JPH02252434A - 眼屈折力測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は眼屈折力測定装置、特に小児から乳幼児に対し
ても有用である眼屈折力測定装置に関するものである。

し従来の技術］ 従来、眼屈折力測定装置としては、被検者の応答を基に
眼屈折力を測定する所謂自覚式検眼器、被検眼を他覚的
に測定する所謂オートレフラクトメータ等の装置が知ら
れている。

然し乍ら、この種の装置で乳幼児の測定を行なう場合、
乳幼児の協力を得られない為自覚式検眼器では測定がで
きず、又一般のオートレフラクトメータでは被検眼の位
置を固定しなくてはならないが、乳幼児の場合被検眼の
位置の固定が難しく、測定は極めて困難であるという欠
点を有していた４ これらの欠点を解消する為、ストロボ光で被検眼眼底を
照明し、被検眼の瞳孔での光束の状態をカメラで撮影し
、その結果から被検眼の眼屈折力を測定するいわゆるフ
ォトレフラクション方式の測定方法が提案されている。

このフォトレフラクション方式の測定に於いては、被検
眼の光軸が少しずれても充分に測定をすることかでき、
被検眼を固定することか困難である乳幼児の眼屈折力の
測定には有用であるとされているものである。

然し乍ら、斯かるフォトレフラクション方式の眼屈折力
ｉｌｌｌ装定では、カメラの光軸に対し、斜め方向から
ストロボ光源により照明し、その時の瞳孔像を単に撮影
するだけであり、光源の位置により測定できないデイオ
プター値があり、又測定可能な範囲か狭いという問題を
有している。

そ、二で本出願人は、先の特願昭６３−２３８５０５号
に於いて、如何なるデイオプター値でも測定が可能で且
瞬時に測定結果を得ることができる眼屈折力測定装置を
提案した。

該眼屈折力測定装置については後で詳述するか、該眼屈
折力測定装置では被検眼眼底に光源像を投影し、眼底で
反射される光源からの光束の一部を遮き°す、遮ぎった
光束を受光素子で受け、その光束の光量分布状態を基に
眼屈折力を測定しようとするものである。

［発明が解決しようとする課題］ ところで、前記した眼屈折力測定装置に於いて、後で詳
述する様に光量分布状態を基に眼屈折力を求める場合、
測定のファクタの１つとして瞳孔径か挙げられる４本発
明では、光量分布状態より眼屈折力を求める場合に、こ
の瞳孔径を所定の値に補正しようとするものである。

［課題を解決するための手段］ 本発明は、被検眼眼底に光源像を投影し、該被検眼眼底
からの反射光束を受光素子により受光し、該受光光束に
より被検眼の眼屈折力を測定する眼屈折力測定装置に於
いて、前記受光素子の映像信号から瞳孔径を演算する演
算処理部部を有し、この演算した瞳孔径を前記瞳孔径調
整用の光源光電の調整で設定した目標値に合致させる様
構成したことを特徴とするものである。

［作　　用］ 受光素子からの映像信号から瞳孔径を演算し、次にこの
値と目標値とを比較し、瞳孔径調整用の光源の光量を増
減し、得られる瞳孔径を目標値に合致させる。

［実　施　例１ 以下図面を参照しつつ本発明の一実施例を説明する。

先ず、先の出願に於いて提案した眼屈折装置について説
明する。

第３図（＾）（Ｂ）　（Ｃ）に於いて、１は光源像を被
検眼３の眼底７に投影する為の投影系であり、２は眼底
７により反射された光束１０を受光する為の受光系であ
り、投影系１及び受光系２は被検眼３に対向して配置さ
れる。

前記投影系１は、光源４及び光源４からの光束１１を被
検眼３に向けて反射させる為のハーフミラ−５から成り
、該投影系１は光源４からの光束１１を瞳孔６を通して
眼底７上に光源４の（ｆＡを形成する様に投影するもの
で、被検眼３の眼屈折力が基準デイオプター値（基準屈
折力）の場合に眼底７上に光源４の像が合焦されるよう
に光源４と被検眼３との距離が設定されている。

