JPH0225788A - ビーム配量の測定法 - Google Patents
ビーム配量の測定法Info
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- JPH0225788A JPH0225788A JP1130303A JP13030389A JPH0225788A JP H0225788 A JPH0225788 A JP H0225788A JP 1130303 A JP1130303 A JP 1130303A JP 13030389 A JP13030389 A JP 13030389A JP H0225788 A JPH0225788 A JP H0225788A
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 17
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T5/00—Recording of movements or tracks of particles; Processing or analysis of such tracks
- G01T5/10—Plates or blocks in which tracks of nuclear particles are made visible by after-treatment, e.g. using photographic emulsion, using mica
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、ビーム照射されて次にエツチングされるシー
トにおける核トラックを評価することによりビーム調量
を測定する方法に関する。
トにおける核トラックを評価することによりビーム調量
を測定する方法に関する。
従来技術
請求項１の上位概念に、核ビームにより照射されるシー
トの種々の評価法が示されている。
トの種々の評価法が示されている。
これに関連する公知技術が、通常のエツチング法に関し
ては” Ｎｕｃｌｅａｒ Ｔｒａｃｋｓ ｉｎ ５ｏｌ
ｉｄｓＲｏｂｅｒｔ Ｌ、 Ｆｌｅｉｓｃｈｅｒ他、Ｕ
ｎｉｖｅｒｓｉｔｙ ｏｆＣａｌｉｆｏｒｎｉａ Ｐｒ
ｅｓｓ＋ １９７５ ＋第５０頁以下に示されてカシ、
さらに電気化学的エツチング法に対しては、報告書Ｋｆ
Ｋ −６８０５、Ｓｅｐｔｅｍ−ｂｅｒ １９８５ ｐ
ｄｅｓ Ｋｅｒｎｆｏｒｓｃｈｕｎｇｓｚｅｎｔｒｕ
ｍｓＫａｒｌｓｒｕｈｅ ＋の例えば第２２頁〜第３２
頁に詳述されている。
ては” Ｎｕｃｌｅａｒ Ｔｒａｃｋｓ ｉｎ ５ｏｌ
ｉｄｓＲｏｂｅｒｔ Ｌ、 Ｆｌｅｉｓｃｈｅｒ他、Ｕ
ｎｉｖｅｒｓｉｔｙ ｏｆＣａｌｉｆｏｒｎｉａ Ｐｒ
ｅｓｓ＋ １９７５ ＋第５０頁以下に示されてカシ、
さらに電気化学的エツチング法に対しては、報告書Ｋｆ
Ｋ −６８０５、Ｓｅｐｔｅｍ−ｂｅｒ １９８５ ｐ
ｄｅｓ Ｋｅｒｎｆｏｒｓｃｈｕｎｇｓｚｅｎｔｒｕ
ｍｓＫａｒｌｓｒｕｈｅ ＋の例えば第２２頁〜第３２
頁に詳述されている。
照射されるシートの評価は時間の接近する２拡
つのステップを即ちエツチング（核トラック増克）およ
び後続の、核トラックの光学的計数を必要とする。
び後続の、核トラックの光学的計数を必要とする。
発明の解決すべき問題点
本発明の課題はこの所要時間を短縮させることである。
問題点を解決するための手段
この課題は上位概念に記載の方法において、本発明によ
り請求項１の特徴部分に示された構成によシ即ちステッ
プによシ解決されている。
り請求項１の特徴部分に示された構成によシ即ちステッ
プによシ解決されている。
本発明の別の構成が請求項２および６の特徴部分に示さ
れている。この方法は評価のための所要時間を著しく低
減させる、何故ならばエツチング工程の終了と共に既に
、求められるべきビーム調量が得られるからである。さ
らにエツチング工程が連続的に監視され評価の信頼性が
向上される。この評価は自動的に行なわれる。この方法
は、最小の作業経費で経済的に時間節約的にかつ信頼性
をもって、多数の核トラック検出器（シート）を同時に
評価可能にする、即ちその都度のビーム調量を検出でき
るようにする。
れている。この方法は評価のための所要時間を著しく低
減させる、何故ならばエツチング工程の終了と共に既に
、求められるべきビーム調量が得られるからである。さ
らにエツチング工程が連続的に監視され評価の信頼性が
向上される。この評価は自動的に行なわれる。この方法
は、最小の作業経費で経済的に時間節約的にかつ信頼性
をもって、多数の核トラック検出器（シート）を同時に
評価可能にする、即ちその都度のビーム調量を検出でき
るようにする。
実施例の説明
次に本発明の実施例を図面を用いて説明する。
エツチング電圧Ｕｃｉおよびその周波数は、検出器材料
の種類に応じて、変化可能にする必要がある。そのため
測定装置が、エツチング電圧５００−１０００Ｖおよび
５００−５０００Ｈｚに対して設計される。この測定装
置は、ＲＣ素子の位相シフトの原理にもとづく。エツチ
ングセル１へ抵抗Ｒｉ ２が直列に接続されている。
の種類に応じて、変化可能にする必要がある。そのため
測定装置が、エツチング電圧５００−１０００Ｖおよび
５００−５０００Ｈｚに対して設計される。この測定装
置は、ＲＣ素子の位相シフトの原理にもとづく。エツチ
ングセル１へ抵抗Ｒｉ ２が直列に接続されている。
位相シフトは、発電機電圧ＵＧｅｎのゼロ点検出によシ
ないし抵抗ＲＮ ３における部分電圧Ｕｓｐおよび抵抗
Ｒ工２における電圧ＵＫｐ工のゼロ点検出により、測定
される。
ないし抵抗ＲＮ ３における部分電圧Ｕｓｐおよび抵抗
Ｒ工２における電圧ＵＫｐ工のゼロ点検出により、測定
される。
高電圧分圧器４において、ゼロ点検出のための信号取シ
出しが行なわれる。抵抗Ｒ工が位相シフトに影害を与え
る。信号は絶縁増幅器５によシ直流的に分離される。続
いて振幅が同じ高さへ調整６されて比較器７へ導ひかれ
る。最後にこれらの両信号が論理＠ぎ結合８される。
出しが行なわれる。抵抗Ｒ工が位相シフトに影害を与え
る。信号は絶縁増幅器５によシ直流的に分離される。続
いて振幅が同じ高さへ調整６されて比較器７へ導ひかれ
る。最後にこれらの両信号が論理＠ぎ結合８される。
エツチングセルたとえばＣ１・・・Ｃ工・・・Ｃ２０に
おける電圧は最大値が１ＫｖＯ値を有する必要がある。
おける電圧は最大値が１ＫｖＯ値を有する必要がある。
エツチング発電機の電圧範囲は１０−１９９０ｖの値を
有する。エツチングセルの電圧は次の式にもとづいて算
出される。
有する。エツチングセルの電圧は次の式にもとづいて算
出される。
Ｕ ＝Ｕ −ｓｉｎ Φ
Ｃｉ ｇｅｎ １位相角に対して
はΦ、＜３０°にする必要がちる。
はΦ、＜３０°にする必要がちる。
測定され九位相角は次の式に代入される。
Φ ＝ ａｒｃｔａｎ
２π・ｆ−Ｒ工・（ＣＦ工＋Ｃ，）
エツチングセル１の容量ＣｌハＣ工＝ ＣＦ工＋Ｃｐで
あり、これは、照射されないシートの容量としてのＣｐ
および付加的な容量としてのＣＦｉ−このシートは照射
されたーと全音する。角度は６０°よりも小謳くするか
または６０°に等しく嘔れる、何故ならばこの角度が増
加すると、所定の変化Δ釦、の場合の変化ΔΦ１が一層
小さくなるからである。上記の式を用いて抵抗Ｒ１＝
３ ＭＧの値が選定される。発電機のゼロ点検出用の分
圧器に対して（ＲＮ＋ＲＨ）＝１０ＭΩが選定される。
あり、これは、照射されないシートの容量としてのＣｐ
および付加的な容量としてのＣＦｉ−このシートは照射
されたーと全音する。角度は６０°よりも小謳くするか
または６０°に等しく嘔れる、何故ならばこの角度が増
加すると、所定の変化Δ釦、の場合の変化ΔΦ１が一層
小さくなるからである。上記の式を用いて抵抗Ｒ１＝
３ ＭＧの値が選定される。発電機のゼロ点検出用の分
圧器に対して（ＲＮ＋ＲＨ）＝１０ＭΩが選定される。
これにより損失電力が低く保たれる。信号の取り出され
る抵抗２ないし３は、最大許容信号電圧から求められる
。
る抵抗２ないし３は、最大許容信号電圧から求められる
。
高電圧側の短絡およびその他の障害の場合の計装の損傷
を回避するために、信号の直流的分離５が行なわれる。
を回避するために、信号の直流的分離５が行なわれる。
このことは絶縁増幅器によシ行なわれる。その伝送作用
は小形ハイブリットトランスにもとづく。このトランス
は最大絶縁電圧が３５００ ＶＤＣ用に設計されている
。
は小形ハイブリットトランスにもとづく。このトランス
は最大絶縁電圧が３５００ ＶＤＣ用に設計されている
。
各１つの高電圧分圧器および各１つの絶縁増幅器がその
配線と共に金属ケーシングの中へ組み込まれる。高い電
界のため、分圧器と絶縁増幅器との間に金属壁が組み込
まれる。高電圧の端子は絶縁されて引き込まれる。
配線と共に金属ケーシングの中へ組み込まれる。高い電
界のため、分圧器と絶縁増幅器との間に金属壁が組み込
まれる。高電圧の端子は絶縁されて引き込まれる。
電気的な基準点を相応に選定すれば、信号検出は基本的
には絶縁増幅器を用いなくても可能となる。
には絶縁増幅器を用いなくても可能となる。
エツチングセルの容量は、電気化学的エツチングの工程
中に増加する。これにより、抵抗Ｒ１・・・Ｒ工・・・
Ｒ２０における電圧が変化する。このことが、検出され
るべき信号”ｓｐｉのその都度の振幅変化を生ぜさせる
。
中に増加する。これにより、抵抗Ｒ１・・・Ｒ工・・・
Ｒ２０における電圧が変化する。このことが、検出され
るべき信号”ｓｐｉのその都度の振幅変化を生ぜさせる
。
比較器γは信号をゼロ通過の際に正確に検出するのでは
なく、この信号を可調整の基準電圧と比較する。所定の
基準電圧９の場合の振幅差が、比較器のスイッチング時
間の時間差を生ぜさせる。そのため振幅調整器６が必要
とされる。
なく、この信号を可調整の基準電圧と比較する。所定の
基準電圧９の場合の振幅差が、比較器のスイッチング時
間の時間差を生ぜさせる。そのため振幅調整器６が必要
とされる。
振幅調整器６は、可変振幅増幅器、ピーク値測定器およ
び比較器から構成される。
び比較器から構成される。
比較器７の入力信号に障害電圧およびノイズが重畳する
ことがある。そのため比較器の基準としてアース電位は
用いられない。基準電圧源９は電圧０−１００ ｍＶを
調整可能に発生する。
ことがある。そのため比較器の基準としてアース電位は
用いられない。基準電圧源９は電圧０−１００ ｍＶを
調整可能に発生する。
排他ＯＲ信号０ ．１０のパルス持続時間０ｇ１
ｔ２□が測定される。このパルス持続時間により位相角
Φ、がΦ、＝２πｆｔ、 により算出される。
Φ、がΦ、＝２πｆｔ、 により算出される。
この場合、ｆはエツチング電圧の周波数である。
角度Φ、を下の式に代入すると、容量Ｃｐと９、との和
が求められる。
が求められる。
照射された検出器と照射されない検出器との差を形成す
ることにより、Ｃｐを考慮しなくてすむ。測定値検出は
選択可能な時間間隔において行なわれ、この場合たとえ
ば１００の測定値にわたる平均化が、ユニバーサル計数
器により自動的に実施される。
ることにより、Ｃｐを考慮しなくてすむ。測定値検出は
選択可能な時間間隔において行なわれ、この場合たとえ
ば１００の測定値にわたる平均化が、ユニバーサル計数
器により自動的に実施される。
従来のエツチング法（前述の刊行物、４頁）は方法的に
この場合も実施可能である。この場合、エツチング時間
の終りに位相シフトが１回測定嘔れて、これにより１つ
または複数個のエツチングセルの最終容量が求められる
。
この場合も実施可能である。この場合、エツチング時間
の終りに位相シフトが１回測定嘔れて、これにより１つ
または複数個のエツチングセルの最終容量が求められる
。
容量測定の別の構成は、例えば容量測定グリップによる
測定によっても可能である。
測定によっても可能である。
第６図に同時にエツチングされている３つのエツチング
セル容量の定性的経過１１が、エラちの上に配属される
。１２で示されているエツチングセル容量の時間経過に
おいては例えば、１１の下のシートよシも一層わずかな
エネルギーを有するビームにさらされたシートがエツチ
ングされる。この場合、有利なエツチング時間ｔ１゜は
１１の下よシも短かい。
セル容量の定性的経過１１が、エラちの上に配属される
。１２で示されているエツチングセル容量の時間経過に
おいては例えば、１１の下のシートよシも一層わずかな
エネルギーを有するビームにさらされたシートがエツチ
ングされる。この場合、有利なエツチング時間ｔ１゜は
１１の下よシも短かい。
発明の効果
本発明によシ、所要時間の短縮された高い信頼性の経済
的なエツチング法が提供される。
的なエツチング法が提供される。
第１図はエツチング装置の電気回路図、第２図はエツチ
ング装置用の測定回路のブロック図、第６図はエツチン
グ中のエツチングセルの定性的経過図を示す。 １・・・２番目のエツチングセル、２・・・エツチング
セル１への直列抵抗、３・・・分圧器抵抗ＲＮ％４・・
・分圧器、５・・・絶縁増幅器、６・・・振幅調整器、
γ・・・比較器、８・・・論理装置、９・・・基準電圧
、１０・・・排他ＯＲ信号、１１・・・異なる強さで照
射される６つのシートの同時のエツチング中のエツチン
グセル容量の時間経過ダイヤグラム、１２・・・よシ高
いエネルギーの核ビームに照射されたシートのエツチン
グ中のエツチング容量の時間経過ダイヤグラム、１３・
・・エツチングパケツ ト 。
ング装置用の測定回路のブロック図、第６図はエツチン
グ中のエツチングセルの定性的経過図を示す。 １・・・２番目のエツチングセル、２・・・エツチング
セル１への直列抵抗、３・・・分圧器抵抗ＲＮ％４・・
・分圧器、５・・・絶縁増幅器、６・・・振幅調整器、
γ・・・比較器、８・・・論理装置、９・・・基準電圧
、１０・・・排他ＯＲ信号、１１・・・異なる強さで照
射される６つのシートの同時のエツチング中のエツチン
グセル容量の時間経過ダイヤグラム、１２・・・よシ高
いエネルギーの核ビームに照射されたシートのエツチン
グ中のエツチング容量の時間経過ダイヤグラム、１３・
・・エツチングパケツ ト 。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、トラック検出材料から成る、ビーム線の照射される
シート中に、電気化学的エッチングセルを用いてエッチ
ングされる核トラックを評価することによりビーム配量
を測定する方法であつて、この場合このエッチングセル
は核トラックを有するシートにより２つの室に分けられ
ており、さらに２つの異なる液体を互いに分離しており
、この場合この照射される方のシート側はエッチング−
および溶媒混合液が接触するようにし、他方の側は電解
液が接触するようにし、さらに前記液体中へ各１つの電
極が浸漬されている構成の、ビーム線量の測定法におい
て、 ａ）両方の電極へ交流電圧を印加するステップと、 ｂ）核トラックを拡大するために、所定時間にわたるエ
ッチング−および溶媒混合液による選択的腐食により核
トラックをエッチングするステップとを有するビーム調
量の測定法において、さらに次のステツプを設けるよう
にし、即ち ｃ）エッチング中にエッチングセルの電気容量を連続的
に検出するステツプと、 ｄ）較正規準により求められた所定のエッチング時間後
に形成された電気容量を、較正値との比較によりビーム
調量に対する尺度として用いるステップとを設けたこと
を特徴とするビーム配量の測定法。 ２、エッチングセルと直列に接続された抵抗における交
流電圧を交流電圧源の電圧と、互いに位相に関して比較
するようにし、さらに所定のエッチング時間後のこの位
相を核ビーム調量に対する尺度として用いるようにした
請求項１記載の方法。 ３、複数個のエッチングセルを機械的に１つのエッチン
グパケットにまとめるようにし、さらに交流電圧源へ接
続し、この場合、各々のエッチングセルに直列に接続さ
れた抵抗における交流電圧を前記電圧源の電圧と位相に
関して連続的に比較するようにした請求項１又は２記載
の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3817659.9 | 1988-05-25 | ||
| DE3817659A DE3817659A1 (de) | 1988-05-25 | 1988-05-25 | Verfahren zum bestimmen von strahlendosen durch auswerten von kernspuren in bestrahlten und danach geaetzten folien |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0225788A true JPH0225788A (ja) | 1990-01-29 |
Family
ID=6355048
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1130303A Pending JPH0225788A (ja) | 1988-05-25 | 1989-05-25 | ビーム配量の測定法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4933564A (ja) |
| JP (1) | JPH0225788A (ja) |
| DE (1) | DE3817659A1 (ja) |
| FR (1) | FR2632074A1 (ja) |
