JPH02259479A - 被測定装置の出力電圧測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、大規模集積回路（Ｌａｒｇｅ　ＳｃａｌｅＩ
ｎｔｅｇｒａｔｉｏｎ　：以下、ＬＳＩと略称する）な
どのように多数の出力端子を有する被測定装置（以下、
ＤＵＴと略称する）の出力電圧測定方法に関する。

従来の技術 第４１１１１Ｊは、ＬＳＩの出力電圧を測定する従来の
測定系を示すブロック図である。

第４図において、パターン発生器１はＤｔＪＴ３である
ＬＳＩに対して所定の動作試験を行うためのパターンを
なすテスト用信号を発生する回路であり、゛このパター
ン発生器１から出力されるテスト用信号はドライバ２に
入力され、このドライバ２はテスト用信号に応じた出力
をＬＳＩに与え、ＬＳＩの各出力端子からはそのテスト
用信号に応じた出力電圧Ｄｉ、Ｄ２．・・・、Ｄｎが出
力される。

その出力電圧Ｄ１〜Ｄ　ｒ＋はインタフェース４を介し
て電圧測定器５に入力され、ここでＬＳＩが正常動作し
ているときに出力電圧Ｄ１〜Ｄｎとして得られるはずで
ある正しい電圧レベルすなわち期待値と比較される。

第５図は、第４図に示す従来の測定系による電圧測定の
手順を説明するために示したタイミングチャートである
。そのうち、第５１ＦＪ（１）は上記試験動作において
ＤＵ７３つまりＬＳＩの１つの出力端子から出力される
出力電圧Ｄ１の波形を、また第５図（２）はＬＳＩの他
の１つの出力端子から出力される出力電圧Ｄ２の波形を
それぞれ示しており、この場合の電圧測定は以下の手順
によって行われる。

（１）先ず、第５［Ｊにおける時刻Ｔａまでのテスト用
信号がパターン発生器１から出力され、これによってＬ
ＳＩは出力電圧Ｄｉ、Ｄ２がそれぞれＶｌａ、Ｖ２ａの
レベルとなる状態に設定される。

（２）次に、これらのレベルＶｌ　ａ、Ｖ２ａが電圧測
定器５において測定され、出力電圧Ｄｉ、Ｄ２の時刻Ｔ
ａでの期待値と比較される。

（３）このあと、パターン発生器１から同一パターンの
テスト用信号が再度出力される。この場合、テスト用信
号は時刻Ｔｂまで出力され、これによってＬＳＩは出力
電圧ＤＩ、Ｄ２がＶｌｂ、Ｖ２ｂのレベルとなる状態に
設定される。

（４）次に、これらのレベルＶｌｂ、Ｖ２ｂが電圧測定
器５において測定され、出力電圧ＤＩ、Ｄ２の時刻Ｔｂ
での期待値と比較される。

（５）続いて、パターン発生器１から再度同一パターン
のテスト用信号が出力される。この場き、テスト用信号
は時刻Ｔｃまで出力され、これによってＬＳＩは出力電
圧Ｄｉ、Ｄ２がＶｌｃ、Ｖ２ｃのレベルとなる状態に設
定される。

（６〉次に、これらのレベルＶｌｃ、Ｖ２ｃが電圧測定
器５において測定され、出力電圧Ｄｉ、Ｄ２の時刻Ｔｃ
での期待値と比較される。

発明が解決しようとする課題 しかしながら、上述した従来の電圧測定方法の場き、そ
れぞれ異なるタイミングＴａ、Ｔｂ、ＴＣでの出力電圧
Ｄｉ、Ｄ２のレベルを測定するのに、その都度、同じテ
スト用信号を繰返し出力し直して、ＬＳＩの出力状態を
各タイミングＴ　ａ　。

Ｔｂ、Ｔｃに応じた状態に設定しなければならないため
、電圧測定に多大な時間を要し非常に能率が悪いという
問題点があった。

したがって、本発明の目的は、大規模集積回路などのよ
うに多数の出力端子を有する被測定装置の出力電圧を能
率よく測定することのできる出力電圧測定方法を提供す
ることである。

課題を解決するための手段 本発明は、複数の出力端子を有する被測定装置に対して
テスト用信号を入力し、そのテスト用信号に対応する各
出力端子の出力電圧レベルを複数のタイミングにわたっ
て測定部で測定する被測定装置の出力電圧測定方法にお
いて、 前記各出力端子と測定部との間にそれぞれ同数のサンプ
ルホールド回路からなる直列回路を介挿し、 前記複数のタイミングに同期して前記各直列回路のｆ＆
段側のサンプルホールド回路から前段側のサンプルホー
ルド回路へと各サンプルホールド回路を順次ホールド動
作させることによって、各出力端子の出力電圧の各タイ
ミングでのレベルを対応するサンプルホールド回路に保
持させる一方、ホールド動作と同一順序に従って、各サ
ンダルホールド回路を順次ホールド動作からサンプル動
作に切替えることによって、各サンプルホール１：回路
で保持された出力電圧レベルを測定部に供給するように
したことを特徴とする被測定装置の出力電圧測定方法で
ある。

作　　用 本発明に従えば、被測定装置に対す゛るテスト用信号の
入力に応答して各出力端子から出力される出力電圧の各
タイミングでのレベルは、各出力端子に対応する直列回
路の後段側のサンプルホールド回路から前段側のサンプ
ルホールド回路へとその配列順序に従って各サンプルホ
ールド回路で保持され、続いて保持の場合と同一順序で
各サンブルホールド回路による保持が解かれることによ
って、各タイミングに相当する出力電圧レベルがそのタ
イミングの順序に従って対応するサンプルホールド回路
から測定部へと順次供給される。

実施例 第１図は本発明の一実施例に用いられる電圧測定器１５
の電気的構成を示すブロック図であり、第２図は本発明
の出力電圧測定方法の一実施例を適用した測定系の概略
的な構成を示すブロック図である。

第２図に示す測定系は、多数の出力端子を有するＬＳＩ
をＤｔＪ７１３とし、そのＬＳＩの出力電圧を測定する
ためのものであって、パターン発生器１１はＣＵＴ１３
であるＬＳＩに対して所定の動作試験を行うための定め
られたパターンをなすテスト用信号を発生する機能を持
つ、このパターン発生器１１はドライバ１２を介してＤ
ＵＴ１３に接続されており、パターン発生器１１で発生
したテスト用信号がドライバ１２に入力されると、ドラ
イバ１２はそのテスト用信号に応じた出力をＣＵＴ１３
つまりＬＳＩに与え、ＬＳＩの各出力端子からテスト用
信号に応じた出力電圧Ｄｉ、Ｄ２、・・・、Ｄｒ＋が出
力される。また、ＬＳＩの各出力端子はインタフェース
１４を介して電圧測定器１５に接続されており、各出力
電圧Ｄ１〜Ｄｒｌはインタフェース１４を介して電圧測
定器１５に入力され、ここでそれぞれの出力電圧Ｄ１〜
Ｄ　ｎの期待値と比較される。上述したパターン発生器
１１からは、電圧測定器１５の動作を制御するための制
御信号Ｓａ、・・・、Ｓｂ、Ｓｃが与えられる。

第２図における電圧測定器１５の構成は、第１図に示さ
れる。第１図に示す電圧測定器１５において、その入力
段には、複数のサンプルホールド回路Ｓ　／　Ｈ１１＼
Ｓ／　Ｈｒｉ　ｍがマ■・リクス状に配列されている。

すなわち、ＤＵ７１３であるＬＳＩの第１の出力電圧Ｄ
１をインタフェース１４を介して受ける入力端子とマル
チプレクサ１６との間にはｍ１ｌｌのサンプルホールド
回路Ｓ／Ｈ１ｌ。

Ｓ／Ｈ１２，・−、Ｓ／８１ｍが直列に接続され、また
第２の出力電圧Ｄ２を受ける入力端子とマルチプレクサ
１６との間にもｍｌＷのサンプルホールド回路Ｓ／Ｈ２
１，Ｓ／Ｈ２２，−、Ｓ／Ｈ２ｍが直列に接続され、以
下同様にして各出力電圧Ｄ３〜Ｄ　ｒｒを受ける入力端
子とマルチプレクサ１６との間にもそれぞれｒｎ個のサ
ンプ、ルホールド回路が直列に接続されている。また、
これらのサンプルホールド回路Ｓ／）ｌ　１１〜Ｓ　／
　Ｈｎ　ｍはパターン発生器、１１にも接続されており
、パターン発生器１１から出力される制御信号Ｓａ、・
・・、５ｂＳｃによって各サンプルホールド回路Ｓ／Ｈ
１ｌ〜Ｓ　／　Ｈｎ　ｒｎはサンプル動作とホールド動
作とに切替えられる。

すなわち、マトリクス状に配列された各サンプルホール
ド １つの列をなすｒｉ個のサンプルホールド回路は１つの
制御信号によって制御される。たとえば！＆後段のｎ個
のサンプルホールド回路Ｓ／Ｈ１ｒｎ□−Ｓ／　Ｈ　ｒ
ｉ　ｒｎつまりｒｎ列目のサンプルホールド回路群の動
作は制御信号Ｓａによって制御され、２段目の１１個の
サンプルホールド Ｈ　ｒ１２つまり２列目のサンプルホールド回路群の動
作は制御信号ｓｂによって制御され、また初段のｎｌ１
ｍのサンプルホールド回路Ｓ／Ｈｌｌ〜Ｓ／Ｈ　ｎ　１
つまり１列目のサンプルホールド回路群の動作は制御信
号Ｓ（によってυ制御される。

上記マルチプレクサ１６は、複数のサンプルホールド回
路Ｓ／′Ｈ１１〜Ｓ／ＨｒＩｍからなる入力段を経て並
列信号として入力されてくる複数の出力電圧Ｄ１〜Ｄ　
ｎを直列信号に変換するための回路であって、その次段
にはマルチプレクサ１６から出力される出力電圧Ｄ１〜
Ｄ　ｒｉをデジタル信号に変換するアナログ−デジタル
変ｉＡ器１７が接続されている．このアナログ−デジタ
ル変換器１７の次段にはさらに測定回路１８が接続され
、この測定回路１８によってアナログ−デジタル変換器
１７の出力が測定される。

第３図は上述した測定系による電圧測定の手順を示すタ
イミングチャートである。このタイミングチャートを参
照して、上記測定系によるＬＳＴの出力電圧Ｄ１〜Ｄ　
ｒｘの測定手順を以下に説明する。

パターン発生器１１からＬＳＩに対して所定の試験動作
を行わせるためのテスト用信号が出力されると、ＬＳＩ
の各出力端子からこのときテスト用信号に対応する各出
力電圧Ｄ１〜Ｄ　ｒｓが出力され、これらはインタフェ
ース１４を経て電圧測定器１５の各入力端子に入力され
る。第３図（１）はそのうちの第１の出力電圧Ｄ１の波
形を示し、第３図（２）は第２の出力電圧Ｄ２の波形を
示している。

これと並行して、パターン発生器１１から電圧測定器１
らの入力段には各制御信号Ｓａ、・・・、Ｓｂ、Ｓｃが
与えられる。第３図（３）はそのうちの制御信号Ｓａの
波形を示し、第３図く４）は制御信号ｓｂの波形を示し
、第３図（５）は制御信号Ｓｃの波形を示している。各
制御信号Ｓａ、・・・３１：＋Ｓｃは初めすべてＬレベ
ルつまりサンプルホールド回路Ｓ　／　Ｈ１１〜Ｓ　／
　Ｈｎ　ｍをサングル動作させる状態に設定されており
、電圧測定器１５の各入力端子に入力される各出力電圧
Ｄ１〜Ｄｎはサンプルホールド回路Ｓ／８１１〜３　／
　Ｈｒｉｍを通過してマルチブレフサ１６へと送られる
状態にある。

