50,Al_2O_30〜20,M
gO0〜40,CaO0〜40,SrO0〜60,Mg
O+CaO+SrO_20〜60,Li_2O+Na_
2O+K_2O+Cs_2O0〜10,PbO0〜10
,ZnO0〜20,ZrO_2+TiO_20〜10,
B_2O_310〜40からなり、実質的に非酸化性雰
囲気中で焼成するセラミックス基板用抵抗体ペースト。 - (2)第1項記載の抵抗体ペーストを使用して焼成され
たセラミックス基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1107728A JPH02288106A (ja) | 1989-04-28 | 1989-04-28 | 抵抗体ペースト及びセラミックス基板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1107728A JPH02288106A (ja) | 1989-04-28 | 1989-04-28 | 抵抗体ペースト及びセラミックス基板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02288106A true JPH02288106A (ja) | 1990-11-28 |
Family
ID=14466444
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1107728A Pending JPH02288106A (ja) | 1989-04-28 | 1989-04-28 | 抵抗体ペースト及びセラミックス基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02288106A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4866007A (en) * | 1987-03-18 | 1989-09-12 | Sumitomo Electric Industries Co. | Method for preparing single-crystal ZnSe |
US7763189B2 (en) | 2001-05-16 | 2010-07-27 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Dielectric composition with reduced resistance |
-
1989
- 1989-04-28 JP JP1107728A patent/JPH02288106A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4866007A (en) * | 1987-03-18 | 1989-09-12 | Sumitomo Electric Industries Co. | Method for preparing single-crystal ZnSe |
US7763189B2 (en) | 2001-05-16 | 2010-07-27 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Dielectric composition with reduced resistance |
US8298449B2 (en) | 2001-05-16 | 2012-10-30 | E I Du Pont De Nemours And Company | Dielectric composition with reduced resistance |
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