| GB (1) | GB2220064B (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0429085A (ja) * | 1990-05-25 | 1992-01-31 | Toshiba Corp | 中性子束計測システム |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5904846A (en) * | 1996-01-16 | 1999-05-18 | Corning Costar Corporation | Filter cartridge having track etched membranes and methods of making same |
| AU2001273152A1 (en) * | 2000-06-29 | 2002-01-14 | New York University | Miniature personal and area radon and thoron monitor |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR1563973A (ja) * | 1968-03-05 | 1969-04-18 | ||
| US4028207A (en) * | 1975-05-16 | 1977-06-07 | The Post Office | Measuring arrangements |
| US4157473A (en) * | 1975-12-08 | 1979-06-05 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Simplified fast neutron dosimeter |
| IT1116447B (it) * | 1977-05-20 | 1986-02-10 | Cnen | Apparato e metodo per la dosimetria di neutroni |
| SU1085728A1 (ru) * | 1982-04-19 | 1984-04-15 | Пермское производственное объединение "Моторостроитель" им.Я.М.Свердлова | Способ размерной электрохимической обработки |
| US4648950A (en) * | 1985-10-15 | 1987-03-10 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | CR-39 track etching and blow-up method |
-
1988
- 1988-05-25 DE DE3817659A patent/DE3817659A1/de active Granted
-
1989
- 1989-05-24 GB GB8911962A patent/GB2220064B/en not_active Expired - Fee Related
- 1989-05-25 JP JP1130303A patent/JPH0225788A/ja active Pending
- 1989-05-25 FR FR8906857A patent/FR2632074A1/fr active Pending
- 1989-05-25 US US07/356,792 patent/US4933564A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0429085A (ja) * | 1990-05-25 | 1992-01-31 | Toshiba Corp | 中性子束計測システム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2632074A1 (fr) | 1989-12-01 |
| DE3817659C2 (ja) | 1990-11-22 |
| US4933564A (en) | 1990-06-12 |
| GB2220064B (en) | 1992-05-20 |
| GB2220064A (en) | 1989-12-28 |
| DE3817659A1 (de) | 1989-11-30 |
| GB8911962D0 (en) | 1989-07-12 |
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