CN103558240B - 一种成像用射线束的扫描装置和方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种成像用射线束的扫描装置,包括:辐射源;固定屏蔽板和旋转屏蔽体,旋转屏蔽体上分别设置有射线入射区域和射线岀射区域,在旋转屏蔽体旋转扫描过程中,固定屏蔽板的射线通过区域与旋转屏蔽体的射线入射区域和射线岀射区域连续相交以构成扫描准直孔;所述固定屏蔽板的射线通过区域为直线缝隙,所述射线入射区域和所述射线岀射区域为螺旋线缝隙,位于旋转屏蔽体纵向两端的螺旋线缝隙的宽度设置成相对于位于纵向中心位置的螺旋线缝隙的宽度窄,位于旋转屏蔽体纵向两端的螺旋线缝隙形成的扫描准直孔相对于位于纵向中心位置的扫描准直孔形成一定的角度。另外,本发明还公开了一种成像用射线束的扫描方法。

Description

一种成像用射线束的扫描装置和方法
技术领域
本发明涉及核技术应用领域,特别涉及人和物体的无损检测装置和方法,更具体地说,涉及一种用于背散射成像用射线束的扫描装置及方法。
背景技术
无损检测和人体检测应用中,有射线透射成像和射线背散射成像。背散射成像是通过用射线束扫描物体,同时探测器接收散射信号,数据处理时将扫描位置和散射信号点点对应即可得到散射图像。现有飞点扫描机构是带有多准直孔的旋转屏蔽体在射线扫描扇面内旋转实现第一维的扫描,通过旋转或者平移射线扫描扇面实现第二维的扫描。
但是,在上述带有多准直孔的旋转屏蔽体的结构中,飞点形成结构较为复杂,同时在不利于X射线的屏蔽。
另外,对于第一维扫描,射线在垂直平面物体上是非匀速扫描,扫描线在扫描的起始端和末端加速,会在几何变形基础上进一步纵向扩大扫描光斑,导致成像除几何变形之外的由于扫描速度变化而带来的纵向压缩变形。
此外,在进行第二维的扫描时,如果选择平移射线扫描扇面则需要平移射线发生装置和旋转屏蔽体等,机械结构会很复杂;如果选择旋转射线扫描扇面则需要克服射线发生装置和旋转屏蔽体的转动惯量,对旋转的驱动装置和旋转射线发生装置和旋转屏蔽体的轴承是个巨大考验。
还有,由于在现有技术中,辐射源例如X光机一般设置在旋转辐射体的内部,从而其扫描机构难于与现有X光机形成匹配接口,从而需要重新设计X光机的屏蔽体,增加了背散射扫描成像装置的成本。
发明内容
鉴于此,本发明的目的旨在解决现有技术中存在的上述问题和缺陷的至少一个方面。
相应地,本发明的目的之一在于提供一种背散射成像用射线束的扫描装置及方法,其通过一种新型的“飞点”形成结构,以实现背散射的射线束扫描。
本发明的另一目的在于提供一种能够形成连续直线运动飞点的射线束扫描装置及方法。
本发明的再一目的在于提供一种通过控制所述扫描准直孔在不同位置的形状,以控制穿过所述扫描准直孔出现到被检测对象上的射线束的截面形状的扫描装置和扫描方法。
根据本发明的一个方面,其提供一种成像用射线束的扫描装置,包括:辐射源;分别位于辐射源和被扫描对象之间的固定屏蔽板和旋转屏蔽体,其中所述固定屏蔽板相对于辐射源是固定的,所述旋转屏蔽体相对于固定屏蔽板是可旋转的,其特征在于:所述固定屏蔽板上设置有允许来自所述辐射源的射线束穿过所述固定屏蔽板的射线通过区域,旋转屏蔽体上分别设置有射线入射区域和射线岀射区域,在旋转屏蔽体旋转扫描过程中,固定屏蔽板的射线通过区域与旋转屏蔽体的射线入射区域和射线岀射区域连续相交以构成扫描准直孔,所述旋转屏蔽体为圆柱体;所述固定屏蔽板的射线通过区域为直线缝隙,所述射线入射区域和所述射线岀射区域为螺旋线缝隙,位于旋转屏蔽体纵向两端的螺旋线缝隙的宽度设置成相对于位于纵向中心位置的螺旋线缝隙的宽度窄,位于旋转屏蔽体纵向两端的螺旋线缝隙形成的扫描准直孔相对于位于纵向中心位置的扫描准直孔形成一定的角度。
在一种优选实施方式中,所述固定屏蔽板设置在所述辐射源与所述旋转屏蔽体之间。
优选地,该背散射成像用射线束的扫描装置还包括:控制装置,通过控制旋转屏蔽体的旋转速度来控制射线束的扫描速度,通过检测旋转屏蔽体的转动角度来获取射线束的出射方向。
在一种具体实施方式中,所述装置还包括用于驱动所述旋转屏蔽体旋转的驱动装置;以及所述旋转屏蔽体为空心或实心圆柱体。
具体地,所述旋转屏蔽体的旋转轴线可位于所述辐射源和所述固定屏蔽板上的所述直线缝隙共同限定的平面上。
根据本发明的另一方面,其提供一种成像用射线束的扫描方法,包括步骤:提供发射射线束的辐射源;设置分别位于辐射源和被扫描对象之间的固定屏蔽板和旋转屏蔽体,其中所述固定屏蔽板相对于辐射源是固定的,所述旋转屏蔽体相对于固定屏蔽板是可旋转的,所述固定屏蔽板上设置有允许来自所述辐射源的射线束穿过所述固定屏蔽板的射线通过区域,在旋转屏蔽体上分别设置有射线入射区域和射线岀射区域;以及设置所述旋转屏蔽体为圆柱体,旋转所述旋转屏蔽体,以使所述固定屏蔽板的射线通过区域与所述旋转屏蔽体的射线入射区域和射线岀射区域连续相交以构成扫描准直孔;设置所述固定屏蔽板的射线通过区域为直线缝隙,所述射线入射区域和所述射线岀射区域为螺旋线缝隙,位于旋转屏蔽体纵向两端的螺旋线缝隙的宽度设置成相对于位于纵向中心位置的螺旋线缝隙的宽度窄,位于旋转屏蔽体纵向两端的螺旋线缝隙形成的扫描准直孔相对于位于纵向中心位置的扫描准直孔形成一定的角度。
优选地,所述方法还包括步骤:所述固定屏蔽板设置在所述辐射源与所述旋转屏蔽体之间。
在一种具体实施方式中,所述扫描方法还包括步骤:通过控制旋转屏蔽体的旋转速度来控制射线束的扫描速度,通过检测旋转屏蔽体的转动角度来获取射线束的出射方向。
本发明的上述不特定的实施方式至少具有下述一个或者多个方面的优点和效果:
1.通过提供本发明中的具有新型“飞点”形成结构的扫描装置和方法,其简化了背散射扫描结构,同时能够获得良好的屏蔽效果。
2.在一种实施方式例中,本发明的扫描机构和方法可以实现对目标物体的可控扫描,能很方便的按照预定方式实现对目标物体的采样,使获得的背散射图像数据符合设计需求。例如,本发明的扫描机构和方法可以实现对目标物体的匀速扫描,能很方便的实现对目标物体的均匀采样,使获得的背散射图像中没有纵向的压缩变形。
3.另外,可以根据不同的应用需求制作具有不同螺旋线和缝隙的旋转屏蔽体,本发明的扫描机构中的旋转屏蔽体可以更换以适应不同的应用需求。
4.另外,由于在本发明中,当旋转射线扫描扇面以进行第二维扫描时,由于射线扫描扇面和旋转屏蔽体可在同一平面上作旋转运动,在旋转射线扫描扇面时不会改变旋转屏蔽体的角动量方向,因此不需要克服旋转屏蔽体的转动惯量,很容易通过旋转射线扫描扇面来实现第二维的扫描。
5.此外,由于在本发明中,辐射源不设置在旋转屏蔽体的内部,该扫描机构在量产的X光机上匹配机械接口即可完成,结构紧凑,不需要重新设计X光机的屏蔽体,节约了成本。
附图说明
图1是根据本发明的一种实施方式的背散射扫描装置的结构示意图。
图2是显示图1中的背散射扫描装置的剖视图;以及
图3是显示图1中的背散射扫描装置的组成和位置关系的分解透视图。
具体实施方式
