JPH03295878A - セラミック用メタライズ構造物 - Google Patents
セラミック用メタライズ構造物Info
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- JPH03295878A JPH03295878A JP2096657A JP9665790A JPH03295878A JP H03295878 A JPH03295878 A JP H03295878A JP 2096657 A JP2096657 A JP 2096657A JP 9665790 A JP9665790 A JP 9665790A JP H03295878 A JPH03295878 A JP H03295878A
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Landscapes
- Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
- Ceramic Products (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
- Conductive Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明(上回路基板、メタライズ基板、ICパッケージ
、トランジスタパッケージ等の電子、半導体機器部品用
部材及びその製造方法に関するものである。
、トランジスタパッケージ等の電子、半導体機器部品用
部材及びその製造方法に関するものである。
[従来の技術]
従来、窒化アルミニウム(A Q N)にメタライズ構
成物を形成するメタライズ法として(上■タングステン
(W)を用いたコファイア法、■モリブデン(Mo)、
マンガン(Mn)による2次メタライズシ五〇セラ
ミックス基板上に銅回路板を直接に接合するDBC(D
irect Bond Copper)5五更には
■薄膜法等が知られている。
成物を形成するメタライズ法として(上■タングステン
(W)を用いたコファイア法、■モリブデン(Mo)、
マンガン(Mn)による2次メタライズシ五〇セラ
ミックス基板上に銅回路板を直接に接合するDBC(D
irect Bond Copper)5五更には
■薄膜法等が知られている。
このうちタングステンによるコファイア法(よ窒化アル
ミニウムのグリーンシート上にタングステンのペースト
を形成した後に、窒化アルミニウムの脱脂を行い、その
後焼成することにより、タングステンからなるメタライ
ズ構成物(層)を形成するものである。
ミニウムのグリーンシート上にタングステンのペースト
を形成した後に、窒化アルミニウムの脱脂を行い、その
後焼成することにより、タングステンからなるメタライ
ズ構成物(層)を形成するものである。
このコファイア法(飄 多層パッケージなどの内部回路
を形成できる点で優れており、他の3法(02次メタラ
イズ法、■DBC法、■薄膜法)で1友 内部回路は形
成できない。
を形成できる点で優れており、他の3法(02次メタラ
イズ法、■DBC法、■薄膜法)で1友 内部回路は形
成できない。
[発明が解決しようとする課M]
ところが、従来のコファイア法で(よ必ずしも接合強度
が大きくしかも導電性に優れたセラミック用メタライズ
構成物が得られないという問題があった。
が大きくしかも導電性に優れたセラミック用メタライズ
構成物が得られないという問題があった。
つまり、窒化アルミニウムに用いられるメタライズ構成
物を製造するに際して、単に通常の脱脂や焼成を行うだ
けで(よ他の金属との接合強度の向上や、電気回路等に
好適に使用される程度に導電性を向上できないという問
題があった更1:、その製造に際して、窒化アルミニウ
ムの表面酸化が発生し、焼結後に焼結体熱伝導率が低下
するという問題や、焼結助剤のイツトリアが窒化アルミ
ニウム表面の酸化膜(アルミナ)と反応シテ生成したY
AG(3Y2o3・5AQ203)相が、焼結体の表面
に浸み吊しやすくなり、表面粗度を悪くしたり、外観上
の不具合を生ずる等の問題が生ずることがあった 本発明(友上記課題を解決して、優れた特性を有するセ
