JPH01451A - 自動分析装置における光学測定方法及びその装置 - Google Patents
自動分析装置における光学測定方法及びその装置Info
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- JPH01451A JPH01451A JP62-323774A JP32377487A JPH01451A JP H01451 A JPH01451 A JP H01451A JP 32377487 A JP32377487 A JP 32377487A JP H01451 A JPH01451 A JP H01451A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(#x上の利用分野)
この発明は1.生化学的分析や免疫学的分析を行う自動
分析装置における光学測定方法及びその装置に係り、特
に、所謂面分光方式による全く新規な光学測定方法及び
その装置に関する。
分析装置における光学測定方法及びその装置に係り、特
に、所謂面分光方式による全く新規な光学測定方法及び
その装置に関する。
(従来技術とその問題点)
周知のように、生化学的分析や免疫学的分析を行う自動
分析装置においては1反応液の測定り段として、所謂1
γi分先方式による光学測定方法と後分光方式による光
学測定方法とが良く知られている。
分析装置においては1反応液の測定り段として、所謂1
γi分先方式による光学測定方法と後分光方式による光
学測定方法とが良く知られている。
前分光方式による光学測定方法は、反応液(検体と測定
用11に対応する試薬か化学反応している状態の液、以
ド、同じ、)を収容した反応管が、光学測定位置に到達
する前に、測定光をフィルターにより測定用11に対応
する単一波長光に変換lノて照射し、その吸光度を測定
する方法である。
用11に対応する試薬か化学反応している状態の液、以
ド、同じ、)を収容した反応管が、光学測定位置に到達
する前に、測定光をフィルターにより測定用11に対応
する単一波長光に変換lノて照射し、その吸光度を測定
する方法である。
しかしながら、上記従来の前分光方式による光学測定方
法にあっては1反応管か上記測定位置に到来する前に、
前記測定用口に対応するフィルターと交換する必要かあ
るため、反応管の移送スピードを高速化することか難し
く、1時間当りの処理件数が、前記後分光方式のものに
比べて遥かに少ない、という問題を有していた。
法にあっては1反応管か上記測定位置に到来する前に、
前記測定用口に対応するフィルターと交換する必要かあ
るため、反応管の移送スピードを高速化することか難し
く、1時間当りの処理件数が、前記後分光方式のものに
比べて遥かに少ない、という問題を有していた。
さらに、上記従来の前分光方式による光学測定方法にあ
っては、フィルターの数により測定用11か限定され、
また、上記フィルターの経時変化により測定精度が低ド
するという問題をも有していた。
っては、フィルターの数により測定用11か限定され、
また、上記フィルターの経時変化により測定精度が低ド
するという問題をも有していた。
一方、前記後分光方式による光学測定方法は、回転する
反応管保持体に保持された反応管か、光学測定位置を横
切るときに、該位置に到来した反応管に全波長の測定光
を照射し、この透過光をグレイティング(光分散子)で
分光して、必要な波長の吸光度を測定するものである。
反応管保持体に保持された反応管か、光学測定位置を横
切るときに、該位置に到来した反応管に全波長の測定光
を照射し、この透過光をグレイティング(光分散子)で
分光して、必要な波長の吸光度を測定するものである。
この後分光方式による光学測定方法は、その長所として
、反応管保持体に保持された全ての反応液の化学反応状
1んを高速度で測定することかでき、また、各反応液の
タイムコースをも測定することがてきると共に、測定時
における光11!A輝度の経時変化や反応管に対する透
過光のブランク値を2波長測定により補正することかて
き、測定精度に対する信頼性が非常に高いという点にあ
る。
、反応管保持体に保持された全ての反応液の化学反応状
1んを高速度で測定することかでき、また、各反応液の
タイムコースをも測定することがてきると共に、測定時
における光11!A輝度の経時変化や反応管に対する透
過光のブランク値を2波長測定により補正することかて
き、測定精度に対する信頼性が非常に高いという点にあ
る。
しかしながら、上記従来の後分光方式による光学測定方
法にあっては、ヒ記多くの長所を有しているにも拘らず
、全波長光が反応液に照射されることで1例えば、アレ
ルギー性検体等や試薬の成分によっては、測定波長以外
の波長による光分解反応が発生し、このため各反応液間