下面通过实施例,并结合附图1-3,对本发明的技术方案作进一步具体的说明。在说明书中,相同或相似的附图标号指示相同或相似的部件。下述参照附图对本发明实施方式的说明旨在对本发明的总体发明构思进行解释,而不应当理解为对本发明的一种限制。
参加附图1-3,其示出了根据本发明的一种具体实施例的背散射成像用射线束的扫描装置,其包括:辐射源,例如X光机;分别位于辐射源13和被扫描对象(图中未示出,例如图2中左侧位置)之间的固定屏蔽板5和旋转屏蔽体1,其中固定屏蔽板4相对于辐射源13是固定的,旋转屏蔽体1相对于固定屏蔽板4是可旋转的。进一步地,固定屏蔽板4上设置有允许来自辐射源13的射线束穿过固定屏蔽板4的通过区域,例如1-3中的纵向缝隙5。旋转屏蔽体1上分别设置有射线入射区域,例如图1-3中的缝隙3,和射线岀射区域,例如图1-3中的缝隙2,在旋转屏蔽体1旋转扫描过程中,固定屏蔽板4的射线通过区域5与旋转屏蔽体1的射线入射区域3和射线岀射区域2连续相交以构成扫描准直孔。在上述实施例中,固定屏蔽板4设置在辐射源13与旋转屏蔽体1之间。
在本发明的上述实施例中,射线发生器包括射线发生器壳体11和容纳在射线发生器壳体11中的辐射源13。在上述结构中,辐射源13可以为X光机、γ射线源或同位素射线源等。。如图1和3所示,在一种具体实施例中,射线发生器壳体11呈大体长方体盒体形状,其上设置有使来自辐射源13发出的辐射射线从射线发生器壳体11的准直缝隙31岀射。辐射源13的靶点P发射出的射线束14穿过准直缝隙31形成一个射线扇面,然后经过穿过固定屏蔽板4的通过区域,例如1-3中的纵向缝隙5;旋转屏蔽体1的射线入射区域,例如图1-3中的缝隙3,和射线岀射区域,例如图1-3中的缝隙2。通过设置固定屏蔽板4的纵向缝隙5;旋转屏蔽体1的缝隙3和缝隙2的相对位置关系,以使在旋转屏蔽体1旋转扫描过程中,固定屏蔽板4的射线通过区域5与旋转屏蔽体1的射线入射区域3和射线岀射区域2连续相交以构成扫描准直孔。换言之,旋转屏蔽体1上的射线出射螺旋窄缝2与射线入射螺旋窄缝3和固定屏蔽板上的纵向窄缝5共同组成一个射线准直孔。
如图1-3所示,固定屏蔽板4的射线通过区域5为直线缝隙,旋转屏蔽体1为圆柱体,射线入射区域3和射线岀射区域2为螺旋线缝隙。具体地说,参见图2,图中射线入射区域3和射线岀射区域2的任何一点例如A和B点,一方面沿旋转屏蔽体1的圆柱面作等速圆周运动,另一方面沿旋转屏蔽体1的径向方向按照一定速度分布做直线运动,从而形成特定的圆柱体螺旋线。在一种具体实施例中,图中射线入射区域3和射线岀射区域2的任何一点例如A和B点,可以一方面沿旋转屏蔽体1的圆柱面作等速圆周运动,另一方面沿旋转屏蔽体1的径向方向按照作匀速直线运动,从而形成等速圆柱体螺旋线。
参见图2,当辐射源13的靶点P和射线入射区域3的A点确定之后,连接辐射源13的靶点P和射线入射区域3的入射点A点形成的射线束14,即可确定射线岀射区域2上的岀射点B。
由于射线入射区域3和射线岀射区域2设置成等速圆柱体螺旋线缝隙,当旋转屏蔽体1匀速旋转时,射线准直孔的位置随屏蔽旋转体1的转动而移动,出射射线束14也随之移动,从而使扫描准直孔沿直线缝隙5连续匀速移动。
