JPH02247575A - 電力モニタ及び電力監視方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の背景 この発明は電力会社及び工業の用途に於ける電力系統の
パラメータの測定に一般的に関する。更に具体的に云え
ば、この発明は１本又は更に多くの電力線路又はその他
の導電通路に関連する電圧、電流及び電力を決定する電
力モニタに関する。

発明の要約 電力線路の測定は、特定の負荷に流れる電力並びに負荷
に電力が送出される時の力率（又は効率）を計算する為
に、複数個の入力パラメータを利用することが出来なけ
ればならない様なものである。

今日の業界では、工場又はその他の大電力ユーザに電気
エネルギを送出すのに、３相電力を用いるのが普通であ
る。こう云う場所に送出される電力を正確に測定する為
には、一般的に各相に対して、少なくとも２つの入力パ
ラメータ、即ち、電圧と電流を利用することが出来なけ
ればならない。この為、３相用の場合、６つの入力パラ
メータと、中性点を表わすパラメータを併せたものが、
電力の計算が出来る様にする為に利用出来なければなら
ない。各相の電圧及び電流を感知することが出来る様に
する為に、「インライン」形及び「クランプオン」形の
両方のセンサを市場で入手し得る。

機械形及び電気機械形の電力モニタ又は電力計は前から
知られている。

この発明の１つの目的は、特定の電力線路に関係するＷ
ＡＴＴＳ　（実効電力）及びＶＡＲＳ　（ボルトアンペ
ア無効電力）を決定することが出来る電子式電力モニタ
を提供することである。

この発明の別の目的は、その中にあるデータ収集回路の
速度条件を比較的低くした電力モニタをて提供すること
である。

この発明の別の目的は、波形解析を行なう為に波形情報
のデータベースを収集する電力モニタを提供することで
ある。

この発明の１実施例では、周期的な信号に関係する電力
を監視する電力モニタを提供する。電力モニタは、信号
の複数個のサイクルを含む観測窓の間、信号を標本化し
て、複数個の組の電圧−電流サンプルを発生する標本化
回路を含む。更に電力モニタが、標本化回路に結合され
ていて、電圧−電流サンプルの組が、観測窓内のサンプ
ル毎に、各サイクルの初めに対して相異なる時間位置に
分布するように、信号の標本化を調時するタイミング手
段を含む。

この発明の別の実施例では、複数個の観測窓にわたって
線路信号の電力を監視する電力モニタを提供する。各々
の観測窓は線路信号の予定数のサイクルを含む。電力モ
ニタが第１、第２及び第３のメモリ区域を有する。更に
電力モニタが、複数個の観測窓にわたって、線路信号の
電圧及び電流を標本化して、到来サンプル・データを発
生する標本化回路を含む。電力モニタは、夫々逐次的な
観測窓の間、到来サンプル・データを第１及び第２のメ
モリ区域に交代的に記憶する。モニタが、第１、第２及
び第３のメモリ区域に結合されていて、到来サンプル・
データが第２のメモリ区域に記憶されつ〜ある間、第１
のメモリ区域に記憶されたサンプル・データに対する電
力解析を行なうマイクロプロセッサを有する。この後、
マイクロプロセッサが、到来サンプル・データが第１の
メモリ区域に記憶されつ−ある間、第２のメモリ区域に
記憶されたサンプル・データに対する電力解析を行なう
。電力モニタが、現在の観測窓にあるサンプル・データ
が過渡的なデータを持っているかどうかを判定し、持っ
ていれば、現在の観測窓に続く次の観測窓の到来サンプ
ル・データを第３のメモリ区域に記憶させる様にする過
渡状態感知ルーチン又は同等のハードウェアを含む。

この発明の好ましい実施例では、電力モニタが周期的な
信号に関係する電力を監視する。モニタが、信号の複数
個のサイクルを含む観測窓の間、信号を標本化して、複
数個の電圧−電流サンプルの組を発生する標本化回路を
有する。各々のサンプルの組は略同時に求められた少な
くとも１つの電圧サンプル及び少なくとも１つの電流サ
ンプルを含む。更に電力モニタが、標本化回路に結合さ
れていて、電圧−電流サンプルの組が観測窓の各サイク
ル全体にわたって分布する様に、標本化回路による信号
の標本化を調時するタイミング回路を有する。作業デー
タ・メモリ区域が標本化回路に結合されて、観測窓の間
に発生するサンプルの組をインターリーブ形に記憶して
、データの１サイクルを模擬する。過渡的なデータ区域
が標本化回路に結合され、観測窓の間に発生するサンプ
ルの組を逐次的に記憶する。伝送データ区域が作業デー
タ区域及び過渡的なデータ区域に結合される。

送信データ区域が、送信データφメモリ区域にこうして
記憶されたデータを別の場所へ伝送するのに備えて、ホ
スト又はその他の装置の命令の通りに、作業データ・メ
モリ区域及び過渡的なデータ・メモリ区域の内の選ばれ
た一方の内容を記憶する。

この発明の新規と考えられる特徴は特許請求の範囲に具
体的に記載しであるが、この発明自体の構成、作用は、
以下図面について説明する所から最もよく理解されよう
。

発明の詳細な説明 １０発明の第１の実施例 第１図はこの発明の電力モニタ１０のブロック図である
。第１図に示す実施例の電力モニタは、３相系統の電力
パラメータを監視することが出来るが、当業者であれば
、相数が少ない場合にもこの電力モニタを使うことが出
来ることが理解されよう。後で詳しく説明するが、電力
モニタ１０が、線路入力信号の幾つかのサイクルを含む
観測窓にわたって、線路入力信号を標本化する。電力モ
ニタ１０は観測窓の各サイクルの間、何組かの電圧−電
流サンプルを求める。各々のサンプルの組は略同時に求
められた少なくとも１つの電圧サンプル及び少なくとも
１つの電流サンプルを含む。

更に詳しく云うと、電力モニタ１０が、そのやり方は後
で説明するが、モニタ１０によって感知されたデータの
標本化に使う高周波クロック信号を発生する為の逓倍器
として作用する位相固定ループ（ＰＬＬ）２０を有する
。ＰＬＬ　　２０が入力２０Ａ及び出力２０Ｂを有する
。例えば５０ｔｌｚ。

６０１１ｚ、　４００１１ｚ又はその他の線路周波数と
云う線路周波数ＦＬを持つ略周期的な線路周波数信号が
ＰＬＬ入力２０Ａに結合される。この例では、ＰＬＬ入
力２０Ａに供給される線路周波数ＰＬが６０Ｈｚである
が、これは同等制約となるものではない。便宜上、ＰＬ
は入力２ｏに供給される線路周波数信号の周波数だけで
なく、この線路信号をも表わすものとする。

ＰＬＬ入力２０Ａが位相検出器３０の（＋）入力３０Ａ
に結合される。この位相検出器がＰＬＬ入力２０Ａに供
給された線路信号と、位相検出器３０の（−）入力３０
Ｂに供給された帰還信号との間の位相差を監視する。こ
の位相差に比例する直流電圧が位相検出器３０の出力に
発生される。

位相検出器３０の出力が電圧制御発振器（ＶＣＯ）４０
の人力に結合される。ＶＣＯ４０の出力が除算回路５０
を介して位相検出器３０の入力３０Ｂに結合され、それ
に対して前に述べた帰還信号を供給する。この発明のこ
の特定の実施例では、除算回路５０は除数１０２４の除
算器であるが、この発明がこの除算器に制限されないこ
とは云うまでもない。除算回路５０の除数は、入力デー
タを正確に標本化するのに十分な位高いデータ標本化速
度を電力モニタ１０が持てる様に、十分大きくするが、
これは後で更に詳しく説明する。

ＰＬＬ　　２０の出力が、第１図のＶＣｏ　　４０１：
結合されたＰＬＬ出力２０Ｂの接続で判る様に、ＶＣＯ
４０の出力から取出される。ＰＬＬ入力２０Ａに供給さ
れる線路周波数信号が周波数ＦＬ−６０Ｈｚであると仮
定すると、ＰＬＬ出力周波数Ｆｐ−６０Ｘ１０２４−６
１４４０Ｈｚ、即ち６１゜４４ｋＨｚである。便宜上、
ＦｐはＰＬＬ出力信号の周波数だけでなく、ＰＬＬ出力
信号自体をも表わすものとする。前に述べた所から、Ｐ
ＬＬ　　２０が実質的に逓倍器として振舞い、その出力
信号Ｆρが、基準クロック信号又は時間ベースとなり、
これから電力モニタ１０のデータ標本化速度が導かれる
ことが理解されよう。ＰＬＬ回路２０はＰＬＬ出力信号
ＦＰの周波数及び位相が６０１１ｚのＦＬ線路信号に固
定される様に保証する。即ち、ＰＬＬ出力信号ＦＰが線
路信号ＦＬと同期し、線路信号ＰＬの１サイクル毎に、
ＰＬＬ出力信号ＦＰには整数個のパルスが発生される。

ＰＬＬ出力２０Ｂが除算回路６ｏを介して除算／アドレ
ス発生回路７０の入力に結合される。この実施例では、
除算回路６０の除数Ｍは９である。

こうすることにより、ＰＬＬ出力信号ＦＰがＭ−９で除
されてから或いは「減速コされてから、除算／アドレス
発生回路７０の入力に供給される。

電力モニタは、以下の説明から明らかになるが、除算回
路６０の除数を９にする場合に制限されない。然し、説
明を全うすれば、除算回路６０の除数が９である時、除
算したＰＬＬ出力信号ＦＰは周波数ＦＤＩが６１４４０
Ｈｚ／９、即ち６８２６゜７Ｈｚであり、これを以下Ｆ
ＤＩ信号と呼ぶ。

この特定の実施例の電力モニタは８個までの異なるパラ
メータを監視する為に使われるが、これもこの発明を制
約するものではない。例えば、３相電力系統（図面に示
してない）では、ＶＡ、ＶＢ、ＶＣが３相の電圧を表わ
しＩＡ、ＩＢ、ＩＣが夫々この電圧に関連する対応する
電流を表わす。

８人力サンプルホールド回路８０を用いて、これらの電
圧及び電流を標本化する。更に具体的に云うと、サンプ
ルホールド回路８０の８人力が、種々の電圧及び電流セ
ンサ（後で示す）を介して３相に夫々結合されている。

即ち、普通の電圧センサを結合して電圧ＶＡ、ＶＢ、Ｖ
Ｃを感知し、この電圧を表わすものを夫々ＶＡ、ＶＢ、
ＶＣと記したサンプルホールド人力に供給する。同様に
、普通の電流センサをこれらの３相、又は電圧ＶＡ。

ＶＢ、ＶＣが存在する線路に結合して、夫々の電流を表
わす電流感知信号ＩＡ、ＩＢ、ＩＣを発生する。電流セ
ンサが中性線路にも結合され、感知された中性点電流を
ＩＮで表わす。感知された電流信号ＩＡ、ＩＢ、ＩＣ，
ＩＮが夫々人力ＩＡ。

ＩＢ、ＩＣ，ＩＮと記すサンプルホールド回路８０の入
力に結合される。この特定の実施例では、サンプルホー
ルド回路８０の８番目の残りの入力はＳと記されており
、これは使われない予備の入力である。（８人力サンプ
ルホールド回路は普通にあるが、７人力サンプルホール
ド回路は特別の装置である。）サンプルホールド回路８
０が各々の入力に対するアナログ出力を持つ。即ち、こ
の実施例では、サンプルホールド回路８０が、対応する
８個の入力で標本化したデータを保持する８個のアナロ
グ出力を有する。

サンプルホールド回路８０の付能入力（Ｅ　Ｎ）に付能
信号を受取った時、ＶＡ、ＶＢ、ＶＣ，ＩＡ、ＩＢ、Ｉ
Ｃ（及びＩＮと予備）のサンプルが求められることに注
意されたい。こうすることにより、サンプルホールド回
路８０に付能信号が供給される度に、８個の電圧−電流
サンプルの組が求められる。更に、各々の電圧−電流サ
ンプルの組の中で、ＶＡ、ＶＢ、ＶＣ，ＩＡ、ＩＢ、Ｉ
Ｃ（及びＩＮ及び予備）サンプルが同時に求められ、後
で説明するＷＡＴＴＳ及びＶＡＲＳ　（ボルトアンペア
無効電力）の計算に精度を持たせる。

サンプルの組を求める実際の速度は、サンプルホールド
回路８０の付能入力をクロックで付勢する速度によって
決定される。サンプルホールド回路８０の付能入力は周
波数ＦＤ２でクロック作用を受ける。この周波数は、除
算回路６０の除数と除算／アドレス発生回路７０の除数
との両方に関係する。この発明のこの実施例では、除算
／アドレス発生回路７０の除数は、サンプルホールド回
路回路８０の入力の数と等しく、即ち８に選ばれる。こ
の為、付能速度ＦＤ２はＦＤＩ／８、即ち、今の実施例
では、６８２６．　７／８Ｈｚ或いは８５３．３３Ｈｚ
に等しい。除算／アドレス発生回路７０が、サンプルホ
ールド速度ＦＤ２の８倍の速度で、相異なる３ビツト・
アドレスを発生する。即ち、１実施例では、除算／アド
レス発生回路７０は除数８のカウンタであり、これが０
から７まで計数し、こうして８サイクル毎に出力パルス
を発生する。このカウンタの内部状態は３ビツト・アド
レスとして外部で利用することが出来、それがマルチプ
レクサ９０をアドレスする。例えば、除算／アドレス発
生回路７０がアドレス出力Ａ、Ｂ。