に測定値のバラツキが発生し、測定精度に対する信頼性
に欠ける、という致命的な欠点を有していた。
法にあっては、ヒ記多くの長所を有しているにも拘らず
、全波長光が反応液に照射されることで1例えば、アレ
ルギー性検体等や試薬の成分によっては、測定波長以外
の波長による光分解反応が発生し、このため各反応液間
に測定値のバラツキが発生し、測定精度に対する信頼性
に欠ける、という致命的な欠点を有していた。
また、」二記従来の後分光方式による光学測定方法にあ
っては、グレイティングによって波長分光された各波長
光を受光する受光素fは、有限の幅を持ち、その幅以ド
の接近した波長光を選択することかできないという問題
をも有していた。
っては、グレイティングによって波長分光された各波長
光を受光する受光素fは、有限の幅を持ち、その幅以ド
の接近した波長光を選択することかできないという問題
をも有していた。
さらに、上記従来の後分光方式による光学側定力法にあ
っては、反応管を透過してくる測定光か巾−・波長では
ないため、光電流’1j、圧変換回路か測定波長の数た
け(例えば、12波長で測定する場合場合には12個)
必要となることから、装置か非常に複雑化し、また、制
御も複雑化することから、この種の装置か高価格化する
という問題をイJしていた。
っては、反応管を透過してくる測定光か巾−・波長では
ないため、光電流’1j、圧変換回路か測定波長の数た
け(例えば、12波長で測定する場合場合には12個)
必要となることから、装置か非常に複雑化し、また、制
御も複雑化することから、この種の装置か高価格化する
という問題をイJしていた。
この発明は、かかる現状に鑑み創案されたちのてあって
、その1」的とするところは、第1に、自動分析装置に
おける光学測定方法として、測定波長光以外の波長光に
よる光分解か生しないフィルタ一方式以外の1t1分光
方式を採Ill l、、第2に、光IQ輝度の経時変化
や各反応管に対する透過光の差を補il′、することか
てき。
、その1」的とするところは、第1に、自動分析装置に
おける光学測定方法として、測定波長光以外の波長光に
よる光分解か生しないフィルタ一方式以外の1t1分光
方式を採Ill l、、第2に、光IQ輝度の経時変化
や各反応管に対する透過光の差を補il′、することか
てき。
第3に、光学測定装置を大幅に簡易化してコストダウン
を図ることかでき、以って、測定精度に対する信頼性を
大輪に向上させることかできると共に、あらゆる波長光
で連続測定することかてき、測定スピードも従来の後分
光方式による光学測定力法と変らない、所謂重分光方式
と後分光方式の各L(所のみを有する全・て新規な自動
分析装置における光学測定方法を提供しようとするもの
である。
を図ることかでき、以って、測定精度に対する信頼性を
大輪に向上させることかできると共に、あらゆる波長光
で連続測定することかてき、測定スピードも従来の後分
光方式による光学測定力法と変らない、所謂重分光方式
と後分光方式の各L(所のみを有する全・て新規な自動
分析装置における光学測定方法を提供しようとするもの
である。
(問題点を解決するための構成)
上記11的を達成するため、この発明にあっては、所要
数の反応管を保持した反応管保持体な回転させ、光学測
定位置において、1−記各反応管内の検体と試薬の化学
反応状態を光学的に測定するように構成されてなる自動
分析装置の光学Jllllll全方法とし、上記測定光
を、回転1段により往復回動制御されるグレイティング
によって測定項11に対応する単一波に光となし、該単
一波長光により、空気層と反応液の光透過率を光学測定
するように構成したことを特徴とするものである。
数の反応管を保持した反応管保持体な回転させ、光学測
定位置において、1−記各反応管内の検体と試薬の化学
反応状態を光学的に測定するように構成されてなる自動
分析装置の光学Jllllll全方法とし、上記測定光
を、回転1段により往復回動制御されるグレイティング
によって測定項11に対応する単一波に光となし、該単
一波長光により、空気層と反応液の光透過率を光学測定
するように構成したことを特徴とするものである。
また、この発明にあっては、上記方法な実現するため、
所要数の反応管を保持した反応管保持体と、この反応管
保持体を回転させる駆動[没と、該反応管保持体を回転
により光7°測測定置を横切る反応管の吸光度を測定す
る光学測定装置と、を有する自動分析装置の光学測定装
置を前提とし、」−記光学・測定装置の測定光を1回転
計段により往復回動制御されるグレイティングによって
、反応管に照射される前に測定項【Iに対応するtli
−波長光を選択し、この選択された単一波長光を空気層
と反応管に照射して該空気層と反応液の光′1!i過半