虽然,在上述实施方例中,射线入射区域3和射线岀射区域2设置成等速圆柱体螺旋线缝隙,但是本发明并不仅限于此,例如由于射线入射区域3和射线岀射区域2可以设置成上述特定形式的螺旋线缝隙,即一方面沿旋转屏蔽体1的圆柱面作等速圆周运动,另一方面沿旋转屏蔽体1的径向方向按照一定速度分布做直线运动,从而形成特定的圆柱体螺旋线。相应地,当旋转屏蔽体1匀速旋转时,射线准直孔的位置随屏蔽旋转体1的转动而移动,出射射线束14也随之移动,从而使扫描准直孔沿直线缝隙5按照预定的速度分布移动。由此,本发明的扫描装置可以实现对目标物体的可控扫描,能很方便的按照预定方式实现对目标物体进行采样,使获得的背散射图像数据符合设计需求,从而改善了背散射成像的质量和分辨率,提高了背散射检测的精度和效率,能更好的满足不同的应用需求。
进一步地,该扫描装置还可以包括用于驱动旋转屏蔽体1旋转的驱动装置6,例如调速电机等。为了减小了旋转屏蔽体1的转动惯量,在一种优选实施例中,旋转屏蔽体1设置为空心圆柱体形式。但是,本发明并且不仅限于此,例如旋转屏蔽体1也可以为实心圆柱体。
具体地,在上述实施例中,参见图1,该装置还可以包括旋转码盘读出装置7,用于检测旋转屏蔽体1的旋转位置;码盘读出信号线8,用于将检测的有关旋转屏蔽体1的旋转位置的信息输入到控制装置10中。由于旋转屏蔽体1的旋转位置决定了扫描准直孔的位置,通过上述设置,可以检测出扫描准直孔形成的位置。如图1所示,控制装置10还通过电动机驱动线9与驱动电机6相连,可以进一步来控制旋转屏蔽体的旋转。通过控制旋转屏蔽体的旋转速度,可以控制射线束的扫描速度,而通过检测旋转屏蔽体的转动角度,可以获取射线束的出射方向。参见图2,在一种实施例中,旋转屏蔽体1的旋转轴线L可以位于辐射源13和固定屏蔽板4上的直线缝隙5共同限定的平面上。如前所述,旋转屏蔽体1可以是实心圆柱体,或者具有一定的厚度的空心圆柱体。通过控制旋转屏蔽体上的螺旋线缝隙的不同位置的宽度,控制所述扫描准直孔在不同位置的形状,以控制穿过所述扫描准直孔出现到被检测对象上的射线束的截面形状。
例如,位于旋转屏蔽体1纵向两端螺旋窄缝2和3的宽度可以相对于位于纵向中心位置的狭缝的宽度要窄一些,同时位于旋转屏蔽体1纵向两端螺旋窄缝2和3形成的扫描准直孔相对于位于纵向中心位置的扫描准直孔形成一定的角度。通过上述结构,可以保证射线准直孔始终对准靶点并保持畅通,并且在不同位置时穿过扫描准直孔出现到被检测对象上的射线束的截面形状保持不变。但是,本发明并不仅限于此,例如通过控制旋转屏蔽体上的螺旋线缝隙的不同位置的宽度,可以控制所述扫描准直孔在不同位置的形状,相应地,可以控制穿过所述扫描准直孔出现到被检测对象上的射线束的截面形状为适应不同的扫描需求。
参见图3,射线发生器壳体11还可以通过屏蔽套筒12与固定屏蔽板4相连,以确保射线的屏蔽。从上述设置可以看出,辐射源13不设置在旋转屏蔽体1的内部,而是设置在射线发生器壳体11的内部,该扫描机构在量产的X光机上匹配作为机械接口的屏蔽套筒12即可完成,从而使扫描装置的结构紧凑,不需要重新设计X光机的屏蔽体,节约了成本。
下面结合附图对根据本发明的上述背散射成像用射线束的扫描方法进行简要说明:
参见图1-3,根据本发明的具体实施方式的背散射成像用射线束的扫描方法,包括步骤:提供发射射线束14的辐射源13;设置分别位于辐射源13和被扫描对象之间的固定屏蔽板4和旋转屏蔽体1,其中固定屏蔽板4相对于辐射源是固定的,旋转屏蔽体1相对于固定屏蔽板4是可旋转的,固定屏蔽板4上设置有允许来自辐射源13的射线束14穿过固定屏蔽板4的射线通过区域,在旋转屏蔽体1上分别设置有射线入射区域3和射线岀射区域2;以及旋转旋转屏蔽体1,以使固定屏蔽板4的射线通过区域5与旋转屏蔽体1的射线入射区域3和射线岀射区域2连续相交以构成扫描准直孔。