テスト用信号の発生開始から所定の時間が経過したタイ
ミングＴａにおいて、先ずｍ列目のサンプルホールド回
路Ｓ　／　Ｈｌ　ｍ　〜Ｓ　／　Ｈｎ　ｒｎの動ず絆を
制御する制御信号ＳａがＨレベルつまりサンプル水・−
ルド回路をホールド動作させる状態に切替えられる。こ
のため、ｒｎ列目の各サンプルホールド回路Ｓ　／　Ｈ
１ｒｎ−３／　Ｈｎ　ｍはそれぞれ対応する出力電圧Ｄ
１〜Ｄ　ｒｉのタイミングＴａでの電圧レベルを保持す
る。

したがって、たとえば第３図（６）に示すサンプルホー
ルド回路Ｓ　／　８１　ｍの出力ｄ　１　ｍの波形は、
それ以降対応する出力電圧Ｄ１のタイミングＴａでの電
圧レベルＶ　１　ａを保持し、第３図（９）に示すサン
プルホールド回路Ｓ　／　Ｈ２ｍの出力ｄ２ｍの波形は
、それ以降対応する出力電圧Ｄ２のタイミングＴａでの
電圧レベルＶ　２　ａを保持する。

以下、同様にして、各タイミングにおいて対応する列の
サンプルホールド回路群がパターン発生器１１からの制
御信号によってサンプル動作からホールド動作に切替え
られ、対応する出力電圧Ｄ１・〜Ｄ　ｒｉのそのタイミ
ングでの電圧レベルがそれらのサンプルホールド回路に
よって保持される。

すなわち、たとえばタイミングＴｂでは、第３図（４）
に示す制御信号ｓｂがＬレベルからＨレベルに切替わり
、これによって２列目のサンプルホールド回路Ｓ／Ｈ１
２〜Ｓ　／　Ｈｒｉ　２がサンプル動作からホールド動
作に切替わり、それらのサンプルホールド回路Ｓ　／　
Ｈ１２〜Ｓ　／　ＨｒＩ２が対応する出力電圧Ｄ１〜Ｄ
　ｒｒのタイミングＴｂでの電圧レベルを保持する。

すなわち、第３図（７）に示すサンプルホールド回路Ｓ
／／）ｉ１２の出力ｄ１２の波形は、それ以降対応する
出力電圧Ｄ１のタイミングＴｂでの電圧レベルＶｌｂを
保持し、第３図（１０）に示すサンプルボールド回路Ｓ
／Ｈ２２の出力ｄ２２の波形は、それ以降対応する出力
電圧Ｄ２のタイミングＴｂでの電圧レベルＶ２ｂを保持
する。

また、タイミングＴｃでは、第３図く５〉に示す制御信
号ＳｃがＬレベルからＨレベルに切替わり、これによっ
て１列目のサンプルホールド回路Ｓ　／　Ｈ１１〜Ｓ　
／　Ｈｒｘ　１がサングル動作からホールド動作に切替
わり、それらのサンプルホールド回路Ｓ／、８１１〜Ｓ
　／　Ｈｎ　１が対応する出力電圧Ｄ１〜Ｄ　ｒｉのタ
イミングＴｃでの電圧レベルを保持する。すなわち、第
３１１（８）に示すサンプルホールド回路Ｓ、／／Ｈ１
ｌの出力ｄｌｌの波形は、それ以降対応する出力電圧Ｄ
１のタイミングＴｃでの電圧レベルＶｌｃを保持し、第
３１１ｆｆｉ（１１）に示すサンプルホールド回路Ｓ／
’Ｈ２１の出力（１２１の波形は、それ以降対応する出
力電圧Ｄ２のタイミングＴｃでの電圧レベル■２ｃを保
持する。

このようにして、各サンプルホールド回路Ｓ／Ｈ１ｌ〜
Ｓ　／　Ｈｎ　ｍに保持された出力電圧Ｄ１〜Ｄ　ｎは
、それらのサンプルホールド回路Ｓ／’ｌ−１１１〜・
Ｓ　／　Ｈｎ　ｍをパターン発生器１１の制御信号Ｓａ
、・・・　Ｓｂ　　Ｓｃでホールド動作からサングル動
作に切替えることによってマルチグトクサ１６に順次供
給される。