前記受光系２は、対物レンズ８及び受光素子９から成り
、眼底７からの光束１０はハーフミラ−５を透過して受
光素子９上に導かれる。

該受光素子９は、エリアＣＯＤ、撮像管或はこれらの２
以上の集合体であり、受光素子９の受光面９ａは対物レ
ンズ８に関して被検眼３の瞳孔６と共役位置に配置され
る。

前記受光系２の光路内には、ハーフミラ−５に関して光
源４と共役な位置に対物レンズ８の光軸０を境界として
光束１０の片側を遮光する為のエッヂ状の遮光部材１２
を配置する。

又、前記受光素子９には演算器１３が接続され、該演算
器１３は受光素子９の受光状態、光量分布よりデイオプ
ター値を演算し、その結果を表示器１４に出力する様に
なっている。

次に上記構成の眼屈折力測定装置に於ける眼屈折力測定
は下記の如く行われる。

第３図（＾）に示す様に、被検眼３のデイオプター値が
基準デイオプター値に比べて負のデイオプター値の場合
には、光源４の像は眼底７の前方で結像され、この光束
により照明された眼底７上の内、光軸上の１点で反射さ
れた光束１０を考えると、この光束１０は遮光部材１２
の前方、即ち被検眼３側で集光され、対物レンズ８によ
り受光素子９上に投影される光束の上半分（斜線部分）
か遮光される。

一方、第３図（Ｂ）に示す様に、被検眼のデイオプター
値か基準デイオプター値の場合には、光束１０は遮光部
材１２上に集光されるもので、光束１０は遮光部材１２
によって遮られない。

又、第３図（Ｃ）に示す様に、被検眼３のデイオプター
値が基準デイオプター値より正の場合には、光源４の像
は眼底７の後方で結像するように投影され、前述と同様
に眼底７で反射された光束１０は遮光部材１２の後方、
即ち受光素子９側で集光され、受光素子９１に投影され
る光束１０は第３図（＾）とは逆の部分の光束（図中で
は上半分）が遮光される。

而して、受光面９ａに投影される光束は基準デイオプタ
ー値に対して被検眼３のデイオプター値の大小、正負に
よって光量分布状態が変化し、この光量分布状態を基に
デイ第１ター値が求められる。

受光素子９はこの受光面９ａに形成される光束の光量分
布を検出する為のものであり、前記演算器１３は受光素
子〇からの信号を基に、受光面９ａ上に形成される光束
の光量分布を検出し、基準となるデイオプター値に対し
被検眼の眼屈折力か正か負かを判断すると共にその絶対
値を演算し、演算結果を表示器１４に出力し、表示器１
４は求められた結果を表示する。

尚、上記実施例では光束分離手段としてハーフミラ−を
使用したか、ビームスプリッタ−面光プリズム等積々の
光束分離手段を用いることは勿論である。

又、第４図（＾）〜（Ｅ）に於いて、受光面９ａに形成
される光束の光量分布状態を説明する。

尚、第４図（＾）〜（Ｅ）に於いて説明を簡略化する為
、光源４の光軸と受光系の光軸とを合致さぜ且遮光部材
１２と対物レンズ８とを一致させている。この為、光源
４と対物レンズ８とは同一位置で重ね合わせて示してお
り、遮光部材１２は省略して示している。

第４図（Ａ）〜（［）は被検眼の屈折力りが基準屈折力
Ｄ０に対し負の場合を示しており、以下の説明は眼底か
らの反射光束は全て対物レンズ８によって受光面９ａ上
に投影されるものとする。

光源４と被検眼瞳孔６との距離をＱに設定しこの光源の
像が眼底に合焦する被検眼の屈折力を基準屈折力Ｄ０と
すると である。

第４図（Ａ）は被検眼の屈折力がＤ　（＜Ｄ、　）の場
合の５．光軸に対し直角方向にＬの長さを有するスリッ
ト状の光源４の軸上の一点Ｓｏからの投影光束を示すも
ので、点Ｓ。の像は一旦、Ｓｏ’に結像され、被検眼眼
底７には、ぼけた像として投影される。Ｄｏ　−Ｄか大
きくなるに従い投影される領域７ａは広くなる。

第４図＋８）は受光系２、及び、被検眼眼底７からの反
射光束の状態を示すものである。

第４図（Ｂ）に示す様に、被検眼眼底７上の投影Ｖｉ、
域の端部の点Ｉ−，からめ光束を考えると、この点の像
Ｉ−１′は被検眼瞳孔からグの距離の位置に結像され、
この光束は対物レンズ８を介して被検眼瞳孔６と共役位
置に配置した受光素子９上に投影される。尚、このＱ′
と被検眼の屈折力りの関係式は下記の通りである。

一方、この眼底上の一点から発した光束のエッチ上での
広がり幅Δは被検眼の瞳径をｌ」とすると、第４図（Ｂ
）から明らかな様に、であり、第（１）式、第（２）式
より となり、被検眼３の屈折力りと基準屈折力り。

との差が大になるに従い遮光部材１２上の広かりは大き
くなる。

次に、受光素子９上での光束の広がりについて述べる。

受光素子９は、被検眼３の屈折力に関係なく常に、対物
レンズ８に関して被検眼瞳孔と共役に配置されており、
被検眼瞳孔６の径をＵ、対物レンズ８の倍率をβとする
と、受光素子９上ではβＵの径の領域（被検眼の屈折力
に影響を受けない）に光束が投影される。

又、光軸に対して前記Ｉ−，と対称な点１．からの光束
も同様に被検眼瞳孔６から２゛の位置に（！Ａ１．’を
結像した後、受光素子９１の同じ領域βＵに投影される
。光源４を点光源として、遮光部材１２が無いものとし
た時、これら眼底７からの各点り、、・・・Ｉｏ、・・
・１１、からの光束の積分が受光素子９上の光量分布を
決めるものである。

ここで、受光素子９上での光量分布について考察するた
め、受光素子９上の光束投影位置の端部位置Ｐ−，、す
なわち、光軸を中心とした座この位置に入射する光束は
第４図（Ｃ）での斜線Ａの範囲の光束に限られることと
なる。又、同様に、光軸に対して、前記のＰ−１位置と
対称な位置Ｐ、に入射する光束を考えると斜線Ａ′範囲
の光束に限られることになる。してみると、被検眼瞳孔
６からＱの距離（光源４と共役位置）の位置に光軸の一
方の光束Ａ′を遮断するエッチ状の遮光部材１２を配置
すると受光素子９上のＰ−１の位置に入射する光束は遮
光部材１２により遮断されず、このＰ−１の位置から上
方のｔｉ、置にいくに従って光束は徐々に遮光され、中
心Ｐａ位置で光束の半分が遮光され、Ｐ、の位置になる
と全ての光束が遮断されることとなるものである。従っ
て、エッチ状の遮光部材１２により受光素子９上には上
方に行くにしたがって暗くなり、Ｐ、の点で光量が０と
なる一定傾斜の光量分布となるものである。

以上の第４図（Ａ）〜（Ｃ）では、光源４の光軸上の一
点から発する光束のみを示したが、光源４の端部の一点
５−１（光源の大きさをＬとする第４図（０）に示すよ
うになる。この点Ｓ−１からの光束は、第４図（Ｄ）に
示す被検眼眼底７上のり、点から１１点の領域に投影さ
れ、とのＩ−。

点、１１点からの反射光は、前述と同様に被検眼瞳孔６
からＱ′の距離の位置で１．　　、Ｉ。

の像を結像した後、受光素子９上のβＵの径の領域に投
影されるものである。ここで、光源４の端部の点Ｓ−１
から発する光束のうち、受光素子９上の光束投影の端部
位置Ｐ−，に入射する光束は第４図（０）のＢの斜線領
域の光束となるものである。

又、前記Ｓ−１の点と対称な光源４の一点Ｓ８からの光
束を考え、そのうち受光素子９上のＰ−１の点に入射す
る光束を考えると第４図（Ｅ）のＣの斜線領域の光束と
なる。この様に、光源４がある大きさを有するものとし
て考えた場合、受光素子９上の一点の光量は、光源４の
各点からの光束の総和として考えなければならない。

第５図（＾）は、この考え方に基づき、受光素子９上の
Ｐ−、の位置に入射する各光束を重ね合わせて示したも
のであり、光源上のＳ−、の位置から発する光束のうち
Ｐ−１の位置に入射する光束はＢの領域であり（第４図
（０）参照）、光源上での位置が上方に行くにしたがっ
てその光束も上方に移動し、軸上の光源位置Ｓ０ではＡ
の領域の光束となり（第４図（Ｃ）参照）、光源上での
Ｓ、の位置ではＣの領域の光束となる（第４図（［）参
照）、従って、受光素子９上のＰ−。

の点での光量は、これらの光束の総和として考えられる
。

ここで、被検［１ｊ！瞳孔６から９の距１１ｉ１ｔの位
置に遮光部材１２を配置した時の受光素子９上の点Ｐ−
，の光量を示す模式図を第５図（Ｂ）に示す。

第５図ｆＢ）は光源上の位置が変化するにしたがって遮
光部材１２により光束がどの様に遮光されるかを示すも
のである。第５図（Ｂ）の横軸は光源上の座標位置、縦
軸は光量を示すものであり、光源上での各点からの光束
を考えると、座標位の光束は遮光部材１２により遮光さ
れず、座標位置の０点を過ぎると徐々に遮光され、Δ（
前述の光束の広がり）の位置で全ての光束か遮断される
事になるものである。ここで遮光されない場合の光源上
の各点からの光量をｋとして光源上での各点からの光量
の寄与を示したものか第５図（Ｂ）であり、斜線部の面
積か受光素子上のＰ−、の点の光量値に対応するもので
ある。この面積ｆＭＴは下記のようになる。

同様にして、受光素子上での曲の点についても考察する
。第６図（＾）は受光素子上での中心点Ｐ０に入射する
光束を第５図（＾）と同様に示したものであり、光源上
のＳ−１の点からの光束の内Ｐａの点に入射する光束は
Ｂ、の斜線領域、光源上の中心Ｓｏの点からはＡｏの斜
線領域、光源上のＳ、の点からの光束はｃｏの斜線領域
の光束となるものであり、受光素子９の中心に入射する
光量は第６図（Ｂ）の斜線領域の面積Ｔｏに対応するこ
とになる。すなわち、光源の各点からの受光素子の中心
点に入射する光束をの光束が遮断されることになり、こ
の面！ａ値を前述と同様に計算すると下記値になる。

同様にして、受光素子上での点Ｐ、に入射する光束の状
態、及びこの点での光量値を第７図（Ａ）、第７図（Ｂ
）に示す。第７図（Ａ）において、光源上のＳ−１の点
からの光束の内Ｐ１の点に入射する光束はＢ′の斜線領
域、光源上の中心Ｓｏの点からはＡ“の斜線領域、光源
上のＰ−１の点からの光束はＣ″の斜線領域の光束とし
て示す、この場合には、第７図（Ｂ）に示すように、光
源の各点から受光素子のＰ、の点に入射するの位置まで
は光束は遮光されず、−Δ位置を過ぎると徐々に光束が
遮られ、０の位置で全ての光束が遮断されることになり
、この面積値を計算すると下記値になる。

これらの式（４）　、（５）　、（６）の結果かられか
るように、受光素子９１の光量値は下方から上方にいく
にしたがって、光量値は徐々に低くなるものであり、そ
の受光素子上での光量分布を図示すると第８図に示すよ
うに直線的に変化する。

前述の説明に於いては、眼底の一点から発する光束を考
えた場合の遮光部材１２上での広がり定して説明を行っ
たものである。

一値り。に対する被検眼のデイオプター値の面差ΔＤか
所定量以上の場合には、第１１図に示すような直線変化
は示さない、これを第５図ないし第７図にしたがって説
明を行う、前述のよ（Ｂ）、第７図（Ｂ）はそれぞれ第
１２図、第１３図、第１４図、に示す様になり、この光
量変化は第８図に示す様な直線変化を示さないことにな
る。

次に、第３図（Ｂ）で示す被検眼の屈折力が基準値であ
る場合、第３図（Ｃ）で示す被検眼の屈折力が基準値よ
り正の場合も、前記したと同様に受光素子９上の光量分
布を考察することができ、その場合被検眼の屈折力が基
準値である場合は、第９図に示す如く、均一分布、被検
眼の屈折力が正の場合は第１０図で示す様に第８図で示
したものと逆な分布状態となる。

上記した光量分布の傾斜がデイオプター値（屈折力）を
そして、傾斜の方向がデイオプター値の正負を表わす、
以下第１１図を参照して説明する。

前記した光束の広がりΔ、即ちボケ量Δは、前記（４）
式より、 よって（７）式より 対する被検眼のデイオプター値の偏差ΔＤとのデイオプ
ター値を求めることが可能となる。

上述の如く、眼底から反射される光束の光量分布から被
検眼のデイオプター値を求めることができる。

尚、上述した光量分布は模式的に表わしており、実際に
は第１５図（′＾）で示す眼球の各部分に対応した光量
の分布の変化（第１５図（Ｂ）参照、第１５図（８）で
示す光量分布は基準デイオプター値での光量分布を示し
ている）、即ち角膜の反射による輝点１９での光量の突
出ρであるとか、瞳孔６を外れた虹彩２０部分での光量
の落込みσ等がある。

本発明では前記光量分布の状態から、具体的には第１８
図＋８）で示す光量の変化率より瞳孔６の境界点ｍ、ｎ
を求め、この境界点ｍ、ｎの位置より瞳孔径Ｕを求め、
更にこの瞳孔径Ｕを所定の値に補正しようとするもので
ある。

又、前記した光量分布よりデイオプター値の偏差ΔＤを
求め、る場合に、輝点の影響がないものとしている。′
Ｂ点は、測定結果に影響を及ぼすので、測定に際しては
輝点の影響を除去するのが好ましい。

以下は、輝点の影響を除去することも併せて説明する。

第１図は本発明の一実施例の基本構成図を示し、第１６
図は該実施例の概略ブロック図である。

尚、第１図中、第２図（Ａ）（Ｂ）（Ｃ）中で示したも
のと同一のものには同符号を付しである。

第３図（Ａ）（Ｂ）　（Ｃ）で示される前述の眼屈折力
測定装置に注視目標１５からの光束１６を眼底７に投光
する為の注視目標系１７を設ける。

該注視目標系１７は注視目標１５と該注視目標１５から
の光束１６を被検眼眼底７に向けて投光結像させるレン
ズ１８と、該レンズ１８からの光束１６を投影系１の光
軸に向かって反射させる為のミラー１９と、Ｊｌ！ｌ定
機の光軸上に配置され、且被検眼３と第１ハーフミラ−
との間に設けられ、該光束１６の光軸を測定機の光軸と
合致させ眼底７に投光させる第２ハーフミラ−２０と注
視目標１５の照明用光源２１及びその集光レンズ２２か
ら成っている。

次に、第１６図について説明する０図中、２３は前記し
た眼屈折力測定装置の光学系、９は受光素子、１３は演
算器、１４は表示器、２４は受光素子９の映像及び演算
処理部の結果を記憶するフレームメモリ、２５は演算処
理部、２６はフレームメモリ２４、演算処理部２５の同
期指令、シーゲンス指令を行う制御部で２７は前記照明
用光源２１の光度調整用の光量調整部である。

以下、第１７図〜第２１図を参照して該実施例の作用を
説明する。

先ず被検眼者の、両眼を含む範囲を受光素子９によって
撮像し、この映＊＜第１８図（Ａ））をフレームメモリ
２４に取込み記憶する。又、この映像は両眼がそれぞれ
所定のエリア例えば右眼が（ＸＩ　　；Ｙ、）に含まれ
る様に撮像されている。第１８図＋８）は（ＸＩ　；　
Ｙｌ　）のエリアを拡大したものである。

前記フレームメモリ２４のエリア（Ｘ、；Ｙｌ　＞部分
の光量最大な点即ち電位が最大な点を調べる。

エリア（ＸＩ　　；Ｙｌ　）での電位最大な点が求めら
れれば、これか輝点２８であり、該輝点のフレームメモ
リ２４中のビットの位置から輝点２８の位置が求められ
る。

輝点２８が求められると、第１９図（Ｂ）の如く該輝点
を中心とする輝点近傍の検知エリア（Ｘ　ｓ；Ｙ８）が
設定される。エッヂと平行なＸ方向の走査線で検知エリ
ア（ｘａ；ｙｓ）の境界線と交差する点ａ点、ｂ点の光
量を求め、このａ点、ｂ点を直線で近似する。このａ点
、ｂ点を結んだ直線か前記検知エリア（Ｘ−；　Ｙｓ　
）でのＸ方向の走査線に於ける輝点２８の影響を除去し
た光量分布を示すものである（第１９図（Ｃ）参照、尚
図中δで示す光量分布は瞳孔部分をＸ方向に走査して得
られる光量分布曲線を示す）。

而してａ点、ｂ点間の近似直線の式は Ｌ＝　（（ｔ、ｂ　−Ｌａ　）／Ｘ、ｌ　ＸＸ＋Ｌ。

・・・（１０）となる。

ここで、エッチと平行な方向に走査することとしたのは
、エッチと平行な方向では光束の状態が対称であり、理
想的には輝点部分を除き光量分布は均一と考えられるの
で、直線で近似した場合の誤差も少ないからである。

斯かる走査を検知エリア（Ｘ、；Ｙｓ　）全域に亘って
行い、検知エリア（Ｘｓ　；　Ｙｓ　）について輝点２
８の影響を除去した修正値を求める。

前記フレームメモリ２４の検知エリア（Ｘｓ；Ｙｓ）部
分についての記憶値を前記修正値に置換し、この修正値
に置換したものを新たに修正映像としてフレームメモリ
２４に記憶する。

次に、検知エリアを瞳を充分に含む（Ｘ２；Ｙ２）に拡
大しく第２０図（Ｂ））、前記修正映像について該検知
エリア（Ｘ２　；　Ｙ２　）をＹ方向（前記エッチと直
角な方向）に走査して、走査した線上での光量分布を求
める。このＹ方向の走査線、特に輝点２８を通る走査線
での光量分布γ（第２０図（Ｃ））が前記第１１図で示
した光量分布に相当し、デイオプター値算出の基となる
ものである。

尚、光量分布γより傾斜を求めるについては、種々考え
られるが、例えば第２１図に示す如く、最小二乗近似に
より直線を求め、この直線の傾きを求める等が挙げられ
る。

次に瞳孔径Ｕの補正について説明する。

瞳孔径Ｕを補正するには、先ず光量分布より、瞳孔径Ｕ
を求め、求めた瞳孔径Ｕが予め制御部２６に設定入力し
である目標瞳孔径ｕｏに合致する様照明用光源２１の光
量を調整する。

第１５図（Ａ）（Ｂ）　（Ｃ）にも示した様に、瞳孔部
分を外れ虹彩部分２９になると光量が急激に低下する（
第２０図（Ｃ））、従って、光量分布γの変化率を求め
ると瞳孔６と虹彩部分２９の境界点ｍ、ｎで値が突出す
る。この境界点ｍ−ｎの座標位置を前記フレームメモリ
２４から読みとり、演算処理部２５で演算すれば瞳孔径
Ｕを求めることができる。

尚、瞳孔径Ｕのみを求める場合には、特に輝点２８の影
響を除去する必要はない、輝点２８は瞳孔６の中心にあ
るので、変化率最大の点、即ち輝点の近傍で、変化率が
突出して大きくなる２点を求めれば、これが瞳孔の境界
点ｍ、ｎであり、前記したと同様にフレームメモリ２４
から位置を読みとり、演算処理部２５で演算することで
瞳孔径Ｕが求められる。

尚、まつげの影響を小さくするには水平方向の走査が好
都合である。

瞳孔径Ｕが求められると、演算処理部２５で目標値ｕｏ
と比較し、Ｕとｕｏとの間で面差があれば、この偏差を
補正する為の光量の増減の指令を光量調整部２６へ出力
し、該光量調整部２６はこの指令に従って照明用光源の
光量を増減する。

被検者の虹彩２９は光量の増減に反応して瞳孔径Ｕを拡
縮し、測定時の瞳孔径Ｕが目標値の瞳孔径Ｕ。に合致す
る。

尚、検出された瞳孔径の値を表示器１４上に表示させ、
この値が目標値の瞳孔径ｕｏに合致させる様に手動で光
量の増減を行ってもよい。

前記した様に、瞳孔径Ｕが求められるとデイオプター値
は（９）式により求められるが、上記した操作によりデ
イオプター値を所定の値に補正することで（９）式に於
いて瞳孔径Ｕは定数として演算でき、被検者の個人差に
よる瞳孔径の相違、測定環境の相違を考慮することなく
直にデイオプター値を求めることができる。

尚、瞳孔径を補正する他の例としては第２図に示す様に
被検眼の前眼部を直接照明してもよいことは勿論である
。

［発明の効果〕 以上述べた如く本発明によれば、光量分布状態を基に簡
単に瞳孔径を所定の値に補正でき、眼屈折力測定に必要
な測定条件を実現し得ると共に個人差、測定環境の相違
を気にすることなく、常に正確な眼屈折力の測定を行う
ことかできる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の眼屈折力測定装置の基本概
略図、第２図は同前能の実施例の基本概略図、第３図（
＾）（Ｂ）　（Ｃ）は本発明が実施される眼屈折力測定
装置に於ける被検眼のデイオプター値の相違による光束
の状態の相違を示す説明図、第４図（＾）（Ｂ）　（Ｃ
）（Ｄ）　（Ｅ）は受光及び被検眼眼底からの反射光束
の状態を示す説明図、第５図（＾）、第６図（＾）、第
７図（＾）は受光素子に到達する光源各点の反射光束の
状態を示す説明図、第５図（Ｂ）、第６図（Ｂ）、第７
図（Ｂ）は遮光部材によって遮られた場合の各光束の光
量変化を示す説明図、第８図、第９図、第１０図はデイ
オプター値に対応した受光面での光電分布状態を示す説
明図、第１１図は光量分布状態よりデイオプター値を求
める場合の説明図、第１２図、第１３図、第１４図は遮
光部材上での広がり幅Δか光源の１７２の大きさより大
きな場合の遮光部材によって遮光された場合の各光束の
光量変化を示す説明図、第１５図（Ａ）は被検眼の説明
図、第１５図（Ｂ）は被検眼に対応する光量分布を示す
線図、第１５図（Ｃ）は光景分布の変化率を示す線図、
第１６図は本発明の一実施例を示すブロック図、第１７
図は該実施例に於けるフローチャート、第１８図（＾）
は前記眼屈折力測定装置の撮像画面の図、第１８図（Ｂ
）は被検眼部分を拡大した図、第１９図（八）は第１８
図（Ｂ）と同様被検眼部分の拡大図、第１９図（Ｂ）は
輝点を含む範囲を示す図、第１９図（Ｃ）は輝点を通過
するエッチに対して平行な走査線の光１分布図、第２０
図（＾）は第１８図（Ｂ）と同様被検眼部分の拡大図、
第２０図（Ｂ）は瞳孔を含む走査領域を示す図、第２０
図（Ｃ）はエッチに対して直角方向の走査線の光量分布
を示す図、第２１図は光量分布より傾斜を近似により求
める場合を示す説明図である。 １は投影系、２は受光系、３は被検眼、４は光源、５は
ハーフミラ−１８は対物レンズ、９は受光素子、１３は
演算器、１４は表示器、２４はフレームメモリ、２１は
照明用光源、２５は演算処理部、２６は制御部、２７は
光量調整部を示す。 特　　許　　出　　願　　人 東京光学機械株式会社

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １）被検眼眼底に光源像を投影し、該被検眼眼底からの
   反射光束を受光素子により受光し、該受光光束により被
   検眼の眼屈折力を測定する眼屈折力測定装置に於いて、
   前記受光素子の映像信号から瞳孔径を演算する演算処理
   部部を有し、この演算した瞳孔径を前記瞳孔径調整用の
   光源光量の調整で設定した目標値に合致させる様構成し
   たことを特徴とする眼屈折力測定装置。