JPH02273396A - タイミング回路 - Google Patents

タイミング回路

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JPH02273396A
JPH02273396A JP1345118A JP34511889A JPH02273396A JP H02273396 A JPH02273396 A JP H02273396A JP 1345118 A JP1345118 A JP 1345118A JP 34511889 A JP34511889 A JP 34511889A JP H02273396 A JPH02273396 A JP H02273396A
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    • GPHYSICS
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    • G11C7/22Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management 
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    • H03K5/13Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals
    • H03K5/135Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals by the use of time reference signals, e.g. clock signals
    • HELECTRICITY
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    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/15Arrangements in which pulses are delivered at different times at several outputs, i.e. pulse distributors
    • H03K5/15013Arrangements in which pulses are delivered at different times at several outputs, i.e. pulse distributors with more than two outputs

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 し産業上の利用分野〕 本発明は半導体メモリに関し、特K、そのようなメモリ
において読取シ及び書込みを制御するタイミング回路に
関する。
〔従来の技術及び発明が解決しようとする問題点〕
スタティックランダムアクセスメモリ(RAM)や、ダ
イナミックランダムアクセスメモリなどの半導体メモリ
においては、通常、メモリセルをアクセスするために、
複数の制御信号、すなわち、タイミング信号を使用する
。読取シ又は書込みのためにセルをアクセスすべきであ
るとき、たとえば、ノードをプリチャージしfcシ、分
離を実行したシ、センス増幅器を動作させるたどの目的
のために、それぞれ相前後して現われるいくつかの制御
信号が必要となる場合は多い。それらの信号のタイミン
グは重要であるが、メモリがさらに高速で動作されると
きには、より一層重要になる。
初期の半導体RAMでは、制御信号はチップ外で発生さ
れていた。現在のメモリの場合には、制御信号はチップ
内で発生される。たとえば、米国特許第3,778,7
84号を参照のこと。この1784号特許に記載されて
いる金属酸化物半導体(MOS)メモリにおいて紘、タ
イミング回路でタイミングセルを使用する。このセルは
、セルを使用しない場合にタイミング信号のタイミング
に大きく影響すると考えられるプロセスのばらつきを補
償するものであった。
米国特許第4,087,704号には、1つの制御信号
発生器の出力を使用して次の制御信号発生器を始動、す
なわち、トリガするようなダイナミックRAMのための
別のオンチップ制御信号構成が記載されている。この構
成によれば、それぞれの信号の間で確実に遅延が起こる
と共に、信号は所定の順序で発生する。
また、半導体メモリにおいては、ダミーセルを使用する
ことも一般的である。それらのセルは、たとえば、アレ
イ中の現実のセルと等しい量のローディング又はチャー
ジを実行する。ダミーセルは真のメモリセルと同じダイ
、すなわち、同じ基板に製造されるので、その特性は(
プロセスのばらつきに関係なく)現実のセルと実質的に
同じである。ダミーセルの一例は米国特許第3,959
,781号に記載されている。
後に明らかになることではあるが、本発明は、タイミン
グ回路に遅延を生じさせるために、実際の回路素子のモ
デルを採用する。1つのモデルの出力を別のモデルを動
作させるために使用する場合もある。1例を挙げれば、
ワード線そデルはセル読取シモデルにおける読取シを開
始させる。
〔問題点を解決するための手段〕
メモリにおけるデータのアクセスを制御するために複数
の制御信号を供給するタイミング回路を説明する。現時
点で好ましい実施例では、キャッシュメモリにおいて命
令及びデータをアクセスするためにタイミング信号が発
生され、タイミング回路はメモリと同じグイ上に製造さ
れる。第1の回路手段は、第1の入力信号を受信し、そ
の第1の入力信号に応答して第1の出力信号を供給する
ために使用される。それぞれが時間遅延を提供する複数
の第2の回路手段は、一般に、直列に結合される。それ
らの第2の回路手段のうち第1のものは第1の出力信号
を受信するように結合され、また、第2の回路手段のう
ち最後のものは第1の回路手段に第2の入力信号を供給
するように結合されている。第1の回路手段は第2の入
力信号に応答して第2の出力信号を供給する。第1の出
力信号と、第2の出力信号とは、それぞれ、少なくとも
1つの第2の回路手段によって遅延され、そのように遅
延された後に、メモリのアクセスを制御するための少な
くとも1つの制御信号を供給するように結合される。
現時点で好ましい実施例においては、第1の回路手段は
フリップフロップから構成され、第1の出力信号と、第
2の出力信号は7リツプフロツプの出力の立上υ端と、
立下シ端である。
〔実施例〕 以下、添付の図面を参照して本発明の詳細な説明する。
半導体メモリと共に使用する念めのタイミング回路につ
いて説明する。以下の説明の中では、本発明の理解を完
全にするために、特定のゲート論理外どの特定の詳細な
事項を数多く挙げるが、そのような特定の詳細な事項を
含まずとも本発明を実施しうろことは当業者には自明で
あろう。また、場合によっては、本発明を不必要に詳細
に述べることにより、かえってあいまいにしてしまうの
を避けるため、周知の回路をそれを象徴する形で示すこ
ともある。
本発明は金属酸化物半導体(MOS)技術によって、さ
らに詳細には、相補形MO8技術によって実現される。
本発明を実現するには、いくつかの周知のCMOSプロ
セスの中のいずれか1つをオ0用すれば良い。現時点で
実現されている形では、本発明はキャッシュメモリの一
部として使用され、そのキャッシュメモリのメモリセル
は普通のスタティックセルである。そのようなセルの1
つを第1図に示した。本発明を他のメモリにも使用でき
ることは自明であろう。本発明のタイミング回路を含め
て、メモリ全体は、同じ基板、すなわち、ダイに集積回
路として製造される。これは、プロセスのばらつきは1
つのダイではさほど大きく変動しないという点を利用し
たものである。従って、所定のダイに関して、タイミン
グ回路内のデバイスの特性はメモリアレイ中のデバイス
の特性に対して相対的にわかる。
本発明の利用 本発明の詳細な説明する前に、実際のメモリに本発明が
いかに利用されるかを知ることは本発明を理解する上で
有用である。第1図には、普通のスタティックメモリセ
ル12が示されている。このセルは、クロスカップリン
グされた1対のpチャネルトランジスタと、nチャネル
トランジスタとを具備する。メモリセルは、セレクトト
ランジスタ19及び26をそれぞれ介して、ビット線1
4及び15に結合されている。セレクトトランジスタの
ゲートはワード線13に結合される(又はワード線13
により形成される)3、ビット線はその列の他のセルに
結合され、ワード線は、同様に、その行の他のセルに至
る。
メモリは、アドレス信号を受信する自己時限再開酸ラッ
チ10を含む。これらのラッチは信号線29の制御ボー
ト信号によ多制御される。アドレスはデコーダ11によ
シ復号されるが、このデコーダは、ワード線タイミング
を制御する信号線31のワード線イネーブル(制御)信
号を受信する。
デコーダ11は、通常通υ、−度に1つのワード線をイ
ネーブルして、1行分のセルをアレイ中のそれぞれ対応
するビット線に結合させることができる。デコーダに対
するアドレス入力は、信号線31のワード線イネーブル
信号が動作している間は、変化しない。
ビット線14及び15は、信号線16の電位が低いとき
に、pチャネルトランジスタ20及ヒ21を介してプリ
チャージされる。トランジスタ22はビット線の電位を
等化する。
トランジスタ35及び36はビット線をセンス増幅器2
3から分離する。信号線17の信号はこの分離を制御す
るために使用される。センス増幅器23は、信号線1B
のSAS#信号によ多制御される通常のストローブ差動
増幅器である。この増幅器から信号線62及び63に発
生される出力は、データがセルから読取られるときに出
力データと、その補数を信号線64及び65にそれぞれ
提供するために、第2の増幅段に結合される。
データがセル12に書込まれる場合、セルがワド線13
によシ選択されたと仮定すると、信号線25の制御信号
はnチャネルトランジスタ66及び67を導通させて、
データイン線24をビット線14及び15を結合する。
データイン線24はインバータ27と、トランジスタ6
7とを介してビット線15に結合されている。インバー
タ2Tの出力端子は別のインバータ28に結合され、さ
らにはトランジスタ66を介してビット線14に結合さ
れている。
セル12からデータを読取るため又はセル12にデータ
を書込むために必要な制御信号は、本発明のタイミング
回路によシ発生されるが、それらの信号は第2図に示さ
れている。第1図の信号線16.17.18,25.2
9及び31に印加される制御信号は第2図に示されてい
る。信号を搬送する信号線と、その信号自体の双方を表
わすのに、同じ図中符号を使用しているが、信号波形を
信号線と区別する次めに数字の後にraJの文字を付し
である。このように、1例を挙げれば、第1図の信号線
12を介して搬送される信号は、第2図には、信号波形
17a として示される。
読取多動作と書込み動作は1つのタイミング信号の受信
後に起こる。(書込みイネーブル信号(第3図及び第4
図の信号線57)が動作している場合には、読取りでは
なく、書込みが起こる。)このタイミング信号は、第2
図には、rCLKJ波形30a として示され、また、
この信号を受信する信号線、すなわち、信号線3Gは第
3図及び第4図に示されている。この信号(波形30a
)は第2図の制御信号の発生を開始させる。従って、メ
モリサイクルの開始後、信号線16の信号は上昇して、
トランジスタ20.21及び22をオフすることによシ
ブリチャージを終了させる。同じように信号30aに応
答して発生された制御ボート信号29aはアドレスをラ
ッチ10にラッチする。
その結果、デコーダ11に提示されるアドレスのそれ以
降の変化は制限される。信号31aは、デコーダ11の
出力端子において、ワード線の中の1つ、たとえば、ワ
ード線13を選択させる。その後、センス増幅器がセン
ス増幅器ストローブ信号18aにより動作され、センス
動作が開始され次後、分離信号17aはトランジスタ3
5及び36の導通を中止させる。
書込み中には、センス増幅器ストローブ信号は発生され
ず、書込み選択信号25aが発生されて、トランジスタ
66及び67を導通させる。これによ〕、信号線24に
あるデータはピット線に結合されて、セルをその2つの
安定状態のうちいずれか一方にセットする。
本発明の概要 第3図に関して聯明すると、様々な制御信号の発生は信
号線30のクロック信号によシ開始される。この信号は
、サイクルイネーブル信号と共に、ワンショットマルチ
バイブレータ32に印加される。このワンショット回路
の出力端子はSRフリップフロップ33に結合されてい
る。とのフリップフロップのQ#出力端子はインバータ
を介して信号線31X  に結合されている。信号線3
1Xの信号は、付加緩衝部を通過後、第2図の信号波形
31m となる。(文字rXJは、その信号線が制御信
号を搬送する最終的な制御線になる前に、付加緩衝部に
結合されることを示す。すなわち、信号線31Xの信号
は、付加バッファ(たとえば、インバータ)を通過した
後、信号線31の信号31aとなる。) SR7リップ70ツブ33のQ出力端子は4つのインバ
ータを介してNORゲート44の二方の入力端子に結合
されている。このNORゲートの他方の入力端子は信号
線30からのクロック信号を受信する。NORゲート4
4の出力は、付加インバータを通過した後、信号線29
の制御ボート信号を形成する。(第3図及び第4図の回
路においては、複数のインバータを直列の状態で使用す
る場合が多い。これは、制御信号に時間遅延を与えると
共に、大容量負荷を駆動するために行われるのである。
) SRフリップフロップ33の出力端子は、点線の矩形の
中に示されている直列接続されたNANDゲートIQ6
 と、インバータ10了にも結合されている。これらの
回路素子は第1図のデコーダ11の1つのモデルである
。ここで採用されているモデリング方式については、ワ
ード線モデル、セルモデル、ビット線モデルなどの他の
モデルを見るほうが理解しやすいであろう。ただし、デ
コーダに関していえば、モデル3Tの2つのインバータ
を経るときの時間遅延は、デコーダ11を経るときの時
間遅延と等しい。モデル37の出力端子はワード線モデ
ル38に結合されると共に、3つのインバータを介して
NORゲート34の一方の入力端子にも結合される。N
ORゲート34の他方の入力端子は、SRフリップフロ
ップ33からのQ#倍信号受信する。NORゲート34
の出力(信号線16X)は、付加緩衛部を通過後、第2
図に示すプリチャージ#信号16a を形成する。
ワンショットマルチバイブレータ32V(クロック信号
30aが印加されると、クロック信号30aの持続時間
に関係な(SRフリップフロップ33をセットさせる1
つのパルスが発生される。これが起こったとき、SRフ
リップフロップ33のQ#端子の電位が降下するため、
NORゲート34の出力の電位は上昇し、その結果、プ
リチャージは停止する。Q信号がモデル3Tと、モデル
31をNORゲート34に結合している3つのインバタ
とを介して伝搬しても、この時点では、それによってN
ORゲート34の出力が変化することはない。モデル3
7の出力は、他のモデル(後述する)を介して伝搬した
後、NORゲート4γに達し、SRフリップフロップ3
3を信号線60を介してリセットさせる。これが起こっ
たとき、Q#端子の電位は上昇するが、それ単独ではN
ORゲート34の出力を変化させられない。NORゲー
ト34の出力は、Q端子からの信号の立下シ端がNOR
ゲート34に達する前に、モデル37及び3つのインバ
ータを介して伝搬するまで、変化しない。この伝搬が起
これば、ゲートの出力の電位は降下して、プリチャージ
を開始させる。
読取りサイクル又は書込みサイクルの開始時に、デコー
ダモデル37を経る遅延が、ビット線モデル検出器42
の出力端子に発生される信号(信号線17X/18X)
などのいくつかの制御信号を、SRフリップフロップ3
3がセットされるときのデコーダモデルを経る遅延のた
めに遅延させることは重要であシ、注目すべきである。
サイクルの終了時に、SRフリップフロップ33がリセ
ットされると、デコーダモデル37を経る遅延は、今回
は、NORゲート34の出力端子において充電サイクル
の開始を遅らせるために、再び使用される。(SRフリ
ップフロップ33の出力の立上多端と立下り端とがそれ
ぞれ遅延される。)従って、モデル3Tの遅延及び他の
モデルと関連する他の遅延は、所定の1つのサイクルの
中で2度、すなわち、SRフリップフロップ33がセッ
トされるときに1度、そして、たとえば、第2図に示す
制御信号に立上り端と立下シ端を供給するのを助ける念
めにSRフリップフロップ33がリセットされるときに
もう1度、使用されることになる。モデルを経る遅延は
、SR7リップ70ツブ33をリセットするためにも使
用される。
デコーダモデル37の出力端子はワード線モデル38に
結合されている。ワード線モデルについては、第5図を
参照して説明する。ワード線モデルの出力端子はセル読
取りモデル41と、セル書込みモデル49とに結合され
ている。本発明の現時点で好ましい実施例においては、
デコーダモデル及びワード線モデルは、読取9制御信号
と書込み制御信号の双方を発生するために使用される。
しかしながら、読取9及び書込みのための制御信号のう
ちいくつかを発生するビット線モデルや、セルモデルも
別個に設けられている。さらに、書込み中は、書込みド
ライバモデル43が使用される。
読取シサイクルタイミング回路の場合、ワード線モデル
38の出力は、ビット線読取りモデル40に結合されて
いるセル読取υモデル41を制御する。ビット線読取υ
モデルとセル読取シモデルは、後述するようK、読取シ
中にビット線とセルを「再現する」。ビット線検出器モ
デル42はセル読取りモデル及びビット線読取シモデル
に結合されている。このモデルの出力端子はNORゲー
ト47の一方の入力端子に結合されると共に、緩衝部を
通過した後に第2図の制御信号17a及び18mを形成
するような信号を信号線17X/18Xに発生する。
ワード線モデル38の出力端子はセル書込みモデル49
にも結合されている。このモデルは、モデル40とは異
なるビット線書込みモデル48に結合される。セル書込
みモデル49の出力端子はNORゲー)47に直接結合
されている。
書込みイネーブル信号はNANDゲート50の一方の入
力端子に印加される。このゲートはSRフリップフロッ
プ33のQ出力をさらに受信する。
NANDゲート50の出力は、ゲート54に対する入力
の一方を形成する。この信号は、インバータ11B及び
119を通過した後、ゲート54の他方の入力端子に結
合される。インバータ119 の出力端子は1つの付加
インバータ120に結合され、さらには書込みドライバ
モデル43に結合されている。信号線57にある信号の
補数はセル読取シモデルに結合され、第4図かられかる
ように、この信号はモデル40にも結合されて、書込み
サイクル中のそれらのモデルの動作を阻止するために使
用される。ゲート54の出力は、緩衝後、書込みパルス
(信号25a)を形成する。
本発明の好ましい実施例 本発明はキャッシュメモリに使用される。このメモリは
2つのセクション、すなわち、データセクションと、命
令セクションとを有し、各セクションはデータ/命令を
記憶するアレイと、タグ情報を記憶するプレイの2つの
アレイを含む。各セクションのそれぞれのアレイは、第
3図及び第4図に示すような独自のタイミング回路を有
する。
第4図の特定の回路は、データセクションのタグアレイ
に適用するタイミング回路である。その他のタイミング
回路も実質的には同じでおるが、主な違いは、読取シモ
ードと書込みモードでビット線モデルに使用されるデバ
イスの数にある。
データタグアレイは各ビット線に結合された128個の
セルを有する。読取9モードではそのビット線モデルは
32個のデバイスを使用しく第6図を参照)、書込みモ
ードに関しては64個のデバイスを使用する。データア
レイは各ビット線に結合された256個のセルを有し、
そのビット線読取υモデルでは64個のデバイスを使用
し、ビット線書込みモデルでは64個のデバイスを使用
する。命令タグアレイは各ビット線に結合されfc12
8個のセルを有し、そのビット線読取シモデルで16個
のデバイスを使用し、ビット線書込みモデルでは64個
のデバイスを使用する。ま次、命令アレイは各ビット線
に結合された256個のセルを有し、そのビット線読取
りモデルで80個のデバイスを使用し、ビット線書込み
モデルでは168個のデバイスを使用する。従って、ど
の場合にも、ビット線書込みモデルは、実際のビット線
にはよシ多くのデバイスが結合されているという点で、
実際のビット線よシ縮小されることになる。
ワード線モデルとビット線モデル ワード線モデル(第3図及び第4図のモデル38)はフ
ルスケールモデルである。すなわち、これは、アレイに
おいて使用される実際のワード線の再現である。モデル
は第5図に示した信号線から構成され、その線にトラン
ジスタ69.70及び71彦どの複数のトランジスタが
結合されている。現時点で好ましい実施例においては、
ワード線それ自体は多結晶シリコン(ポリシリコン)か
ら製造され、ワード線に固有の抵抗は抵抗器73として
示されている。同じ抵抗はワード線のモデルにも存在し
ている。ワード線モデルに接続されるトランジスタ69
などのトランジスタは、それぞれ、ワード線に結合され
るセレクトトランジスタと同じ大きさである(すなわち
、チャネル幅及びチャネル長が等しい)。従って、モデ
ルの1ランジスタは第1図のトランジスタ19と同じ大
きさということになる。第1図に示す通シ、1つのセル
は1対のトランジスタを介して選択されるので、ワード
線に接続されるセルごとに、ワード線モデルには、信号
線72に結合する2つのトランジスタがおる。(128
ビット幅のワードの場合、各ワード線には256個のト
ランジスタが結合されている。)従って、ワード線モデ
ルはアレイ中の実際の1つのワード線と同じキャパシタ
ンスを示す。尚、このキャパシタンスは、実際のメモリ
アレイにおいては、通常起こるプロセスのばらつきによ
って、ダイごとに変動する。モデルは実際のキャッシュ
メモリと同一のダイを使用して製造されるため、変動は
ワード線モデルにおける変動と整合しておシ、この点は
重要である。
第6図のビット線モデルは、信号線75に結合されたト
ランジスタ73及び74などの複数のトランジス′りを
含む。各トランジスタのゲートである一方の端子は接地
され、各トランジスタの他方の端子は信号線75に結合
されている。これらのnチャネルトランジスタは第1図
のトランジスタ19に対応するものであり、よって、ビ
ット線に沿った選択されないセルのローディングを再現
する。前述のように、これらのトランジスタの中で使用
される数はビット線モデルにおいては実際のアレイの場
合よシ少なくなる。すなわち、トランジスタは規模を縮
小される。第6図のピット線モデルは第4図のビット線
読取シモデル40と、ビット線書込みモデル48とに使
用される。
次に、第4図に関して説明すると、第3図のワンショッ
トマルチバイブレータ32と、SRフリップフロップ3
3とが点線の矩形32/33の中に示されている。入力
信号線30は3つのインバタ75.76及び77を介し
て結合されておシ、それぞれのインバータの出力端子に
キャパシタンスロープインクがある。インバータ77は
nチャネルトランジスタ80のゲートに結合されている
イネーブル信号はnチャネルトランジスタ81のゲート
に結合される。信号線30はnチャネルトランジスタ7
9のゲートとも共通である。NORゲート41からのリ
セット信号はpチャネルトランジスタ78のゲートに結
合される。トランジスタ7B、79.80及び81は直
列に結合されている。インバータ83及び84はラッチ
を形成し、そのQ出力はインバータ84の出力端子によ
り供給され、Q′I#出力はインバータ83の出力端子
によシ供給される。
信号線29X は3′)のインバータを介して7リツプ
フロツブのQ出力端子に結合されている。第3図に示す
通り、この信号線は、クロック信号が現われるまで信号
29a が発生しないように保証するために、NORゲ
ート44においてクロック信号と、再度、有効にAND
される。
信号線31Xの信号は、インバータを通過した後のフリ
ップフロップのQ#比出力ある。
NORゲート34は第4図にも示されておシ、その出力
端子はインバータ100及び101を介して結合されて
、信号線16X  に信号を供給する。
信号線16X はインバータ102及び103を介して
pチャネルトランジスタ104のゲートに結合されて、
信号線18X  にセンス増幅器ストローフ信号を供給
する。インバータ105の出力は、この信号を、書込み
モードの間は非動作状態に維持する。
SRフリップフロップ33のQ出力はNANDゲート1
06及び50の一方の入力端子にそれぞれ結合される。
デコーダモデルはNANDゲート106と、インバータ
107 とから構成される。その出力端子は第5図に示
すワード線モデル38に結合されると共に、3つのイン
バータを介してNORゲート34の他方の入力端子に結
合されている。
SRフリップフロップ33のQ15力は、ビット線読取
シモデル40及びセル読取υモデル41をプリチャージ
する目的にも使用される。これは、SRフリップフロッ
プ33のQ#比出力一方の入力として受信するNORゲ
ート86を介して行われる。NORゲート86の出力端
子は2つのインバータを介して信号線89に結合されて
いる。ビット線読取υモデル40はトランジスタ90を
介して充電され、また、セル読取シモデルは、同様に信
号線89に結合されているトランジスタ91を介して動
作される。信号ill!89の信号は、ロー状態である
とき、ビット線読取りモデルをプリチャージし、続いて
ハイ状態に遷移するときに、トランジスタ91を介して
セル読取υモデルを動作させる。信号線57の信号がN
ORゲート86の他方の入力端子に結合されるため、ビ
ット線読取り七デルとセル読取りモデルは書込みサイク
ルの間は動作されない。
ワード線モデル38の出力端子は、読取シ中のビット線
に沿った単一のセルの選択を再現するために、トランジ
スタ92のゲートに結合されている。このように、セル
読取シモデル41においては、トランジスタ92はセレ
クトトランジスタの拡大バージョンであり、一方、トラ
ンジスタS1はセル自体のnチャネルトランジスタの中
の1つの拡大バージョンである。セル読取υモデルはビ
ット線読取シモデル40に「ドライブ」を与えて、イン
バータ108の入力端子に結合される出力信号を発生さ
せる。読取シサイクルの間、壕ず、ビット線読取りモデ
ル40は充電され、次に、トランジスタ91及び92か
ら構成されるセル読取少モデルを介して放電される。ビ
ット線モデル検出器はインバータ108,109及び1
10を含む。セル読取少モデルは、アレイ中の実際のセ
ルのほぼ2倍の量のドライブを提供する。この場合にも
、モデルは実際のセルと同じダイを使用して処理される
ので、モデルの特性は実際のセルの特性と同じように変
化する。ドライブが大きいことと、ビット線読取シモデ
ル40のキャパシタンスが実際のビット線より低いこと
によって、インバータ108の入力端子に発生する信号
は、アレイ中の実際のビット線に現われる信号よシ大き
い。このため、検出器(インバータ108.109及び
110)を比較的簡単なものにすることができる。より
大きな信号が現われているので検出は容易になり、また
、タイミング信号の発生も、そのスピードと信頼性を増
す。
インバータ110の出力端子は読取シモードの間にリセ
ット信号を供給するためにNORゲート4Tの一方の入
力端子に結合されると共に、2つのインバータを介して
ゲート111 に結合されている。ゲート111の出力
端子は、信号線17Xからの分離信号17a を供給す
るために、複数のインバータを介して結合されている。
書込み選択信号は、前述のように、書込みモードの間に
信号線5Tに印加される。この信号はNANDゲート5
0に結合され、さらには、3つのインバータを介して信
号線113に結合される。
この信号は、SRフリップフロップ33のQ出力によっ
て、NANDゲート50を介して有効にゲートされる。
信号線113は書込みモードの間を除いてローの状態に
あるため、トランジスタ112は、ビット線書込みモデ
ル48が確実に充電されるように保証する。書込みモデ
ルが選択されると、トランジスタ112はオフし、書込
みドライバモデル43は信号線113の信号と、信号線
5Tの信号とにより動作される。トランジスタ114 
及び115はビット線を駆動する書込み駆動回路、詳細
にいえば、第1図のインバータ2〔寝トランジスタ66
と関連する回路を再現するものである。
セル書込みモデルはトランジスタ95及び96と、イン
バータ97及び98とから構成される。
このモデルはトランジスタ99を介して充電される。セ
ル書込みモデル49に対するワード線入力は、セレクト
トランジスタを再現するものであるトランジスタ95及
び96のゲートに結合される。
セル自体はインバータ97及び98によシ表わされる。
インバータ116は、セルがデータ信号によシ「セット
」された時点を検出し、このインバータの出力は、NO
Rゲー)47を経て、書込みモードの間の8Rフリツプ
フロツプ33に対するリセット信号を形成する。信号線
57のN ANDゲート50を通過した後の信号と、こ
の信号を遅延させた信号(遅延はインバータ118及び
119によシ得られる)とは、ゲート54に結合される
ゲート50の出力は書込み選択信号25a (信号線2
5x)を形成する。
ゲート54に対する入力はゲート11Tの入力端子にも
結合される。ゲート117の出力は、ゲ−ト111及び
3つのインバータを通過した後に、書込みモードの間の
分離信号を形成する。
書込みモードの間、前述のように、ビット線書込みモデ
ル48は実線の信号線と比べて縮小されている。書込み
ドライバモデル43も縮小されている。たとえば、ゲー
ト116の入力端子で見られる信号波形は、2つのモデ
ル43及び48の縮小が互いに補償し合うため、アレイ
中で見られる実際の波形を再現し九ものである。
デコーダモデル3T及びワード線モデル38と関連する
遅延は、アレイ中の実際のデコーダ及びワード線と関連
する遅延と等しい。また、ビット線読取シモデル及びセ
ル読取シモデルと関連する遅延も、実際のビット線及び
セルと関連する遅延と等しい。時間遅延のこのような等
側柱は書込みモ□デルについても成立する。このように
、第4図の回路は、時間に関して、現実のプレイと関連
する遅延と等しい遅延を示す。第4図の回路は実際のプ
レイと同じダイで形成されるので、タイミング回路は、
プロセスのばらつきによって、アレイの回路と同じ程度
に、同じ方向に影響を受ける。
従って、九とえば、特定のメモリが大きなキャパシタン
スを有し、且つ他のものよυ遅い速度で動作する場合に
は、関連するタイミング回路もそれに準する。
第4図の信号線1ax、17X、 1sx、zsx及び
51Xの制御信号は、時間的には、プレイに印加される
制御信号に先立って起こる。これは、前述の通シ、それ
らの信号が実際にアレイに結合される前に付加緩衝部(
たとえば、インバータ、ゲートなど)に結合されるため
に必要なのである。これらの信号が時間的に先に発生し
なければならないので、タイミング回路の動作全体は、
同じ量の時間を要するとはいえ、よシ早い時点へずらさ
れる。とれは、信号線30の信号に、それがタイミング
回路に結合される前によシ短い遅延を与えることによっ
て、簡単に実行される。
以上、タイミング信号をメモリアレイに供給するスクー
ルモデルを含む複数のモデルを含むタイミング回路を説
明した。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明により発生される制御信号をオU用す
るメモリアレイの一部を説明するために使用される、メ
モリセル並びにそれと関連するワード線、ビット線、セ
ンス増幅器及び書込み回路の概略的回路図、第2図は、
本発明のタイミング回路によ多発生される複数の波形を
示す図、第3図は、本発明のタイミング回路の全般ブロ
ック線図、第4図は、本発明の現時点で好ましい実施例
の概略的回路図、第5図は、本発明と共に使用されるワ
ード線モデルを示す概略的回路図、第6図は、本発明と
共に使用されるビット線モデルの概略的回路図である。 32・・・・ワンショットマルチバイブレータ、33・
・・・ SRフリップフロップ、34,44゜41・・
・・NORゲート、37・φe・アコーダモデル、38
・・・・ワード線モデル、40・・・・ピッ) 461
読取りモデル、41・・・・セル読取シモデル、42・
・・・ビット線モデル検出器、43・・・・誉込みドラ
イバモデル、48・・・・ヒラ)線書込ミモデル、49
・−e畳セル書込みモデル、50,54,106−−−
@ NAND  ゲート、 107,118,119,
120・ ・ ・ −インバータ。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)メモリからのデータのアクセスを制御するために
    複数の制御信号を供給するタイミング回路において、 第1の入力信号を受信し、前記第1の入力信号に応答し
    て第1の出力信号を発生する第1の回路手段と; それぞれが時間遅延を提供し、互いに直列に結合されて
    、その第1のものが前記第1の出力信号を受信するよう
    に結合され、最後のものが前記第1の回路手段に第2の
    入力信号を供給するように結合される複数の第2の回路
    手段とを具備し、前記第1の回路手段は前記第2の入力
    信号に応答して第2の出力信号を発生し; 前記第1の出力信号と、前記第2の出力信号とは、それ
    ぞれ、前記第2の回路手段の中の少なくとも1つによつ
    て遅延され、そのように遅延された後に、前記制御信号
    の中の少なくとも1つを供給するように結合されている
    タイミング回路。
  2. (2)メモリからのデータのアクセスを制御するために
    複数の制御信号を供給するタイミング回路において、 フリップフロップと; 前記フリップフロップに結合されており、それぞれが、
    前記メモリに遅延を再現するような時間遅延を提供する
    複数の遅延素子とを具備し、前記遅延素子の1つからの
    出力は前記フリップフロップに結合されて、前記フリッ
    プフロップをリセットし、 前記遅延素子のうち別のものからの出力は、前記フリッ
    プフロップがセットされたときに第1の制御信号を供給
    し、前記フリップフロップがリセットされたときには第
    2の制御信号を供給し、前記第1の制御信号及び前記第
    2の制御信号は前記メモリからのデータのアクセスを制
    御するために使用されるタイミング回路。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003007055A (ja) * 2001-06-15 2003-01-10 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置

Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6112287A (en) * 1993-03-01 2000-08-29 Busless Computers Sarl Shared memory multiprocessor system using a set of serial links as processors-memory switch
US6324120B2 (en) 1990-04-18 2001-11-27 Rambus Inc. Memory device having a variable data output length
IL96808A (en) 1990-04-18 1996-03-31 Rambus Inc Introductory / Origin Circuit Agreed Using High-Performance Brokerage
US5995443A (en) * 1990-04-18 1999-11-30 Rambus Inc. Synchronous memory device
US6751696B2 (en) 1990-04-18 2004-06-15 Rambus Inc. Memory device having a programmable register
US5799186A (en) * 1990-12-20 1998-08-25 Eastman Kodak Company Method and apparatus for programming a peripheral processor with a serial output memory device
US5386150A (en) * 1991-11-20 1995-01-31 Fujitsu Limited Tracking pulse generator and RAM with tracking precharge pulse generator
IT1252017B (it) * 1991-11-28 1995-05-27 Sgs Thomson Microelectronics Struttura circuitale a registri distribuiti con lettura e scrittura autotemporizzate
DE69327612T2 (de) * 1992-05-08 2000-08-31 Nat Semiconductor Corp Schaltung und Verfahren zur Generierung eines stabilen Taktsignals mit Frequenzvervielfachung
US5268863A (en) * 1992-07-06 1993-12-07 Motorola, Inc. Memory having a write enable controlled word line
JP2605576B2 (ja) * 1993-04-02 1997-04-30 日本電気株式会社 同期型半導体メモリ
US5440514A (en) * 1994-03-08 1995-08-08 Motorola Inc. Write control for a memory using a delay locked loop
US5440515A (en) * 1994-03-08 1995-08-08 Motorola Inc. Delay locked loop for detecting the phase difference of two signals having different frequencies
US5416744A (en) * 1994-03-08 1995-05-16 Motorola Inc. Memory having bit line load with automatic bit line precharge and equalization
US5402389A (en) * 1994-03-08 1995-03-28 Motorola, Inc. Synchronous memory having parallel output data paths
US5384737A (en) * 1994-03-08 1995-01-24 Motorola Inc. Pipelined memory having synchronous and asynchronous operating modes
US5487038A (en) * 1994-08-15 1996-01-23 Creative Integrated Systems, Inc. Method for read cycle interrupts in a dynamic read-only memory
EP0709774A1 (en) * 1994-10-27 1996-05-01 STMicroelectronics S.r.l. Method and circuit for detecting a fault in a clock signal for microprocessor electronic devices including memory elements
DE69630671D1 (de) * 1996-03-29 2003-12-18 St Microelectronics Srl Impulserzeugungsschaltung für synchrone Datenladung in einen Vorverstärkerpuffer, insbesonders für Speicheranordnungen
KR100412061B1 (ko) * 1996-03-30 2004-04-06 삼성전자주식회사 싱크 디램 데이타 패스에서의 시스템 클럭 동기 방법
JP3410922B2 (ja) * 1996-04-23 2003-05-26 株式会社東芝 クロック制御回路
EP0805452B1 (en) * 1996-04-29 2003-09-24 STMicroelectronics S.r.l. Circuit for read-enabling a memory device synchronously with the reaching of the minimum functionality conditions of the memory cells and reading circuits, particularly for non-volatile memories
US5668766A (en) * 1996-05-16 1997-09-16 Intel Corporation Method and apparatus for increasing memory read access speed using double-sensing
US6018794A (en) * 1997-04-30 2000-01-25 Arm Limited Data processing apparatus and method for generating timing signals for a self-timed circuit
US6016534A (en) * 1997-07-30 2000-01-18 International Business Machines Corporation Data processing system for controlling operation of a sense amplifier in a cache
US6230236B1 (en) * 1997-08-28 2001-05-08 Nortel Networks Corporation Content addressable memory system with cascaded memories and self timed signals
US6122707A (en) * 1997-09-04 2000-09-19 Nortel Networks Corporation Content addressable memory system with self-timed signals and cascaded memories for propagating hit signals
US6072732A (en) * 1998-10-30 2000-06-06 Stmicroelectronics, Inc. Self-timed write reset pulse generation
US6836420B1 (en) * 2002-03-04 2004-12-28 Synplicity, Inc. Method and apparatus for resetable memory and design approach for same
US7458040B1 (en) * 2005-09-01 2008-11-25 Synopsys, Inc. Resettable memory apparatuses and design
EP2090596A1 (de) * 2008-02-13 2009-08-19 Construction Research and Technology GmbH Copolymer mit Polyetherseitenketten und Hydroxyalkyl- und Säurebausteinen
US20110051485A1 (en) * 2009-08-28 2011-03-03 International Business Machines Corporation Content addressable memory array writing
US7948782B2 (en) * 2009-08-28 2011-05-24 International Business Machines Corporation Content addressable memory reference clock
TWI488192B (zh) 2011-11-10 2015-06-11 Ind Tech Res Inst 非揮發性記憶體的寫入時序控制電路和控制方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62132292A (ja) * 1985-12-02 1987-06-15 Seiko Epson Corp アドレス遷移検出回路

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3778784A (en) * 1972-02-14 1973-12-11 Intel Corp Memory system incorporating a memory cell and timing means on a single semiconductor substrate
US3959781A (en) * 1974-11-04 1976-05-25 Intel Corporation Semiconductor random access memory
US4087704A (en) * 1974-11-04 1978-05-02 Intel Corporation Sequential timing circuitry for a semiconductor memory
US4063078A (en) * 1976-06-30 1977-12-13 International Business Machines Corporation Clock generation network for level sensitive logic system
US4496861A (en) * 1982-12-06 1985-01-29 Intel Corporation Integrated circuit synchronous delay line
US4558435A (en) * 1983-05-31 1985-12-10 Rca Corporation Memory system
JPS60125998A (ja) * 1983-12-12 1985-07-05 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
US4689772A (en) * 1985-10-30 1987-08-25 International Business Machines Corporation Read complete test technique for memory arrays
US4882505A (en) * 1986-03-24 1989-11-21 International Business Machines Corporation Fully synchronous half-frequency clock generator

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62132292A (ja) * 1985-12-02 1987-06-15 Seiko Epson Corp アドレス遷移検出回路

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003007055A (ja) * 2001-06-15 2003-01-10 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置

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Publication number Publication date
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GB8924747D0 (en) 1989-12-20
GB2226721A (en) 1990-07-04

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