JPH0226190B2 - - Google Patents
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- JPH0226190B2 JPH0226190B2 JP55183749A JP18374980A JPH0226190B2 JP H0226190 B2 JPH0226190 B2 JP H0226190B2 JP 55183749 A JP55183749 A JP 55183749A JP 18374980 A JP18374980 A JP 18374980A JP H0226190 B2 JPH0226190 B2 JP H0226190B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
- G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、自動分析装置に於ける試料蒸発分の
データの補正に関するものである。
データの補正に関するものである。
従来、自動化学分析装置に於いて多数の被検試
料をサンプルトレイ、サンプルターレツト、サン
プルカツプチエーン等にセツトしてから測定のた
めに分注するまでの試料の蒸発による濃度変化が
生じる。この濃度変化は測定結果に悪影響を与
え、特に微量の試料を処理する場合には重大とな
る。このような濃度変化を防ぐ為に第１図の縦断
面図に示す様に、トレイ１の底部に水を浸したス
ポンジ２を設け、その上にパンチングボード３を
敷き、その上にカツプホルダ４内に収容した試料
カツプ５を裁置し、トレイ１の上部をカバー６で
覆うことが提案されている。そしてトレイ１の周
囲の湿度を上げて試料の蒸発そのものを少なくす
る構成としている。しかしながら上記の方法では (a) 蒸発分を完全に防げない。
料をサンプルトレイ、サンプルターレツト、サン
プルカツプチエーン等にセツトしてから測定のた
めに分注するまでの試料の蒸発による濃度変化が
生じる。この濃度変化は測定結果に悪影響を与
え、特に微量の試料を処理する場合には重大とな
る。このような濃度変化を防ぐ為に第１図の縦断
面図に示す様に、トレイ１の底部に水を浸したス
ポンジ２を設け、その上にパンチングボード３を
敷き、その上にカツプホルダ４内に収容した試料
カツプ５を裁置し、トレイ１の上部をカバー６で
覆うことが提案されている。そしてトレイ１の周
囲の湿度を上げて試料の蒸発そのものを少なくす
る構成としている。しかしながら上記の方法では (a) 蒸発分を完全に防げない。
(b) トレイ１の周囲の湿度が変化すると蒸発の量
が変化する。
が変化する。
(c) トレイ１を防水する必要がある。
(d) セツト自体、手間がかかる。
等の欠点がある。さらに従来の試料蒸発による濃
度変化を防ぐ為の方法の一つとして、第２図の試
料カツプの縦断面図に示す様に、試料カツプ５の
上部に薄膜又はスリツトの入つた開閉ふた７を設
け、注射針の様なプローブ８で開閉ふた７を押し
あけて試料９内に挿入する方法である。又は、開
閉ふた７の部分が前述の薄膜又はスリツトの入つ
たふたをプローブ８で突き破り試料９内に挿入す
る。かくして試料分注が行なわれるまで試料９が
試料カツプ５外へ蒸発するのを防止し、試料９の
吸引を行なう方法がある。しかしながらこの方法
でも (a) プローブ８の先端に力がかかるので、プロー
ブ８自体変形、破損を生じやすく従つて分注精
度は悪化する。
度変化を防ぐ為の方法の一つとして、第２図の試
料カツプの縦断面図に示す様に、試料カツプ５の
上部に薄膜又はスリツトの入つた開閉ふた７を設
け、注射針の様なプローブ８で開閉ふた７を押し
あけて試料９内に挿入する方法である。又は、開
閉ふた７の部分が前述の薄膜又はスリツトの入つ
たふたをプローブ８で突き破り試料９内に挿入す
る。かくして試料分注が行なわれるまで試料９が
試料カツプ５外へ蒸発するのを防止し、試料９の
吸引を行なう方法がある。しかしながらこの方法
でも (a) プローブ８の先端に力がかかるので、プロー
ブ８自体変形、破損を生じやすく従つて分注精
度は悪化する。
(b) 試料カツプ５に開閉ふた７をする工数がかか
る。
る。
(c) プローブ８先端で手を傷つける等安全性上か
ら好ましくない。特に動作中は、プローブ８を
手等に刺す危険がある。
ら好ましくない。特に動作中は、プローブ８を
手等に刺す危険がある。
(d) 分析終了散試料カツプ５の処理に工数がかか
る。すなわち試料の残りを出しにくい。
る。すなわち試料の残りを出しにくい。
等の欠点がある。
本発明は上記の欠点を解消し、自動化学分析装
置にセツトされた試料又は試薬の経時的な水分蒸
発により濃度が変化した測定データを濃縮度で補
正することを目的とするものである。
置にセツトされた試料又は試薬の経時的な水分蒸
発により濃度が変化した測定データを濃縮度で補
正することを目的とするものである。
本発明は複数の試料カツプを収容するトレイ
と、試料カツプ中の試料を反応管へ分注する試料
用プローブと、反応管に試薬を分注する試薬用プ
ローブと、反応管内の反応液を所定時間後に測光
する第１の測光装置と、前記第１の測光装置とは
別に設けられ、標準試料を収容する試料カツプを
測光する第２の測光装置とを備える自動分析装置
のデータ補正方法であつて、被検試料と同時に標
準試料を分析装置にセツトし、第２の測光装置で
標準試料のセツト時および被検試料の反応管への
分注時毎に、標準試料を測光し吸光度値を求め、
セツト時の吸光度値と被検試料の反応管への分注
時の吸光度の割合である補正係数を求め、この補
正係数に基づいて第１の測光装置で得られた被検
試料の吸光度値を補正することを特徴とするもの
である。
と、試料カツプ中の試料を反応管へ分注する試料
用プローブと、反応管に試薬を分注する試薬用プ
ローブと、反応管内の反応液を所定時間後に測光
する第１の測光装置と、前記第１の測光装置とは
別に設けられ、標準試料を収容する試料カツプを
測光する第２の測光装置とを備える自動分析装置
のデータ補正方法であつて、被検試料と同時に標
準試料を分析装置にセツトし、第２の測光装置で
標準試料のセツト時および被検試料の反応管への
分注時毎に、標準試料を測光し吸光度値を求め、
セツト時の吸光度値と被検試料の反応管への分注
時の吸光度の割合である補正係数を求め、この補
正係数に基づいて第１の測光装置で得られた被検
試料の吸光度値を補正することを特徴とするもの
である。
以下、図面に従つて本発明を詳細に説明する。
第３図は本発明の一実施例の全体的構成を示す
線図である。トレイ１１に収容した複数の被検試
料を収容した試料カツプ１２を鎖状に連結しスプ
ロケツト１３により順次試料吸引位置に搬送す
る。各試料はプローブレバー１４に固定された試
料用プローブ１５で反応管１６に分注される。試
料カツプ１７は試料の測定項目に選択され試薬タ
ーンテーブル１８の回転により被検試料に対応す
る試薬をプローブレバー１９に固定された試薬用
プローブ２０で反応管１６に分注する。試料、試
薬共に分注された反応管１６は自体が載置されて
いる反応管ターンテーブル２１の回転により更に
回転し、測光位置にて停止する。光源ランプ２２
からの照射光を集光レンズ２３にて集光して反応
管１６に投射し、その透過光を回折格子２４で分
光しそれぞれデイテクター２５−１〜２５−５を
経て波長選択部２６に送出する。本発明において
は、トレイ１１内に特に標準試料２７例えばプー
ル血清をセツトした。光源ランプ２８からの照射
光を集光レンズ２９にて標準試料２７を透過しフ
イルター３０を経てデイテクター３１で吸光度の
データを検知し、検知信号を記憶部３２に送出す
る。記憶部３２と波長選択部２６との間に比較演
算部３３を接続し、さらに比較演算部３３に制御
装置３４を接続し制御装置３４にプリンター３５
を接続する。なお、反応管洗浄部３６は反応管タ
ーンテーブル２１内に設けたものである。さて、
先の測光位置で分光測光された反応管１６は通常
は１波長ないし２波長の、ある波長の吸光度又は
吸光度を濃度換算してデータとする。しかし試料
をトレイ１１にセツトしてから分注するまでに
は、時間がかかり試料内の水分が蒸発し試料濃度
が高くなる。この蒸発量は分注時間に応じて変化
するので一定の補正値を採用することはできな
い。特に近年増加している緊急検査が割り込み可
能な装置では、一般の被検試料は更にトレイ１１
内に放置されデータの正確度が悪化することにな
る。本実施例では被検試料と同時に標準試料２７
をセツトし特定波長例えば血清では280nｍ付近
で吸光度を測定し被検試料を分注する毎に記憶部
３２に初期吸光度すなわちセツト時の吸光度との
割合を記憶しておき被検試料の分光測光後の吸光
度値を補正する。なお、被検試料と標準試料２７
を同一形状のカツプに同一量入れておけば上記の
補正の方法は以下の原理でできる。
線図である。トレイ１１に収容した複数の被検試
料を収容した試料カツプ１２を鎖状に連結しスプ
ロケツト１３により順次試料吸引位置に搬送す
る。各試料はプローブレバー１４に固定された試
料用プローブ１５で反応管１６に分注される。試
料カツプ１７は試料の測定項目に選択され試薬タ
ーンテーブル１８の回転により被検試料に対応す
る試薬をプローブレバー１９に固定された試薬用
プローブ２０で反応管１６に分注する。試料、試
薬共に分注された反応管１６は自体が載置されて
いる反応管ターンテーブル２１の回転により更に
回転し、測光位置にて停止する。光源ランプ２２
からの照射光を集光レンズ２３にて集光して反応
管１６に投射し、その透過光を回折格子２４で分
光しそれぞれデイテクター２５−１〜２５−５を
経て波長選択部２６に送出する。本発明において
は、トレイ１１内に特に標準試料２７例えばプー
ル血清をセツトした。光源ランプ２８からの照射
光を集光レンズ２９にて標準試料２７を透過しフ
イルター３０を経てデイテクター３１で吸光度の
データを検知し、検知信号を記憶部３２に送出す
る。記憶部３２と波長選択部２６との間に比較演
算部３３を接続し、さらに比較演算部３３に制御
装置３４を接続し制御装置３４にプリンター３５
を接続する。なお、反応管洗浄部３６は反応管タ
ーンテーブル２１内に設けたものである。さて、
先の測光位置で分光測光された反応管１６は通常
は１波長ないし２波長の、ある波長の吸光度又は
吸光度を濃度換算してデータとする。しかし試料
をトレイ１１にセツトしてから分注するまでに
は、時間がかかり試料内の水分が蒸発し試料濃度
が高くなる。この蒸発量は分注時間に応じて変化
するので一定の補正値を採用することはできな
い。特に近年増加している緊急検査が割り込み可
能な装置では、一般の被検試料は更にトレイ１１
内に放置されデータの正確度が悪化することにな
る。本実施例では被検試料と同時に標準試料２７
をセツトし特定波長例えば血清では280nｍ付近
で吸光度を測定し被検試料を分注する毎に記憶部
３２に初期吸光度すなわちセツト時の吸光度との
割合を記憶しておき被検試料の分光測光後の吸光
度値を補正する。なお、被検試料と標準試料２７
を同一形状のカツプに同一量入れておけば上記の
補正の方法は以下の原理でできる。
標準試料のセツト時の吸光度 …A1
セツトからＴ時間後の標準試料の吸光度 …A2
セツトからＴ時間後に分注された被検試料と試薬
の反応液の吸光度 …A3 A3の補正後の吸光度 …A4 補正係数（濃縮率） …ｋ とすると次の式が成立する A4＝１／ｋA3 …(1) ｋ＝A2／A1 …(2) 次に、被検試料の量が個々にちがう場合の補正
は次の原理でできる。
の反応液の吸光度 …A3 A3の補正後の吸光度 …A4 補正係数（濃縮率） …ｋ とすると次の式が成立する A4＝１／ｋA3 …(1) ｋ＝A2／A1 …(2) 次に、被検試料の量が個々にちがう場合の補正
は次の原理でできる。
標準試料の量 …V1
被検試料の量
…V2（但しV2は液面検知機構等で測定する。） 標準試料の蒸発量 …V1−V1／ｋ 被検試料に於ける蒸発量は標準試料に於ける蒸
発量と同等とみなすと、補正係数K′は k′＝V2／V2−（V1−V1／ｋ） となる。但しカツプ内の液面からカツプ口元まで
の距離に大きなバラツキのある場合は蒸発に差が
でるのでその相関を実験的に求めて更に補正すれ
ばよい。
…V2（但しV2は液面検知機構等で測定する。） 標準試料の蒸発量 …V1−V1／ｋ 被検試料に於ける蒸発量は標準試料に於ける蒸
発量と同等とみなすと、補正係数K′は k′＝V2／V2−（V1−V1／ｋ） となる。但しカツプ内の液面からカツプ口元まで
の距離に大きなバラツキのある場合は蒸発に差が
でるのでその相関を実験的に求めて更に補正すれ
ばよい。
さらに、試料以外にも、本実施例の応用として
試薬の蒸発分補正もできる。
試薬の蒸発分補正もできる。
なお、本発明は前述の実施例に限られることな
く、特許請求の範囲内で種々の変更を加えること
のできるものである。上述した例では多数の被検
試料をトレイにほぼ同時にセツトするバツチ方式
としたが、この場合にはセツト瞬時の基準試料の
吸光度を総ての被検試料に対する基準吸光度とし
て用いることができる。しかし被検試料を次々に
トレイにセツトする方式であつても本発明を適用
できる。このような場合には個々の被検試料をセ
ツトした瞬時の基準試料の吸光度をそれぞれ基準
吸光度として取込めばよい。
く、特許請求の範囲内で種々の変更を加えること
のできるものである。上述した例では多数の被検
試料をトレイにほぼ同時にセツトするバツチ方式
としたが、この場合にはセツト瞬時の基準試料の
吸光度を総ての被検試料に対する基準吸光度とし
て用いることができる。しかし被検試料を次々に
トレイにセツトする方式であつても本発明を適用
できる。このような場合には個々の被検試料をセ
ツトした瞬時の基準試料の吸光度をそれぞれ基準
吸光度として取込めばよい。
以上、述べた様に本発明によれば
(イ) 補正が周囲の雰囲気に影響されない。
(ロ) 蓋がない状態で分析が終了するので試料カツ
プのあと処理が容易である。
プのあと処理が容易である。
(ハ) 経時的な補正をしているのでデータの精度が
良い。
良い。
(ニ) 特別な蒸発防止策をとる必要がない。
等の効果がある。
第１図は従来の自動化学分析装置のトレイの一
例の縦断面図、、第２図は第１図に於ける試料カ
ツプの一例の縦断面図、第３図は本発明の一実施
例の全体的構成を示す線図である。 １……トレイ、２……スポンジ、３……パンチ
ングボード、４……カツプホルダ、５……試料カ
ツプ、６……カバー、７……開閉ふた、８……プ
ローブ、９……試料、１１……トレイ、１２……
試料カツプ、１３……スプロケツト、１４……プ
ローブレバー、１５……試料用プローブ、１６…
…反応管、１７……試薬カツプ、１８……試薬タ
ーンテーブル、１９……プローブレバー、２０…
…試薬用プローブ、２１……反応管ターンテーブ
ル、２２……光源ランプ、２３……集光レンズ、
２４……回折格子、２５−１〜２５〜５……デイ
テクター、２６……波長選択部、２７……標準試
料、２８……光源ランプ、２９……集光レンズ、
３０……フイルター、３１……デイテクター、３
２……記憶部、３３……比較演算部、３４……制
御装置、３５……プリンター、３６……反応管洗
浄部。
例の縦断面図、、第２図は第１図に於ける試料カ
ツプの一例の縦断面図、第３図は本発明の一実施
例の全体的構成を示す線図である。 １……トレイ、２……スポンジ、３……パンチ
ングボード、４……カツプホルダ、５……試料カ
ツプ、６……カバー、７……開閉ふた、８……プ
ローブ、９……試料、１１……トレイ、１２……
試料カツプ、１３……スプロケツト、１４……プ
ローブレバー、１５……試料用プローブ、１６…
…反応管、１７……試薬カツプ、１８……試薬タ
ーンテーブル、１９……プローブレバー、２０…
…試薬用プローブ、２１……反応管ターンテーブ
ル、２２……光源ランプ、２３……集光レンズ、
２４……回折格子、２５−１〜２５〜５……デイ
テクター、２６……波長選択部、２７……標準試
料、２８……光源ランプ、２９……集光レンズ、
３０……フイルター、３１……デイテクター、３
２……記憶部、３３……比較演算部、３４……制
御装置、３５……プリンター、３６……反応管洗
浄部。
Claims (1)
- １ 複数の試料カツプを収容するトレイと、試料
カツプ中の試料を反応管へ分注する試料用プロー
ブと、反応管に試薬を分注する試薬用プローブ
と、反応管内の反応液を所定時間後に測光する第
１の測光装置と、前記第１の測光装置とは別に設
けられ、標準試料を収容する試料カツプを測光す
る第２の測光装置とを備える自動分析装置のデー
タ補正方法であつて、被検試料と同時に標準試料
を分析装置にセツトし、第２の測光装置で標準試
料のセツト時および被検試料の反応管への分注時
毎に、標準試料を測光し吸光度値を求め、セツト
時の吸光度値と被検試料の反応管への分注時の吸
光度値の割合である補正係数を求め、この補正係
数に基づいて第１の測光装置で得られた被検試料
の吸光度値を補正することを特徴とする試料蒸発
分のデータ補正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18374980A JPS57108639A (en) | 1980-12-26 | 1980-12-26 | Compensating method of data for evaporated part of sample |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18374980A JPS57108639A (en) | 1980-12-26 | 1980-12-26 | Compensating method of data for evaporated part of sample |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57108639A JPS57108639A (en) | 1982-07-06 |
| JPH0226190B2 true JPH0226190B2 (ja) | 1990-06-07 |
Family
ID=16141298
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18374980A Granted JPS57108639A (en) | 1980-12-26 | 1980-12-26 | Compensating method of data for evaporated part of sample |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57108639A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2531190B2 (ja) * | 1987-08-11 | 1996-09-04 | 株式会社島津製作所 | 自動分析装置 |
| JP3386505B2 (ja) * | 1993-03-02 | 2003-03-17 | 株式会社東芝 | 自動分析装置 |
| JP5086286B2 (ja) * | 2009-01-23 | 2012-11-28 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| FR2994740B1 (fr) * | 2012-08-21 | 2015-03-27 | Horiba Abx Sas | Procede de compensation du vieillissement d'un reactif lors de mesures de fluorescence sur des particules, et dispositif d'analyse biologique mettant en œuvre le procede. |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5245234A (en) * | 1975-10-08 | 1977-04-09 | Hitachi Ltd | Device for testing circuit |
| JPS54115293A (en) * | 1978-02-28 | 1979-09-07 | Shimadzu Corp | Data processing method of analytical apparaus |
-
1980
- 1980-12-26 JP JP18374980A patent/JPS57108639A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5245234A (en) * | 1975-10-08 | 1977-04-09 | Hitachi Ltd | Device for testing circuit |
| JPS54115293A (en) * | 1978-02-28 | 1979-09-07 | Shimadzu Corp | Data processing method of analytical apparaus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57108639A (en) | 1982-07-06 |
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