JPH02275400A - X線、ガンマ線発生装置 - Google Patents
X線、ガンマ線発生装置Info
- Publication number
- JPH02275400A JPH02275400A JP2065527A JP6552790A JPH02275400A JP H02275400 A JPH02275400 A JP H02275400A JP 2065527 A JP2065527 A JP 2065527A JP 6552790 A JP6552790 A JP 6552790A JP H02275400 A JPH02275400 A JP H02275400A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- diaphragm body
- slits
- diaphragm
- slit
- ray
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000005251 gamma ray Effects 0.000 title 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 10
- 239000011295 pitch Substances 0.000 claims description 9
- 238000004804 winding Methods 0.000 abstract description 4
- 238000005452 bending Methods 0.000 abstract 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 abstract 1
- 230000004323 axial length Effects 0.000 description 8
- 238000011161 development Methods 0.000 description 3
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 2
- 229910001080 W alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011358 absorbing material Substances 0.000 description 1
- 230000001154 acute effect Effects 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
- G21K1/02—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators
- G21K1/04—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators using variable diaphragms, shutters, choppers
- G21K1/043—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators using variable diaphragms, shutters, choppers changing time structure of beams by mechanical means, e.g. choppers, spinning filter wheels
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
放射源と、ビームを光束から切り出し、円周上に相互オ
フセットされた2つの螺旋スリットを有する回転可能で
中空筒状の第一ダイヤフラム体より成るダイヤフラム装
置を有する、小断面で方向可変のX線またはガンマビー
ム発生用の装置に係る。
.021号及び工業利用目的の西独特許出願第3、44
3.095号より知られる。放射吸収性の材料でできた
ダイヤフラム体はこの場合、2つの相互オフセットされ
た螺旋状周環スリットが円周上に設けられた中空の円筒
形である。平行光束がかかるダイヤフラム体にその円筒
軸に垂直に当たると、X線ビームが2つのスリットを通
過する点が常に存在する。ダイヤフラム体が回転すると
、この点は軸に沿ってシフトし、ダイヤフラム体の後ろ
に周期的に動くX線ビームが発生ずる。周期的に動くX
線ビームは医療または工業検査用に使用される。。
る2つのスリットにより画成される。しかし、ここで望
ましいのは、方向的に独立な空間分解能を生じさせる正
方形もしくは円形の断面である。2つのスリットが同じ
幅を有するとき、2つのスリットが相互に交わる角度が
大きくなればなるほど、断面は正方形に一層近づく。交
差角は、大きな径と小さな軸方向長を有するダイヤフラ
ム体を用いることにより大きくすることができる。
比較的大きくなければならず、これに対応するダイヤフ
