CN102116747B - 一种背散射成像用射线束的扫描装置和方法 - Google Patents

一种背散射成像用射线束的扫描装置和方法 Download PDF

Info

Publication number
CN102116747B
CN102116747B CN200910244502.8A CN200910244502A CN102116747B CN 102116747 B CN102116747 B CN 102116747B CN 200910244502 A CN200910244502 A CN 200910244502A CN 102116747 B CN102116747 B CN 102116747B
Authority
CN
China
Prior art keywords
ray
rotating shield
mask plate
fixed mask
radiation source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN200910244502.8A
Other languages
English (en)
Other versions
CN102116747A (zh
Inventor
康克军
陈志强
李元景
赵自然
刘以农
吴万龙
林东
唐乐
涂超
沈宗俊
丁光伟
金颖康
罗希雷
曹硕
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tsinghua University
Nuctech Co Ltd
Original Assignee
Tsinghua University
Nuctech Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to CN200910244502.8A priority Critical patent/CN102116747B/zh
Application filed by Tsinghua University, Nuctech Co Ltd filed Critical Tsinghua University
Priority to CN201310541050.6A priority patent/CN103558240B/zh
Priority to RU2012127343/28A priority patent/RU2507507C1/ru
Priority to EP10840392.4A priority patent/EP2520927B1/en
Priority to PL10840392.4T priority patent/PL2520927T3/pl
Priority to PCT/CN2010/074570 priority patent/WO2011079603A1/zh
Priority to US13/519,305 priority patent/US9194827B2/en
Publication of CN102116747A publication Critical patent/CN102116747A/zh
Priority to HK12100110.1A priority patent/HK1159752A1/zh
Priority to ZA2012/04180A priority patent/ZA201204180B/en
Application granted granted Critical
Publication of CN102116747B publication Critical patent/CN102116747B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/203Measuring back scattering
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/02Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators
    • G21K1/04Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators using variable diaphragms, shutters, choppers
    • G21K1/043Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators using variable diaphragms, shutters, choppers changing time structure of beams by mechanical means, e.g. choppers, spinning filter wheels

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)

Abstract

本发明公开了一种背散射成像用射线束的扫描装置,包括:辐射源;分别位于辐射源和被扫描对象之间的固定屏蔽板和旋转屏蔽体,其中所述固定屏蔽板相对于辐射源是固定的,所述旋转屏蔽体相对于固定屏蔽板是可旋转的。所述固定屏蔽板上设置有允许来自所述辐射源的射线束穿过所述固定屏蔽板的射线通过区域,旋转屏蔽体上分别设置有射线入射区域和射线出射区域,在旋转屏蔽体旋转扫描过程中,固定屏蔽板的射线通过区域与旋转屏蔽体的射线入射区域和射线出射区域连续相交以构成扫描准直孔。另外,本发明还公开了一种背散射成像用射线束的扫描方法。

Description

一种背散射成像用射线束的扫描装置和方法
技术领域
本发明涉及核技术应用领域,特别涉及人和物体的无损检测装置和方法,更具体地说,涉及一种用于背散射成像用射线束的扫描装置及方法。
背景技术
无损检测和人体检测应用中,有射线透射成像和射线背散射成像。背散射成像是通过用射线束扫描物体,同时探测器接收散射信号,数据处理时将扫描位置和散射信号点点对应即可得到散射图像。现有飞点扫描机构是带有多准直孔的旋转屏蔽体在射线扫描扇面内旋转实现第一维的扫描,通过旋转或者平移射线扫描扇面实现第二维的扫描。
但是,在上述带有多准直孔的旋转屏蔽体的结构中,飞点形成结构较为复杂,同时在不利于X射线的屏蔽。
另外,对于第一维扫描,射线在垂直平面物体上是非匀速扫描,扫描线在扫描的起始端和末端加速,会在几何变形基础上进一步纵向扩大扫描光斑,导致成像除几何变形之外的由于扫描速度变化而带来的纵向压缩变形。
此外,在进行第二维的扫描时,如果选择平移射线扫描扇面则需要平移射线发生装置和旋转屏蔽体等,机械结构会很复杂;如果选择旋转射线扫描扇面则需要克服射线发生装置和旋转屏蔽体的转动惯量,对旋转的驱动装置和旋转射线发生装置和旋转屏蔽体的轴承是个巨大考验。
还有,由于在现有技术中,辐射源例如X光机一般设置在旋转辐射体的内部,从而其扫描机构难于与现有X光机形成匹配接口,从而需要重新设计X光机的屏蔽体,增加了背散射扫描成像装置的成本。
发明内容
鉴于此,本发明的目的旨在解决现有技术中存在的上述问题和缺陷的至少一个方面。
相应地,本发明的目的之一在于提供一种背散射成像用射线束的扫描装置及方法,其通过一种新型的“飞点”形成结构,以实现背散射的射线束扫描。
本发明的另一目的在于提供一种能够形成连续直线运动飞点的射线束扫描装置及方法。
本发明的再一目的在于提供一种通过控制所述扫描准直孔在不同位置的形状,以控制穿过所述扫描准直孔出现到被检测对象上的射线束的截面形状的扫描装置和扫描方法。
根据本发明的一个方面,其提供一种背散射成像用射线束的扫描装置,包括:辐射源;分别位于辐射源和被扫描对象之间的固定屏蔽板和旋转屏蔽体,其中所述固定屏蔽板相对于辐射源是固定的,所述旋转屏蔽体相对于固定屏蔽板是可旋转的,其特征在于:所述固定屏蔽板上设置有允许来自所述辐射源的射线束穿过所述固定屏蔽板的射线通过区域,旋转屏蔽体上分别设置有射线入射区域和射线出射区域,在旋转屏蔽体旋转扫描过程中,固定屏蔽板的射线通过区域与旋转屏蔽体的射线入射区域和射线出射区域连续相交以构成扫描准直孔。
在一种优选实施方式中,所述固定屏蔽板的射线通过区域为直线缝隙,所述旋转屏蔽体为圆柱体,所述射线入射区域和所述射线出射区域为螺旋线缝隙。通过采用不同的螺旋线,可以在所述旋转屏蔽体匀速旋转时,能够使扫描准直孔沿直线缝隙以不同的速度分布做连续移动。
在一种具体实施方式中,所述固定屏蔽板设置在所述辐射源与所述旋转屏蔽体之间。
优选地,该背散射成像用射线束的扫描装置还包括:控制装置,通过控制旋转屏蔽体的旋转速度来控制射线束的扫描速度,通过检测旋转屏蔽体的转动角度来获取射线束的出射方向。
在一种具体实施方式中,通过控制旋转屏蔽体上的螺旋线缝隙的不同位置的宽度,控制所述扫描准直孔在不同位置的形状,以控制穿过所述扫描准直孔出现到被检测对象上的射线束的截面形状。
进一步地,所述扫描装置还包括用于驱动所述旋转屏蔽体旋转的驱动装置,并且所述旋转屏蔽体可为空心圆柱体或实心圆柱体。
具体地,所述旋转屏蔽体的旋转轴线可位于所述辐射源和所述固定屏蔽板上的所述直线缝隙共同限定的平面上。
根据本发明的另一方面,其提供一种背散射成像用射线束的扫描方法,包括步骤:提供发射射线束的辐射源;设置分别位于辐射源和被扫描对象之间的固定屏蔽板和旋转屏蔽体,其中所述固定屏蔽板相对于辐射源是固定的,所述旋转屏蔽体相对于固定屏蔽板是可旋转的,所述固定屏蔽板上设置有允许来自所述辐射源的射线束穿过所述固定屏蔽板的射线通过区域,在旋转屏蔽体上分别设置有射线入射区域和射线出射区域;以及旋转所述旋转屏蔽体,以使所述固定屏蔽板的射线通过区域与所述旋转屏蔽体的射线入射区域和射线出射区域连续相交以构成扫描准直孔。
优选地,所述方法还包括步骤:设置所述固定屏蔽板的射线通过区域为直线缝隙,设置所述旋转屏蔽体为圆柱体,所述射线入射区域和所述射线出射区域为螺旋线缝隙,其中当所述旋转屏蔽体匀速旋转时,能够使扫描准直孔沿直线缝隙连续移动。
在一种具体实施方式中,所述扫描方法还包括步骤:检测所述扫描准直孔的位置;以及基于对扫描准直孔的位置的检测来控制射线束的出射方向。
优选地,所述扫描方法还包括步骤:设置所述扫描准直孔,以使其始终相对于辐射源保持预定形状,从而穿过所述扫描准直孔出现到被检测对象上的射线束的截面形状为预定形状。
本发明的上述不特定的实施方式至少具有下述一个或者多个方面的优点和效果:
1.通过提供本发明中的具有新型“飞点”形成结构的扫描装置和方法,其简化了背散射扫描结构,同时能够获得良好的屏蔽效果。
2.在一种实施方式例中,本发明的扫描机构和方法可以实现对目标物体的可控扫描,能很方便的按照预定方式实现对目标物体的采样,使获得的背散射图像数据符合设计需求。例如,本发明的扫描机构和方法可以实现对目标物体的匀速扫描,能很方便的实现对目标物体的均匀采样,使获得的背散射图像中没有纵向的压缩变形。
3.另外,可以根据不同的应用需求制作具有不同螺旋线和缝隙的旋转屏蔽体,本发明的扫描机构中的旋转屏蔽体可以更换以适应不同的应用需求。
4.另外,由于在本发明中,当旋转射线扫描扇面以进行第二维扫描时,由于射线扫描扇面和旋转屏蔽体可在同一平面上作旋转运动,在旋转射线扫描扇面时不会改变旋转屏蔽体的角动量方向,因此不需要克服旋转屏蔽体的转动惯量,很容易通过旋转射线扫描扇面来实现第二维的扫描。
5.此外,由于在本发明中,辐射源不设置在旋转屏蔽体的内部,该扫描机构在量产的X光机上匹配机械接口即可完成,结构紧凑,不需要重新设计X光机的屏蔽体,节约了成本。
附图说明
图1是根据本发明的一种实施方式的背散射扫描装置的结构示意图。
图2是显示图1中的背散射扫描装置的剖视图;以及
图3是显示图1中的背散射扫描装置的组成和位置关系的分解透视图。
具体实施方式
下面通过实施例,并结合附图1-3,对本发明的技术方案作进一步具体的说明。在说明书中,相同或相似的附图标号指示相同或相似的部件。下述参照附图对本发明实施方式的说明旨在对本发明的总体发明构思进行解释,而不应当理解为对本发明的一种限制。
参加附图1-3,其示出了根据本发明的一种具体实施例的背散射成像用射线束的扫描装置,其包括:辐射源,例如X光机;分别位于辐射源13和被扫描对象(图中未示出,例如图2中左侧位置)之间的固定屏蔽板5和旋转屏蔽体1,其中固定屏蔽板4相对于辐射源13是固定的,旋转屏蔽体1相对于固定屏蔽板4是可旋转的。进一步地,固定屏蔽板4上设置有允许来自辐射源13的射线束穿过固定屏蔽板4的通过区域,例如1-3中的纵向缝隙5。旋转屏蔽体1上分别设置有射线入射区域,例如图1-3中的缝隙3,和射线出射区域,例如图1-3中的缝隙2,在旋转屏蔽体1旋转扫描过程中,固定屏蔽板4的射线通过区域5与旋转屏蔽体1的射线入射区域3和射线出射区域2连续相交以构成扫描准直孔。在上述实施例中,固定屏蔽板4设置在辐射源13与旋转屏蔽体1之间。
在本发明的上述实施例中,射线发生器包括射线发生器壳体11和容纳在射线发生器壳体11中的辐射源13。在上述结构中,辐射源13可以为X光机、γ射线源或同位素射线源等。。如图1和3所示,在一种具体实施例中,射线发生器壳体11呈大体长方体盒体形状,其上设置有使来自辐射源13发出的辐射射线从射线发生器壳体11的准直缝隙31出射。辐射源13的靶点P发射出的射线束14穿过准直缝隙31形成一个射线扇面,然后经过穿过固定屏蔽板4的通过区域,例如1-3中的纵向缝隙5;旋转屏蔽体1的射线入射区域,例如图1-3中的缝隙3,和射线出射区域,例如图1-3中的缝隙2。通过设置固定屏蔽板4的纵向缝隙5;旋转屏蔽体1的缝隙3和缝隙2的相对位置关系,以使在旋转屏蔽体1旋转扫描过程中,固定屏蔽板4的射线通过区域5与旋转屏蔽体1的射线入射区域3和射线出射区域2连续相交以构成扫描准直孔。换言之,旋转屏蔽体1上的射线出射螺旋窄缝2与射线入射螺旋窄缝3和固定屏蔽板上的纵向窄缝5共同组成一个射线准直孔。
如图1-3所示,固定屏蔽板4的射线通过区域5为直线缝隙,旋转屏蔽体1为圆柱体,射线入射区域3和射线出射区域2为螺旋线缝隙。具体地说,参见图2,图中射线入射区域3和射线出射区域2的任何一点例如A和B点,一方面沿旋转屏蔽体1的圆柱面作等速圆周运动,另一方面沿旋转屏蔽体1的径向方向按照一定速度分布做直线运动,从而形成特定的圆柱体螺旋线。在一种具体实施例中,图中射线入射区域3和射线出射区域2的任何一点例如A和B点,可以一方面沿旋转屏蔽体1的圆柱面作等速圆周运动,另一方面沿旋转屏蔽体1的径向方向按照作匀速直线运动,从而形成等速圆柱体螺旋线。
参见图2,当辐射源13的靶点P和射线入射区域3的A点确定之后,连接辐射源13的靶点P和射线入射区域3的入射点A点形成的射线束14,即可确定射线出射区域2上的出射点B。
由于射线入射区域3和射线出射区域2设置成等速圆柱体螺旋线缝隙,当旋转屏蔽体1匀速旋转时,射线准直孔的位置随屏蔽旋转体1的转动而移动,出射射线束14也随之移动,从而使扫描准直孔沿直线缝隙5连续匀速移动。
虽然,在上述实施方例中,射线入射区域3和射线出射区域2设置成等速圆柱体螺旋线缝隙,但是本发明并不仅限于此,例如由于射线入射区域3和射线出射区域2可以设置成上述特定形式的螺旋线缝隙,即一方面沿旋转屏蔽体1的圆柱面作等速圆周运动,另一方面沿旋转屏蔽体1的径向方向按照一定速度分布做直线运动,从而形成特定的圆柱体螺旋线。相应地,当旋转屏蔽体1匀速旋转时,射线准直孔的位置随屏蔽旋转体1的转动而移动,出射射线束14也随之移动,从而使扫描准直孔沿直线缝隙5按照预定的速度分布移动。由此,本发明的扫描装置可以实现对目标物体的可控扫描,能很方便的按照预定方式实现对目标物体进行采样,使获得的背散射图像数据符合设计需求,从而改善了背散射成像的质量和分辨率,提高了背散射检测的精度和效率,能更好的满足不同的应用需求。
进一步地,该扫描装置还可以包括用于驱动旋转屏蔽体1旋转的驱动装置6,例如调速电机等。为了减小了旋转屏蔽体1的转动惯量,在一种优选实施例中,旋转屏蔽体1设置为空心圆柱体形式。但是,本发明并且不仅限于此,例如旋转屏蔽体1也可以为实心圆柱体。
具体地,在上述实施例中,参见图1,该装置还可以包括旋转码盘读出装置7,用于检测旋转屏蔽体1的旋转位置;码盘读出信号线8,用于将检测的有关旋转屏蔽体1的旋转位置的信息输入到控制装置10中。由于旋转屏蔽体1的旋转位置决定了扫描准直孔的位置,通过上述设置,可以检测出扫描准直孔形成的位置。如图1所示,控制装置10还通过电动机驱动线9与驱动电机6相连,可以进一步来控制旋转屏蔽体的旋转。通过控制旋转屏蔽体的旋转速度,可以控制射线束的扫描速度,而通过检测旋转屏蔽体的转动角度,可以获取射线束的出射方向。参见图2,在一种实施例中,旋转屏蔽体1的旋转轴线L可以位于辐射源13和固定屏蔽板4上的直线缝隙5共同限定的平面上。如前所述,旋转屏蔽体1可以是实心圆柱体,或者具有一定的厚度的空心圆柱体。通过控制旋转屏蔽体上的螺旋线缝隙的不同位置的宽度,控制所述扫描准直孔在不同位置的形状,以控制穿过所述扫描准直孔出现到被检测对象上的射线束的截面形状。
例如,位于旋转屏蔽体1纵向两端螺旋窄缝2和3的宽度可以相对于位于纵向中心位置的狭缝的宽度要窄一些,同时位于旋转屏蔽体1纵向两端螺旋窄缝2和3形成的扫描准直孔相对于位于纵向中心位置的扫描准直孔形成一定的角度。通过上述结构,可以保证射线准直孔始终对准靶点并保持畅通,并且在不同位置时穿过扫描准直孔出现到被检测对象上的射线束的截面形状保持不变。但是,本发明并不仅限于此,例如通过控制旋转屏蔽体上的螺旋线缝隙的不同位置的宽度,可以控制所述扫描准直孔在不同位置的形状,相应地,可以控制穿过所述扫描准直孔出现到被检测对象上的射线束的截面形状为适应不同的扫描需求。
参见图3,射线发生器壳体11还可以通过屏蔽套筒12与固定屏蔽板4相连,以确保射线的屏蔽。从上述设置可以看出,辐射源13不设置在旋转屏蔽体1的内部,而是设置在射线发生器壳体11的内部,该扫描机构在量产的X光机上匹配作为机械接口的屏蔽套筒12即可完成,从而使扫描装置的结构紧凑,不需要重新设计X光机的屏蔽体,节约了成本。
下面结合附图对根据本发明的上述背散射成像用射线束的扫描方法进行简要说明:
参见图1-3,根据本发明的具体实施方式的背散射成像用射线束的扫描方法,包括步骤:提供发射射线束14的辐射源13;设置分别位于辐射源13和被扫描对象之间的固定屏蔽板4和旋转屏蔽体1,其中固定屏蔽板4相对于辐射源是固定的,旋转屏蔽体1相对于固定屏蔽板4是可旋转的,固定屏蔽板4上设置有允许来自辐射源13的射线束14穿过固定屏蔽板4的射线通过区域,在旋转屏蔽体1上分别设置有射线入射区域3和射线出射区域2;以及旋转旋转屏蔽体1,以使固定屏蔽板4的射线通过区域5与旋转屏蔽体1的射线入射区域3和射线出射区域2连续相交以构成扫描准直孔。
在上述扫描装置中,固定屏蔽板4的射线通过区域5为直线缝隙,旋转屏蔽体1为圆柱体,射线入射区域3和射线出射区域2为螺旋线缝隙,在上述扫描过程中,当旋转屏蔽体1匀速旋转时,能够使扫描准直孔沿直线缝隙5连续可控速度的移动。
参见图1,在扫描过程中,控制装置10通过旋转码盘读出装置7、码盘读出信号线8可读出旋转屏蔽体1的当前状态,进而确定当前射线准直孔的位置,基于对扫描准直孔的位置的检测,可以进一步获取射线束14的出射方向。更进一步地,通过设置扫描准直孔,以使其始终相对于辐射源13保持预定形状,从而穿过扫描准直孔出现到被检测对象上的射线束14的截面形状保持预定形状,以满足不同扫描操作的需求。
虽然本总体发明构思的一些实施例已被显示和说明,本领域普通技术入员将理解,在不背离本总体发明构思的原则和精神的情况下,可对这些实施例做出改变,本发明的范围以权利要求和它们的等同物限定。

Claims (8)

1.一种背散射成像用射线束的扫描装置,包括:
辐射源;
分别位于辐射源和被扫描对象之间的固定屏蔽板和旋转屏蔽体,其中所述固定屏蔽板相对于辐射源是固定的,所述旋转屏蔽体相对于固定屏蔽板是可旋转的,其特征在于:
所述固定屏蔽板上设置有允许来自所述辐射源的射线束穿过所述固定屏蔽板的射线通过区域,
旋转屏蔽体上分别设置有射线入射区域和射线岀射区域,在旋转屏蔽体旋转扫描过程中,固定屏蔽板的射线通过区域与旋转屏蔽体的射线入射区域和射线岀射区域连续相交以构成扫描准直孔,
所述旋转屏蔽体为圆柱体;
所述固定屏蔽板的射线通过区域为直线缝隙,
所述射线入射区域和所述射线岀射区域为螺旋线缝隙,
其中当所述旋转屏蔽体匀速旋转时,能够使扫描准直孔沿直线缝隙连续移动;
位于旋转屏蔽体纵向两端的螺旋线缝隙的宽度设置成相对于位于纵向中心位置的螺旋线缝隙的宽度窄,位于旋转屏蔽体纵向两端的螺旋线缝隙形成的扫描准直孔相对于位于纵向中心位置的扫描准直孔形成一定的角度。
2.根据权利要求1所述的背散射成像用射线束的扫描装置,其特征在于:
所述固定屏蔽板设置在所述辐射源与所述旋转屏蔽体之间。
3.根据权利要求2所述的背散射成像用射线束的扫描装置,其特征在于还包括:
控制装置,通过控制旋转屏蔽体的旋转速度来控制射线束的扫描速度,通过检测旋转屏蔽体的转动角度来获取射线束的出射方向。
4.根据权利要求1所述的背散射成像用射线束的扫描装置,其特征在于:
所述装置还包括用于驱动所述旋转屏蔽体旋转的驱动装置;以及所述旋转屏蔽体为空心或实心圆柱体。
5.根据权利要求1或4所述的背散射成像用射线束的扫描装置,其特征在于:
所述旋转屏蔽体的旋转轴线位于所述辐射源和所述固定屏蔽板上的所述直线缝隙共同限定的平面上。
6.一种背散射成像用射线束的扫描方法,包括步骤:
提供发射射线束的辐射源;
设置分别位于辐射源和被扫描对象之间的固定屏蔽板和旋转屏蔽体,其中所述固定屏蔽板相对于辐射源是固定的,所述旋转屏蔽体相对于固定屏蔽板是可旋转的,所述固定屏蔽板上设置有允许来自所述辐射源的射线束穿过所述固定屏蔽板的射线通过区域,在旋转屏蔽体上分别设置有射线入射区域和射线岀射区域;以及
设置所述旋转屏蔽体为圆柱体,
旋转所述旋转屏蔽体,以使所述固定屏蔽板的射线通过区域与所述旋转屏蔽体的射线入射区域和射线岀射区域连续相交以构成扫描准直孔;
设置所述固定屏蔽板的射线通过区域为直线缝隙,
所述射线入射区域和所述射线岀射区域为螺旋线缝隙,
其中当所述旋转屏蔽体匀速旋转时,能够使扫描准直孔沿直线缝隙连续移动;
位于旋转屏蔽体纵向两端的螺旋线缝隙的宽度设置成相对于位于纵向中心位置的螺旋线缝隙的宽度窄,位于旋转屏蔽体纵向两端的螺旋线缝隙形成的扫描准直孔相对于位于纵向中心位置的扫描准直孔形成一定的角度。
7.根据权利要求6所述的背散射成像用射线束的扫描方法,其特征在于:
所述固定屏蔽板设置在所述辐射源与所述旋转屏蔽体之间。
8.根据权利要求7所述的背散射成像用射线束的扫描方法,其特征在于还包括步骤:
通过控制旋转屏蔽体的旋转速度来控制射线束的扫描速度,通过检测旋转屏蔽体的转动角度来获取射线束的出射方向。
CN200910244502.8A 2009-12-30 2009-12-30 一种背散射成像用射线束的扫描装置和方法 Active CN102116747B (zh)

Priority Applications (9)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310541050.6A CN103558240B (zh) 2009-12-30 2009-12-30 一种成像用射线束的扫描装置和方法
CN200910244502.8A CN102116747B (zh) 2009-12-30 2009-12-30 一种背散射成像用射线束的扫描装置和方法
EP10840392.4A EP2520927B1 (en) 2009-12-30 2010-06-28 Scanning device using radiation beams for backscatter imaging and method thereof
PL10840392.4T PL2520927T3 (pl) 2009-12-30 2010-06-28 Urządzenie skaningowe wykorzystujące wiązki promieniowania do obrazowania rozproszenia wstecznego i sposób z nim związany
RU2012127343/28A RU2507507C1 (ru) 2009-12-30 2010-06-28 Сканирующее устройство с использованием пучка излучения для формирования изображения в режиме обратного рассеяния и способ его осуществления
PCT/CN2010/074570 WO2011079603A1 (zh) 2009-12-30 2010-06-28 一种背散射成像用射线束的扫描装置和方法
US13/519,305 US9194827B2 (en) 2009-12-30 2010-06-28 Scanning device using radiation beam for backscatter imaging and method thereof
HK12100110.1A HK1159752A1 (zh) 2009-12-30 2012-01-05 種背散射成像用射線束的掃描裝置和方法
ZA2012/04180A ZA201204180B (en) 2009-12-30 2012-06-07 Scanning device using radiation beam for backscatter imaging and method thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN200910244502.8A CN102116747B (zh) 2009-12-30 2009-12-30 一种背散射成像用射线束的扫描装置和方法

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201310541050.6A Division CN103558240B (zh) 2009-12-30 2009-12-30 一种成像用射线束的扫描装置和方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102116747A CN102116747A (zh) 2011-07-06
CN102116747B true CN102116747B (zh) 2014-04-30

Family

ID=44215613

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN200910244502.8A Active CN102116747B (zh) 2009-12-30 2009-12-30 一种背散射成像用射线束的扫描装置和方法
CN201310541050.6A Active CN103558240B (zh) 2009-12-30 2009-12-30 一种成像用射线束的扫描装置和方法

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201310541050.6A Active CN103558240B (zh) 2009-12-30 2009-12-30 一种成像用射线束的扫描装置和方法

Country Status (8)

Country Link
US (1) US9194827B2 (zh)
EP (1) EP2520927B1 (zh)
CN (2) CN102116747B (zh)
HK (1) HK1159752A1 (zh)
PL (1) PL2520927T3 (zh)
RU (1) RU2507507C1 (zh)
WO (1) WO2011079603A1 (zh)
ZA (1) ZA201204180B (zh)

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
PL2548207T3 (pl) * 2010-03-14 2020-07-13 Rapiscan Systems, Inc. Urządzenie do tworzenia wiązki
CN102393399B (zh) * 2011-08-24 2015-10-28 屈俊健 X射线飞点的形成装置和方法
CN103063691B (zh) * 2011-10-18 2014-11-12 北京睿思厚德辐射信息科技开发有限公司 双飞线多缝扫描背散射平面成像立体成像和自扫描成像装置
RU2617443C2 (ru) * 2012-07-05 2017-04-25 Америкен Сайнс Энд Энджиниринг, Инк. Коллиматор с изменяемым углом
CN103630947B (zh) * 2012-08-21 2016-09-28 同方威视技术股份有限公司 可监测放射性物质的背散射人体安检系统及其扫描方法
CN103776848B (zh) * 2012-10-24 2017-08-29 同方威视技术股份有限公司 射线发射装置和成像系统
FR3000211B1 (fr) * 2012-12-20 2015-12-11 Commissariat Energie Atomique Dispositif d'eclairage par balayage , dispositif d'imagerie le comportant et procede de mise en oeurvre
CN104865281B (zh) * 2014-02-24 2017-12-12 清华大学 人体背散射检查方法和系统
MY179518A (en) * 2014-03-07 2020-11-09 Powerscan Co Ltd Flying spot forming apparatus and design method
CN104898173B (zh) * 2014-03-07 2018-03-23 北京君和信达科技有限公司 一种飞点形成装置及设计方法
US11280898B2 (en) 2014-03-07 2022-03-22 Rapiscan Systems, Inc. Radar-based baggage and parcel inspection systems
MX2017006913A (es) 2014-11-25 2017-11-30 Rapiscan Systems Inc Sistema de gestion de seguridad inteligente.
CN105987920B (zh) * 2015-02-11 2019-10-08 北京君和信达科技有限公司 一种飞点形成装置及设计方法
US10714227B2 (en) * 2016-06-06 2020-07-14 Georgetown Rail Equipment Company Rotating radiation shutter collimator
CN107797155A (zh) * 2016-08-31 2018-03-13 合肥美亚光电技术股份有限公司 康普顿背散射检测装置
GB2572700A (en) 2016-09-30 2019-10-09 American Science & Eng Inc X-Ray source for 2D scanning beam imaging
BR112022001635A2 (pt) * 2019-08-02 2022-07-12 Videray Tech Inc Roda de corte de raio x fechada
EP3933881A1 (en) 2020-06-30 2022-01-05 VEC Imaging GmbH & Co. KG X-ray source with multiple grids
CN114476542B (zh) * 2022-01-12 2024-02-02 北京鸿仪四方辐射技术股份有限公司 一种螺旋轨道的辐照控制系统

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101113961A (zh) * 2006-07-27 2008-01-30 上海英迈吉东影图像设备有限公司 一种具有x射线背散射和断层扫描的成像系统
CN201285377Y (zh) * 2008-08-05 2009-08-05 同方威视技术股份有限公司 背散射成像用射线束扫描装置

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3808444A (en) * 1973-01-05 1974-04-30 Westinghouse Electric Corp X-ray contrast detection system
US4745631A (en) * 1982-12-27 1988-05-17 North American Philips Corp. Flying spot generator
DE3443095A1 (de) 1984-11-27 1986-05-28 Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg Anordnung zur untersuchung eines koerpers mit gamma- oder roentgenstrahlung
DE3829688A1 (de) 1988-09-01 1990-03-15 Philips Patentverwaltung Anordnung zur erzeugung eines roentgen- oder gammastrahls mit geringem querschnitt und veraenderlicher richtung
DE3908966A1 (de) * 1989-03-18 1990-09-20 Philips Patentverwaltung Anordnung zur erzeugung eines roentgen- oder gammastrahls mit geringem querschnitt und veraenderbarer lage
JPH05296946A (ja) 1992-04-21 1993-11-12 Fujitsu Ltd X線回折装置
US5493596A (en) 1993-11-03 1996-02-20 Annis; Martin High-energy X-ray inspection system
US6272206B1 (en) * 1999-11-03 2001-08-07 Perkinelmer Detection Systems, Inc. Rotatable cylinder dual beam modulator
US20040256565A1 (en) * 2002-11-06 2004-12-23 William Adams X-ray backscatter mobile inspection van
CN2645079Y (zh) * 2003-08-22 2004-09-29 貊大卫 一种反散射式x射线扫描仪
CN1207558C (zh) * 2003-08-22 2005-06-22 貊大卫 一种反散射式x射线扫描仪
CN200941097Y (zh) * 2006-07-27 2007-08-29 上海英迈吉东影图像设备有限公司 一种具有x射线背散射和断层扫描的成像装置
US7561666B2 (en) * 2006-08-15 2009-07-14 Martin Annis Personnel x-ray inspection system
CN201173903Y (zh) * 2008-03-14 2008-12-31 王经瑾 跳点扫描辐射成像装置
US8532259B2 (en) * 2008-04-17 2013-09-10 University Of Florida Research Foundation, Inc. Method and apparatus for computed imaging backscatter radiography
CN101644687A (zh) 2008-08-05 2010-02-10 同方威视技术股份有限公司 背散射成像用射线束扫描方法和装置
PL2548207T3 (pl) 2010-03-14 2020-07-13 Rapiscan Systems, Inc. Urządzenie do tworzenia wiązki
CN103958787B (zh) 2012-11-13 2015-12-02 株式会社小松制作所 液压挖掘机

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101113961A (zh) * 2006-07-27 2008-01-30 上海英迈吉东影图像设备有限公司 一种具有x射线背散射和断层扫描的成像系统
CN201285377Y (zh) * 2008-08-05 2009-08-05 同方威视技术股份有限公司 背散射成像用射线束扫描装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JP特开2005-214709A 2005.08.11

Also Published As

Publication number Publication date
EP2520927A4 (en) 2013-05-01
US20120288066A1 (en) 2012-11-15
HK1159752A1 (zh) 2012-08-03
WO2011079603A1 (zh) 2011-07-07
CN103558240B (zh) 2016-03-09
EP2520927A1 (en) 2012-11-07
RU2012127343A (ru) 2014-01-10
CN102116747A (zh) 2011-07-06
RU2507507C1 (ru) 2014-02-20
CN103558240A (zh) 2014-02-05
PL2520927T3 (pl) 2016-12-30
ZA201204180B (en) 2013-08-28
EP2520927B1 (en) 2016-03-23
US9194827B2 (en) 2015-11-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102116747B (zh) 一种背散射成像用射线束的扫描装置和方法
CN102565110B (zh) 一种背散射成像用射线束的扫描装置和方法
US6956925B1 (en) Methods and systems for multi-modality imaging
CN101644687A (zh) 背散射成像用射线束扫描方法和装置
US20070172031A1 (en) Concentric Dual Drum Raster Scanning Beam System and Method
JP2001228102A (ja) 放射線検査システム及び検査方法
JPH1151879A (ja) 非破壊検査装置
CN201285377Y (zh) 背散射成像用射线束扫描装置
CN202013328U (zh) 一种背散射成像用射线束的扫描装置
US11272894B2 (en) X-ray imaging device
RU2545095C1 (ru) Устройство для испускания лучей и система формирования изображений с данным устройством
JP4894359B2 (ja) X線断層撮像装置及びx線断層撮像方法
EP0188782B2 (en) Sectional radiography display method and apparatus
CN103728326A (zh) 一种背散射成像用射线束的扫描装置和方法
JP2005292047A (ja) X線断層撮像装置及びx線断層撮像方法
RU2172137C2 (ru) Способ вычислительной томографии и устройство для медицинской диагностики
JP2004045247A (ja) X線画像検査装置
JP4765354B2 (ja) X線断層撮像装置及びx線断層撮像方法
JP2002328102A (ja) 走査型x線顕微鏡
KR20200055341A (ko) 초점 가변형 멀티 콜리메이터
JPH02241437A (ja) Ct用架台装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
REG Reference to a national code

Ref country code: HK

Ref legal event code: DE

Ref document number: 1159752

Country of ref document: HK

C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
REG Reference to a national code

Ref country code: HK

Ref legal event code: GR

Ref document number: 1159752

Country of ref document: HK