ラミック用メタライズ構成物及びその製造方法を提供す
ることを目的とする。
物を製造するに際して、単に通常の脱脂や焼成を行うだ
けで(よ他の金属との接合強度の向上や、電気回路等に
好適に使用される程度に導電性を向上できないという問
題があった更1:、その製造に際して、窒化アルミニウ
ムの表面酸化が発生し、焼結後に焼結体熱伝導率が低下
するという問題や、焼結助剤のイツトリアが窒化アルミ
ニウム表面の酸化膜(アルミナ)と反応シテ生成したY
AG(3Y2o3・5AQ203)相が、焼結体の表面
に浸み吊しやすくなり、表面粗度を悪くしたり、外観上
の不具合を生ずる等の問題が生ずることがあった 本発明(友上記課題を解決して、優れた特性を有するセ
ラミック用メタライズ構成物及びその製造方法を提供す
ることを目的とする。
[課題を解決するための手段]
上記課題を解決する請求項1の発明(友窒化アルミニウ
ムを主成分とする焼結体に用いられ、主としてW、WC
及びW2Cよりなるセラミック用メタライズ構成物であ
って、 焼結後のメタライズ構成物におけるW、 WC。
ムを主成分とする焼結体に用いられ、主としてW、WC
及びW2Cよりなるセラミック用メタライズ構成物であ
って、 焼結後のメタライズ構成物におけるW、 WC。
W2Cの(1,1,0)面のX線ピーク強度を各々IW
、 IWc、 +w2cとすると、該X線ピーク強
度の比IW/(lWC++W2C)が、3.5以上であ
ることを特徴とするセラミック用メタライズ構成物を要
旨とする。
、 IWc、 +w2cとすると、該X線ピーク強
度の比IW/(lWC++W2C)が、3.5以上であ
ることを特徴とするセラミック用メタライズ構成物を要
旨とする。
また、請求項2の発明(飄
窒化アルミニウムの脱脂を行った後1:、該窒化アルミ
ニウムとタングステンとを同時に焼成してメタライズ構
成物を形成するセラミックス用メタライズ構成物の製造
方法であって、 上記窒化アルミニウムの樹脂抜きの際に1上該窒化アル
ミニウムに含まれる残存カーボン量を1重量%未満にな
るまで脱脂を行うことを特徴とするセラミック用メタラ
イズ構成物の製造方法を要旨とする。
ニウムとタングステンとを同時に焼成してメタライズ構
成物を形成するセラミックス用メタライズ構成物の製造
方法であって、 上記窒化アルミニウムの樹脂抜きの際に1上該窒化アル
ミニウムに含まれる残存カーボン量を1重量%未満にな
るまで脱脂を行うことを特徴とするセラミック用メタラ
イズ構成物の製造方法を要旨とする。
ここで、上記セラミック用メタライズ構成物のうち、特
に電気回路として用いられるメタライズ構成物として+
L X線回折により得られたX線ピーク強度比lW/
(IWC+1W2C)が、10以上であれ1よ導電性
に極めて優れているので好適である。
に電気回路として用いられるメタライズ構成物として+
L X線回折により得られたX線ピーク強度比lW/
(IWC+1W2C)が、10以上であれ1よ導電性
に極めて優れているので好適である。
[作用]
請求項1の発明1よ窒化アルミニウムに用いられるセラ
ミック用メタライズ構成物、即ち主としてW、WC及び
W2Cよりなるセラミック用メタライズ構成物を焼結し
た後1; X線回折を行い、その測定値が所定値以上
であれ(i 好適なセラミック用メタライズ構成物とす
るものである。
ミック用メタライズ構成物、即ち主としてW、WC及び
W2Cよりなるセラミック用メタライズ構成物を焼結し
た後1; X線回折を行い、その測定値が所定値以上
であれ(i 好適なセラミック用メタライズ構成物とす
るものである。
つまり、本発明者らは、焼結後のメタライズ構成物のX
線回折を行い、その結果、タングステン(W)と炭化タ
ングステン(W C+W 2 C)との構成比が、メタ
ライズ構成物の特性を大きく左右することを見いだし本
発明を完成したものである。
線回折を行い、その結果、タングステン(W)と炭化タ
ングステン(W C+W 2 C)との構成比が、メタ
ライズ構成物の特性を大きく左右することを見いだし本
発明を完成したものである。
即ち、回折したX線のW、WC及びW2Cの(1゜1.