を比較することで、比色光学測定を行うように構成した
ことを特徴とするとするものである。
所要数の反応管を保持した反応管保持体と、この反応管
保持体を回転させる駆動[没と、該反応管保持体を回転
により光7°測測定置を横切る反応管の吸光度を測定す
る光学測定装置と、を有する自動分析装置の光学測定装
置を前提とし、」−記光学・測定装置の測定光を1回転
計段により往復回動制御されるグレイティングによって
、反応管に照射される前に測定項【Iに対応するtli
−波長光を選択し、この選択された単一波長光を空気層
と反応管に照射して該空気層と反応液の光′1!i過半
を比較することで、比色光学測定を行うように構成した
ことを特徴とするとするものである。
(作用)
それ故、この発明に係る[’1分析装置における光学測
定にあっては、所謂後分光方式にみられる測定波長光以
外の波長光か透過することにより生ずる光分解を、所謂
重分光方式により防11・し、さらに、後分光方式の長
所である反応管毎の透過光の差を、光学測定位置におけ
る化学反応状1ムを測定する前に、洗浄水の入った反応
管の光透過率を測定項目に対応する巾−波長て【め測定
することて補正することかてきるように構成すると共に
、光源の輝度変化を、光学測定位置の直mで空気層を透
過した光の空気ブランク伯に基き補正するように構成す
ることもできるのて、高精度で信頼性の高い反応液測定
値を求めることかできる。
定にあっては、所謂後分光方式にみられる測定波長光以
外の波長光か透過することにより生ずる光分解を、所謂
重分光方式により防11・し、さらに、後分光方式の長
所である反応管毎の透過光の差を、光学測定位置におけ
る化学反応状1ムを測定する前に、洗浄水の入った反応
管の光透過率を測定項目に対応する巾−波長て【め測定
することて補正することかてきるように構成すると共に
、光源の輝度変化を、光学測定位置の直mで空気層を透
過した光の空気ブランク伯に基き補正するように構成す
ることもできるのて、高精度で信頼性の高い反応液測定
値を求めることかできる。
また、この発明にあっては、所謂重分光方式を採用して
いるため、反応管を透過する測定光か単一波長光である
ことから、一つの充電流電圧変換回路て十分てあり、こ
のため、光学測定装置を大幅に筒易化することかてきる
。
いるため、反応管を透過する測定光か単一波長光である
ことから、一つの充電流電圧変換回路て十分てあり、こ
のため、光学測定装置を大幅に筒易化することかてきる
。
(実施例)
以L゛、添付L′A面に示す一実施例に基きこの発IJ
I?詳細に説明する。
I?詳細に説明する。
第1図に示すように、この実施例に係る自動分析装置A
は、有底四角も1状に4I4Ij2.された反応管lを
40本保持してなる反応管保持体2と。
は、有底四角も1状に4I4Ij2.された反応管lを
40本保持してなる反応管保持体2と。
この反応管保持体2を第1 (4反時計方向・\39容
泰容雰転移送するパルスモータ3と、検体分It位置a
においてサンプラー4の検体8雰5内から検体を所要1
歳吸引し]−記反応管lに吐出する検体ピベウト6と、
試薬分注位r1bにおいて試薬容器7内から測定項11
に対応する試薬を所要驕吸引しt記反応’i?1に吐出
する試薬とベット8と、光学側定位17tcに配設され
た光学測定装置9と、光学測定か終Yした反応液を排出
して洗浄する洗浄装置10と、かう構成されている。
泰容雰転移送するパルスモータ3と、検体分It位置a
においてサンプラー4の検体8雰5内から検体を所要1
歳吸引し]−記反応管lに吐出する検体ピベウト6と、
試薬分注位r1bにおいて試薬容器7内から測定項11
に対応する試薬を所要驕吸引しt記反応’i?1に吐出
する試薬とベット8と、光学側定位17tcに配設され
た光学測定装置9と、光学測定か終Yした反応液を排出
して洗浄する洗浄装置10と、かう構成されている。
反応管保持体2は、前記したように、パルスモータ3に
よって、検体分注位置aで所要早:の検体か分注された
反応管lを、第1図反時計方向へ351度(39容器分
)回転移送し、結果として上記反応管lを、第1図時計
方向へl容器毎に間欠移送するように構成されている。
よって、検体分注位置aで所要早:の検体か分注された
反応管lを、第1図反時計方向へ351度(39容器分
)回転移送し、結果として上記反応管lを、第1図時計
方向へl容器毎に間欠移送するように構成されている。
勿論、この発明にあっては、反応管lを、第1LA時計
方向へ3691ff(41容器分)回転移送するように
4R成された自動分析装置にも適用することかできる。
方向へ3691ff(41容器分)回転移送するように
4R成された自動分析装置にも適用することかできる。
また、上記反応管保持体2の各反応管保持孔11.11
の間には、木モ方向にi通する光透過孔12が開設され
ている。勿論、上記各反応管保持孔11にも、測定光か
透過する測定孔14.14か水モ方向に【1通して夫々
開設されている。
の間には、木モ方向にi通する光透過孔12が開設され
ている。勿論、上記各反応管保持孔11にも、測定光か
透過する測定孔14.14か水モ方向に【1通して夫々
開設されている。
このように構成された反応管保持体2を回転させるパル
スモータ3は、制御装置i!1cpuによって作動する
ドライバー回路15及びセーターコントロール回路16
によって一定の速度で駆動制御され、かつ高速位置決め
制御を行うエンコーダ17及びエンコーダコントロール
回路18により回転方向と回転角度がiE確に制御され
る。勿論、上記パルスモータ3の代りにサーボモータを
使用することもできる。
スモータ3は、制御装置i!1cpuによって作動する
ドライバー回路15及びセーターコントロール回路16
によって一定の速度で駆動制御され、かつ高速位置決め
制御を行うエンコーダ17及びエンコーダコントロール
回路18により回転方向と回転角度がiE確に制御され
る。勿論、上記パルスモータ3の代りにサーボモータを
使用することもできる。
光学測定装229は、第1[24に示すように、光源2
0と、モノクロメータ21と、受光素ト22と、から構
成されて3つ、上記モノクロメータ21のグレイティン
グ23は、パルスモータ24により、所定の角度を所定
のタイミングで往復回転するように構成されている。
0と、モノクロメータ21と、受光素ト22と、から構
成されて3つ、上記モノクロメータ21のグレイティン
グ23は、パルスモータ24により、所定の角度を所定
のタイミングで往復回転するように構成されている。
従って、上記光rA20から照射された全波長光は、レ
ンズ群25で集光されてモノクロメータ21の入射スリ
ット26からグレイティング23へと照射され、上記り
レイディンク23は、測定q+ 目に対応する巾−・波
長光を反射する角度で反射された測定光のみを、出射ス
リウド27から受光素子22へと入力するように構成さ
れている。
ンズ群25で集光されてモノクロメータ21の入射スリ
ット26からグレイティング23へと照射され、上記り
レイディンク23は、測定q+ 目に対応する巾−・波
長光を反射する角度で反射された測定光のみを、出射ス
リウド27から受光素子22へと入力するように構成さ
れている。
また、!二足受光素子22に入力された屯−波長光は、
特に、第2図に示すように、充電流電圧変換回路36へ
入力された後、測定波長毎にグループ化された波長光を
増幅する2個以ヒ(本実施例では4個)の増幅器37の
いずれかに入力されて所定電圧まで増幅され、この後、
該増幅器37て増幅された測定電圧値は、マルチプレク
サ−38を経てA/D変換器39からLOG変換器40
へと入力され、制御装置;CPUで所要の演算処理か行
われる。
特に、第2図に示すように、充電流電圧変換回路36へ
入力された後、測定波長毎にグループ化された波長光を
増幅する2個以ヒ(本実施例では4個)の増幅器37の
いずれかに入力されて所定電圧まで増幅され、この後、
該増幅器37て増幅された測定電圧値は、マルチプレク
サ−38を経てA/D変換器39からLOG変換器40
へと入力され、制御装置;CPUで所要の演算処理か行
われる。
尚、上記実施例では、光−4t yt’tlZ圧変換回
路36へ入力された測定光を、測定波長毎に4つにグル
ープ化する場合を説明したか、このグループ化は、この
発明にあっては、1グループ以Eであればよく、復数に
グループ化する場合には、吸光度の大小に応じてグルー
プ化することができる。
路36へ入力された測定光を、測定波長毎に4つにグル
ープ化する場合を説明したか、このグループ化は、この
発明にあっては、1グループ以Eであればよく、復数に
グループ化する場合には、吸光度の大小に応じてグルー
プ化することができる。
例えば、
340〜380nmの波長帯域を
増幅器37a″C増幅し。
410〜SOOnmの波長帯域を
増幅器37bで増幅し、
500〜600 n mの波長帯域を
増幅器37cで増幅し、
600〜750nmのFII長帯域を
増幅!137dで増幅し、
マルチプレクサ−38で選択するのか分解能の点からも
ψましい。
ψましい。
即ち、」−1記のように4グループ化し、増幅器37の
出力を例えば16ビツトのA/D変換器39でa成した
場合には、光1ioo%を10vとしたときに、各グル
ープ毎に約0.15mvの吸光度変化を捕捉することが
できるので、極めて信頼性の高い測定データを得ること
かできる。
出力を例えば16ビツトのA/D変換器39でa成した
場合には、光1ioo%を10vとしたときに、各グル
ープ毎に約0.15mvの吸光度変化を捕捉することが
できるので、極めて信頼性の高い測定データを得ること
かできる。
また、前記グレイティング23を回転させるパルスモー
タ24は、 +iij記制御装置CPUによって作動す
るドライバー回路28及びモーターコントロール回路2
9によって一定の速度−cn復回動制御され、かつ高速
位置決め制御を行うエンコータ30及びエンコータコン
トロール回路31により回転方向と回転角度か正確に制
御される。尚、第1図中、符号32は受付キー、33は
CRT、34は記憶回路、35はプリンターを夫々示し
ている。
タ24は、 +iij記制御装置CPUによって作動す
るドライバー回路28及びモーターコントロール回路2
9によって一定の速度−cn復回動制御され、かつ高速
位置決め制御を行うエンコータ30及びエンコータコン
トロール回路31により回転方向と回転角度か正確に制
御される。尚、第1図中、符号32は受付キー、33は
CRT、34は記憶回路、35はプリンターを夫々示し
ている。
以1−の前提において、次に、測定項IIに対応する巾
−・波長光の選択・照射作動原理について、第3]Aに
基いて説明する。
−・波長光の選択・照射作動原理について、第3]Aに
基いて説明する。
反応管保持体2の1回転時間を、
T ++ee (= T X 10′3 m5
ec)空気層測定範囲と反応管測定範囲の 通過時間と距離を jlg。。、d、1波長切換時
間を tt*ee 反応管l反応管子を P−一 反応管lの数を 1本 とすると、 反応管保持体2の1回転、即ち1反応管の中心円周長p
X n (a、)に要する時間は。
ec)空気層測定範囲と反応管測定範囲の 通過時間と距離を jlg。。、d、1波長切換時
間を tt*ee 反応管l反応管子を P−一 反応管lの数を 1本 とすると、 反応管保持体2の1回転、即ち1反応管の中心円周長p
X n (a、)に要する時間は。
T Beeであるから。
となる。
従って、第514に示すように、t 2m5ec以内に
、グレーCディング23を切換波長分の波長切換制御を
行えばよいこととなる。
、グレーCディング23を切換波長分の波長切換制御を
行えばよいこととなる。
生化学自動分析装置にあっては、必要とされる波長光は
、おおよそ340〜750nmであるから、最大410
nmの波長範囲かグレイティング23により分光されれ
ばよいことととなる。
、おおよそ340〜750nmであるから、最大410
nmの波長範囲かグレイティング23により分光されれ
ばよいことととなる。
例えば、前記モノクロメータ21の凹面グレイティング
23の場合。
23の場合。
mn入= 5ina+ 装置nβ
[入:波長(旧11m°次t”/、n:1mm”’iり
の溝数、α:人射角、β:出射角] の関係式で、出射スリット27から取り出す必要波長の
α角度及びβ角度を計算して求め、これに基き、前記パ
ルスモータ24の回転速度を制御し、かつエンコータ2
9により位置決め制御するように構成すればよい。
の溝数、α:人射角、β:出射角] の関係式で、出射スリット27から取り出す必要波長の
α角度及びβ角度を計算して求め、これに基き、前記パ
ルスモータ24の回転速度を制御し、かつエンコータ2
9により位置決め制御するように構成すればよい。
以上のようにして、前記光学測定位置Cに到来した反応
管lに対する測定項目波長先入。
管lに対する測定項目波長先入。
か選択されると、該測定項口波長光入、による反応液の
測定は、次のようにして行われる。
測定は、次のようにして行われる。
先ず、第4図(a)に示すように、洗浄装置lOにおけ
る最終段階て、反応液か収容されるべき反応trFNo
3に洗浄水を入れる。このとき、光学測定位置ては反
応骨動2の光学測定か行われているものとする。
る最終段階て、反応液か収容されるべき反応trFNo
3に洗浄水を入れる。このとき、光学測定位置ては反
応骨動2の光学測定か行われているものとする。
このようにして洗浄水が入れられた反応骨動3は、第4
図(b)に示すように、反時計方向へ移送されるか、こ
の反応管No3か光学測定位置Cに到達する前に、光学
測定袋719は光透過孔12な透過した光の透過*(T
311)を測定し、次に、第4(A(c)に示すよう
に1反応管NO3か上記光字訓定位1cを通過したとき
の光透過率(r’zn)を測定し、この両者の光透過率
に広き反応管NO3に対する測定直面の反応管ブランク
の吸光度ODよ、か次式により求められ、制御袋″2t
CP U上記憶させる。
図(b)に示すように、反時計方向へ移送されるか、こ
の反応管No3か光学測定位置Cに到達する前に、光学
測定袋719は光透過孔12な透過した光の透過*(T
311)を測定し、次に、第4(A(c)に示すよう
に1反応管NO3か上記光字訓定位1cを通過したとき
の光透過率(r’zn)を測定し、この両者の光透過率
に広き反応管NO3に対する測定直面の反応管ブランク
の吸光度ODよ、か次式により求められ、制御袋″2t
CP U上記憶させる。
=16gl工
T″38
次に、検体と第1試薬及び第2試薬か化学反応した反応
液が、]−記光学測定位置Cにおいて1−記測定項口波
長光入、によって測定されると、その吸光度OD xo
は。
液が、]−記光学測定位置Cにおいて1−記測定項口波
長光入、によって測定されると、その吸光度OD xo
は。
となる。
従って、光源輝度及び各反応管のフランク値を測定した
後の吸光度OD 1o ’は、OD、。’ =OD、。
後の吸光度OD 1o ’は、OD、。’ =OD、。
−ODユ。
となる。
このようにして、吸光度OD、、、’か求められると、
次に、標準¥@質の吸光度o o 、、’との演算処理
か行われ、最終的に反応液測定値か求められる。
次に、標準¥@質の吸光度o o 、、’との演算処理
か行われ、最終的に反応液測定値か求められる。
標準物質の吸光度OD、′は、前記測定Sf目1波長先
入、により測定され。
入、により測定され。
oD、、’ =ODn、−0Do。
て求めることかでき、そのC度をfとすると、OD 、
、のC度f30は、 となり、反応液の化学反応値(反応液測定値)か求めら
れ、該反応液測定イ1が制御J1装置CPUに入力され
て記憶された後1例えば、プリンタにより印字される。
、のC度f30は、 となり、反応液の化学反応値(反応液測定値)か求めら
れ、該反応液測定イ1が制御J1装置CPUに入力され
て記憶された後1例えば、プリンタにより印字される。
以1−のように1本発明において1反応液測定値を、洗
Ml木の入った反応管の吸光度(T’xn>と、空気層
の吸光度(T−R)にノ^き算出するのは、次の理由に
よる。
Ml木の入った反応管の吸光度(T’xn>と、空気層
の吸光度(T−R)にノ^き算出するのは、次の理由に
よる。
即ち、反応管かステウプ回動するタイプの自動分析装置
において1反応液を単一波長で巾に測定する場合には、
2波長測定力式の光学測定方法に比べ、光源輝度(波長
強度)の経時変化と反応管間の光透過率差を補正するこ
とか非常に難しい。
において1反応液を単一波長で巾に測定する場合には、
2波長測定力式の光学測定方法に比べ、光源輝度(波長
強度)の経時変化と反応管間の光透過率差を補正するこ
とか非常に難しい。
この発明は、かかる不几合を解消するため、反応液の実
測イ1を、洗浄水の入った反応管の吸光度(T’、、)
に基き補正することて反応管間の光透過率の補正を行い
、空気層の吸光度(Tzu)を求めることて光源輝度(
波長強度)の経時変化の補正を行い、測定精度に対する
信頼性を保持するように構成されている。
測イ1を、洗浄水の入った反応管の吸光度(T’、、)
に基き補正することて反応管間の光透過率の補正を行い
、空気層の吸光度(Tzu)を求めることて光源輝度(
波長強度)の経時変化の補正を行い、測定精度に対する
信頼性を保持するように構成されている。
(51明の効果)
この発明に係る自動分析装置における光学測定方法は、
以ヒ説II L、たように構成したので、所謂検分光方
式にみられる測定波長光以外の波長光か透過することに
より生ずる光分解を、所謂重分光方式により完全に防上
することかてき、測定精度に対する信頼性を大幅に向上
させることかてきる。
以ヒ説II L、たように構成したので、所謂検分光方
式にみられる測定波長光以外の波長光か透過することに
より生ずる光分解を、所謂重分光方式により完全に防上
することかてき、測定精度に対する信頼性を大幅に向上
させることかてきる。
また、この発明にあっては、従来の後分光方式の長所で
ある反応管毎の透過光の差を、光学測定位置における化
学反応状態を測定する17i1に、洗浄水の入った反応
管の光透過率を測定項目に対応する中−波長でY・め測
定することて補IFすることかできる。
ある反応管毎の透過光の差を、光学測定位置における化
学反応状態を測定する17i1に、洗浄水の入った反応
管の光透過率を測定項目に対応する中−波長でY・め測
定することて補IFすることかできる。
さらに、この発IJIにあっては、光源の輝度変化を、
光学測定位置の直前で空気層を透過した光の空気フラン
ク値に基き補1[することかてきるのて、「1動分析に
おける高精度て信頼性の高い反応液測定4(+を求める
ことかできると共に、従来のl’l動分析装置のように
、装置始動時に全反応管を全波長光てフランク測定して
記憶しておく場合に比べ、制御装置の記憶容!4を大幅
に小型化することかてきる。例えば、15波長光て30
本の反応管のフランク値を測定する場合には、従来の[
