JPH02258686A - 窒化アルミニウムメタライズ基板 - Google Patents
窒化アルミニウムメタライズ基板Info
- Publication number
- JPH02258686A JPH02258686A JP1081932A JP8193289A JPH02258686A JP H02258686 A JPH02258686 A JP H02258686A JP 1081932 A JP1081932 A JP 1081932A JP 8193289 A JP8193289 A JP 8193289A JP H02258686 A JPH02258686 A JP H02258686A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- aluminum nitride
- sintered body
- nitride sintered
- grain boundary
- metallized
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 49
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 title claims description 114
- 239000000470 constituent Substances 0.000 claims abstract description 38
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims abstract description 12
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 abstract description 54
- 238000000227 grinding Methods 0.000 abstract description 18
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 7
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 abstract description 5
- 238000005304 joining Methods 0.000 abstract description 2
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 abstract 2
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 38
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 18
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 239000006082 mold release agent Substances 0.000 description 5
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 4
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 4
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 4
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 4
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 3
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000002401 inhibitory effect Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 2
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 2
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 2
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 2
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 2
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 2
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000600169 Maro Species 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 1
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 description 1
- 150000004649 carbonic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000000280 densification Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002612 dispersion medium Substances 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 1
- 239000011812 mixed powder Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000001272 pressureless sintering Methods 0.000 description 1
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 1
- 238000011002 quantification Methods 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/06—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising selenium or tellurium in uncombined form other than as impurities in semiconductor bodies of other materials
- H01L21/08—Preparation of the foundation plate
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B41/00—After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone
- C04B41/009—After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone characterised by the material treated
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B41/00—After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone
- C04B41/45—Coating or impregnating, e.g. injection in masonry, partial coating of green or fired ceramics, organic coating compositions for adhering together two concrete elements
- C04B41/50—Coating or impregnating, e.g. injection in masonry, partial coating of green or fired ceramics, organic coating compositions for adhering together two concrete elements with inorganic materials
- C04B41/51—Metallising, e.g. infiltration of sintered ceramic preforms with molten metal
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B41/00—After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone
- C04B41/80—After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone of only ceramics
- C04B41/81—Coating or impregnation
- C04B41/85—Coating or impregnation with inorganic materials
- C04B41/88—Metals
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/48—Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/48—Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
- H01L21/4803—Insulating or insulated parts, e.g. mountings, containers, diamond heatsinks
- H01L21/4807—Ceramic parts
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/12—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
- H01L23/14—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the material or its electrical properties
- H01L23/15—Ceramic or glass substrates
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B2111/00—Mortars, concrete or artificial stone or mixtures to prepare them, characterised by specific function, property or use
- C04B2111/00241—Physical properties of the materials not provided for elsewhere in C04B2111/00
- C04B2111/00413—Materials having an inhomogeneous concentration of ingredients or irregular properties in different layers
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B2111/00—Mortars, concrete or artificial stone or mixtures to prepare them, characterised by specific function, property or use
- C04B2111/00474—Uses not provided for elsewhere in C04B2111/00
- C04B2111/00844—Uses not provided for elsewhere in C04B2111/00 for electronic applications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/03—Use of materials for the substrate
- H05K1/0306—Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/38—Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10S428/901—Printed circuit
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Structural Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Ceramic Products (AREA)
- Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
イズ基板に関し、特に熱伝導率が200W1m−に以上
の窒化アルミニウム焼結体に対して接合強度の強いメタ
ライズ層を形成した窒化アルミニウムメタライズ基板に
関する。
熱伝導率を有する窒化アルミニウム焼結体などの窒化物
系セラミックス焼結体を使用したセラミックス基板が注
目を集めている。
る場合には、そのセラミックス焼結体の表面に導電層を
形成することが不可欠である。
ス焼結体表面に導電層を形成する場合、金属成分として
、主としてモリブデンやタングステンなどの高融点金属
を用い、各柾添加物を加えた混合粉末をペースト化した
ものを印刷法によって所望の回路パターン形状に塗布し
、これを焼成することによって導電層を形成している。
き層を順に形成して回路基板を作製している。
やタングステンなどの高融点金属を用いて作製されたメ
タライズ用ペーストを使用する方法は、窒化アルミニウ
ム焼結体を使用する場合、熱伝導率が200w1Il−
に以下の低いものについては適用可能であり、接合強度
の強いメタライズ基板が得られたが、熱伝導率200w
1I−に以上の窒化アルミニウム基板については、メタ
ライズ層の接合強度が弱く、平均強度値にもばらつきが
生じていに。
イズ基板を得るに際して、用いる窒化アルミニウムの熱
伝導率が低い場合、焼結体表面上にしみ出してくる焼結