0)面のX線ピークを測定し、そのX線ピーク強度の比
IW/ (lWC++W2C)が、3.5以上であるも
のが、高い接合強度と導電性を有し、更に、焼結後の熱
伝導率が高くかつ表面が滑らかなセラミック用メタライ
ズ構成物となる。
0)面のX線ピークを測定し、そのX線ピーク強度の比
IW/ (lWC++W2C)が、3.5以上であるも
のが、高い接合強度と導電性を有し、更に、焼結後の熱
伝導率が高くかつ表面が滑らかなセラミック用メタライ
ズ構成物となる。
また、請求項2の発明1よ セラミック用メタライズ構
成物の製造方法に関する発明であって、窒化アルミニウ
ムの脱脂を行った後に窒化アルミニウムとタングステン
とを同時に焼成する方法に関する発明である。
成物の製造方法に関する発明であって、窒化アルミニウ
ムの脱脂を行った後に窒化アルミニウムとタングステン
とを同時に焼成する方法に関する発明である。
即ち、本発明では、窒化アルミニウムの樹脂抜きを行う
際に、窒化アルミニウムに含まれる残存カーボン量を1
重量%未満になるまで脱脂を行うので、後の窒化アルミ
ニウムやタングステンの焼成において、WとCとが反応
してWCやW2Cとなることを低減できる。その結果、
電気抵抗を低く抑えることが可能となり、更に W、
WC,W2C間の収縮率と熱膨張率の違いによるメタ
ライズ構成物の接合強度の低下も防止でき、窒化アルミ
ニウムの表面酸化及びYAG相の浸呂を防止した上で、
熱伝導率や表面の粗度も向上させることが可能となる。
際に、窒化アルミニウムに含まれる残存カーボン量を1
重量%未満になるまで脱脂を行うので、後の窒化アルミ
ニウムやタングステンの焼成において、WとCとが反応
してWCやW2Cとなることを低減できる。その結果、
電気抵抗を低く抑えることが可能となり、更に W、
WC,W2C間の収縮率と熱膨張率の違いによるメタ
ライズ構成物の接合強度の低下も防止でき、窒化アルミ
ニウムの表面酸化及びYAG相の浸呂を防止した上で、
熱伝導率や表面の粗度も向上させることが可能となる。
[実施例]
次1ミ本発明の詳細な説明する。
まず、窒化アルミニウム(A Q N)及びタングステ
ン(W)からなるメタライズ構成物の製造方法について
説明する。
ン(W)からなるメタライズ構成物の製造方法について
説明する。
最初に、平均粒径]、7μmの窒化アルミニウム95重
量%に、焼結助剤としてイツトリア(Y2O2)を5重
量%添加し、更1ミ有機バインダとしてPVB及び可塑
剤DBPを溶媒とともに混合してスラリーとし、その後
ドクターブレード装置にてテープ成形し、窒化アルミニ
ウムのグリーンシートを作成する。
量%に、焼結助剤としてイツトリア(Y2O2)を5重
量%添加し、更1ミ有機バインダとしてPVB及び可塑
剤DBPを溶媒とともに混合してスラリーとし、その後
ドクターブレード装置にてテープ成形し、窒化アルミニ
ウムのグリーンシートを作成する。
次1:、平均粒径1.0μmのタングステン粉末95重
量%と、有機ビヒクル5重量%とを混合し、ブチルカル
ピトールを用いて粘調して、タングステンペーストを作
成する。
量%と、有機ビヒクル5重量%とを混合し、ブチルカル
ピトールを用いて粘調して、タングステンペーストを作
成する。
そして、上記窒化アルミニウムのグリーンシート上1:
、タングステンペーストをスクリーン印刷し、乾燥した
後1:、加湿還元ガス中にて、750℃〜850℃の間
の温度で10時間樹脂抜き(脱脂)を行う。
、タングステンペーストをスクリーン印刷し、乾燥した
後1:、加湿還元ガス中にて、750℃〜850℃の間
の温度で10時間樹脂抜き(脱脂)を行う。
その後、1700℃〜1900℃のN2ガス雰囲気中で
、5時間焼成を行い、窒化アルミニウムの焼結体及びそ
の上部に形成されたメタライズ構成物を形成した (実験例1) 次1ミ上記製造方法によって形成されたメタライズ構成
物の特性を調べるために行った実験例について説明する
。・ 本実験例で(よ樹脂抜きの条件を変えて3種のサンプル
A、B、C(60mmX60mmX2mmの窒化アルミ
ニウムのシート)を製造し、その特性等を調べたその製
造条件及び実験結果を下記第1表及び第2表、更に第1
図ないし第5図に示す。
、5時間焼成を行い、窒化アルミニウムの焼結体及びそ