ラム体の軸方向の長さを必要とする;つまり、大きな径
はその協働ユニットの容1の点で、多くの適用には望ま
しくな(・。
大きな軸長を有するダイヤフラム体の場合にも好ましい
ビーム断面が得られるように、設計することにある。
周りを少なくともそれぞれ1回転旋回し、少なくとも一
本の線がスリットを通り焦点に向かって延び、線の位置
はダイヤフラム体を回転させることにより変化させられ
るという事実により達成される。
で延びる、つまり反回転しか有しないのに対し、本発明
のスリットは少なくとも円周角360°で延び、つまり
少なくとも一回転(一回転は360°の円周角と対応す
る)を有する。中空筒状ダイヤフラム体の回転軸または
対称軸上でのスリットの射影は、軸との間で相当大きな
角度を形成し、所与のスリット幅で切り出されたX線ビ
−ムは該軸の方向においてかなり小さい寸法である。
と同じ数のX線ビームか発生する。しかし、多くの適用
では、たとえばX線ビームにより生じた散乱放射が測定
されるものについては、単一のX線ビームを扱うことが
好まれるであろう。
過させる第二ダイヤフラム体が光束中に配置され、第二
ダイヤフラム体は主ビームが常に直線のうちの一つと一
致するように配置され設計される。
をとり、その軸は対称軸と焦点を含む面に存在し、その
断面は円形または半円形であり、第二ダイヤフラム体に
は、半円形断面の場合には1個のスリット、もしくは円
形断面の場合には円周上で180°だけ相互にオフセッ
トされた2つの螺旋状スリットが設けられることが予定
される。
nは整数)だけ速く駆動されるならば1周期的に動くX
線ヒームか切り出される。
小型ユニットである場合には、ダイヤフラム体の径はそ
の焦点からの距離に比べるともはや無視しうるちのとな
り、ダイヤフラム体の中央から、それに入るビームより
も大きな軸方向距離を有するX線ビームか現れる。これ
らの配列条件を満たすため、本発明のさらなる開発は、
第一ダイヤフラム体のスリットは相異なるピッチを有す
ることである。その場合、X線ビームは1つのスリット
に入り込み、他のスリットから現れるのみである。さら
なる開発において、第一ダイヤフラム体のスリットのう
ち大きなピッチを有するものは他のものより細く、焦点
から離れた方を向いた第一ダイヤフラム体の側にはスリ
ットダイヤフラムが設けられ、そのスリット状の孔は、
焦点と第一ダイヤフラム体の対称軸とにより形成される
面にある。この構成では、対称軸の方向におけるX線ビ
ームの広がりは2つのスリットのうち細い方により決定
され、それに垂直な方向はスリットダイヤフラムでの孔
により決定される。
。
発し、X線放射源の光線窓4を通る。ダイヤフラム装置
5は第1図の面に垂直な面でX線光束3からの数ミリの
厚さの扇状X線31を切り出す。ダイヤフラム装置は筐
体lに接続されている。ダイヤフラム装置5はX線放射
#lから離れて面する端部に円筒状の孔6を有し、そこ
に第一中空の筒状ダイヤフラム体7が配置され、該本体
はそれに同軸に設けられた第二ダイヤフラム体8を内包
する。ダイヤフラム体7及び8の共通の対称軸及び回転
軸は扇状X線31の面に、正確には焦点2とダイヤフラ
ム体の中心とを結ぶ線が対称軸と直角に交わるように、
配置される。
装置により、第一ダイヤフラム体7がダイヤフラム体8
よりも係数6だけ速く回転するように駆動される。この
目的のため、駆動装置は単一モーターを有し、これは適
当に設計された伝動装置を介してダイヤフラム体7及び
8に連結される。この代りに、第1図では、簡略化のた
め、2つのステップモーター9及び10を有する駆動装
置が示され、そのうち外部ダイヤフラム体7に連結され
たステップモーターはクロックパルス発生器に直接連結
され、第二ダイヤフラム体8に作用するステップモータ
ーlOは、ステップ周波数をl:6の割合で減少させる
周波数デイバイダーを介して連結される。その結果、ダ
イヤフラム体7は内部ダイヤフラム体の速度の6倍で回
転する。
ビーム32はダイヤフラム体7及び8により扇状X線3
1から切り出され、該ビームの垂直方向での(扇状X線
31の面に垂直な)広がりは、スリット13により制限
され、該スリットは幅0.5ミリで図面の示す面に垂直
に延び、該ビームの軸方向への広がりはダイヤフラム体
7の設計により決定される。ダイヤフラム体が一定の速
度で回転する場合、X線ビーム32は鋸歯状の時間関数
にしたがって、図面の示す面に垂直の面での衝突点の位
置を変える。
。ダイヤフラム体は、焦点2から発するX線照射がたと
えば厚さ1ミリのタングステン合金のために事実上完全
に吸収されるように、一定の厚さの材料から成る。ダイ
ヤフラム体は、たとえば長さ50ミリ、径12ミリであ
る。少なくともその端面における中空シャフト7Iのう
ちの一つは第1図を参照して説明した駆動装置に連結さ
れる。
に設けられ、これらは、同一の巻き方向に延びそれぞれ
一定のピッチを有する。両スリットは3つの湾曲と螺旋
をそれぞれ有する。スリット73はスリット72よりも
大きなピッチ(ダイヤフラム体7の湾曲の軸方向の長さ
と円周の間の比)を有する。スリット73は幅0.4ミ
リであり、一方スリット72はたとえば2ミリと、かな
り大きい。スリット73の軸方向の長さはダイヤフラム
体7よりもやや短い、もしスリットが同じ長さだとする
と、それはダイヤフラム体を2つの部分に分断してしま
うであろう。3つの湾曲の代わりに、両スリットはn個
(n=1または2、さもなければ4.5.6等)の湾曲
を有することもある。この場合、第一ダイヤフラム体は
第二ダイヤフラム体8よりも係数20だけ速く回転しな
ければならない。ダイヤフラム体7での螺旋がダイヤフ
ラム体8と同し巻き方向を有する場合には、両ダイヤフ
ラム体は同一の回転方向で回転しなければならない;巻
き方向が異なる場合には、逆方向での回転が必要となる
。
ダイヤフラム体の中央で丁度180°だけオフセットさ
れるように相互にオフセット配置される。第2図に示さ
れるダイヤフラム体の位置では、X線ビームはかくて図
に示した面に垂直にダイヤフラム体の中央におけるスリ
ット72及び73を通ることかできる−但し、照射源の
焦点がダイヤフラム体の後ろの丁度中央に位置していな
ければならない。ダイヤフラム体のこの位置では、焦点
に向いた側でスリット72が焦点と対称軸すなわち回転
軸75により形成される面と交差する点か2つある。こ
れらの点の軸方向での位置は矢印721及び723によ
り示される。同様に、矢印73]及び733により示さ
れる、スリット73か焦点から離れた方を向いた側での
該面と交差する点が2つある。
か、スリット72及び73の湾曲の軸方向の長さが相互
に関連するのと同様に、その焦点から離れた方向に向い
た母線から焦点までの距離に関連する場合には、別のX
線ビームがさらに721でスリット71を、731でス
リット73を通る。同様に、X線ビームが723及び7
33でスリット72及び73を通る。これら3つのX線
ビームは扇状X線31の面と当然に一致する。
ームは、第一ビームかスリットの一端に到達するまで、
回転方向に応じて左または右に動き、その後別のビーム
が他端で現れる。
曲の軸方向の長さの相違は、ダイヤフラム体7から焦点
までの距離及びダイヤフラム体の径により決定されると
いうことである。。これら2つの値の比が小さくなるに
つれ、長さまたはピンチの相違は大きくなる。他方、放
射源は径と比較してダイヤフラム体から遠くに離される
場合、2つのスリットの長さ及びピッチは実質的に同じ
である。
体装置5から発するX線ビーム32の断面は、軸方向で
は細い方のスリットの寸法により決定され、扇状X線3
1に垂直な面ではスリットダイヤフラム13の孔により
決定されるということである。スリット72をスリット
73と同じ細さにすることも可能で、スリットダイヤフ
ラム13を不要にすることさえできる。しかし、焦点2
の長さには限界かあるため、これはX線ビームの形状的
不明確さを助長することになり、装置はダイヤフラム体
に対する焦点2の位置における製造誤差により敏感とな
る。したかって、小さいピッチの幅のより広いスリット
に加えてスリットダイヤフラム体13を有する装置が望
ましい。
湾曲を有するのと同じ数のX線ビームを切り出する。し
かし、一般には1つのX線ビームか望ましい。これは、
単一の湾曲を有するスリットか与えられたなら可能かも
しれないが、この場合はスリットまたはそれらの射影は
扇状X線の面に対しより相当に鋭角で交差し、同じスリ
ット幅では、軸方向の寸法は所望されない方法でかなり
増大する。第1図から第3図による実施例の場合には、
したかって異なったアプローチがされている ダイヤフ
ラム体を通るX線ビームのうち、たた一つのもののみが
許容される。
二ダイヤフラム体8はすなわち中空の円筒であり、第一
ダイヤフラム体と同し材料て溝成しえ、少なくとも一つ
の端面に駆動装置96.。
号によるものに対応する。すなわち、それは円周状に1
80°だけ相互にオフセントされた2つのスリット82
と83が設けられ、それぞれは同一の軸方向長さで延び
、また螺旋形をとる。しかし、2つのスリット82及び
83は、半分の湾曲しか有しない。すなわち、それらは
ダイヤフラム体8の円周状のそれぞれ180°の皿上に
延びる。スリット82と83は第一ダイヤフラム体の細
スリット73よりもかなり幅が広い。
ダイヤフラム体を通ることのできる3つのX線ビームの
うち、2つ、たとえば外側のものは吸収され、中間のも
ののみか通過することができる。第二ダイヤフラム体か
第一ダイヤフラム体の速度の6分のlで回転するとする
と、このX線ビームは同し速度で両ダイヤフラム体に進
入し、このX ’ffAヒームーつのみが通過できる。
ヤフラム体7でのスリット72.73の湾曲の数aは、
必ずしも整数である必要はなく、同様に、第二ダイヤフ
ラム体8につき対応する数すは丁度0.5である必要は
ない。しかし、比については、a/b−=2n(nは0
より大きい整数)という条件が満たされなければならな
い。その時にのみ、X線ビームの周期的移動が一定の速
度で得られる。aか整数でない場合及び/又はbか0.
5未満である場合、周期的移動の過程でより大きいまた
は小さい長さの間隔か存在し、X線ビームはそこで抑制
される。
出願第P3829688号に詳説される如く、ダイヤフ
ラム体7と共に回転する他の中空筒状ダイヤフラム体も
設けることができる。たとえば、該ダイヤフラム体は半
円の断面を有し、ダイヤフラム体の長さにわたって延び
少なくとも約1800の弧を示すただ一つのスリットか
設けられる。
セットされた複数の孔か設けられる半円の断面を有する
中空筒状の本体も用いることかできる。しかし、最後に
述へた実施例の場合には、X線ビームは一つの孔から他
へと飛び越す。第3図に示された実施例のこの実施例に
対する利点はまた、このダイヤフラム体は不均衡を有し
ないという点である。
ヤフラム体を示す図、第3図は第二ダイヤフラム体を示
す図である。 l′X線放射源、2 焦点、3 X線光束、4光線窓、
5゛ダイヤフラム装置、6 孔、7 第一ダイヤフラム
体、8 第二ダイヤフラム体、9゜10 ステップモー
ター、13 スリ、トダイヤフラム、31 ″扇状X
線、32 X線ビーム、7I 中空シャフト、72,7
3,82.83 スリット。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、その焦点(2)から光束(3)が発するX線または
ガンマ放射源(1)と、ビームを光束から切り出し、そ
の対称軸(75)について回転可能で円周上に2つの相
互オフセットされた螺旋スリット(72、73)を有す
る中空筒状の第一ダイヤフラム体(7)より成るダイヤ
フラム装置(5)とを有し、小さな断面を有し方向可変
のX線又はガンマビーム(32)発生用の装置であって
、スリット(72、73)はダイヤフラム体の周りを少
なくともそれぞれ1回転旋回し、少なくとも一本の直線
がスリットを通って焦点(2)に向い、線の位置はダイ
ヤフラム体を回転させることにより変化させられうるよ
う整形されることを特徴とするX線又はガンマビーム(
32)発生装置。 2、各スリット(72、73)は整数個の湾曲部を有す
ることを特徴とする請求項1記載の装置。 3、主ビームのみを通過させる第二ダイヤフラム体(8
)は光束(3)中に配置され、第二ダイヤフラム体は主
ビームが常に直線のうちの一つに一致するように配置さ
れ設計されることを特徴とする請求項1または2記載の
装置。 4、第二ダイヤフラム体(8)は中空円筒の形を有し、
その軸は対称軸(75)と焦点を含む面に存在し、その
断面は円形または半円形であり、第二ダイヤフラム体(
8)には、半円形断面の場合には1個のスリット、もし
くは円形断面の場合には円周上で180゜だけ相互にオ
フセットされた2つの螺旋状スリット(82、83)が
設けられることを特徴とする請求項3記載の装置。 5、第二ダイヤフラム体の円周上の1又は複数のスリッ
ト(82、83)は180゜の角度を描くことを特徴と
する請求項4記載の装置。 6、第一ダイヤフラム体(7)を第二ダイヤフラム体(
8)の2n倍の角速度で駆動する駆動装置(9...1
2)が設けられることを特徴とする請求項4または5記
載の装置。 7、第一ダイヤフラム体(7)のスリット(72、73
)が描く円周角は第二ダイヤフラム体(8)上のスリッ
ト(82、83)により描かれる円周角の係数2nだけ
大きいことを特徴とする請求項6記載の装置。 8、2つのダイヤフラム体(7、8)は互いに同軸に配
置され、一方が他方を囲み、第二ダイヤフラム体(8)
のスリット(82、83)は第一ダイヤフラム体(7)
のスリット(73)の少なくとも一つよりも幅が広いこ
とを特徴とする請求項4記載の装置。 9、第一ダイヤフラム体は第二ダイヤフラム体を囲むこ
とを特徴とする請求項8記載の装置。 10、第一ダイヤフラム体(7)のスリット(72、7
3)は互いに異なるピッチを有することを特徴とする請
求項1乃至9記載の装置。 11、第一ダイヤフラム体(7)のスリットのうち、よ
り大きいピッチを有するもの(73)は他方よりも細い
ことを特徴とする請求項10記載の装置。 12、スリットダイヤフラム(13)が設けられそのス
リットは第一ダイヤフラム体(7)の回転軸または対称
軸(75)に一致し、該ダイヤフラムはその長手方向に
垂直な方向での切出ビームの寸法を決定することを特徴
とする請求項1記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3908966A DE3908966A1 (de) | 1989-03-18 | 1989-03-18 | Anordnung zur erzeugung eines roentgen- oder gammastrahls mit geringem querschnitt und veraenderbarer lage |
DE3908966.5 | 1989-03-18 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02275400A true JPH02275400A (ja) | 1990-11-09 |
JP2940556B2 JP2940556B2 (ja) | 1999-08-25 |
Family
ID=6376681
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2065527A Expired - Lifetime JP2940556B2 (ja) | 1989-03-18 | 1990-03-15 | X線、ガンマ線発生装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5038370A (ja) |
EP (1) | EP0389033B1 (ja) |
JP (1) | JP2940556B2 (ja) |
DE (2) | DE3908966A1 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003514245A (ja) * | 1999-11-03 | 2003-04-15 | パーキネルマー ディテクション システムズ インク | 回転シリンダ型の複式ビーム変成器 |
JP2004519309A (ja) * | 2001-04-03 | 2004-07-02 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | パルス運動量移動スペクトルを決定するコンピュータ断層撮影装置 |
JP2015523570A (ja) * | 2012-07-05 | 2015-08-13 | アメリカン サイエンス アンド エンジニアリング,インコーポレイテッドAmerican Science and Engineering,Inc. | 可変角度コリメータ |
US10656304B2 (en) | 2015-09-10 | 2020-05-19 | American Science And Engineering, Inc. | Backscatter characterization using interlinearly adaptive electromagnetic X-ray scanning |
US11193898B1 (en) | 2020-06-01 | 2021-12-07 | American Science And Engineering, Inc. | Systems and methods for controlling image contrast in an X-ray system |
Families Citing this family (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5212718A (en) * | 1991-08-06 | 1993-05-18 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Gamma ray collimator |
US5493596A (en) * | 1993-11-03 | 1996-02-20 | Annis; Martin | High-energy X-ray inspection system |
SE9401300L (sv) * | 1994-04-18 | 1995-10-19 | Bgc Dev Ab | Roterande cylinderkollimator för kollimering av joniserande, elektromagnetisk strålning |
EP1135700B1 (en) | 1998-11-30 | 2005-03-02 | American Science & Engineering, Inc. | Fan and pencil beams from a common source for x-ray inspection |
US7963695B2 (en) | 2002-07-23 | 2011-06-21 | Rapiscan Systems, Inc. | Rotatable boom cargo scanning system |
DE102005048519A1 (de) * | 2005-10-06 | 2007-04-19 | BAM Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung | Brennpunktorientierte Blende |
US8995619B2 (en) | 2010-03-14 | 2015-03-31 | Rapiscan Systems, Inc. | Personnel screening system |
US8638904B2 (en) | 2010-03-14 | 2014-01-28 | Rapiscan Systems, Inc. | Personnel screening system |
US8576982B2 (en) | 2008-02-01 | 2013-11-05 | Rapiscan Systems, Inc. | Personnel screening system |
US9310323B2 (en) | 2009-05-16 | 2016-04-12 | Rapiscan Systems, Inc. | Systems and methods for high-Z threat alarm resolution |
ITTO20090946A1 (it) | 2009-12-01 | 2011-06-02 | Varian Spa | Metodo per migliorare l efficienza di scambio termico fra un corpo metallico ed un tubo in cui scorre un fluido di scambio termico. |
CN103558240B (zh) * | 2009-12-30 | 2016-03-09 | 同方威视技术股份有限公司 | 一种成像用射线束的扫描装置和方法 |
PL2548207T3 (pl) | 2010-03-14 | 2020-07-13 | Rapiscan Systems, Inc. | Urządzenie do tworzenia wiązki |
CN102565110B (zh) * | 2010-12-31 | 2015-04-01 | 同方威视技术股份有限公司 | 一种背散射成像用射线束的扫描装置和方法 |
US8908831B2 (en) | 2011-02-08 | 2014-12-09 | Rapiscan Systems, Inc. | Covert surveillance using multi-modality sensing |
CA3078087C (en) | 2011-06-14 | 2021-11-02 | Rapiscan Systems, Inc. | Covert surveillance using multi-modality sensing |
US9557427B2 (en) | 2014-01-08 | 2017-01-31 | Rapiscan Systems, Inc. | Thin gap chamber neutron detectors |
US11280898B2 (en) | 2014-03-07 | 2022-03-22 | Rapiscan Systems, Inc. | Radar-based baggage and parcel inspection systems |
MX361149B (es) | 2014-03-07 | 2018-11-28 | Rapiscan Systems Inc | Detectores de banda ultra ancha. |
EP3944260B1 (en) | 2014-05-22 | 2024-05-08 | Australian Nuclear Science And Technology Organisation | Proton, neutron, electron or electromagnetic radiation imaging |
BR112017011068A2 (pt) | 2014-11-25 | 2018-07-10 | Rapiscan Systems, Inc. | sistema de gerenciamento de segurança inteligente |
GB2549891B (en) | 2015-01-20 | 2021-09-08 | American Science & Eng Inc | Dynamically adjustable focal spot |
CN105987920B (zh) * | 2015-02-11 | 2019-10-08 | 北京君和信达科技有限公司 | 一种飞点形成装置及设计方法 |
US10082473B2 (en) | 2015-07-07 | 2018-09-25 | General Electric Company | X-ray filtration |
CN109791811A (zh) | 2016-09-30 | 2019-05-21 | 美国科学及工程股份有限公司 | 用于2d扫描光束成像的x射线源 |
US10748740B2 (en) * | 2018-08-21 | 2020-08-18 | Fei Company | X-ray and particle shield for improved vacuum conductivity |
US10948614B2 (en) | 2018-11-01 | 2021-03-16 | H3D, Inc. | Imaging system with one or more mask units and corresponding method of recording radiation |
US11972920B2 (en) | 2021-11-23 | 2024-04-30 | Fei Company | Vacuum compatible X-ray shield |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE194743C (ja) * | ||||
US3766387A (en) * | 1972-07-11 | 1973-10-16 | Us Navy | Nondestructive test device using radiation to detect flaws in materials |
US3832564A (en) * | 1973-01-31 | 1974-08-27 | Us Navy | Radiation absorber and intensity collimator unit |
US3894234A (en) * | 1974-01-28 | 1975-07-08 | Us Navy | Radial scanner |
DE3120567A1 (de) * | 1981-05-23 | 1983-01-20 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Streustrahlen-untersuchungsanordnung |
DE3135421A1 (de) * | 1981-09-07 | 1983-03-24 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Roentgenuntersuchungsgeraet |
DE3443095A1 (de) * | 1984-11-27 | 1986-05-28 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Anordnung zur untersuchung eines koerpers mit gamma- oder roentgenstrahlung |
GB2170980B (en) * | 1985-02-07 | 1988-05-25 | Steve Webb | Ct scanner and detector therefor |
DE3829688A1 (de) * | 1988-09-01 | 1990-03-15 | Philips Patentverwaltung | Anordnung zur erzeugung eines roentgen- oder gammastrahls mit geringem querschnitt und veraenderlicher richtung |
-
1989
- 1989-03-18 DE DE3908966A patent/DE3908966A1/de not_active Withdrawn
-
1990