助剤の化合物の量は少ない。
の成分とが、直接反応しやすい。
ウム焼結体の焼結温度近くまで上がるため、窒化アルミ
ニウム焼結体内部の焼結助剤の化合物が再び基板表面上
にしみ出してくる。しかし、この際のしみ出しは窒化ア
ルミニウムとメタライズ用ペーストとの反応の後に起こ
るため、焼結体表面にしみだした焼結助剤の化合物から
なる粒界構成相成分はメタライズ層中に浸透して、メタ
ライズ層中の空隙を埋める働きをするため、接合強度の
向上に寄与する結果となる。
ウム焼結体へのメタライズの場合、以下の理由により接
合強度が低く、ばらつきが生じている。
体表面上にしみ出してくる焼結助剤の化合物の量が多い
。このため、焼結体表面は窒化アルミニウム粒子に対し
て粒界構成相成分の占める割合が多く、メタライズ用ペ
ーストと反応する表面積が減少する。
ミニウムメタライズ基板を、たとえば発熱量の大きい電
子部品の基板として用いた場合、環境の温度変化に対し
て、基板とメタライズ層との接合部が剥がれるという問
題があった。
で、熱伝導率が200V/@・K以上の窒化アルミニウ
ム焼結体上に、均一で、充分な接合強度を有するメタラ
イズ層を形成した窒化アルミニウムメタライズ基板を提
供することを目的とする。
化アルミニウム焼結体からなるセラミックス基板と、こ
のセラミックス基板上に形成されたメタライズ層とを有
する窒化アルミニウムメタライズ基板において、前記窒
化アルミニウム焼結体の表面部における粒界構成相成分
の濃度が3重量%以下であることを特徴としている。
導率に制限はないが、2001111II−に以上の高
い熱伝導率を有する高純度の窒化アルミニウム焼結体に
対して特に効果的である。
ム粉末に適量の焼結助剤を添加し、この焼結助剤によっ
て形成される液相による緻密化焼結によって作製される
。
通常、イツトリウム、アルミニウム、カルシウムなどの
金属の酸化物、あるいは加熱により酸化物となる炭酸塩
や他の塩類などが使用され、これらの1種または2FI
t以上の混合物として使用する。
焼結体内に存在する不純物量に大きく依存している。し
たがって、熱伝導率の高い窒化アルミニウム焼結体を得
るには、この不純物量を低く抑える必要がある。
分圧が低い不活性ガス中で行うことによって不純物とし
ての酸素を除去する。
ミニウム焼結体の表面部における粒界構成相成分の濃度
が3重量%以下である。
射してピーク値を測定し、検量線で検定することにより
求めることができる。
表面から最表面を含んで深さ方向50μ鵡程度の厚さ部
分の焼結体層における濃度を意味している。
%を超えると、メタライズ層の接合にばらつきが生じ、
メタライズ層全体としての接合強度が低下するため好ま
しくない。
ムとメタライズ用ペーストとの反応が阻害された部分は
、窒化アルミニウム焼結体とメタライズ層との間にいず
れの層とも接合しにくい粒界構成相成分からなる表面層
が挟み込まれる形で形成されるためである。
窒化アルミニウム焼結体の表面部において1重量%以下
である。
しては、たとえば、原料の窒化アルミニウム粉末を焼成
した後、メタライズ用ペーストを塗布する前に、たとえ
ばラッピングやホーニングなど、通常の研削手段を用い
て焼結体表面を研削することにより、焼結体上に残留し
ている離型剤などの不純物と共に粒界構成相成分からな
る中間的な層を除去する方法などが挙げられる。
界構成相成分が、上記焼結体の深さ方向に、表面濃度±
1.5重量%の濃度範囲で分布していることが好まし
い。
粒界構成相成分の濃度差が大きいということは、窒化ア
ルミニウム焼結体表面におけるメタライズペーストの接
合しにくい部分の増加につながるからである。
次のようにして製造される。
ンダーと必要に応じて分散媒とともに混合し、所望の粘
度としてメタライズ用ペーストを作製する。
ングなど、通常用いられている研削手段によって、メタ
ライズ層を形成する表面を研削し、焼結体上に残留して
いる離型剤および焼結体上にしみだしている窒化アルミ
ニウム焼結体の粒界構成相成分を除去する。
なることが好ましい。研削量がlOμ■以下では、離型
剤は除去できるが粒界構成相成分は完全に除去できず、
本発明の効果が得られにくい。
分的に不均一であり、部分的に存在する粒界構成相成分
が阻害因子となって働き、窒化アルミニウムとメタライ
ズ用ペーストとが直接反応しにくくなる。したがって、
熱サイクルなどがかかった場合、メタライズ層の接合強
度を劣化させる原因となるのである。
ウム焼結体上に上記メタライズ用ペーストを、たとえば
スクリーン印刷法などによって所要のパターン形状に塗
布し、乾燥した後に窒素ガスなどの不活性雰囲気中で焼
成してメタライズ層を形成する。
、焼成後、基板の表面に焼結助剤の化合物がしみ出す性
質を有している。
時に窒化アルミニウム焼結体の成分と反応して、たとえ
ば、Y 203 、TIN 、 Al103の反応によ
って生成するYAG SYAM 、YALなどの化合物
を窒化アルミニウム粒子間の粒界に形成する。
接合に寄与する成分とは反応せず、メタライズ層形成の
妨げとなる。
構成相成分が基板表面に多く存在していると、メタライ
ズ層の接合強度にばらつきが生じ、良好なメタライズ基
板を得ることができない。
粒界構成相成分を研削などの手段を用いて除去し、窒化
アルミニウム焼結体の表面における粒界構成相成分の濃
度を3重量%以下に抑えているため、窒化アルミニウム
焼結体とメタライズ用ペーストとの反応面積が確保され
る。
度範囲を、焼結体表面の濃度に対して±1.5重量%と
することによって、粒界構成相成分のメタライズ層への
浸透を促進することができ、メタライズ層の接合強度を
向上させることができる。
I−に以上の窒化アルミニウム焼結体を使用する場合で
も、接合強度の強いメタライズ層を形成することができ
る。
造工程を示す図である。
結助剤としてY2O3を窒化アルミニウム粉末に対して
3重量%添加し、常圧焼結法により、熱伝導率が200
W/m−にである窒化アルミニウム焼結体を作製した。
離型剤2が残留しており、さらに、焼結助剤の化合物か
らなる粒界構成相成分が窒化アルミニウム焼結体1内部
からしみだして粒界構成相成分の濃度が高い焼結体表面
層3を形成している(第1図−a)。
によって研削し、離型剤2を除去する(同図−b)。
去する(同図−C)。
面の粒界構成相成分の濃度を1.4重量%とした。また
、窒化アルミニウム焼結体の深さ方向における粒界構成
相成分の濃度差は0.4重量%であり、研削量は40μ
麿であった。
結体1上に、メタライズ用ペーストとしてNo−T i
Nペーストを塗布し、窒素中、1700℃で焼成して
メタライズ層4を形成する(同図−d)。
合強度の測定を行った。
ライズ基板を2.5gm X 2.5a+mに切断して
試験用サンプルを作製し、この試験用サンプル50個に
ついてメタライズ層をめっきした後、5n−Sb半田で
銅線を接合し、垂直方向に引張る方法により行った。
度試験を実施し、冷熱サイクルに対する信頼性を調べた
。
基板50枚に、それぞれトランジスタを塔載し、ΔvB
E法によって熱抵抗を測定した。
れらの結果を第1表に示す。
/i・Kであり、焼結助弄JとしてY2O3を含む焼結
体を使用し、実施例1と同一方法でメタライズ層を形成
した。
の濃度が2.8重量%となるように研削を行った。゛ま
た、窒化アルミニウム焼結体の深さ方向における粒界構
成相成分の濃度差は 1.3重量%であり、研削量は1
5μmであった。
ついて、実施例1と同一条件でメタライズ層の接合強度
および熱抵抗を測定した。
/n+−にであり、焼結助剤としてY2O3を含む焼結
体を使用し、実施例1と同一方法でメタライズ層を形成
した。
の濃度が3.3重量%となるように研削を行った。また
、窒化アルミニウム焼結体の深さ方向における粒界構成
相成分の濃度差は1.9重量%であり、研削量は 5μ
mであった。
ついて、実施例1と同一条件でメタライズ層の接合強度
および熱抵抗をAl1定した。この結果を、実施例の結
果と併せて第1表に示す。
/m−にであり、焼結助剤としてY2O3を含む焼結体
を使用し、研削による表面層の除去を行わずにメタライ
ズ層を形成した。
度は4.3重量%であり、窒化アルミニウム焼結体の深
さ方向における粒界構成相成分の濃度差は 2.9重量
%であった。
ついて、実施例1と同一条件でメタライズ層の接合強度
および熱抵抗を測定した。この結果を第1表に示す。
に対して、その表面を研削して焼結体の厚さを減少させ
ながらX線回折を行い、種々の深さにおける焼結体表面
のX線回折強度を測定したところ、以下のことが明らか
となった。
ム焼結体中のAINと、この窒化アルミニウム焼結体の
粒界構成相成分であるY2O3およびYAM(2Y 2
03 ・Al103 )との回折強度比で示したもので
ある。各構成相成分の面指数は、それぞれ、AIN 2
00 、 Y 203222 、 YAM 023であ
る。また、図中、白丸はAIN・に対するY2O3の回
折強度比を、黒丸はAINに対するYAMの回折強度比
を表している。
の分布が、焼結体の深さ方向でばらついていることが認
められる。そして、このばらつきは、特に焼結体表面近
傍で大きい。
ム焼結体の深さに対するイツトリウムおよび酸素の含有
量の変化を示している。図中、白玉角はイツトリウム含
有量を、黒三角は酸素含有量を表しており、それぞれの
初期添加量を矢印で示した。
て粒界構成相成分の含有量が、初期添加した量より高く
なっていることがわかる。
が表面にしみだしていることを示している。
率が130.200.260w1II−にテある3種類
の窒化アルミニウム焼結体を使用した実施例について述
べる。
/m−にである 3種類の窒化アルミニウム焼結体を使
用し、それぞれの焼結体の研削量を変化させた。
メタライズ層を形成し、メタライズ層の接合強度を測定
した。
アルミニウム焼結体を使用して作製した窒化アルミニウ
ムメタライズ基板については、トランジスタ塔載時の熱
抵抗を測定した。
実施例1と同一条件で行った。
ついては第3表に、それぞれの結果を示す。
化アルミニウム焼結体へのメタライズにおいて、焼結体
表面を研削などの手段によって処理し、粒界構成相成分
を特定の濃度以下におさえることで、窒化アルミニウム
とメタライズ用ペーストとの反応環境を改苦し、接合強
度の高いメタライズ層を形成することができた。
深さ方向において、表面濃度± 1.5%の濃度差で分
布している窒化アルミニウム焼結体を用いることによっ
て、焼結体表面にしみだした粒界構成相成分のメタライ
ズ層への浸透を促進し、メタライズ強度の向上を図るこ
とができた。
アルミニウム焼結体を用いて作製された窒化アルミニウ
ムメタライズ基板を、高周波半導体素子用ヒートシンク
として使用しても、十分信頼性が保てることがわかった
。
メタライズ層との接合に関与せずメタライズ層形成の際
に阻害因子となって働く、窒化アルミニウム焼結体中の
粒界構成相成分を、焼結体表面において3重量%以下と
しているため、窒化アルミニウムとメタライズ用ペース
トとの反応面積が増大し、接合強度の高いメタライズ層
を形成することができる。
アルミニウム焼結体に対して接合強度の高いメタライズ
層を形成することができる。
ライズ基板の製造工程を示す図であり、第2図は窒化ア
ルミニウム焼結体のX線回折結果を各物質の回折強度比
で表した図であり、第3図は第2図の結果を定量化して
表した図である。 出願人 株式会社 東芝
Claims (3)
- (1)窒化アルミニウム焼結体からなるセラミックス基
板と、このセラミックス基板上に形成されたメタライズ
層とを有する窒化アルミニウムメタライズ基板において
、 前記窒化アルミニウム焼結体の表面部における粒界構成
相成分の濃度が3重量%以下であることを特徴とする窒
化アルミニウムメタライズ基板。 - (2)前記窒化アルミニウム焼結体の深さ方向における
粒界構成相成分の濃度分布が、前記窒化アルミニウム焼
結体表面における濃度に対して、±1.5重量%以内の
濃度範囲である請求項1記載の窒化アルミニウムメタラ
イズ基板。 - (3)前記窒化アルミニウム焼結体の熱伝導率が200
W/m・K以上である請求項1記載の窒化アルミニウム
メタライズ基板。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1081932A JP2774560B2 (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 窒化アルミニウムメタライズ基板 |
KR1019900004371A KR930004627B1 (ko) | 1989-03-31 | 1990-03-29 | 질화알루미늄 금속화기판 |
EP19900303460 EP0390598A3 (en) | 1989-03-31 | 1990-03-30 | Metallized aluminum nitride substrate |
US07/855,468 US5637406A (en) | 1989-03-31 | 1992-03-23 | Metallized aluminum nitride substrate |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1081932A JP2774560B2 (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 窒化アルミニウムメタライズ基板 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02258686A true JPH02258686A (ja) | 1990-10-19 |
JP2774560B2 JP2774560B2 (ja) | 1998-07-09 |
Family
ID=13760252
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1081932A Expired - Lifetime JP2774560B2 (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 窒化アルミニウムメタライズ基板 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5637406A (ja) |
EP (1) | EP0390598A3 (ja) |
JP (1) | JP2774560B2 (ja) |
KR (1) | KR930004627B1 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04290462A (ja) * | 1991-03-19 | 1992-10-15 | Hitachi Ltd | 金属接合回路基板およびそれを用いた電子装置 |