の上部に形成されたメタライズ構成物を形成した (実験例1) 次1ミ上記製造方法によって形成されたメタライズ構成
物の特性を調べるために行った実験例について説明する
。・ 本実験例で(よ樹脂抜きの条件を変えて3種のサンプル
A、B、C(60mmX60mmX2mmの窒化アルミ
ニウムのシート)を製造し、その特性等を調べたその製
造条件及び実験結果を下記第1表及び第2表、更に第1
図ないし第5図に示す。
尚、上記サンプルのうち、サンプルA、 Bが本実施
例のメタライズ構成物であり、サンプルCが比較例であ
る。
例のメタライズ構成物であり、サンプルCが比較例であ
る。
下記第1表は、脱脂の条件を示すものであり、ここで、
脱脂体とは脱脂された窒化アルミニウムを示し、脱脂の
際に使用される還元ガスの露点は30℃とした。
脱脂体とは脱脂された窒化アルミニウムを示し、脱脂の
際に使用される還元ガスの露点は30℃とした。
第1表
二の第1表から明らかなよう1ミ実施例のサンプルA、
Bでは残存カーボン量が0. 7以下と少ないが、
比較例のサンプルCでは1重量%以上と大きな値となっ
ている。
Bでは残存カーボン量が0. 7以下と少ないが、
比較例のサンプルCでは1重量%以上と大きな値となっ
ている。
また、下記第2表(よ焼結によって製造されたメタライ
ズ構成物の特性を測定した結果を示したものである。こ
こで電気抵抗値として(よ第1図に示す実験用の構成を
用いて測定した。即ち、窒化アルミニウムのグリーンシ
ート上にメタライズペーストを塗布し、これを脱脂した
後に焼成して基板1を形成し、この基板1上に長さ50
rrm、 幅0、 2mn、 厚さ10〜20μmの測
定用メタライズ構成物2を形成し、そのメタライズ構成
物2の両端部間の電気抵抗を測定した また、メタライズ強度として(よ 同図に示すように1
辺が2mmの測定用メタライズ構成物3を形成し、更に
第2図に示すよう1:、そのメタライズ構成物3の表面
に、Niメツキを施した後、Sn/Pb半田4を用いて
、軸部1φ、ヘッド部1゜5φのネールへラドピン5を
接合し、矢印へ方向の引っ張り強度を測定した。
ズ構成物の特性を測定した結果を示したものである。こ
こで電気抵抗値として(よ第1図に示す実験用の構成を
用いて測定した。即ち、窒化アルミニウムのグリーンシ
ート上にメタライズペーストを塗布し、これを脱脂した
後に焼成して基板1を形成し、この基板1上に長さ50
rrm、 幅0、 2mn、 厚さ10〜20μmの測
定用メタライズ構成物2を形成し、そのメタライズ構成
物2の両端部間の電気抵抗を測定した また、メタライズ強度として(よ 同図に示すように1
辺が2mmの測定用メタライズ構成物3を形成し、更に
第2図に示すよう1:、そのメタライズ構成物3の表面
に、Niメツキを施した後、Sn/Pb半田4を用いて
、軸部1φ、ヘッド部1゜5φのネールへラドピン5を
接合し、矢印へ方向の引っ張り強度を測定した。
更に、メタライズ構成相の比として(よ周知のX線回折
による測定を行い、第3図ないし第5図に示すようなW
、WC,W2Cの(1,1,0)面のX線ピーク(図の
枠で囲んだピーク)を検出し、その比IW/ (lWC
++W2C)を算出した。尚、第3図ないし第5図の縦
軸1表回折したX線の出力の大きさ(カウント数)を示
し、横軸はブラッグ角2θの大きさを示している。また
、第3図はサンプルA、第4図はサンプルB、第5図は
サンプルCのX線チャートを各々示している。
による測定を行い、第3図ないし第5図に示すようなW
、WC,W2Cの(1,1,0)面のX線ピーク(図の
枠で囲んだピーク)を検出し、その比IW/ (lWC
++W2C)を算出した。尚、第3図ないし第5図の縦
軸1表回折したX線の出力の大きさ(カウント数)を示
し、横軸はブラッグ角2θの大きさを示している。また
、第3図はサンプルA、第4図はサンプルB、第5図は
サンプルCのX線チャートを各々示している。
第2表
上記第1表及び第2表から明らかなよう1ミ本実施例の
サンプルAのメタライズの構成相比(X線ピーク強度比
で示す)、 IW/(IWC++W2C)が10以上で
あれ(L電気抵抗が15mΩ/口未満と低く、又メタラ
イズ強度も5 kg/mm2を上回る実用レベルにあり
、回路基板用メタライズ等に好適であることが明かであ
る。
サンプルAのメタライズの構成相比(X線ピーク強度比
で示す)、 IW/(IWC++W2C)が10以上で
あれ(L電気抵抗が15mΩ/口未満と低く、又メタラ
イズ強度も5 kg/mm2を上回る実用レベルにあり
、回路基板用メタライズ等に好適であることが明かであ
る。
また、サンプルBのメタライズの構成相比、W/ (I
WC++W2C)が3.5以上10未満であれE 電気
抵抗(よ 15〜100mΩ/口と、サンプルAと比較
してやや高いものの、メタライズ強度は5 kg/mm
2を上回る実用レベルにあり、各種接合用等のメタライ
ズとして好適であることが明かである。
WC++W2C)が3.5以上10未満であれE 電気
抵抗(よ 15〜100mΩ/口と、サンプルAと比較
してやや高いものの、メタライズ強度は5 kg/mm
2を上回る実用レベルにあり、各種接合用等のメタライ
ズとして好適であることが明かである。
尚、比較例のサンプルCは、 IW/(lWc十IW2
C)が3.5未満であり、電気抵抗が100mΩ/口を
上回り、メタライズ強度も1〜4kg/mm2と小さく
、メタライズ後のNiメツキ等で外観不良(密着不良)
が発生するので、実用上問題がある。
C)が3.5未満であり、電気抵抗が100mΩ/口を
上回り、メタライズ強度も1〜4kg/mm2と小さく
、メタライズ後のNiメツキ等で外観不良(密着不良)
が発生するので、実用上問題がある。
(実験例2)
本実験例では、脱脂の条件として還元ガスの露点を40
℃とした以外(上 上記実験例1と同様な条件で同じ実
験を行った。その条件及び結果を下記第3表及び第4表
に示す。
℃とした以外(上 上記実験例1と同様な条件で同じ実
験を行った。その条件及び結果を下記第3表及び第4表
に示す。
第3表
この第3表から明らかなように、実施例のサンプルD、
E、 F (サンプルAと同じ寸法)で(表金て
残存カーボン量が1重量%未満と少ない値となっている
。
E、 F (サンプルAと同じ寸法)で(表金て
残存カーボン量が1重量%未満と少ない値となっている
。
第4表
上記第3表及び第4表から明らかなよう1:。
本実施例のサンプルDのメタライズの構成相上ヒIW/
(lWC+IW2C)が10以上であれば、電気抵抗
が15mΩ/口未満と低く、又メタライズ強度も5kg
/rnm2を上回る実用レベルにあり、回路基板用メタ
ライズ等に好適であることが明かである。
(lWC+IW2C)が10以上であれば、電気抵抗
が15mΩ/口未満と低く、又メタライズ強度も5kg
/rnm2を上回る実用レベルにあり、回路基板用メタ
ライズ等に好適であることが明かである。
また、サンプルEのメタライズの構成相上ヒW/ (I
WC+l W2 C)が3.5以上10未満であれ(
f、、電気抵抗(よ 15〜50mΩ/口と、サンプル
Dと比較してやや高いものの、メタライズ強度は5kg
/rnm2を上回る実用レベルにあり、各種接合用等の
メタライズとして好適であることが明かである。
WC+l W2 C)が3.5以上10未満であれ(
f、、電気抵抗(よ 15〜50mΩ/口と、サンプル
Dと比較してやや高いものの、メタライズ強度は5kg
/rnm2を上回る実用レベルにあり、各種接合用等の
メタライズとして好適であることが明かである。
サンプルFは、 I w/ (I W C+I W2
C)が3゜3とボーダーライン上の値であり、電気抵抗
が80mΩ/口を上回り、メタライズ強度も3〜5 k
g/mm2と小さいが、上記比較例Cよりは弱冠優れた
値となっている。
C)が3゜3とボーダーライン上の値であり、電気抵抗
が80mΩ/口を上回り、メタライズ強度も3〜5 k
g/mm2と小さいが、上記比較例Cよりは弱冠優れた
値となっている。
[発明の効果]
上述した様に、本発明のセラミック用メタライズ構成物
(よ その電気抵抗も低く電気回路等に使用することが
でき、更に接合強度も大きなものである。その王焼結後
の熱伝導率も大きく、表面も滑らかで外観にも優れてい
るので各種の接合用に使用されるメタライズ構成物とし
て好適である。
(よ その電気抵抗も低く電気回路等に使用することが
でき、更に接合強度も大きなものである。その王焼結後
の熱伝導率も大きく、表面も滑らかで外観にも優れてい
るので各種の接合用に使用されるメタライズ構成物とし
て好適である。
また、その製造方法(よ脱脂における残留カーボン量を