- 1990-03-12 DE DE59007543T patent/DE59007543D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1990-03-12 EP EP90200571A patent/EP0389033B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1990-03-14 US US07/494,041 patent/US5038370A/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-03-15 JP JP2065527A patent/JP2940556B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003514245A (ja) * | 1999-11-03 | 2003-04-15 | パーキネルマー ディテクション システムズ インク | 回転シリンダ型の複式ビーム変成器 |
JP2004519309A (ja) * | 2001-04-03 | 2004-07-02 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | パルス運動量移動スペクトルを決定するコンピュータ断層撮影装置 |
JP2015523570A (ja) * | 2012-07-05 | 2015-08-13 | アメリカン サイエンス アンド エンジニアリング,インコーポレイテッドAmerican Science and Engineering,Inc. | 可変角度コリメータ |
US10656304B2 (en) | 2015-09-10 | 2020-05-19 | American Science And Engineering, Inc. | Backscatter characterization using interlinearly adaptive electromagnetic X-ray scanning |
US11193898B1 (en) | 2020-06-01 | 2021-12-07 | American Science And Engineering, Inc. | Systems and methods for controlling image contrast in an X-ray system |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3908966A1 (de) | 1990-09-20 |
DE59007543D1 (de) | 1994-12-01 |
EP0389033B1 (de) | 1994-10-26 |
JP2940556B2 (ja) | 1999-08-25 |
EP0389033A3 (de) | 1991-07-31 |
EP0389033A2 (de) | 1990-09-26 |
US5038370A (en) | 1991-08-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH02275400A (ja) | X線、ガンマ線発生装置 | |
US4995066A (en) | Device for forming an X-ray or gamma beam of small cross-section and variable direction | |
US6272206B1 (en) | Rotatable cylinder dual beam modulator | |
US7263171B2 (en) | Beam diaphragm and X-ray imaging apparatus | |
JPH0126520B2 (ja) | ||
JP2771333B2 (ja) | ワインダ | |
WO2014063627A1 (zh) | 射线发射装置和成像系统 | |
CN107949886B (zh) | 用于提供辐射的准直的准直器和生成扫描辐射束的方法 | |
JP2010515093A (ja) | 光学スキャナ、並びに光学スキャナを用いた構成およびシステム | |
JPH0319681A (ja) | 紙巻きたばこ又は類似物体に気孔を形成する穿孔装置 | |
JP2019211360A (ja) | エンコーダ | |
JPH1048553A (ja) | 光スポット発生装置 | |
JP7154391B2 (ja) | 光反射装置、導光装置、及び光走査装置 | |
JPS63100461A (ja) | 照明装置 | |
JPH03251799A (ja) | X線分析装置 | |
US2305201A (en) | Shutters | |
JPH0232316A (ja) | 光軸移動光学系および光シャッター装置 | |
RU2777881C1 (ru) | Светоотражающее устройство, светонаправляющее устройство и устройство оптического сканирования | |
SU1286846A1 (ru) | Соединение вала со ступицей и способ его изготовлени | |
JP2588090Y2 (ja) | 調和歯車変速機を用いた微小位置制御機構 | |
JPH069751B2 (ja) | レーザ加工装置 | |
JP3236688B2 (ja) | 微小領域x線回折装置 | |
JPH04177215A (ja) | 光ビーム走査装置 | |
JPH03277350A (ja) | X線絞り装置 | |
JP2005055765A (ja) | 光の偏向用反射体 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090618 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100618 Year of fee payment: 11 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100618 Year of fee payment: 11 |