US6013357A (en) * | 1996-08-27 | 2000-01-11 | Dowa Mining Co., Ltd. | Power module circuit board and a process for the manufacture thereof |
JP2010280564A (ja) * | 2010-08-25 | 2010-12-16 | Toshiba Corp | 窒化アルミニウム基板 |
JP2011190163A (ja) * | 2010-02-22 | 2011-09-29 | Tokuyama Corp | 窒化アルミニウム焼結体加工物の製造方法 |
JP2012111671A (ja) * | 2010-11-26 | 2012-06-14 | Tokuyama Corp | 窒化アルミニウム焼結体加工物の製造方法 |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6682608B2 (en) | 1990-12-18 | 2004-01-27 | Advanced Cardiovascular Systems, Inc. | Superelastic guiding member |
JPH07109573A (ja) * | 1993-10-12 | 1995-04-25 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | ガラス基板および加熱処理方法 |
CA2232517C (en) * | 1997-03-21 | 2004-02-17 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha .) | Functionally gradient material and method for producing the same |
US6699571B1 (en) | 2002-03-27 | 2004-03-02 | Morgan Advanced Ceramics, Inc. | Devices and methods for mounting components of electronic circuitry |
US7481267B2 (en) * | 2003-06-26 | 2009-01-27 | The Regents Of The University Of California | Anisotropic thermal and electrical applications of composites of ceramics and carbon nanotubes |
US6976532B2 (en) * | 2003-06-26 | 2005-12-20 | The Regents Of The University Of California | Anisotropic thermal applications of composites of ceramics and carbon nanotubes |
JP4238166B2 (ja) * | 2004-03-22 | 2009-03-11 | ヤマハ発動機株式会社 | 燃料供給装置および車両 |
US7771424B2 (en) * | 2005-03-16 | 2010-08-10 | Starion Instruments | Integrated metalized ceramic heating element for use in a tissue cutting and sealing device |
KR101981934B1 (ko) * | 2017-11-09 | 2019-05-27 | 한국기계연구원 | 질화물 후막을 포함하는 열 전달 시스템 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62182184A (ja) * | 1986-02-03 | 1987-08-10 | 住友電気工業株式会社 | 表面改質されたA▲l▼N焼結体 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5075208A (ja) * | 1973-11-07 | 1975-06-20 | ||
JPS57181356A (en) * | 1981-04-30 | 1982-11-08 | Hitachi Ltd | Sintered aluminum nitride body with high heat conductivity |
DE3247985C2 (de) * | 1982-12-24 | 1992-04-16 | W.C. Heraeus Gmbh, 6450 Hanau | Keramischer Träger |
JPS6073843A (ja) * | 1983-09-30 | 1985-04-26 | 株式会社東芝 | 機能性セラミツクス |
US4659611A (en) * | 1984-02-27 | 1987-04-21 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Circuit substrate having high thermal conductivity |
DE3534886A1 (de) * | 1984-09-30 | 1986-04-03 | Kabushiki Kaisha Toshiba, Kawasaki, Kanagawa | Verfahren zum herstellen von aluminiumnitrid-keramik-platten |
EP0235682B2 (en) * | 1986-02-20 | 1997-11-12 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Aluminium nitride sintered body having conductive metallized layer |
JPS62207789A (ja) * | 1986-03-08 | 1987-09-12 | 日本特殊陶業株式会社 | 窒化アルミニウム製基材の表面構造及びその製造法 |
DE3630066C1 (de) * | 1986-09-04 | 1988-02-04 | Heraeus Gmbh W C | Verfahren zur Herstellung von gesinterten metallisierten Aluminiumnitrid-Keramikkoerpern |
CA1333241C (en) * | 1987-01-26 | 1994-11-29 | Akira Sasame | Aluminum nitride sintered body formed with metallized layer and method of manufacturing the same |
US4883704A (en) * | 1987-03-30 | 1989-11-28 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Circuit substrate comprising nitride type ceramics, method for preparing it, and metallizing composition for use in it |
JPS6417093A (en) * | 1987-07-10 | 1989-01-20 | Shaken Kk | Deformation of character image |
JPH02176838A (ja) * | 1988-12-27 | 1990-07-10 | Nec Corp | レコード管理方式 |
-
1989
- 1989-03-31 JP JP1081932A patent/JP2774560B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1990
- 1990-03-29 KR KR1019900004371A patent/KR930004627B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1990-03-30 EP EP19900303460 patent/EP0390598A3/en not_active Ceased
-
1992
- 1992-03-23 US US07/855,468 patent/US5637406A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62182184A (ja) * | 1986-02-03 | 1987-08-10 | 住友電気工業株式会社 | 表面改質されたA▲l▼N焼結体 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04290462A (ja) * | 1991-03-19 | 1992-10-15 | Hitachi Ltd | 金属接合回路基板およびそれを用いた電子装置 |
US6013357A (en) * | 1996-08-27 | 2000-01-11 | Dowa Mining Co., Ltd. | Power module circuit board and a process for the manufacture thereof |
JP2011190163A (ja) * | 2010-02-22 | 2011-09-29 | Tokuyama Corp | 窒化アルミニウム焼結体加工物の製造方法 |
JP2010280564A (ja) * | 2010-08-25 | 2010-12-16 | Toshiba Corp | 窒化アルミニウム基板 |
JP2012111671A (ja) * | 2010-11-26 | 2012-06-14 | Tokuyama Corp | 窒化アルミニウム焼結体加工物の製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5637406A (en) | 1997-06-10 |
KR930004627B1 (ko) | 1993-06-02 |
EP0390598A2 (en) | 1990-10-03 |
JP2774560B2 (ja) | 1998-07-09 |
EP0390598A3 (en) | 1991-06-12 |
KR900015257A (ko) | 1990-10-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0285127B1 (en) | Circuit substrate comprising nitride type ceramics, method for preparing it, and metallizing composition for use in it | |
KR100353387B1 (ko) | 질화알루미늄 소결체 및 그 제조방법 | |
JPH02258686A (ja) | 窒化アルミニウムメタライズ基板 | |
EP0100232A2 (en) | Substrate for semiconductor apparatus | |
CN1121499A (zh) | 具有光滑镀层的金属化陶瓷基片及其制造方法 | |
JP2822518B2 (ja) | 窒化アルミニウム焼結体への金属化層形成方法 | |
US5370907A (en) | Forming a metallized layer on an AlN substrate by applying and heating a paste of a metal composed of W and Mo | |
JPS5851405A (ja) | 電気絶縁性炭化珪素焼結体の製法 | |
US6200373B1 (en) | Method for controlling of certain second phases in aluminum nitride | |
JP3736961B2 (ja) | セラミックス基板 | |
JPH08109069A (ja) | 窒化アルミニウム焼結体 | |
WO2023190451A1 (ja) | 接合体の製造方法 | |
JPS62197375A (ja) | 窒化アルミニウム基板 | |
JP3307862B2 (ja) | セラミック基板 | |
JPH04280880A (ja) | メタライザ及びセラミックスメタライズ基板 | |
JP3198139B2 (ja) | AlNメタライズ基板 | |
EP0269063A2 (en) | Mullite ceramic multi-layered substrate and process for producing the same | |
JPS62171964A (ja) | 窒化アルミニウム系焼結体 | |
JPH0393687A (ja) | 窒化アルミニウム基板の製造方法 | |
JPS58130590A (ja) | セラミツク配線基板および該セラミツク配線基板を用いた厚膜ハイブリツドic | |
TW202345995A (zh) | 接合體之製造方法 | |
JPH01155686A (ja) | 窒化アルミニウム多層基板およびその製造方法 | |
JPH07220523A (ja) | メタライズ用ペースト及びそれを用いたメタライズ基板の製造方法 | |
JPH03295878A (ja) | セラミック用メタライズ構造物 | |
JPS63244697A (ja) | 回路基板 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080424 Year of fee payment: 10 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313114 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080424 Year of fee payment: 10 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080424 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090424 Year of fee payment: 11 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |