JPH02252436A - 眼屈折力測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は眼屈折力測定装置、特に小児から乳幼児に対し
ても有用である眼屈折力測定装置に関するものである。

［従来の技術］ 従来、眼屈折力測定装置としては、被検者の応答を基に
眼屈折力を測定する所謂自覚式検眼器、被検眼を他覚的
に測定する所謂オートレフラクトメータ等の装置が知ら
れている。

然し乍ら、この種の装置で乳幼児の測定を行なう場合、
乳幼児の協力を得られない為自覚式検眼器では測定かで
きず、又一般のオートレフラクトメータでは被検眼の位
置を固定しなくてはならないが、乳幼児の場合被検眼の
位置の固定が難しく、測定は極めて困難であるという欠
点を有していた。

これらの欠点を解消する為、ストロボ光で被検眼眼底を
照明し、被検眼の瞳孔での光束の状態をカメラで撮影し
、その結果から被検眼の眼屈折力を測定するいわゆるフ
ォトレフラクション方式の測定方法が提案されている。

このフォトレフラクション方式の測定に於いては、被検
眼の光軸が少しずれても充分に測定をすることかでき、
被検眼を固定することか困難である乳幼児の眼屈折力の
測定には有用であるとされているものである。

然し乍ら、斯かるフォトレフラクション方式の眼屈折力
測定装置では、カメラの光軸に対し、斜め方向からスト
ロボ光源により照明し、その時の瞳孔像を単に撮影する
だけであり、光源の位置により測定できないデイオプタ
ー値かあり、又測定可能な範囲か狭いという問題を有し
ている。

そこで本出願人は、先の特願昭６３−２３８５０５号に
於いて、如何なるデイオプター値でも測定か可能で且瞬
時に測定結果を得ることができる眼屈折力測定装置を提
案した。

該眼屈折力測定装置については後で詳述するが、該眼屈
折力測定装置では被検眼眼底に光源像を投影し、眼底で
反射される光源からの光束の一部を遮ぎり、遮ぎっな光
束を受光素子で受け、その光束の光量分布状態を基に眼
屈折力を測定しようとするものである。

［発明か解決しようとする課題］ ところで、前記した眼屈折力測定装置に於いて、後で詳
述する様に光量分布状態を基に眼屈折力を求める場合、
測定のファクタの１つとして瞳孔径が挙げられる６本発
明では、光量分布状態より眼屈折力を求める場合にこの
光量分布状態より併せて瞳孔径も求め得る様にし、被検
眼の個人差に影響を受けない正確な測定か可能な眼屈折
力測定装置を提供するものである。

［課題を解決するための手段］ 本発明は、被検眼眼底に光源像を投影し、該被検眼眼底
からの反射光束を被検眼瞳と共役位置に配置した受光素
子により受光し、該受光素子上での光量分布により被検
眼の眼屈折力を測定する眼屈折力測定装置に於いて、前
記受光素子からの信号により被検眼の瞳孔径を検出する
為の演算処理部を有することを特徴とするものである。

［作　　用１ 被検眼の屈折力を測定する為の受光素子からの映像信号
から瞳孔径を演算することができる。

［実　施　例〕 以下図面を参照しつつ本発明の一実施例を説明する。

先ず、先の出願に於いて提案した眼屈折装置について説
明する。

第１図に於いて、１は光源像を被検眼３の眼底７に投影
する為の投影系であり、２は眼底７により反射された光
束１０を受光する為の受光系であり、投影系１及び受光
系２は被検眼３に対向して配置される。

前記投影系１は、光源４及び光源４からの光束１１を被
検眼３に向けて反射させる為のハーフミラ−５から成り
、該投影系１は光ａ４からの光束１１を瞳孔６を通して
眼底７上に光源４の像を形成する様に投影するもので、
被検眼３の眼屈折力が基準デイオプター値（基準屈折力
）の場合に眼底７上に光源４の像が合焦されるように光
源４と被検眼３との距離が設定されている。

前記受光系２は、対物レンズ８及び受光素子９から成り
、眼底７からの光束１０はハーフミラ−５を透過して受
光素子９上に導かれる。

該受光素子９は、エリアＣＯＤ、撮像管或はこれらの２
以上の集合体であり、受光素子９の受光面９ａは対物レ
ンズ８に関して被検眼３の瞳孔６と共役位置に配置され
る。

前記受光系２の光路内には、ハーフミラ−５に関して光
源４と共役な位置に対物レンズ８の光軸Ｏを境界として
光束１０の片側を遮光する為のエッチ状の遮光部材１２
を配置する。

又、前記受光素子９には演算器１３が接続され、該演算
器１３は受光素子９の受光状態、光量分布よりデイオプ
ター値を演算し、その結果を表示器１４に出力する様に
なっている。

次に上記構成の眼屈折力測定装置に於ける眼屈折力測定
は下記の如く行われる。

第２図（＾）に示す様に、被検眼３のデイオプター値が
基準デイオプター値に比べて負のデイオプター値の場合
には、光源４の像は眼底７の前方で結像され、この光束
により照明された眼底７上の内、光軸上の１点で反射さ
れた光束１０を考えると、この光束１０は遮光部材１２
の前方、即ち被検眼３１１ＩＩで集光され、対物レンズ
８により受光素子９上に投影される光束の上半分（斜線
部分）か遮光される。一方、第２図（Ｂ）に示す様に、
被検眼のデイオプター値が基準デイオプター値の場合に
は、光束１０は遮光部材１２上に集光されるもので、光
束１０は遮光部材１２によって遮られない。

又、第２図（Ｃ）に示す様に、被検眼３のデイオプター
値か基準デイオプター値より圧の場合には、光源４の像
は眼底７の後方で結像するように投影され、前述と同様
に眼底７で反射された光束１０は遮光部材１２の後方、
即ち受光素子９側で集光され、受光素子９１に投影され
る光束１０は第２図（＾）とは逆の部分の光束（図中で
は上半分）が遮光される。

而して、受光面９ａに投影される光束は基準デイオプタ
ー値に対して被検眼３のデイオプター値の大小、正負に
よって光量分布状態が変化し、この光量分布状態を基に
デイオプター値が求められる。

受光素子９はこの受光面９ａに形成される光束の光量分
布を検出する為のものであり、前記演算器１３は受光素
子９からの信号を基に、受光面９ａ上に形成される光束
の光量分布を検出し、基準となるデイオプター値に対し
被検眼の眼屈折力か正か負かを判断すると共にその絶対
値を演算し、演算結果を表示器１４に出力し、表示器１
４は求められた結果を表示する。

尚、上記実施例では光束分離手段としてハーフミラ−を
使用したが、ビームスプリッタ−偏光プリズム等積々の
光束分離手段を用いることは勿論である。

又、第３図（＾）〜（［）に於いて、受光面９ａに形成
される光束の光量分布状態を説明する。

尚、第３図（＾）〜（Ｅ）に於いて説明を簡略化する為
、光源４の光軸と受光系の光軸とを合致させ且遮光部材
１２と対物レンズ８とを一致させている。この為、光源
４と対物レンズ８とは同一位置で重ね合わせて示してお
り、遮光部材１２は省略して示している。

第３図（Ａ）〜（Ｅ）は被検眼の屈折力りが基準屈折力
Ｄｏに対し負の場合を示しており、以下の説明は眼底か
らの反射光束は全て対物レンズ８によって受光面９ａ上
に投影されるものとする。

光源４と被検眼瞳孔６との距離をＱに設定しこの光源の
像が眼底に合焦する被検眼の屈折力を基準屈折力り、と
すると である。

第３図（＾）は被検眼の屈折力かＤ　（＜ＤＯ）の場合
の、光軸に対し直角方向にＬの長さを有するスリット状
の光源４の軸上の一点Ｓ。からの投影光束を示すもので
、点Ｓｏの像は一日８０′に結像され、被検眼眼底７に
は、ぼけた像として投影される。Ｄ、−Ｄか大きくなる
に従い投影される領域７ａは広くなる。

第３図（Ｂ）は受光系２、及び、被検眼眼底７からの反
射光束の状態を示すものである。

第３図（Ｂ）に示す様に、被検眼眼底７上の投影領域の
端部の点り、からの光束を考えると、この点の像Ｉ−３
′は被検眼瞳孔からｇ′の距離の位置に結像され、この
光束は対物レンズ８を介して被検眼瞳孔６と共役位置に
配置した受光素子９上に投影される。尚、このｇ′と被
検眼の屈折力りの関係式は下記の通りである。

一方、この眼底上の一点から発した光束のエッチ上での
広がり幅Δは被検眼の瞳径をＵとすると、第３図（８）
から明らかな様に、であり、第（１）式、第（２）式よ
り となり、被検眼３の屈折力りと基準屈折力り。

とめ差が大になるに従い遮光部材１２上の広かりは大き
くなる。

次に、受光素子９上での光束の広がりについて述べる。

受光素子９は、被検眼３の屈折力に関係なく常に、対物
レンズ８に関して被検眼瞳孔と共役に配置されており、
被検眼瞳孔６の径をＵ、対物レンズ８の倍率をβとする
と、受光素子９上ではβＵの径の領域（被検眼の屈折力
に影響を受けない）に光束か投影される。

又、光軸に対して前記Ｉ−，と対称な点１．からめ光束
も同様に被検眼瞳孔６からグの位置に像（、ｒを結像し
た後、受光素子９上の同じ領域βＵに投影される。光源
４を点光源として、遮光部材１２が無いものとした時、
これら眼底７からの各点１−、、・・・Ｉｏ、・・・■
１、からの光束の積分が受光素子９上の光量分布を決め
るものである。

ここで、受光素子９１での光量分布について考察するた
め、受光素子９上の光束投影位置の＠部位置Ｐ−，、す
なわち、光軸を中心としな座この位置に入射する光束は
第３図（Ｃ）での斜線Ａの範囲の光束に限られることと
なる。又、同様に、光軸に対して、前記のＰ−１位置と
対称な位置Ｐ、に入射ずろ光束を考えると斜線Ａ′範囲
の光束に限られることになる。してみると、被検眼瞳孔
６から９の距Ｍ（光源４と共役位置）の位置に光軸の一
方の光束Ａ′を遮断するエッチ状の遮光部材１２を配置
すると受光素子９１のＰ−３の位置に入射する光束は遮
光部材１２により遮断されず、とのＰ−、の位置から上
方の位置にいくに従って光束は徐々に遮光され、中心Ｐ
０位置で光束の半分か遮光され、Ｐ。の位置になると全
ての光束が遮断されることとなるものである。従って、
エッチ状の遮光部材１２により受光素子９上には上方に
行くにしなかって暗くなり、Ｐ、の点で光量か０となる
一定傾斜の光量分布となるものである。

以上の第３図（＾）〜（Ｃ）では、光源４の光軸上の一
点から発する光束のみを示しなか、光源４の＋５１部の
一点５−１（光源の大きさをＬとすると−一の座標位置
の点）からの光束を考えると第３図（０）に示すように
なる。この点Ｓ−１からめ光束は、第３図（０）に示す
被検眼眼底７上のり、点から１１点の領域に投影され、
このＩ−。

点、１１点からの反射光は、前述と同様に被検眼瞳孔６
からＱ′の距ｌ１ｉｔの位置で１．−１゜の像を結像し
た後、受光素子９上のβＵの径の領域に投影されるもの
である。ここで、光ａ４の端部の点Ｓ−，から発する光
束のうち、受光素子９１の光束投影の端部位置Ｐ−，に
入射する光束は第３図（０）のＢの斜線領域の光束とな
るものである。

又、前記Ｓ−１の点と対称な光＃４の一点Ｓ。

からの光束を考え、そのうち受光素子９上の１〕−３の
点に入射する光束を考えると第３図（［）のＣの斜線領
域の光束となる。この様に、光源４かある大きさを有す
るものとして考えた場合、受光素子９１の一点の光量は
、光源４の各点からの光束の総和として考えなければな
らない。

第４図（八）は、この考え方に基つき、受光素子９上の
Ｐ−、の位置に入射する各光束を重ね合わせて示したも
のであり、光源上のＳ−１の位置から発する光束のうち
Ｐ−１の位置に入射する光束はＢの領域であり（第３図
（Ｄ）参照）、光源上での位置が上方に行くにしたがっ
てその光束も上方に移動し、軸上の光源位置ＳｏではＡ
の領域の光束となり（第３図（Ｃ）参照）、光源上での
Ｓ、の位置ではＣの領域の光束となる（第３図（Ｅ）参
照）、従って、受光素子９上のＰ−１の点での光量は、
これらの光束の総和として考えられる。

ここで、被検眼瞳孔６からＱの距離の位置に遮光部材１
２を配置した時の受光素子９上の点Ｐ−，の光量を示す
模式図を第４図（Ｂ）に示す。

第４図（Ｂ）は光源上の位置か変化するにしなかって遮
光部材１２により光束がどの様に遮光されるかを示すも
のである。第４図（Ｂ）の横軸は光源上の座標位置、縦
軸は光量を示すものであり、光源上での各点からの光束
を考えると、座標位の光束は遮光部材１２により遮光さ
れず、座標位置の０点を過ぎると徐々に遮光され、Δ（
前述の光束の広がり）の位置で全ての光束が遮断される
事になるものである。ここで遮光されない場合の光源上
の各点からの光量を１（とじて光源上での各点からの光
量の寄与を示したものか第４図（Ｂ）であり、斜線部の
面積が受光素子上のＰ−、の点の光量値に対応するもの
である。この面積値Ｔは下記のようになる。

同様にして、受光素子上での他の点についても考察する
。第５図（Ａ）は受光素子上での中心点Ｐ。に入射する
光束を第４図（＾）と同様に示したものであり、光源上
のＳ−１の点からの光束の内Ｐ。の点に入射する光束は
Ｂｏの斜線領域、光源上の中心Ｓｏの点からはＡ。の斜
線領域、光源上の８１の点からの光束はＣ６の斜線領域
の光束となるものであり、受光素子９の中心に入射する
光量は第５図（Ｂ）の斜線領域の面積Ｔ、に対応するこ
とになる。すなわち、光源の各点からの受光素子の中心
点に入射する光束をの光束が遮断されることになり、こ
の面積値を前述と同様に計算すると下記値になる。

同様にして、受光素子上での点Ｐ８に入射する光束の状
態、及びこの点での光量値を第６図（＾）、第６図（Ｂ
）に示す。第６図（Ａ）において、光源上のＳ−１の点
からの光束の内Ｐ、の点に入射する光束はＢ′の斜線領
域、光源上の中心Ｓ０の点からはＡ　／／の斜線領域、
光源上のＰ−。

の点からの光束はＣ″の斜線領域の光束として示す、こ
の場合には、第６図（８）に示すように、光源の各点か
ら受光素子のＰ５の点に入射するの位置までは光束は遮
光されず、−Δ位置を過ぎると徐々に光束が遮られ、０
の位置で全ての光束が遮断されることになり、この面積
値を計算すると下記値になる。

これらの式（４）　、（５）　、（６）の結果かられか
るように、受光素子９上の光量値は下方から上方にいく
にしたがって、光量値は徐々に低くなるものであり、そ
の受光素子上での光量分布を図示すると第７図に示すよ
うに直線的に変化する。

前述の説明に於いては、眼底の一点から発する光束を考
えた場合の遮光部材１２上での広がり定して説明を行っ
たものである。

一＠Ｄ、に対する被検眼のデイオプター値の面差ΔＤが
所定量以上の場合には、第１０図に示すような直線変化
は示さない。これを第４図ないし第６図にしたがって説
明を行う、前述のよ（Ｂ）、第６図（Ｂ）はそれぞれ第
１１図、第１２図、第１３図、に示す様になり、この光
量変化は第７図に示す様な直線変化を示さないことにな
る。

次に、第２図（８）で示す被検眼の屈折力が基準値であ
る場合、第２図（Ｃ）で示す被検眼の屈折力が基準値よ
り正の場合も、前記したと同様に受光素子９上の光量分
布を考察することができ、その場合被検眼の屈折力が基
準値である場合は、第８図に示す如く、均一分布、被検
眼の屈折力が正の場合は第７図で示したものと逆な分布
状態となる。

上記した光量分布の傾斜がデイオプター値（屈折力）を
そして、傾斜の方向がデイオプター値の正負を表わす、
以下第１０図を参照して説明する。

前記した光束の広がりΔ、即ちボケ量Δは、前記（４）
式より、 よって（７）式より 而して、（９）式は基準デイオプターｆＩｉＤｏに対す
る被検眼のデイオプター値の偏差ΔＤと従って、瞳孔径
Ｕが分れば、この瞳孔径Ｕと光のデイオプター値を求め
ることか可能となる。

上述の如く、眼底から反射される光束の光量分布から被
検眼のデイオプター値を求めることができる。

尚、上述した光量分布は模式的に表わしており、実際に
は第１４図（八）で示す眼球の各部分に対応した光量の
分布の変化（第１４図（Ｂ）参照、第１４図（８）で示
す光量分布は基準デイオプター値での光量分布を示して
いる）、即ち角膜の反射による輝点１９での光量の突出
ρであるとか、瞳孔６を外れた虹彩２０部分での光量の
落込みσ等がある。

本発明では前記光量分布の状態から、具体的には第１４
図（Ｃ）で示す光量の変化率より瞳孔６の境界点ｍ、ｎ
を求め、この境界点ｍ、ｎの位置より瞳孔径Ｕを求めよ
うとするものである。

又、前記した光量分布よりデイオプター値の偏差ΔＤを
求める場合に、輝点の影響がないものとしている。輝点
は、測定結果に影響を及ぼすので、測定に際しては輝点
の影響を除去するのが好ましい。

以下は、輝点の影響を除去することも併せて説明する。

第１５図は本発明の一実施例の概略を示すブロック図で
ある。図中、１５は前記した眼屈折力測定装置の光学系
、９は受光素子、１３は演算器、１４は表示器、１６は
受光素子９の映像及び演算処理部の結果を記憶するフレ
ームメモリ、１７は演算処理部、１８はフレームメモリ
１６、演算処理部１７の同期指令、シーゲンス指令を行
う制御部である。

以下、第１６図〜第２０図を参照して該実施例を説明す
る。

先ず被検眼者の、両眼を含む範囲を受光素子９によって
ｌ＃ｌ像し、この映像をフレームメモリ１６に取込み記
憶する。又、この映像は両眼がそれぞれ所定のエリア例
えば右眼が（Ｘ、；Ｙｌ　）に含まれる様に撮像されて
いる。第１７図（Ｂ）は（ｘ＋　　；Ｙｌ　）のエリア
を拡大したものである。

前記フレームメモリ１６のエリア（ｘ＋　　；Ｙｌ　）
部分の光量最大な点即ち電位か最大な点を調べる。

エリア（Ｘ、；Ｙ、）での電位最大な点が求められれば
、これが被検眼角膜の鏡面反射によって形成される輝点
１９であり、該輝点のフレームメモリ１６中のビットの
位置から輝点１９の位置か求められる。

輝点１９か求められると、第１８図（Ｂ）の如く該輝点
を中心とする輝点近傍の検知エリア（Ｘｓ；Ｙ８）が設
定される。エッチと平行なＸ方向の走査線で検知エリア
（Ｘｓ　；ＹＩｌ）の境界線と交差する点ａ点、ｂ点の
光量を求め、このａ点、ｂ点を直線で近似する。このａ
点、ｂ点を結んだ直線か前記検知エリア（Ｘｓ；Ｙｓ）
でのＸ方向の走査線に於ける輝点１９の影響を除去した
光量分布を示すものである（第１８図（Ｃ）参照、尚図
中δで示す光量分布は瞳孔部分をＸ方向に走査して得ら
れる光量分布曲線を示す）。

而してａ点、ｂ点間の近似直線の式は Ｌ＝　（（Ｌｂ　　Ｌ−）／Ｘ−Ｉ　ＸＸ十り。

・・（１０）となる。

ここで、エッチと平行な方向に走査することとしたのは
、エッチと平行な方向では光束の状態が対称であり、理
想的には輝点部分を除き光量分布は均一と考えられるの
で、直線で近似した場合の誤差も少ないからである。

斯かる走査を検知エリア（Ｘ、；Ｙ、）全域に亘って行
い、検知エリア（Ｘ、；Ｙｓ　）について輝点１９の影
響を除去した修正値を求める。

前記フレームメモリ１６の検知エリア（Ｘｓ；Ｙ８）部
分についての記憶値を前記修正値に置換し、この修正値
に置換したものを新たに修正映像としてフレームメモリ
１６に記憶する。

次に、検知エリアを瞳を充分に含む（ｘ２；Ｙ２）に拡
大しく第１９図（Ｂ））、前記修正映像について該検知
エリア（Ｘ２　；　Ｙ２　）をＹ方向（前記エッチと直
角な方向）に走査して、走査した線上での光量分布を求
める。このＹ方向の走査線、特に輝点１９を通る走査線
での光量分布γ（第１９図（Ｃ））が前記第１０図で示
した光量分布に相当し、デイオプター値算出の基となる
ものである。

尚、光量分布γより傾斜を求めるについては、種々考え
られるが、例えば第２０図に示す如く、最小二乗近似に
より直線を求め、この直線の傾きを求める等が挙げられ
る。

次に瞳孔径Ｕを求める。

第１４図（＾）（Ｂ）　（Ｃ）にも示した様に、瞳孔部
分を外れ虹彩部分になると光量が急激に低下する（第１
９図（Ｃ））、従って、光１分布γの変化率を求めると
瞳孔６と虹彩部分２０の境界点ｍ、ｎで値が突出する。

この境界点Ｉｎ、Ｈの座標位置を前記フレームメモリか
ら読みとり、演算処理部１７で演算すれば瞳孔径Ｕを求
めることができる。

尚、瞳孔径Ｕのみを求める場合には、特に輝点１９の影
響を除去する必要はない、ｎ点１９は瞳孔６の中心にあ
るので、変化率最大の点、即ち輝点の近傍で、変化率が
突出して大きくなる２点を求めれば、これが瞳孔の境界
点Ｉｎ、ｎであり、前記しなと同様にフレームメモリか
ら位置を読みとり、演算処理部１７で演算することで瞳
孔径Ｕが求められ、求めた瞳孔径Ｕは表示器１４に出力
され表示される。又、この検出された瞳孔径Ｕに基づき
、前述した様に（９）式を用いて被検眼のデイオプター
値を正確に算出することができる。

［発明の効果］ 以上述べた如く本発明によれば、光量分布状態より、簡
単に瞳孔径を測定し得、眼屈折力測定に必要なデータを
提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明が実施される眼屈折力測定装置の基本概
略図、第２図（Ａ）（Ｂ）（Ｃ）は被検眼のデイオプタ
ー値の相違による光束の状態の相違を示す説明図、第３
図（＾）（Ｂ）　（Ｃ）（ロ）（Ｅ）は受光及び被検眼
眼底からの反射光束の状態を示す説明図、第４図（＾）
、第５図（＾）、第６図（Ａ）は受光素子に到達する光
源各点の反射光束の状態を示す説明図、第４図（Ｂ）、
第５図（Ｂ）、第６図（Ｂ）は遮光部材によって遮られ
た場合の各光束の光量変化を示す説明図、第７図、第８
図、第９図はデイオプター値に対応した受光面での光量
分布状態を示す説明図、第１０図は光量分布状態よりデ
イオプター値を求める場合の説明図、第１１図、第１２
図、第１３図は遮光部材上での広がり幅Δが光源の１７
２の大きさより大きな場合の遮光部材によって遮光され
た場合の各光束の光量変化を示す説明図、第１４図（＾
）は被検眼の説明図、第１４図（Ｂ）は被検眼に対応す
る光量分布を示す線図、第１４図（Ｃ）は光量分布の変
化率を示す線図、第１５図は本発明の一実施例を示すブ
ロック図、第１６図は該実施例に於けるフローチャート
、第１７図（＾）は前記眼屈折力測定装置の撮像画面の
図、第１７図（Ｂ）は被検眼部分を拡大した図、第１８
図（Ａ）は第１７図（８）と同様被検眼部分の拡大図、
第１８図（８）は輝点を含む範囲を示す図、第１８図（
Ｃ）は輝点を通過するエッヂに対して平行な走査線の光
量分布図、第１９図（Ａ）は第１７図（Ｂ）と同様被検
眼部分の拡大図、第１９図（Ｂ）は瞳孔を含む走査領域
を示す図、第１９図（Ｃ）はエッチに対して直角方向の
走査線の光量分布を示す図、第２０図は光量分布より傾
斜を近似により求める場合を示す説明図である。 １は投影系、２は受光系、３は被検眼、４は光源、５は
ハーフミラ−１８は対物レンズ、９は受光素子、１３は
演算器、１４は表示器、１６はフレームメモリ、１７は
演算処理部、１８は制御部を示す。 第４ 図 （Ａ） 第５ 図 （Ａ） 第６ 図（Ａ） 第４ 図（Ｂ） 第５ 図（Ｂ） 第６ 図 （Ｂ） 第１１図 ＊量 第１２図 第１３図 第１９図（Ａ）

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １）被検眼眼底に光源像を投影し、該被検眼眼底からの
   反射光束を被検眼瞳と共役位置に配置した受光素子によ
   り受光し、該受光素子上での光量分布により被検眼の眼
   屈折力を測定する眼屈折力測定装置に於いて、前記受光
   素子からの信号により被検眼の瞳孔径を検出する為の演
   算処理部を有することを特徴とする眼屈折力測定装置。