在上述扫描装置中,固定屏蔽板4的射线通过区域5为直线缝隙,旋转屏蔽体1为圆柱体,射线入射区域3和射线岀射区域2为螺旋线缝隙,在上述扫描过程中,当旋转屏蔽体1匀速旋转时,能够使扫描准直孔沿直线缝隙5连续可控速度的移动。
参见图1,在扫描过程中,控制装置10通过旋转码盘读出装置7、码盘读出信号线8可读出旋转屏蔽体1的当前状态,进而确定当前射线准直孔的位置,基于对扫描准直孔的位置的检测,可以进一步获取射线束14的出射方向。更进一步地,通过设置扫描准直孔,以使其始终相对于辐射源13保持预定形状,从而穿过扫描准直孔出现到被检测对象上的射线束14的截面形状保持预定形状,以满足不同扫描操作的需求。
虽然本总体发明构思的一些实施例已被显示和说明,本领域普通技术人员将理解,在不背离本总体发明构思的原则和精神的情况下,可对这些实施例做出改变,本发明的范围以权利要求和它们的等同物限定。

Claims (7)

1.一种背散射成像用射线束的扫描装置,包括:
辐射源;
分别位于辐射源和被扫描对象之间的固定屏蔽板和旋转屏蔽体,其中所述固定屏蔽板相对于辐射源是固定的,所述旋转屏蔽体相对于固定屏蔽板是可旋转的,其特征在于:
所述固定屏蔽板上设置有允许来自所述辐射源的射线束穿过所述固定屏蔽板的射线通过区域,
旋转屏蔽体上分别设置有射线入射区域和射线岀射区域,在旋转屏蔽体旋转扫描过程中,固定屏蔽板的射线通过区域与旋转屏蔽体的射线入射区域和射线岀射区域连续相交以构成扫描准直孔,
所述旋转屏蔽体为圆柱体;
所述固定屏蔽板的射线通过区域为直线缝隙,
所述射线入射区域和所述射线岀射区域为螺旋线缝隙,
其中当所述旋转屏蔽体匀速旋转时,能够使扫描准直孔沿直线缝隙连续移动;
位于旋转屏蔽体纵向两端的螺旋线缝隙的宽度设置成相对于位于纵向中心位置的螺旋线缝隙的宽度窄,位于旋转屏蔽体纵向两端的螺旋线缝隙形成的扫描准直孔相对于位于纵向中心位置的扫描准直孔形成一定的角度;
所述装置还包括:
旋转码盘读出装置,其用于检测旋转屏蔽体的旋转位置;
码盘读出信号线,用于将检测的旋转屏蔽体的旋转位置的信息输入到控制装置;
所述旋转屏蔽体的旋转轴线位于所述辐射源和所述固定屏蔽板上的所述直线缝隙共同限定的平面上。
2.根据权利要求1所述的背散射成像用射线束的扫描装置,其特征在于:
所述固定屏蔽板设置在所述辐射源与所述旋转屏蔽体之间。
3.根据权利要求1或2所述的背散射成像用射线束的扫描装置,其特征在于还包括:
控制装置,通过控制旋转屏蔽体的旋转速度来控制射线束的扫描速度,通过检测旋转屏蔽体的转动角度来获取射线束的出射方向。
4.根据权利要求1所述的背散射成像用射线束的扫描装置,其特征在于:
所述装置还包括用于驱动所述旋转屏蔽体旋转的驱动装置;以及所述旋转屏蔽体为空心或实心圆柱体。
5.一种背散射成像用射线束的扫描方法,包括步骤:
提供发射射线束的辐射源;
设置分别位于辐射源和被扫描对象之间的固定屏蔽板和旋转屏蔽体,其中所述固定屏蔽板相对于辐射源是固定的,所述旋转屏蔽体相对于固定屏蔽板是可旋转的,所述固定屏蔽板上设置有允许来自所述辐射源的射线束穿过所述固定屏蔽板的射线通过区域,在旋转屏蔽体上分别设置有射线入射区域和射线岀射区域;以及
设置所述旋转屏蔽体为圆柱体,
旋转所述旋转屏蔽体,以使所述固定屏蔽板的射线通过区域与所述旋转屏蔽体的射线入射区域和射线岀射区域连续相交以构成扫描准直孔;
设置所述固定屏蔽板的射线通过区域为直线缝隙,
所述射线入射区域和所述射线岀射区域为螺旋线缝隙,
