JPH022556A - 半導体デバイス製造用ステッパーレティクル - Google Patents
半導体デバイス製造用ステッパーレティクルInfo
- Publication number
- JPH022556A JPH022556A JP63146060A JP14606088A JPH022556A JP H022556 A JPH022556 A JP H022556A JP 63146060 A JP63146060 A JP 63146060A JP 14606088 A JP14606088 A JP 14606088A JP H022556 A JPH022556 A JP H022556A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- stepper
- chip
- semiconductor device
- reticle
- pattern
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 27
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 27
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 24
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 4
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 3
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 235000021190 leftovers Nutrition 0.000 description 1
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、オプチカルステッパーレティクルヤX線ステ
ッパーレティクルなどの半導体デバイス製造用ステッパ
ーレティクルに関する。
ッパーレティクルなどの半導体デバイス製造用ステッパ
ーレティクルに関する。
(従来の技術)
従来、オプチカルステッパーレティクルやX線ステッパ
ーレティクルなどの半導体デバイス製造用ステッパーレ
ティクルは、ステッパーレティクル本体に、半導体デバ
イス製造のために必要とする同一種類のフォトプロセス
のチップパターンを複数形成して作成されている。そし
て、半導体デバイスを製造するには、各フォトプロセス
毎にチップパターンが形成されたステッパーレティクル
を複数枚(10数枚程度)作成しておき、それぞれのス
テッパーレティクルをフォトプロセスに応じて順次交換
して使用するようにしている。
ーレティクルなどの半導体デバイス製造用ステッパーレ
ティクルは、ステッパーレティクル本体に、半導体デバ
イス製造のために必要とする同一種類のフォトプロセス
のチップパターンを複数形成して作成されている。そし
て、半導体デバイスを製造するには、各フォトプロセス
毎にチップパターンが形成されたステッパーレティクル
を複数枚(10数枚程度)作成しておき、それぞれのス
テッパーレティクルをフォトプロセスに応じて順次交換
して使用するようにしている。
ところで、チップパターンをウェハ上に形成した後、フ
ォトエツチング工程、レジストの全面剥離工程、イオン
インプランテーションの各工程が行われると、ウェハ上
にイオンインプランテーションが残るだけで、ウェハ上
にチップパターンが残らない場合がある。このようにな
ると、半導体デバイスの機種名を目視にて認識すること
ができないので、半導体デバイスの機種名をウェハ上で
認識できるようにするために、従来ではエツチングパタ
ーン用ステッパーレティクルを別途必要としていた。
ォトエツチング工程、レジストの全面剥離工程、イオン
インプランテーションの各工程が行われると、ウェハ上
にイオンインプランテーションが残るだけで、ウェハ上
にチップパターンが残らない場合がある。このようにな
ると、半導体デバイスの機種名を目視にて認識すること
ができないので、半導体デバイスの機種名をウェハ上で
認識できるようにするために、従来ではエツチングパタ
ーン用ステッパーレティクルを別途必要としていた。
例えば、マスクROMにおける機種(製品)名をウェハ
上で認識可能とするために、RO?Iパターン(イオン
インプランテーション用)とは別に、機種名パターン(
エツチング用)のステッパーレティクルを必要としてい
た。
上で認識可能とするために、RO?Iパターン(イオン
インプランテーション用)とは別に、機種名パターン(
エツチング用)のステッパーレティクルを必要としてい
た。
(発明が解決しようとする課題)
このように、従来では半導体デバイスの機能を付与する
上で本来不要であるエツチングのみのステッパーレティ
クルを別途作成する必要があって、そのステッパーレテ
ィクル分だけコスト高となる欠点がある。また、上記し
たように半導体デバイスを作成するにあたって、各フォ
トプロセス毎に多数枚のステッパーレティクルを作成す
る必要があるので、ΔSIC化による少量多品種生産に
おいても従来の多量生産と同じ枚数のステッパーレティ
クルを作成する必要があり、コスト面で不利である。
上で本来不要であるエツチングのみのステッパーレティ
クルを別途作成する必要があって、そのステッパーレテ
ィクル分だけコスト高となる欠点がある。また、上記し
たように半導体デバイスを作成するにあたって、各フォ
トプロセス毎に多数枚のステッパーレティクルを作成す
る必要があるので、ΔSIC化による少量多品種生産に
おいても従来の多量生産と同じ枚数のステッパーレティ
クルを作成する必要があり、コスト面で不利である。
本発明は上記欠点を解決するものであり、その目的は、
合理的にステッパーレティクルを作成することにより、
生産コストを低減することができ、しかも少量多品種生
産においては生産コストを低減することができる半導体
デバイス製造用ステッパーレティクルを提供することに
ある。
合理的にステッパーレティクルを作成することにより、
生産コストを低減することができ、しかも少量多品種生
産においては生産コストを低減することができる半導体
デバイス製造用ステッパーレティクルを提供することに
ある。
(課題を解決するための手段)
本発明の半導体デバイス製造用ステッパーレティクルは
、ステッパーレティクル本体に、複数種類のフォトプロ
セスのためのチップパターンが形成されてなり、1その
ことにより上記目的が達成される。
、ステッパーレティクル本体に、複数種類のフォトプロ
セスのためのチップパターンが形成されてなり、1その
ことにより上記目的が達成される。
(作用)
半導体デバイスを製造する場合には、上記構成の半導体
デバイス製造用ステッパーレティクルをステッパー装置
にセットし、該ステ、ンパーレテイクルに形成されてい
るいずれか一種類のチップパターンを除いて、他の種類
のチップパターンをブラインドアパチャーにてマスクし
、この状態で露光することにより、ウェハ上に該いずれ
か一種類のチップパターンを描画する。次に、該いずれ
か一種類のチップパターン以外のいずれか一種類のチッ
プパターンを除いて、他の種類のチップパターンをブラ
インドアパチャーにてマスクし、この状態で露光するこ
とにより、ウェハ上に該チップパターンを描画する。
デバイス製造用ステッパーレティクルをステッパー装置
にセットし、該ステ、ンパーレテイクルに形成されてい
るいずれか一種類のチップパターンを除いて、他の種類
のチップパターンをブラインドアパチャーにてマスクし
、この状態で露光することにより、ウェハ上に該いずれ
か一種類のチップパターンを描画する。次に、該いずれ
か一種類のチップパターン以外のいずれか一種類のチッ
プパターンを除いて、他の種類のチップパターンをブラ
インドアパチャーにてマスクし、この状態で露光するこ
とにより、ウェハ上に該チップパターンを描画する。
このように、−枚のステッパーレティクル上に、半導体
デバイスの製造上必要とする複数種類のフォトプロセス
のチップパターンが形成されているので、半導体デバイ
スを製造するに必要なステッパーレティクルの枚数が少
なくなる。また、例えば、機種名パターンをウェハに形
成する場合には、ステッパーレティクルの一部に機種名
パターンを形成するだけで良い。
デバイスの製造上必要とする複数種類のフォトプロセス
のチップパターンが形成されているので、半導体デバイ
スを製造するに必要なステッパーレティクルの枚数が少
なくなる。また、例えば、機種名パターンをウェハに形
成する場合には、ステッパーレティクルの一部に機種名
パターンを形成するだけで良い。
(実施例)
以下に本発明を実施例に基づいて説明する。
第1図に示すように、半導体デバイス製造用ステッパー
レティクルは、矩形状のステッパーレティクル本体1に
、種類の異なるフォトプロセスのチップパターン2a、
2b、2c、2d、2e−・−22を形成して構成され
ている。
レティクルは、矩形状のステッパーレティクル本体1に
、種類の異なるフォトプロセスのチップパターン2a、
2b、2c、2d、2e−・−22を形成して構成され
ている。
各チップパターン2a、2b、2c、2d、2e・・・
2I!、はステッパーレティクル本体1の四辺に沿って
縦及び横方向に順次配置されている。この実施例では、
各フォトプロセス順に互いに異なった種類のチップパタ
ーン2a、2b12C12d。
2I!、はステッパーレティクル本体1の四辺に沿って
縦及び横方向に順次配置されている。この実施例では、
各フォトプロセス順に互いに異なった種類のチップパタ
ーン2a、2b12C12d。
2e・・・21が順に形成され、−枚のステッパーレテ
ィクル本体1には12種類のフォトプロセスのチップパ
ターン2が形成されている。
ィクル本体1には12種類のフォトプロセスのチップパ
ターン2が形成されている。
次に、上記構成の半導体デバイス製造用ステッパーレテ
ィクルを用いて、半導体デバイスを製造する方法を説明
する。
ィクルを用いて、半導体デバイスを製造する方法を説明
する。
第1図に示すステッパーレティクルのチップパターン2
aを除いて、他のチップパターン2b、2c、2d、2
e・・・22をブラインドアパチャーにてマスクし、こ
の状態で露光することにより、ウェハ上にチップパター
ン2aを描画する。次に、チップパターン2bを露光す
る場合には、チップパターン2bを除いて、他のチップ
パターン2a及び2c、2d、2e・・・21をブライ
ンドアパチャーにてマスクし、この状態で露光すること
により、ウェハ上にチップパターン2bだけを描画する
。次に、上記方法と同様にチップパターン2Cをウェハ
上に描画し、次いでチップパターン2dをウェハ上に描
画する。
aを除いて、他のチップパターン2b、2c、2d、2
e・・・22をブラインドアパチャーにてマスクし、こ
の状態で露光することにより、ウェハ上にチップパター
ン2aを描画する。次に、チップパターン2bを露光す
る場合には、チップパターン2bを除いて、他のチップ
パターン2a及び2c、2d、2e・・・21をブライ
ンドアパチャーにてマスクし、この状態で露光すること
により、ウェハ上にチップパターン2bだけを描画する
。次に、上記方法と同様にチップパターン2Cをウェハ
上に描画し、次いでチップパターン2dをウェハ上に描
画する。
上記構成によれば、−枚のステッパーレティクルには1
2種類のフォトプロセスのチップパターン2a、2b、
2c、2d、2 e ・21が形成されているので、1
2種のフォトプロセスを一枚のステッパーレティクルで
行うことができる。また、例えば、ステッパーレティク
ルに機種名パターンを形成する場合には、上記チップパ
ターン2の一種類を機種名パターンにすれば良い。
2種類のフォトプロセスのチップパターン2a、2b、
2c、2d、2 e ・21が形成されているので、1
2種のフォトプロセスを一枚のステッパーレティクルで
行うことができる。また、例えば、ステッパーレティク
ルに機種名パターンを形成する場合には、上記チップパ
ターン2の一種類を機種名パターンにすれば良い。
なお、フォトプロセスのチップパターン2a、2b、2
c、2d、2e・21の配置は適宜変更しても良い。
c、2d、2e・21の配置は適宜変更しても良い。
第2図には他の実施例が示されている。
この実施例では、複数種類のフォトプロセスのチップパ
ターン2が複数形成され、かつ同一種類のフォトプロセ
スのチップパターン2の複数が同一のステッパーレティ
クル本体1上に形成されている。
ターン2が複数形成され、かつ同一種類のフォトプロセ
スのチップパターン2の複数が同一のステッパーレティ
クル本体1上に形成されている。
具体的に説明すると、第2図に示すように、同一種類の
フォトプロセスのチップパターン2a、2a、2aがス
テッパーレティクル本体1の一辺に沿って配置され、他
の種類のフォトプロセスのチップパターン2b、2b・
・・ 2a%2C・・・及ヒ2d、2d・・・がそのチ
ップパターン2aと平行に配置されている。
フォトプロセスのチップパターン2a、2a、2aがス
テッパーレティクル本体1の一辺に沿って配置され、他
の種類のフォトプロセスのチップパターン2b、2b・
・・ 2a%2C・・・及ヒ2d、2d・・・がそのチ
ップパターン2aと平行に配置されている。
このように、−枚のステッパーレティクル本体1には4
種類のフォトプロセスのチップパターン2a、2b、2
C12dがそれぞれ複数形成されている。
種類のフォトプロセスのチップパターン2a、2b、2
C12dがそれぞれ複数形成されている。
上記構成の半導体デバイス製造用ステッパーレティクル
を用いて、半導体デバイスを製造するには、同一種類の
チップパターン2a、2a、2aを除いて、他の種類の
チップパターン2b〜2dを全てブラインドアパチャー
にてマスクし、この状態で露光することにより、゛ウェ
ハ上に同一種類のフォトプロセスのチップパターン2a
、2a。
を用いて、半導体デバイスを製造するには、同一種類の
チップパターン2a、2a、2aを除いて、他の種類の
チップパターン2b〜2dを全てブラインドアパチャー
にてマスクし、この状態で露光することにより、゛ウェ
ハ上に同一種類のフォトプロセスのチップパターン2a
、2a。
2aを複数同時に描画する。次に、上記チップパターン
2aとは異なる種類のフォトプロセスのチップパターン
、例えば2b、2b、2bを除いて、他の種類のチップ
パターン2a、2c、2dを全てブラインドアパチャー
にてマスクし、この状態で露光することにより、ウェハ
上にチップパターン2b、2b、2bだけを描画する。
2aとは異なる種類のフォトプロセスのチップパターン