調節するだけで、優れたメタライズ構成物を製造できる
という顕著な効果を奏する。
調節するだけで、優れたメタライズ構成物を製造できる
という顕著な効果を奏する。
第1図は実験に使用する基板を示す斜視図、第2図は接
合強度の実験を示す説明は第3図はサンプルAのX線回
折の結果を示すグラフ、第4図はサンプルBのX線回折
の結果を示すグラフ、第5図はサンプルCOX線回折の
結果を示すグラフである。 1・・・基板 2.3・・・メタライズ構成物
合強度の実験を示す説明は第3図はサンプルAのX線回
折の結果を示すグラフ、第4図はサンプルBのX線回折
の結果を示すグラフ、第5図はサンプルCOX線回折の
結果を示すグラフである。 1・・・基板 2.3・・・メタライズ構成物
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 窒化アルミニウムを主成分とする焼結体に用いられ
、主としてW,WC及びW_2Cよりなるセラミック用
メタライズ構成物であって、 焼結後のメタライズ構成物におけるW,WC,W_2C
の(1,1,0)面のX線ピーク強度を各々IW,IW
C,IW_2Cとすると、該X線ピーク強度の比IW/
(IWC+IW_2C)が、3.5以上であることを特
徴とするセラミック用メタライズ構成物。 2 窒化アルミニウムの脱脂を行った後に、該窒化アル
ミニウムとタングステンとを同時に焼成してメタライズ
構成物を形成するセラミックス用メタライズ構成物の製
造方法であって、 上記窒化アルミニウムの樹脂抜きの際には、該窒化アル
ミニウムに含まれる残存カーボン量を1重量%未満にな
るまで脱脂を行うことを特徴とするセラミック用メタラ
イズ構成物の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2096657A JP2842926B2 (ja) | 1990-04-12 | 1990-04-12 | セラミック用メタライズ構造物 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2096657A JP2842926B2 (ja) | 1990-04-12 | 1990-04-12 | セラミック用メタライズ構造物 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03295878A true JPH03295878A (ja) | 1991-12-26 |
JP2842926B2 JP2842926B2 (ja) | 1999-01-06 |
Family
ID=14170909
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2096657A Expired - Fee Related JP2842926B2 (ja) | 1990-04-12 | 1990-04-12 | セラミック用メタライズ構造物 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2842926B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002043756A (ja) * | 2000-07-31 | 2002-02-08 | Kyocera Corp | 窒化珪素質多層配線基板 |
-
1990
- 1990-04-12 JP JP2096657A patent/JP2842926B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002043756A (ja) * | 2000-07-31 | 2002-02-08 | Kyocera Corp | 窒化珪素質多層配線基板 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2842926B2 (ja) | 1999-01-06 |
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Date | Code | Title | Description |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |