JPH02284499A - 部分多層セラミックプリント配線板 - Google Patents
部分多層セラミックプリント配線板Info
- Publication number
- JPH02284499A JPH02284499A JP10674889A JP10674889A JPH02284499A JP H02284499 A JPH02284499 A JP H02284499A JP 10674889 A JP10674889 A JP 10674889A JP 10674889 A JP10674889 A JP 10674889A JP H02284499 A JPH02284499 A JP H02284499A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- conductor
- thick film
- layer
- wiring board
- plating
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 title claims abstract description 28
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 102
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims abstract description 39
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims abstract description 30
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 45
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 10
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 abstract description 6
- 239000010408 film Substances 0.000 description 69
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 64
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 17
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 8
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 8
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 7
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 7
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 5
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 5
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 4
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 4
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 3
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 3
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 3
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M Sodium chloride Chemical compound [Na+].[Cl-] FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 2
- 229910002065 alloy metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 2
- 238000005065 mining Methods 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- 241000283690 Bos taurus Species 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L Sodium Carbonate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]C([O-])=O CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010953 base metal Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000005562 fading Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 239000011780 sodium chloride Substances 0.000 description 1
- 239000002023 wood Substances 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、i′に精度かつ高密度を有するセラミックプ
リント配線板に関するものである。特に導体回路部がク
ロスオーバーしているプリント配線板に関する。
リント配線板に関するものである。特に導体回路部がク
ロスオーバーしているプリント配線板に関する。
(従来の技術)
セラミノクツ、(板−1、への導体回路形成力法として
は、厚膜焼成ペーストを用いたj″)膜印刷法、めっき
皮膜形成によるめっき法かある。セラミ、クツ、ξ板1
においてこれらの導体回路かクロスオーバー(交叉)す
るとき、従来厚膜法においては、クロスオーバーする厚
膜導体配線間にj′ノ膜絶絶縁体層配してクロスオーバ
ー部を形成する方法がとられており、めっき法により導
体回路のクロスオーバー部においては、ジャンパー線を
用いたり、ワイヤーボンディングによる方法か採用され
ている。
は、厚膜焼成ペーストを用いたj″)膜印刷法、めっき
皮膜形成によるめっき法かある。セラミ、クツ、ξ板1
においてこれらの導体回路かクロスオーバー(交叉)す
るとき、従来厚膜法においては、クロスオーバーする厚
膜導体配線間にj′ノ膜絶絶縁体層配してクロスオーバ
ー部を形成する方法がとられており、めっき法により導
体回路のクロスオーバー部においては、ジャンパー線を
用いたり、ワイヤーボンディングによる方法か採用され
ている。
さらに厚膜法と薄膜層を組み合わした混成法においては
「特開昭51−32954号公報」に開示されているよ
うに、クロスオーバー部のド部導体回路部を厚膜法、そ
の1−の絶縁体層を1゛ノ膜法とスパッタリングや蒸着
等を用いた薄膜法により形成し、上部導体層と導体回路
部を薄膜法により形成する方l去がある。
「特開昭51−32954号公報」に開示されているよ
うに、クロスオーバー部のド部導体回路部を厚膜法、そ
の1−の絶縁体層を1゛ノ膜法とスパッタリングや蒸着
等を用いた薄膜法により形成し、上部導体層と導体回路
部を薄膜法により形成する方l去がある。
(本発明が解決しようきする課題)
セラミックプリント配線板において、1°ノ膜印刷法で
、導体配線すなわち9体回路パターン部と記した導体配
線クロスオーバー部を形成する場合、導体+lIは印刷
法のため通常200〜300μm111と比較的大きく
又回路精度もあまりよくない。又湿式めっき法を用いて
、導体配線を形成する場合、フAトリソグラフィl太を
月jいるため、パターン+l+は通常50 pm l
OO71m1l+と微細に形成でき、回路精度もよい
という特長を自している。しかし導体配線がクロスオー
バーする部分において1−記したようにノλ板に明けた
穴を利用してンヤンパー線を用いる方法やワイヤーボン
ディングにより配線交叉する方法などが取られているが
、1−程が複雑になりその結果コスト1−昇につながる
とともに、回路の小型化、高信頼性化の観点からも限界
があった。さらに、「特開昭5l−32954Jに開示
されている配線交叉部は1−記したように下部導体層を
厚膜法、絶縁体層を厚膜法と薄膜法で形成した後、1一
部導体層を前記薄膜法で形成するというように1′、稈
か複剥1であるとともにスパッタリングや蒸着といった
多量生fr向きてない][−程を含んているということ
と、導体膜j′)を1“ノくてきず、その結果、導体抵
抗を低(てきないという欠点かあった。
、導体配線すなわち9体回路パターン部と記した導体配
線クロスオーバー部を形成する場合、導体+lIは印刷
法のため通常200〜300μm111と比較的大きく
又回路精度もあまりよくない。又湿式めっき法を用いて
、導体配線を形成する場合、フAトリソグラフィl太を
月jいるため、パターン+l+は通常50 pm l
OO71m1l+と微細に形成でき、回路精度もよい
という特長を自している。しかし導体配線がクロスオー
バーする部分において1−記したようにノλ板に明けた
穴を利用してンヤンパー線を用いる方法やワイヤーボン
ディングにより配線交叉する方法などが取られているが
、1−程が複雑になりその結果コスト1−昇につながる
とともに、回路の小型化、高信頼性化の観点からも限界
があった。さらに、「特開昭5l−32954Jに開示
されている配線交叉部は1−記したように下部導体層を
厚膜法、絶縁体層を厚膜法と薄膜法で形成した後、1一
部導体層を前記薄膜法で形成するというように1′、稈
か複剥1であるとともにスパッタリングや蒸着といった
多量生fr向きてない][−程を含んているということ
と、導体膜j′)を1“ノくてきず、その結果、導体抵
抗を低(てきないという欠点かあった。
(課題を解決するだめの丁・段)
木発明者らは、従来の技術の問題点を解決し商精度かつ
高密度を自し、比較的安価なセラミックプリント配線板
に関し鋭、C1、検討した結果、本発明に到達した。す
なわぢ本発明は、セラミック基板1・、に少なくとも導
体回路部の大部分が湿式めっき法により形成されたセラ
ミックプリント配線板において、導体回路のクロスオー
バー部が、ド部厚膜導体層上に厚膜絶縁体層か形成され
てなることを特徴とする部分多層セラミックプリント配
線板であり、また、1、記部分多層セラミックプリント
配線板のクロスオーバー部のJ’;’絶絶縁体層1.に
、さらに1°8部厚膜導体層が形成されてなることを1
.1J徴とする部分多層セラミ、クプリント配線板であ
る。
高密度を自し、比較的安価なセラミックプリント配線板
に関し鋭、C1、検討した結果、本発明に到達した。す
なわぢ本発明は、セラミック基板1・、に少なくとも導
体回路部の大部分が湿式めっき法により形成されたセラ
ミックプリント配線板において、導体回路のクロスオー
バー部が、ド部厚膜導体層上に厚膜絶縁体層か形成され
てなることを特徴とする部分多層セラミックプリント配
線板であり、また、1、記部分多層セラミックプリント
配線板のクロスオーバー部のJ’;’絶絶縁体層1.に
、さらに1°8部厚膜導体層が形成されてなることを1
.1J徴とする部分多層セラミ、クプリント配線板であ
る。
本発明の部分多層セラミ、クプリント配線板はij’+
;精度かつ高密度であり、製造か比較的容易て多(迂生
IFY向きであるきともに回路全体の導体の大部分をほ
とんとの場合の厚膜印刷法にょろりt金属から湿式のめ
っき法による卑金属に代替えてきるため比較的安価なセ
ラミックプリント配線板である。
;精度かつ高密度であり、製造か比較的容易て多(迂生
IFY向きであるきともに回路全体の導体の大部分をほ
とんとの場合の厚膜印刷法にょろりt金属から湿式のめ
っき法による卑金属に代替えてきるため比較的安価なセ
ラミックプリント配線板である。
本発明におけるクロスオーツル一部とは、三木以1−の
配線(導体回路)が17体的に交叉する部分をJ↑い、
ド部厚膜導体層、厚膜絶縁体層及び10部厚膜導体層又
は該厚膜絶縁体層1.に直接めっきにより形成された1
1部めっき導体層より形成されている。もちろん、−ド
部厚膜導体層にも、後にめっき法により導体回路が部分
的に市なり、形成される。
配線(導体回路)が17体的に交叉する部分をJ↑い、
ド部厚膜導体層、厚膜絶縁体層及び10部厚膜導体層又
は該厚膜絶縁体層1.に直接めっきにより形成された1
1部めっき導体層より形成されている。もちろん、−ド
部厚膜導体層にも、後にめっき法により導体回路が部分
的に市なり、形成される。
本発明におけるF部、−L部厚膜導体層とは、例えば、
銀、パラジウム、白金、金、銅、二・ソケルなとの導電
性微粉末、金属酸化物および有機ビヒクル又は前記成分
とガラス質フリ・ソトから成る導体焼成ペーストをセラ
ミ・ツク基板1−に印刷後、適当な条件ドて焼成し伯成
されたものである。又、前記クロスオー/< rl<
のF部、−14部厚膜導体層はクロスオーバー部以外の
めっき導体配線とそれぞれ・r’l<がΦなるように接
続される。11部めっき導体層とは、厚膜絶縁体層I、
にll′l接めっきにより形成されたものであるが、好
ましくは、+lii記絶縁体を物理的又は化学的に粗化
処理してから、めっき導体層を形成する力が、絶縁体層
への密rt力のより高いものがIIJられる。さらに、
本発明はおいては、必τにより厚膜抵抗体層を導体回路
の一部に配してもよい。
銀、パラジウム、白金、金、銅、二・ソケルなとの導電
性微粉末、金属酸化物および有機ビヒクル又は前記成分
とガラス質フリ・ソトから成る導体焼成ペーストをセラ
ミ・ツク基板1−に印刷後、適当な条件ドて焼成し伯成
されたものである。又、前記クロスオー/< rl<
のF部、−14部厚膜導体層はクロスオーバー部以外の
めっき導体配線とそれぞれ・r’l<がΦなるように接
続される。11部めっき導体層とは、厚膜絶縁体層I、
にll′l接めっきにより形成されたものであるが、好
ましくは、+lii記絶縁体を物理的又は化学的に粗化
処理してから、めっき導体層を形成する力が、絶縁体層
への密rt力のより高いものがIIJられる。さらに、
本発明はおいては、必τにより厚膜抵抗体層を導体回路
の一部に配してもよい。
厚膜絶縁体層きは、1°、記クロスオーバー部において
交叉する導体間の絶縁を行うものでガラス質フリット、
金属酸化物および有機ビヒクルから成る厚膜絶縁体ペー
ストをド部j9膜導体の両端部を除く前記導体1一部及
び側面を完全に覆う形で印刷し、適当な条件下で焼成し
形成されたものである。
交叉する導体間の絶縁を行うものでガラス質フリット、
金属酸化物および有機ビヒクルから成る厚膜絶縁体ペー
ストをド部j9膜導体の両端部を除く前記導体1一部及
び側面を完全に覆う形で印刷し、適当な条件下で焼成し
形成されたものである。
本発明における湿式めっき法とは、化学めっき及び/ま
たは電気めっきをさす。化学めっきとは触媒付Ijシた
後、施されるもので、公知のCu。
たは電気めっきをさす。化学めっきとは触媒付Ijシた
後、施されるもので、公知のCu。
N + + A u + P dなとやこれらの合金
金属が析出使用可能である。又電気めっきは、公知のC
u。
金属が析出使用可能である。又電気めっきは、公知のC
u。
Ni+ Auなとやこれらの合金金属か析出使用II)
能である。
能である。
一5=
= 6−
クロスオーバー部以外のめっき導体配線と、クロスオー
バー部における旧都めっき導体配線の形成力法としては
、基板全面に化学めっきをした後、ネガ型のめっきレン
ストを形成し、その後電気めっきにより導体回路を形成
するセミアデイティブ法又は、化学めっきを厚付けし、
その後ポジ型のエツチングレジストを形成し一+1回路
部をエツチング除去して、導体回路を形成するザブトラ
クチイブ法、さらに、基板1゛、にネガ型のめっきレン
ストを形成し、その後化学めっきにより導体回路を形成
するフルアディテブ法があり、いずれの方法でも実施可
能である。セラミック基板上に上記めっき導体配線を形
成する場合、前記基板はそのままでもめっき1)f能で
あるが、好ましくは、めっき導体の密着力を1−ぼるた
めに同基板に公知の物理的及び/または化学的ill化
処理をはとこしたものを用いる。
バー部における旧都めっき導体配線の形成力法としては
、基板全面に化学めっきをした後、ネガ型のめっきレン
ストを形成し、その後電気めっきにより導体回路を形成
するセミアデイティブ法又は、化学めっきを厚付けし、
その後ポジ型のエツチングレジストを形成し一+1回路
部をエツチング除去して、導体回路を形成するザブトラ
クチイブ法、さらに、基板1゛、にネガ型のめっきレン
ストを形成し、その後化学めっきにより導体回路を形成
するフルアディテブ法があり、いずれの方法でも実施可
能である。セラミック基板上に上記めっき導体配線を形
成する場合、前記基板はそのままでもめっき1)f能で
あるが、好ましくは、めっき導体の密着力を1−ぼるた
めに同基板に公知の物理的及び/または化学的ill化
処理をはとこしたものを用いる。
これらのうち、熔融アルカリによるT1■而化処理が好
ましい。
ましい。
(実施例)
本発明を史に詳細に説明するために実施例を挙げるが、
本発明はこれらの実施例によって何ら限定されるもので
はない。↑11能評価のための7111+定は次の方法
によった1、 導体抵抗ニド部、1一部厚膜導体層をそれぞれ含む交叉
する一6本の導体(幅5007[x長さ30關、厚さt
o pm >の導体抵抗をそれぞれ測定した。
本発明はこれらの実施例によって何ら限定されるもので
はない。↑11能評価のための7111+定は次の方法
によった1、 導体抵抗ニド部、1一部厚膜導体層をそれぞれ含む交叉
する一6本の導体(幅5007[x長さ30關、厚さt
o pm >の導体抵抗をそれぞれ測定した。
層間絶縁抵抗ニード部、−上部厚膜導体層間の層間絶縁
抵抗を測定した。
抵抗を測定した。
第1図は本発明の配線交叉部を含む部分多層セラミック
プリン1−配線板の平面図である。又第2図→第3図→
第4図→第5図→第7図→第8図→又は第2図→第3図
→第4図→第5図→第6図は第1図の部分多層セラミッ
クプリント配線板の製造I−稈をt%す断面図であり、
■はセラミノクツ、(板、■はド部厚膜導体層、■は厚
膜絶縁体層、■は」。
プリン1−配線板の平面図である。又第2図→第3図→
第4図→第5図→第7図→第8図→又は第2図→第3図
→第4図→第5図→第6図は第1図の部分多層セラミッ
クプリント配線板の製造I−稈をt%す断面図であり、
■はセラミノクツ、(板、■はド部厚膜導体層、■は厚
膜絶縁体層、■は」。
部厚膜導体層、■はめつき層、■はレジスト層である。
〔実施例1〕
アルミナを96%含自する縦50.811.、横5o、
smm、厚さ0.635mmの白色セラミック基板■を
340℃に保1.!lされた溶融、′+1性ソーダに1
0分間浸漬しり、(板表面を過電にわI化した。次にj
′)膜導体焼成ペースト(#9E301 rESL、1
nc、J)をスクリーン印刷法により所望1ス〕所に塗
布し150°Cて10分間乾燥した後、900℃で10
分間(1・−タル35分間)空気焼成し、F部厚膜導体
層■を形成した。次いで該下部厚膜導体の両端部を除(
前記導体1一部及び側面部を覆うように、スクリーン印
刷法を用いて厚膜絶縁体ペースト(AP5700 r旭
硝子住薄」)を塗布し150℃で10分間乾燥した後、
900°Cで10分間(1・−タル35分間)空気焼成
した。さらに厚膜絶縁体ペーストを1−記厚膜絶縁体層
上に重ね印刷し150℃で10分間乾燥し次いで、該厚
膜絶縁体層■11に下部導体と交叉するように厚膜導体
焼成ペースL (#9EiO1rESLInc、J)を
スクリーン印刷法により塗fiJL150℃で10分間
乾燥した後、゛層11の厚膜絶縁体ペーストと900℃
で10分間(1・−タル35分間) 1lil11.′
l焼成し、jツ絶絶縁体層■及び1部厚膜導体層■を形
成した。1・記厚膜導体層■、■及び厚膜絶縁体層■形
成後のアルミナ基板にサブI・ラッテイブ法により1.
1・厚膜導体層■、■の両D:iliにそれぞれ 都市
なるように、所定のめっき導体回路パターンを形成した
。具体的には、まずクロスオーバー部か形成されたノ、
ξ板全面を化学めっきて被覆した。化学めっきは前記基
板を触媒活性化した後、化学めっき液KC−10(rr
1本鉱業1菊」)を用い、1OpJn厚のめっき皮膜■
を得た。しかる後、感光性ドライフィルムを用いてフォ
トリソグラフィ2表でポジ型のエツチングレジスト■を
」−1下厚膜導体層の一部と市なるように所定回路パタ
ーン状に形成し、0.1MH20210,IMH2So
4のエツチング液を用いてノ1導体回路部分を除去した
。
smm、厚さ0.635mmの白色セラミック基板■を
340℃に保1.!lされた溶融、′+1性ソーダに1
0分間浸漬しり、(板表面を過電にわI化した。次にj
′)膜導体焼成ペースト(#9E301 rESL、1
nc、J)をスクリーン印刷法により所望1ス〕所に塗
布し150°Cて10分間乾燥した後、900℃で10
分間(1・−タル35分間)空気焼成し、F部厚膜導体
層■を形成した。次いで該下部厚膜導体の両端部を除(
前記導体1一部及び側面部を覆うように、スクリーン印
刷法を用いて厚膜絶縁体ペースト(AP5700 r旭
硝子住薄」)を塗布し150℃で10分間乾燥した後、
900°Cで10分間(1・−タル35分間)空気焼成
した。さらに厚膜絶縁体ペーストを1−記厚膜絶縁体層
上に重ね印刷し150℃で10分間乾燥し次いで、該厚
膜絶縁体層■11に下部導体と交叉するように厚膜導体
焼成ペースL (#9EiO1rESLInc、J)を
スクリーン印刷法により塗fiJL150℃で10分間
乾燥した後、゛層11の厚膜絶縁体ペーストと900℃
で10分間(1・−タル35分間) 1lil11.′
l焼成し、jツ絶絶縁体層■及び1部厚膜導体層■を形
成した。1・記厚膜導体層■、■及び厚膜絶縁体層■形
成後のアルミナ基板にサブI・ラッテイブ法により1.
1・厚膜導体層■、■の両D:iliにそれぞれ 都市
なるように、所定のめっき導体回路パターンを形成した
。具体的には、まずクロスオーバー部か形成されたノ、
ξ板全面を化学めっきて被覆した。化学めっきは前記基
板を触媒活性化した後、化学めっき液KC−10(rr
1本鉱業1菊」)を用い、1OpJn厚のめっき皮膜■
を得た。しかる後、感光性ドライフィルムを用いてフォ
トリソグラフィ2表でポジ型のエツチングレジスト■を
」−1下厚膜導体層の一部と市なるように所定回路パタ
ーン状に形成し、0.1MH20210,IMH2So
4のエツチング液を用いてノ1導体回路部分を除去した
。
回路[1]は50戸で回路精度も±511mと良好であ
った。又この電気特性の測定結果を表1に示す。
った。又この電気特性の測定結果を表1に示す。
〔実施例2〕
実施例1に示したと同一の方法て厚膜絶体層及=9
び厚膜絶縁体層によりクロスオーバー部を形成したアル
ミナノ、(板にセミアデイティブ法により−1−4下部
厚膜導体層の両端にそれぞれ・都市なる様に、所定のめ
っき導体回路パターンを形成した。具体的には、ますク
ロスオーバー部か形成された基板全面を化学めっきて被
覆した。化学めっきは1lif記基板を触媒活性化した
後、化学めっき液KC−10(rFI木鉱業卸」)を用
い、l lnm厚のめっき皮膜をfEJだ。しかる後、
感光t/lドライフィルムを用いてフAトリソグラフィ
法でネガ型のめっきレジストを1−下厚膜導体層の両端
にそれぞれ一都市なる様に所定回路パターン状に形成し
、その後電気銅めっきを行い、銅を91m析出させた。
ミナノ、(板にセミアデイティブ法により−1−4下部
厚膜導体層の両端にそれぞれ・都市なる様に、所定のめ
っき導体回路パターンを形成した。具体的には、ますク
ロスオーバー部か形成された基板全面を化学めっきて被
覆した。化学めっきは1lif記基板を触媒活性化した
後、化学めっき液KC−10(rFI木鉱業卸」)を用
い、l lnm厚のめっき皮膜をfEJだ。しかる後、
感光t/lドライフィルムを用いてフAトリソグラフィ
法でネガ型のめっきレジストを1−下厚膜導体層の両端
にそれぞれ一都市なる様に所定回路パターン状に形成し
、その後電気銅めっきを行い、銅を91m析出させた。
電気銅めっき後、レジストを剥離し薄付けの化学銅めっ
き部分を0.1MH2H20210,1MH2SO4の
エツチング液を用いて除去した。形成されためっき導体
回路中は5 Q pmで、回路精度も±5 pmと良好
であった。
き部分を0.1MH2H20210,1MH2SO4の
エツチング液を用いて除去した。形成されためっき導体
回路中は5 Q pmで、回路精度も±5 pmと良好
であった。
又この電気特性の測定結果を表1にノJ<す。
〔実施例3〕
実施例1に小した同 の力法で、和化したアルミナ基板
1・に士部jワ膜導体層及びI’/膜絶縁体層を形成し
た。1′ノ膜絶縁体層は1層II、2層11ともそれぞ
れ印刷、焼成を繰り返した。次に該1’/膜絶縁体層上
の10部めっき導体層も含んた形て所定のめっき導体回
路パターンを形成した。具体的には、まず厚膜絶縁体層
と1一部めっき導体層の密着をよくするため厚膜絶縁体
層の表面を+’+7性ソーダで5分エツチングにより組
化し、次いてクロスオーバー部の一部が形成された基板
全面を化学めっきて被覆した。化学めっきは前記ノ、(
板を触媒活t’l化した後、化学メツキ液KG> 10
(rl+木鉱業uUJ)を用い、10IJm厚の化学
銅めっき皮膜をi’、jた。しかる後、感光性ドライフ
ィルムを用いてフAトリソグラフィ?去でボン型のエン
チンブレシスI・をド部厚膜導体の両);1dの一部と
中なる古ともに、1゛部めっき導体も含んだ形で所定回
路パターン状に形成し、0.IMI、0310.IMI
−T2So4のエツチング液を用いて一11導体回路部
分を除去した。
1・に士部jワ膜導体層及びI’/膜絶縁体層を形成し
た。1′ノ膜絶縁体層は1層II、2層11ともそれぞ
れ印刷、焼成を繰り返した。次に該1’/膜絶縁体層上
の10部めっき導体層も含んた形て所定のめっき導体回
路パターンを形成した。具体的には、まず厚膜絶縁体層
と1一部めっき導体層の密着をよくするため厚膜絶縁体
層の表面を+’+7性ソーダで5分エツチングにより組
化し、次いてクロスオーバー部の一部が形成された基板
全面を化学めっきて被覆した。化学めっきは前記ノ、(
板を触媒活t’l化した後、化学メツキ液KG> 10
(rl+木鉱業uUJ)を用い、10IJm厚の化学
銅めっき皮膜をi’、jた。しかる後、感光性ドライフ
ィルムを用いてフAトリソグラフィ?去でボン型のエン
チンブレシスI・をド部厚膜導体の両);1dの一部と
中なる古ともに、1゛部めっき導体も含んだ形で所定回
路パターン状に形成し、0.IMI、0310.IMI
−T2So4のエツチング液を用いて一11導体回路部
分を除去した。
形成されためっき導体回路111は5 Q pmで回路
粘度も±5 pm良好であった。この電気性P1の測定
結果を表1に小す。
粘度も±5 pm良好であった。この電気性P1の測定
結果を表1に小す。
〔比較例1〕
第3図は従来の厚膜法を用いたクロスオーバー部を含む
部分多層セラミックプリント配線板明の・[l面図であ
る。
部分多層セラミックプリント配線板明の・[l面図であ
る。
セラミ・ノクノ、(板1に従来の厚膜法によりクロスオ
ーバー部を含む導体配線パターンを形成した。
ーバー部を含む導体配線パターンを形成した。
つまり、セラミック基板1−に厚膜導体焼成ペースト(
TR−4940rm中マッセイ■」)を用いクロスオー
バー部における下部導体層とクロスオーバー部以外の所
定導体回路パターンをスクリーン印刷法により所望箇所
に塗布し150″Cで10分間乾燥した後、850℃で
10分間(トータル35分間)空気焼成した。その後、
クロスオーバー部のド部導体11部及び側面を覆うよう
に絶縁体ペースト(AP5700 r旭硝子■」)をス
クリーン印刷法により中イi11,15’O°Cて10
分間乾燥した後、850°Cて10分間(トータル35
分間)空気焼成した。さらに該絶縁体層1に厚膜絶縁体
ペーストを屯ね印刷し150°Cて10分間乾燥した後
、クロスオーバー部の1部重体層を該絶縁体層上にド部
導体と交叉するとともに122部重層の両端と1゛、記
りロスオーバ一部以外の所定導体回路パターンの・部が
市なるように印刷し150°Cて10分間乾燥し、−層
]1の厚膜絶縁体ペーストと850°Cて10分間(ト
ータル35分間)同時焼成した。形成された導体回路1
+は2501dm +l+てあった。導体回路i1が1
50μ[11ては印刷によるかすれ、にじみ等が発生し
、回路の断線やシ、4− )−が発生した。回路精度は
印刷によるだれ、“9により、バラツキがあり±301
JIrIとあまりよくなかった。又この電気特性の測定
結果を表1に示す。
TR−4940rm中マッセイ■」)を用いクロスオー
バー部における下部導体層とクロスオーバー部以外の所
定導体回路パターンをスクリーン印刷法により所望箇所
に塗布し150″Cで10分間乾燥した後、850℃で
10分間(トータル35分間)空気焼成した。その後、
クロスオーバー部のド部導体11部及び側面を覆うよう
に絶縁体ペースト(AP5700 r旭硝子■」)をス
クリーン印刷法により中イi11,15’O°Cて10
分間乾燥した後、850°Cて10分間(トータル35
分間)空気焼成した。さらに該絶縁体層1に厚膜絶縁体
ペーストを屯ね印刷し150°Cて10分間乾燥した後
、クロスオーバー部の1部重体層を該絶縁体層上にド部
導体と交叉するとともに122部重層の両端と1゛、記
りロスオーバ一部以外の所定導体回路パターンの・部が
市なるように印刷し150°Cて10分間乾燥し、−層
]1の厚膜絶縁体ペーストと850°Cて10分間(ト
ータル35分間)同時焼成した。形成された導体回路1
+は2501dm +l+てあった。導体回路i1が1
50μ[11ては印刷によるかすれ、にじみ等が発生し
、回路の断線やシ、4− )−が発生した。回路精度は
印刷によるだれ、“9により、バラツキがあり±301
JIrIとあまりよくなかった。又この電気特性の測定
結果を表1に示す。
表−1
(発明の効果)
本発明の実施により、すなわち配線交叉部に1′7膜導
体層と1“ノ膜絶縁体層を形成し、その後めっき導体回
路パターンを形成するというツノ法をとることにより、
製造かJ1常に容易てあり、多h1牛産向きであるとと
もに、1111路全体の50〜60%を占める導体のほ
とんとをj′ノ膜印刷法によるv1金属から湿式めっき
法にょろり1金属に主として変史できるため比較的安価
に製造できるきいう利点がある。
体層と1“ノ膜絶縁体層を形成し、その後めっき導体回
路パターンを形成するというツノ法をとることにより、
製造かJ1常に容易てあり、多h1牛産向きであるとと
もに、1111路全体の50〜60%を占める導体のほ
とんとをj′ノ膜印刷法によるv1金属から湿式めっき
法にょろり1金属に主として変史できるため比較的安価
に製造できるきいう利点がある。
又、クロスオーバー部における絶縁体として厚膜絶縁体
層を利用しているため、絶縁の信頼性が詩く機械的強度
にも強く、クロスオーバー部の面積も小さいという特長
ももっている。さらに、導体回路に上として銅めっきを
用いフォトリソグラフィ法で回路パターンか形成できる
ため、導体回路パターンか微細かつ高精度に形成でき、
導体抵抗も低く押えられるというメリットを介する。す
なわち本発明の実施により、電r機黙の軽薄短小にとも
なう電r回路の高密度化、高性能化、高精度化、低コス
ト化”T□の蟹求に1″分答えられ、産業−1のメリッ
トは大きい。
層を利用しているため、絶縁の信頼性が詩く機械的強度
にも強く、クロスオーバー部の面積も小さいという特長
ももっている。さらに、導体回路に上として銅めっきを
用いフォトリソグラフィ法で回路パターンか形成できる
ため、導体回路パターンか微細かつ高精度に形成でき、
導体抵抗も低く押えられるというメリットを介する。す
なわち本発明の実施により、電r機黙の軽薄短小にとも
なう電r回路の高密度化、高性能化、高精度化、低コス
ト化”T□の蟹求に1″分答えられ、産業−1のメリッ
トは大きい。
第1図は本発明のクロスオーバー部を含む部分多層セラ
ミノクブIJ 71−配線板の甲面図であり、第2図〜
第8図は第1図の部分多層セラミックフリント配線板の
製造1;稈を小す断面図である。第3図は従来の厚膜法
を用いたクロスオーバー部を含む部分多層セラミックプ
リント配線板明の1LH1t図である。 特許出願人 東洋紡績株式会ネ1 亮 1 図 2、下岬暦販尊仔層 鉋め・ぐ層 う 1 亡ミックA(木灰 4上音弧料M 旨 簡 手続補正書(方式) 事件の表示 平成1年特許願第106748号 発明の名称 部分多層セラミックプリント配線板 補正をする者 事件との関係 特許出願人 大阪市北区堂島浜二丁目2番8号 明細書の図面の簡単な説明の欄 6、 補正の内容 (1)明細書の図面の簡単な説明の欄の第16頁第5行
目の「第2図〜第8図は」を「第2図〜第9図は」に訂
正する。 ■ 明細書の図面の簡単な説明の欄の第16頁第6行目
から第9行目の「第3図は・・・・・・平面図である。 」を削除する。 平成1年6月30日 小 ?)
ミノクブIJ 71−配線板の甲面図であり、第2図〜
第8図は第1図の部分多層セラミックフリント配線板の
製造1;稈を小す断面図である。第3図は従来の厚膜法
を用いたクロスオーバー部を含む部分多層セラミックプ
リント配線板明の1LH1t図である。 特許出願人 東洋紡績株式会ネ1 亮 1 図 2、下岬暦販尊仔層 鉋め・ぐ層 う 1 亡ミックA(木灰 4上音弧料M 旨 簡 手続補正書(方式) 事件の表示 平成1年特許願第106748号 発明の名称 部分多層セラミックプリント配線板 補正をする者 事件との関係 特許出願人 大阪市北区堂島浜二丁目2番8号 明細書の図面の簡単な説明の欄 6、 補正の内容 (1)明細書の図面の簡単な説明の欄の第16頁第5行
目の「第2図〜第8図は」を「第2図〜第9図は」に訂
正する。 ■ 明細書の図面の簡単な説明の欄の第16頁第6行目
から第9行目の「第3図は・・・・・・平面図である。 」を削除する。 平成1年6月30日 小 ?)
Claims (2)
- (1)セラミック基板上に少なくとも導体回路が湿式め
っき法により形成されたセラミックプリント配線板にお
いて、導体回路のクロスオーバー部が、下部厚膜導体層
上に厚膜絶縁体層が形成されてなることを特徴とする部
分多層セラミックプリント配線板。 - (2)請求項(1)において厚膜絶縁体層上にさらに上
部厚膜導体層が形成されてなることを特徴とする部分多
層セラミックプリント配線板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10674889A JPH02284499A (ja) | 1989-04-25 | 1989-04-25 | 部分多層セラミックプリント配線板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10674889A JPH02284499A (ja) | 1989-04-25 | 1989-04-25 | 部分多層セラミックプリント配線板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02284499A true JPH02284499A (ja) | 1990-11-21 |
Family
ID=14441536
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10674889A Pending JPH02284499A (ja) | 1989-04-25 | 1989-04-25 | 部分多層セラミックプリント配線板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02284499A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018116799A1 (ja) * | 2016-12-21 | 2018-06-28 | 株式会社村田製作所 | 電子部品内蔵基板の製造方法、電子部品内蔵基板、電子部品装置及び通信モジュール |
-
1989
- 1989-04-25 JP JP10674889A patent/JPH02284499A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018116799A1 (ja) * | 2016-12-21 | 2018-06-28 | 株式会社村田製作所 | 電子部品内蔵基板の製造方法、電子部品内蔵基板、電子部品装置及び通信モジュール |
JPWO2018116799A1 (ja) * | 2016-12-21 | 2019-10-24 | 株式会社村田製作所 | 電子部品内蔵基板の製造方法、電子部品内蔵基板、電子部品装置及び通信モジュール |
US11183453B2 (en) | 2016-12-21 | 2021-11-23 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Electronic-component-embedded substrate having a wiring line with a roughened surface, electronic component device, and communication module |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5914649A (en) | Chip fuse and process for production thereof | |
JPH04283987A (ja) | 電子回路装置とその製造方法 | |
JPH023317B2 (ja) | ||
US3571923A (en) | Method of making redundant circuit board interconnections | |
JPH02284499A (ja) | 部分多層セラミックプリント配線板 | |
JPH11163525A (ja) | 多層配線基板の製造方法 | |
JPH1079568A (ja) | プリント配線板の製造方法 | |
JPS59151490A (ja) | 回路基板の配線導体 | |
JPH02301187A (ja) | 両面配線基板の製造方法 | |
JP2634592B2 (ja) | 低抵抗付回路基板およびその製造法 | |
JPH0249651Y2 (ja) | ||
JP2734404B2 (ja) | セラミック配線基板およびその製造方法 | |
JPS6126171B2 (ja) | ||
JP2770692B2 (ja) | 厚膜多層回路基板 | |
JPH0231799Y2 (ja) | ||
JPS58186996A (ja) | 多層回路基板の製造方法 | |
JPH0544199B2 (ja) | ||
JPH0964541A (ja) | セラミック多層配線板の製造方法 | |
JPS60171793A (ja) | 多層配線基板の製造方法 | |
JPH0151075B2 (ja) | ||
JPS6285496A (ja) | 回路基板の製造方法 | |
JPS61210695A (ja) | 印刷配線板の製造方法 | |
JPS5856498A (ja) | 厚膜回路基板の製造方法 | |
JPS62122195A (ja) | 多層回路基板 | |
JPS5841799B2 (ja) | 印刷配線板 |