すなわち、ｒｉ１列のサンプルホールド回路Ｓ／Ｈ１ｒ
ｎ　□−Ｓ　／　Ｈｎ　ｍから各出力電圧Ｄ１〜Ｄｎの
タイミングＴａでの電圧ｌ／ベルがマルチプレクサ１６
に供給されている状態から、先ずそのｍ列のサンプルホ
ールド回路群をホールド動作からサンプル動作に切替え
ることによって、（ｒｎ　−１＞列のサンプルホールド
回路群で保持されていた次のタイミングでの各出力電圧
Ｄ１〜Ｄ　ｒｉの電圧レベルがマルチプレクサ１６に供
給される。

次に、（ｍ　−１，）列のサンプルホールド回路群をホ
ールド動作からサンプル動作に切替えることによって、
＜　ｒｎ　−２）列のサンプルホールド回路群で保持さ
れていたさらに次のタイミングでの各出力電圧Ｄ１へＤ
　ｎの電圧レベルがマルチプレクサ１６に供給される。

このような切替え制御を、１列目のサンプルホールド回
路群まで順次繰返すことによって、各出力電圧Ｄ１〜Ｄ
２の各タイミングでの電圧レベルがそのタイミング順序
に従って順次マルチプレクサ１６に供給される。

マルチプレクサ１６に並列信号の形で供給される各タイ
ミングごとの各出力電圧Ｄ１〜Ｄ　ｒｉは、ここで直列
信号に変換されたあと、さらにアナログ−デジタル変換
器１７によってデジタル信号に変換され、最後に測定回
路１８によって期待値と比較される。

発明の効果 以上のように、本発明の被測定装置の出力電圧測定方法
によれば、被測定装置の各出力端子から出力される出力
電圧の各タイミングでのレベルを、各出力端子に対応付
けて直列接続されたサンプルホールド回路の後段側から
前段側ｌ＼と順次保持させ、次に保持の場自と同一順序
で各サンプルホールド回路による保持を解くことによっ
て各タイミングでの各出力電圧の電圧レベルを測定部に
順次供給するようにしているので、測定器ｆ）Ｅを中断
することなく出力電圧の測定を能率よく行うことができ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例である出力電圧測定方法が適
用される測定系における電圧測定器１５の構成を示すブ
ロック図、第２図はその測定系の概略的な構成を示すブ
ロック図、第３１１はその測定系によるＬＳＩの出力電
圧の測定手順を示すタイミングチャー１−　、第４図は
従来の測定系の概略的な構成を示すブロック図、第５図
はその測定系によるＬＳＩの出力電圧の測定手順を示す
タイミングチャートである。 １１・・・パターン発生器、１３・・・ＤＯＴ、１５・
・・電圧測定器、１６・・マルチプレクサ、１７・・・
アナログ−デジタル５ｒ：換器、１８・・・測定回路、
Ｓ　／’　Ｈｌ　１〜Ｓ７’　Ｈｎ　ｒｎ　・−・サン
プルホールド回路、Ｄ１〜Ｄ　ｒｒ・・・出力電圧、Ｓ
　＝ｔ−Ｓ　ｃ・・・制御信号代理人　　弁理士　画数
　圭一部 第　２図 第 図 ａ ｂ ｃ 第 図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 複数の出力端子を有する被測定装置に対してテスト用信
   号を入力し、そのテスト用信号に対応する各出力端子の
   出力電圧レベルを複数のタイミングにわたって測定部で
   測定する被測定装置の出力電圧測定方法において、 前記各出力端子と測定部との間にそれぞれ同数のサンプ
   ルホールド回路からなる直列回路を介挿し、 前記複数のタイミングに同期して前記各直列回路の後段
   側のサンプルホールド回路から前段側のサンプルホール
   ド回路へと各サンプルホールド回路を順次ホールド動作
   させることによつて、各出力端子の出力電圧の各タイミ
   ングでのレベルを対応するサンプルホールド回路に保持
   させる一方、ホールド動作と同一順序に従って、各サン
   プルホールド回路を順次ホールド動作からサンプル動作
   に切替えることによって、各サンプルホールド回路で保
   持された出力電圧レベルを測定部に供給するようにした
   ことを特徴とする被測定装置の出力電圧測定方法。