其中当所述旋转屏蔽体匀速旋转时,能够使扫描准直孔沿直线缝隙连续移动;
位于旋转屏蔽体纵向两端的螺旋线缝隙的宽度设置成相对于位于纵向中心位置的螺旋线缝隙的宽度窄,位于旋转屏蔽体纵向两端的螺旋线缝隙形成的扫描准直孔相对于位于纵向中心位置的扫描准直孔形成一定的角度;
设置旋转码盘读出装置,其用于检测旋转屏蔽体的旋转位置;
设置码盘读出信号线,用于将检测的旋转屏蔽体的旋转位置的信息输入到控制装置;
其中,所述旋转屏蔽体的旋转轴线位于所述辐射源和所述固定屏蔽板上的所述直线缝隙共同限定的平面上。
6.根据权利要求5所述的背散射成像用射线束的扫描方法,其特征在于:
所述固定屏蔽板设置在所述辐射源与所述旋转屏蔽体之间。
7.根据权利要求6所述的背散射成像用射线束的扫描方法,其特征在于还包括步骤:
通过控制旋转屏蔽体的旋转速度来控制射线束的扫描速度,通过检测旋转屏蔽体的转动角度来获取射线束的出射方向。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2548207B1 (en) * 2010-03-14 2020-02-12 Rapiscan Systems, Inc. Beam forming apparatus
CN102393399B (zh) * 2011-08-24 2015-10-28 屈俊健 X射线飞点的形成装置和方法
CN103063691B (zh) * 2011-10-18 2014-11-12 北京睿思厚德辐射信息科技开发有限公司 双飞线多缝扫描背散射平面成像立体成像和自扫描成像装置
JP6277186B2 (ja) * 2012-07-05 2018-02-07 アメリカン サイエンス アンド エンジニアリング, インコーポレイテッドAmerican Science and Engineering, Inc. 放射線ビーム生成システムおよび放射線ビーム照射方法
CN103630947B (zh) * 2012-08-21 2016-09-28 同方威视技术股份有限公司 可监测放射性物质的背散射人体安检系统及其扫描方法
CN103776848B (zh) * 2012-10-24 2017-08-29 同方威视技术股份有限公司 射线发射装置和成像系统
FR3000211B1 (fr) * 2012-12-20 2015-12-11 Commissariat Energie Atomique Dispositif d'eclairage par balayage , dispositif d'imagerie le comportant et procede de mise en oeurvre
CN104865281B (zh) * 2014-02-24 2017-12-12 清华大学 人体背散射检查方法和系统
CN104898173B (zh) * 2014-03-07 2018-03-23 北京君和信达科技有限公司 一种飞点形成装置及设计方法
US11280898B2 (en) 2014-03-07 2022-03-22 Rapiscan Systems, Inc. Radar-based baggage and parcel inspection systems
TR201808932T4 (tr) * 2014-03-07 2018-07-23 Powerscan Co Ltd Uçan nokta şekillendirme aparatı.