、例えば2b、2b、2bを除いて、他の種類のチップ
パターン2a、2c、2dを全てブラインドアパチャー
にてマスクし、この状態で露光することにより、ウェハ
上にチップパターン2b、2b、2bだけを描画する。
次に、上記方法と同様にして順次他のチップパターン2
c、2dをウェハ上に描画することができる。
c、2dをウェハ上に描画することができる。
なお、フォトプロセスのチップパターンの種類の数及び
同一種類のフォトプロセスのチップパターン2の数は適
宜変更しても良い。
同一種類のフォトプロセスのチップパターン2の数は適
宜変更しても良い。
(発明の効果)
このように、本発明によれば、フォトプロセス毎にステ
ッパーレティクルを作成する必要がなくなる。従って、
半導体デバイスを製造するに必要なステッパーレティク
ルの枚数が少なくなり、コストを低減することができる
。また、例えば、機種名パターンをウェハに形成する場
合には、ステッパーレティクルの一部に機種名パターン
を形成するだけで良く、−枚のステッパーレティクルを
エンチング用ステッパーレティクルとして作成する必要
がなくなり、生産コストを低減することもできる。
ッパーレティクルを作成する必要がなくなる。従って、
半導体デバイスを製造するに必要なステッパーレティク
ルの枚数が少なくなり、コストを低減することができる
。また、例えば、機種名パターンをウェハに形成する場
合には、ステッパーレティクルの一部に機種名パターン
を形成するだけで良く、−枚のステッパーレティクルを
エンチング用ステッパーレティクルとして作成する必要
がなくなり、生産コストを低減することもできる。
4、 パ の な量日
第1図は本発明の半導体デバイス製造用ステッパーレテ
ィクルの一実施例の拡大説明図、第2図は他の実施例の
拡大説明図である。
ィクルの一実施例の拡大説明図、第2図は他の実施例の
拡大説明図である。
1・・・ステッパーレティクル本体、2・・・チップパ
ターン。
ターン。
以上
Claims (1)
- 1、ステッパーレティクル本体に、複数種類のフォトプ
ロセスのためのチップパターンが形成されている半導体
デバイス製造用ステッパーレティクル。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63146060A JPH022556A (ja) | 1988-06-14 | 1988-06-14 | 半導体デバイス製造用ステッパーレティクル |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63146060A JPH022556A (ja) | 1988-06-14 | 1988-06-14 | 半導体デバイス製造用ステッパーレティクル |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH022556A true JPH022556A (ja) | 1990-01-08 |
Family
ID=15399174
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63146060A Pending JPH022556A (ja) | 1988-06-14 | 1988-06-14 | 半導体デバイス製造用ステッパーレティクル |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH022556A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004040372A1 (en) * | 2002-11-01 | 2004-05-13 | Systems On Silicon Manufacturing Co. Pte. Ltd. | Multi-image reticles |
AU2004261105B2 (en) * | 2003-08-04 | 2008-09-11 | Olympus Corporation | Encapsulated endoscope |
-
1988
- 1988-06-14 JP JP63146060A patent/JPH022556A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004040372A1 (en) * | 2002-11-01 | 2004-05-13 | Systems On Silicon Manufacturing Co. Pte. Ltd. | Multi-image reticles |
AU2004261105B2 (en) * | 2003-08-04 | 2008-09-11 | Olympus Corporation | Encapsulated endoscope |
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