1動分析装置にあっては、450データを記憶しておく
必安かあるのに対し、未発1蓼1てはlデー9分を記憶
すればよいのて 制」装置の記憶8驕を大幅に小型化し
、コストも大幅に低減させることかてきる。
光学測定位置の直前で空気層を透過した光の空気フラン
ク値に基き補1[することかてきるのて、「1動分析に
おける高精度て信頼性の高い反応液測定4(+を求める
ことかできると共に、従来のl’l動分析装置のように
、装置始動時に全反応管を全波長光てフランク測定して
記憶しておく場合に比べ、制御装置の記憶容!4を大幅
に小型化することかてきる。例えば、15波長光て30
本の反応管のフランク値を測定する場合には、従来の[
1動分析装置にあっては、450データを記憶しておく
必安かあるのに対し、未発1蓼1てはlデー9分を記憶
すればよいのて 制」装置の記憶8驕を大幅に小型化し
、コストも大幅に低減させることかてきる。
またさらに、この9.1J+にあっては、所謂重分光方
式を採用しているため1反応管を透過する測定光か単一
波長光であることから、一つの光電流−に圧変検回路で
ト分であり、このため、光学測定装置を大幅に簡易化す
ることかできる等、幾多の優れた効果を奏する。
式を採用しているため1反応管を透過する測定光か単一
波長光であることから、一つの光電流−に圧変検回路で
ト分であり、このため、光学測定装置を大幅に簡易化す
ることかできる等、幾多の優れた効果を奏する。
第[6はこの発明か適用された「1動分析装置の一例を
示す機構概略説明1−4 、第2図は同自動分析装置に
おける光学測定装置の信吟処理系を示す回路図、第3図
はこの発明により選択された単一波長光の照射状態を示
す説明間、第41A(A)乃至(C)は上記単一波長光
に対する反応管の移動状態を順次示す説明]′4、第5
1Mは1−記弔一波長光が洗浄水の入った反応管を透過
した場合と空気層を透過した場合の各吸光度を示すグラ
フIAである。 (符号の説明) l・・・反応管 2・・・反応管保持体3・・
・反応管保持体のパルスそ一タ 9・・・光学a一定装21 10・・・洗浄装置 −
12・・・光透過孔 14・・・測定孔20・・・
光源 21−・・モノクロメータ22・・・受
光、I f 23−・・クレイテインク26・・
・入射スリ・ント 27・・・出射スリ・ント36・・
・光電波電圧変換回路 C・・−光学測定位置 CPU・・・制御装置特許出願
人 株式会社 二 ・ン テ り第4図 (A) (8) (C)
示す機構概略説明1−4 、第2図は同自動分析装置に
おける光学測定装置の信吟処理系を示す回路図、第3図
はこの発明により選択された単一波長光の照射状態を示
す説明間、第41A(A)乃至(C)は上記単一波長光
に対する反応管の移動状態を順次示す説明]′4、第5
1Mは1−記弔一波長光が洗浄水の入った反応管を透過
した場合と空気層を透過した場合の各吸光度を示すグラ
フIAである。 (符号の説明) l・・・反応管 2・・・反応管保持体3・・
・反応管保持体のパルスそ一タ 9・・・光学a一定装21 10・・・洗浄装置 −
12・・・光透過孔 14・・・測定孔20・・・
光源 21−・・モノクロメータ22・・・受
光、I f 23−・・クレイテインク26・・
・入射スリ・ント 27・・・出射スリ・ント36・・
・光電波電圧変換回路 C・・−光学測定位置 CPU・・・制御装置特許出願
人 株式会社 二 ・ン テ り第4図 (A) (8) (C)
Claims (6)
- (1)所要数の反応管を保持した反応管保持体を回転さ
せ、光学側定位置において、上記各反応管内の検体と試
薬の化学反応状態を光学的に測定するように構成されて
なる自動分析装置の光学測定方法において、上記測定光
を、回転手段により往復回動制御されるグレイティング
によって測定項目に対応する単一波長光となし、該単一
波長光により、空気層と反応液の光透過率を光学測定す
ることを特徴とする自動分析装置における光学測定方法
。 - (2)前記反応液の測定値に対する光源輝度の補正及び
反応管間における光透過率差の補正は、光学測定位置の
直前において前記単一波長光で測定される空気層の光透
過率及び洗浄水の入った同一反応管の光透過率に基いて
行うことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の自動
分析装置における光学測定方法。 - (3)前記測定波長を、複数のグループに分割し、光電
流電圧変換装置に入力された測定光を各波長グループ毎
に配設された増幅器で増幅してマルチプレクサーへと入
力するように構成したことを特徴とする特許請求の範囲
第1項または第2項いずれか記載の自動分析装置におけ
る光学測定方法。 - (4)所要数の反応管を保持した反応管保持体と、この