CN107251088A (zh) 2014-11-25 2017-10-13 拉皮斯坎系统股份有限公司 智能安全管理系统
CN105987920B (zh) * 2015-02-11 2019-10-08 北京君和信达科技有限公司 一种飞点形成装置及设计方法
US10714227B2 (en) * 2016-06-06 2020-07-14 Georgetown Rail Equipment Company Rotating radiation shutter collimator
CN107797155A (zh) * 2016-08-31 2018-03-13 合肥美亚光电技术股份有限公司 康普顿背散射检测装置
US10720300B2 (en) 2016-09-30 2020-07-21 American Science And Engineering, Inc. X-ray source for 2D scanning beam imaging
CN109471186A (zh) * 2018-12-18 2019-03-15 东莞深圳清华大学研究院创新中心 一种飞点扫描安检仪及其扫描方法
US11940395B2 (en) * 2019-08-02 2024-03-26 Videray Technologies, LLC Enclosed x-ray chopper wheel
EP3933881A1 (en) 2020-06-30 2022-01-05 VEC Imaging GmbH & Co. KG X-ray source with multiple grids
CN114476542B (zh) * 2022-01-12 2024-02-02 北京鸿仪四方辐射技术股份有限公司 一种螺旋轨道的辐照控制系统

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4745631A (en) * 1982-12-27 1988-05-17 North American Philips Corp. Flying spot generator
CN1485611A (zh) * 2003-08-22 2004-03-31 貊大卫 一种反散射式x射线扫描仪
CN201173903Y (zh) * 2008-03-14 2008-12-31 王经瑾 跳点扫描辐射成像装置
CN201285377Y (zh) * 2008-08-05 2009-08-05 同方威视技术股份有限公司 背散射成像用射线束扫描装置

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3808444A (en) 1973-01-05 1974-04-30 Westinghouse Electric Corp X-ray contrast detection system
DE3443095A1 (de) * 1984-11-27 1986-05-28 Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg Anordnung zur untersuchung eines koerpers mit gamma- oder roentgenstrahlung
DE3829688A1 (de) * 1988-09-01 1990-03-15 Philips Patentverwaltung Anordnung zur erzeugung eines roentgen- oder gammastrahls mit geringem querschnitt und veraenderlicher richtung
DE3908966A1 (de) 1989-03-18 1990-09-20 Philips Patentverwaltung Anordnung zur erzeugung eines roentgen- oder gammastrahls mit geringem querschnitt und veraenderbarer lage
JPH05296946A (ja) 1992-04-21 1993-11-12 Fujitsu Ltd X線回折装置
US5493596A (en) * 1993-11-03 1996-02-20 Annis; Martin High-energy X-ray inspection system
US6272206B1 (en) * 1999-11-03 2001-08-07 Perkinelmer Detection Systems, Inc. Rotatable cylinder dual beam modulator
US20040256565A1 (en) * 2002-11-06 2004-12-23 William Adams X-ray backscatter mobile inspection van
CN2645079Y (zh) * 2003-08-22 2004-09-29 貊大卫 一种反散射式x射线扫描仪
CN200941097Y (zh) * 2006-07-27 2007-08-29 上海英迈吉东影图像设备有限公司 一种具有x射线背散射和断层扫描的成像装置
CN101113961A (zh) * 2006-07-27 2008-01-30 上海英迈吉东影图像设备有限公司 一种具有x射线背散射和断层扫描的成像系统
US7561666B2 (en) * 2006-08-15 2009-07-14 Martin Annis Personnel x-ray inspection system
US8532259B2 (en) * 2008-04-17 2013-09-10 University Of Florida Research Foundation, Inc. Method and apparatus for computed imaging backscatter radiography
CN101644687A (zh) 2008-08-05 2010-02-10 同方威视技术股份有限公司 背散射成像用射线束扫描方法和装置
EP2548207B1 (en) 2010-03-14 2020-02-12 Rapiscan Systems, Inc. Beam forming apparatus
CN103958787B (zh) 2012-11-13 2015-12-02 株式会社小松制作所 液压挖掘机

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4745631A (en) * 1982-12-27 1988-05-17 North American Philips Corp. Flying spot generator
CN1485611A (zh) * 2003-08-22 2004-03-31 貊大卫 一种反散射式x射线扫描仪
CN201173903Y (zh) * 2008-03-14 2008-12-31 王经瑾 跳点扫描辐射成像装置
CN201285377Y (zh) * 2008-08-05 2009-08-05 同方威视技术股份有限公司 背散射成像用射线束扫描装置

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