JPH02260558A - 半導体装置のリードフレーム - Google Patents

半導体装置のリードフレーム

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JPH02260558A
JPH02260558A JP8064889A JP8064889A JPH02260558A JP H02260558 A JPH02260558 A JP H02260558A JP 8064889 A JP8064889 A JP 8064889A JP 8064889 A JP8064889 A JP 8064889A JP H02260558 A JPH02260558 A JP H02260558A
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JP
Japan
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hole
inner lead
brazing material
lead
lead frame
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Pending
Application number
JP8064889A
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English (en)
Inventor
Katsushi Ito
勝志 伊藤
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NEC Corp
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NEC Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体装置のリードフレームに関し、特に樹脂
封止型半導体装置に用いて好適なリードフレームに関す
る。
〔従来の技術〕
従来、この種のリードフレームは内部リードの先端に半
導体素子の電極部を接続させている。この場合、第4図
に示すように、内部リード11の先端と、半導体素子1
2の電極部13との間にバンブと称する凸部14を設け
ておき、このバンブ14を利用して両者の接続を行って
いる。このバンブ14は、内部リードll側に設けてい
る場合と、半導体素子の電極部13側に設けている場合
とがある。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来のリードフレームでは、内部リード11の
先端又は半導体素子12の電極部13の何れか一方にバ
ンプ14を形成する必要があるため、バンブ形成工程が
複雑になり、かつそのためのコストが高くなるという問
題がある。また、バンプ14は固定的に形成されるため
、内部リードと電極部との間に位置ずれが生じたときに
好適な接続を行うことができなくなることがある。更に
、接続時にはバンプを押し潰すための外力が必要であり
、この外力によって内部リードが変形し、隣接するリー
ド間が短絡するという問題が生じることがある。
本発明は上述した問題を解消した半導体装置のリードフ
レームを提供することを目的とする。
(課題を解決するための手段〕 本発明のリードフレームは、リードフレームの内部リー
ド先端に1以上のスルーホールを開設し、このスルーホ
ールに注入した導電性ロー材により前記内部リードの先
端を半導体素子の電極部に接続するように構成している
〔作用〕
上述した構成では、スルーホール内に注入された導電性
ロー材により内部リード先端と電極部とを接続でき、内
部リード及び電極部のいずれにもバンプを形成すること
なく両者の接続が実現できる。
〔実施例〕
次に、本発明を図面を参照して説明する。
第1図は本発明の第1実施例を示しており、同図(a)
は平面図、同図(b)はそのA−A線に沿う断面図であ
る。また、第2図は要部の斜視図である。
これらの図において、1はリードフレームであり、金属
板をエツチング或いはプレス加工等により所要形状に形
成し、複数本の内部リード2を一体に形成している。そ
し゛て、これら内部リード2の先端部分には、各リード
に夫々1個のスルーホール3を開設している。
一方、半導体素子4の電極部5は、これまでと同様にア
ルミニウム等の金属で形成され、その上面は平坦である
この構成において、内部リード2と電極部5を接続する
際には、電極部5に内部リード2のスルーホール3が位
置するように合わせ、かつ内部リード2の下面を電極部
5に接触させた状態で、スルーホール3内に導電性ロー
材6を注入し、このロー材6により内部リード2と電極
部5を接続する。この接続は導電性ロー材6によるため
、バンプによる接続以上に高い信頼性を得ることができ
る。
この場合、導電性ロー材6は塗布或いはメツキ法により
予めスルーホール3内に設けておき、加熱することで導
電性ロー材6を溶融させて電極部5に接続する方法をと
ることも可能である。
したがって、内部リード2や電極部5のいずれにもバン
プを形成することなく、好適な接続が実現できる。
第3図は本発明の第2実施例を示しており、同図(a)
は平面図、同図(b)はそのB−B線に沿う断面図であ
る。なお、第1実施例と同一部分には同一符号を付しで
ある。
この実施例では、リードフレーム1の内部リード2に夫
々複数個、ここでは3個のスルーホール3a、3b、3
cを開設しティる。
この構成によれば、3個のスルーホールのうち、任意の
ものを選択して半導体素子4の電極部5との接続を行う
ことができる。即ち、第3図(b)の例では、右側の内
部リード2ではスルーホール3Cを利用して導電性ロー
材6により電極部5との接続を行っており、左側の内部
リード2ではスルーホール3bを利用して導電性ロー材
6により電極部5との接続を行っている。
このため、同一規格のリードフレームで種々の寸法の半
導体素子に対する接続が可能となり、また半導体素子の
電極部の位置が内側又は外側にばらついている場合でも
好適な接続を行うことができる。
なお、スルーホールは、半導体素子の標準的な電極部の
寸法である120pm以内の寸法に形成する必要がある
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、内部リードの先端部にス
ルーホールを開設し、このスルーホールを利用して導電
性ロー材により半導体素子の電極部への接続を行ってい
るので、バンプを不要にし、半導体装置の組立ての簡易
化、低コスト化が実現できる。また、複数個のスルーホ
ールを設けることにより、リードフレームの汎用性を高
めることができる。また、バンプを不要にすることで、
内部リードの変形や位置ずれの発生を防止でき、隣接リ
ードとの短絡を防止して信頼性を向上し、歩留りを改善
する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1実施例を示し、同図(a)は平面
図、同図(b)はそのA−A線に沿う断面図、第2図は
第1図の要部の斜視図、第3図は本発明の第2実施例を
示し、同図(a)は平面図、同図(b)はB−B線に沿
う断面図、第4図は従来の接続状態を示す断面図である
。 1・・・リードフレーム、2・・・内部リード、3.3
a、3b、3c・・・スルーホール、4・・・半導体素
子、5・・・電極部、6・・・導電性ロー材、11・・
・内部リード、12・・・半導体素子、13・・・電極
部、14・・・バンプ。 第2

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、リードフレームの内部リード先端に1以上のスルー
    ホールを開設し、このスルーホールに注入した導電性ロ
    ー材により前記内部リードの先端を半導体素子の電極部
    に接続するように構成したことを特徴とする半導体装置
    のリードフレーム。
JP8064889A 1989-03-31 1989-03-31 半導体装置のリードフレーム Pending JPH02260558A (ja)

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JP8064889A JPH02260558A (ja) 1989-03-31 1989-03-31 半導体装置のリードフレーム

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JPH02260558A true JPH02260558A (ja) 1990-10-23

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0712159A3 (en) * 1994-11-08 1997-03-26 Oki Electric Ind Co Ltd Structure of a resin molded semiconductor
EP1009023A1 (de) * 1998-12-09 2000-06-14 ESEC Management SA Verfahren zur Verbindung von zwei Leiterstrukturen und Kunststoffobjekt

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0712159A3 (en) * 1994-11-08 1997-03-26 Oki Electric Ind Co Ltd Structure of a resin molded semiconductor
US6002181A (en) * 1994-11-08 1999-12-14 Oki Electric Industry Co., Ltd. Structure of resin molded type semiconductor device with embedded thermal dissipator
EP1009023A1 (de) * 1998-12-09 2000-06-14 ESEC Management SA Verfahren zur Verbindung von zwei Leiterstrukturen und Kunststoffobjekt

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