反応管保持体を回転させる駆動手段と、該反応管保持体
を回転により光学側定位置を横切る反応管の吸光度を測
定する光学測定装置と、を有する自動分析装置の光学測
定装置において、上記光学測定装置の測定光を、回転手
段により往復回動制御されるグレイティングによって、
反応管に照射される前に測定項目に対応する単一波長光
を選択し、この選択された単一波長光を空気層と反応管
に照射して該空気層と反応液の光透過率を比較すること
で、比色光学測定を行うことを特徴とする自動分析装置
における光学測定装置。 - (5)前記反応液の測定値に対する光源輝度の補正及び
反応管間における光透過率差の補正は、光学測定位置の
直前において、前記単一波長光で測定される空気層の光
透過率及び洗浄水の入った同一反応管の光透過率に基い
て行うことを特徴とする特許請求の範囲第4項記載の自
動分析装置における光学測定装置。 - (6)前記測定波長を、複数のグループに分割し、光電
流電圧変換装置に入力された測定光を各波にグループ毎
に配設された増幅器で増幅してマルチプレクサーへと入
力するように構成したことを特徴とする特許請求の範囲
第4項または第5項いずれか記載の自動分析装置におけ
る光学測定装置。
Priority Applications (9)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62-323774A JPH01451A (ja) | 1987-02-20 | 1987-12-23 | 自動分析装置における光学測定方法及びその装置 |
CN88100938A CN1016281B (zh) | 1987-02-20 | 1988-02-15 | 在自动分析装置上进行的光学测定法及其装置 |
AU12977/88A AU605840B2 (en) | 1987-02-20 | 1988-02-17 | Optical measurement method and apparatus therefor in automatic analyzer |
EP19880901914 EP0303707A4 (en) | 1987-02-20 | 1988-02-17 | OPTICAL MEASURING METHOD AND ARRANGEMENT USED IN AN AUTOMATIC ANALYZER. |
PCT/JP1988/000161 WO1988006286A1 (en) | 1987-02-20 | 1988-02-17 | Optical measurement method and apparatus therefor in automatic analyzer |
KR1019880701102A KR890700820A (ko) | 1987-02-20 | 1988-09-12 | 자동분석장치에 있어서의 광학측정방법 및 그 장치 |
FI884609A FI884609A (fi) | 1987-02-20 | 1988-10-07 | Foerfarande och anordning foer att utfoera en optisk maetning i en automatisk analysapparat. |
NO884537A NO884537D0 (no) | 1987-02-20 | 1988-10-12 | Fremgangsmaate og anordning for optisk maaling i automatisk analyseapparat. |
DK581188A DK581188D0 (da) | 1987-02-20 | 1988-10-19 | Fremgangsmaade og apparatur til optisk maaling i automatisk analyseapparatur |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62-35877 | 1987-02-20 | ||
JP3587787 | 1987-02-20 | ||
JP62-323774A JPH01451A (ja) | 1987-02-20 | 1987-12-23 | 自動分析装置における光学測定方法及びその装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS64451A JPS64451A (en) | 1989-01-05 |
JPH01451A true JPH01451A (ja) | 1989-01-05 |
Family
ID=
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