Ｃを持ち、これは最下位、中位及び最上位アドレス・ビ
ットを表わす。第２図は除算／アドレス発生回路７０に
よって発生されるアドレスのアドレス・マツプである。

回路７０が除算回路６０からパルスＦ１を受取る度に、
考えられる８個の３ビツト・アドレスの内の異なる１つ
が、第２図のアドレス・マツプに見られる様に発生され
る。第１図に戻って説明すると、電力モニタ１０がマル
チプレクサ９０を持ち、これは８個のアナログ・サンプ
ル人力ＶＡ　（Ｓ）、ＶＢ　（Ｓ）、ＶＣ（Ｓ）。

ＩＡ　（Ｓ）、ＩＢ　（Ｓ）、ＩＣ（Ｓ）、ＩＮ　（Ｓ
）及びＳ　（Ｓ）と１つのアナログ出力とを持っている
。更にマルチプレクサ９０がアドレス人力９０Ａ、９０
Ｂ、９０Ｃを持ち、これらがアドレス発生回路７０のア
ドレス出力Ａ、Ｂ、Ｃに夫々結合される。マルチプレク
サ９０の８個のアナログ入力の各々が第１図に示す様に
、サンプルホールド回路８０の８個のアナログ出力の内
の夫々１つに結合されている。マルチプレクサ９０の出
力がアナログ・ディジタル（Ａ／Ｄ）変換器１００の入
力に結合される。Ａ／Ｄ変換器１００の付能入力が除算
回路６０の出力に結合され、従って信号ＦＤ１が供給さ
れる。この為、夫々８個のサンプルからなる各々の組が
Ａ／Ｄ変換器１００の入力に逐次的に多重化される。Ａ
／Ｄ変換器１００が各々のサンプルをそれに相当するデ
ィジタル数に変換し、それが第１図に示すランダムアク
セス争メモリ（ＲＡＭ）１２０に記憶する為に、母線１
１５を介してマイクロプロセッサ１１０に供給される。

ＲＡＭ　　１２０が母線１２５を介してマイクロプロセ
ッサ１２０に結合される。マイクロプロセッサ１２０が
、固定メモリ（Ｒ′ｏＭ）１３０に記憶されている制御
プログラムの指示のもとに、標本化されたデータを操作
して記憶する。ＲＯＭ１３０が母線１３５を介してマイ
クロプロセッサ１２０に結合されている。マイクロプロ
セッサ１２０は、標本化された入力線路信号ＰＬの有効
電力（ワット数）及びボルトアンペア無効電力（ＶＡＲ
）を決定する計算を行なう。

次に、線路入力信号の標本化と、入力ＶＡ、ＶＢ、　Ｖ
Ｃ，ＩＡ、　　ＩＢ、　　ＩＣ（及びＩＮ及び予備のＳ
）から電力モニタ１０を通る標本化されたデータの流れ
とを更に詳しく説明する。前に述べた様に、サンプルホ
ールド回路８０の付能入力ＥＮは、ＦＤ２を分周した速
度、即ち８５３．３３Ｈｚでクロック作用を受ける。従
って、サンプルホールド回路８０が付能クロック・パル
スを受取る度に、ＶＡ、　ＶＢ、　ＶＣ，ＩＡ、　　Ｉ
Ｂ、　　ＩＣ（及びＩＮと予備のＳ）の８個のサンプル
からなる１組が求められる。−旦標本化されると、これ
らの８個のサンプルが、次の付能クロック・パルスが来
るまで、サンプルホールド回路８ｏの夫々８個の出力に
保持される。除算／アドレス発生回路７０は除数８の割
算器であるから、除算／アドレス発生回路７０に対する
入力信号ＦＤＩは、出力信号ＦＤ２　（付能クロック）
の８倍の速さであり、それが６８２６．７Ｈｚである。

従って、除算／アドレス発生回路７０は、それが発生す
る出力パルスＦＤ２毎に、第２図に示す８個の異なるア
ドレスを逐次的に発生する。云い換えれば、除算回路７
０は、それが出力パルスＦＤ２を発生する度に、８個の
アドレスを循環的に発生する。

電力モニタ１０の標本化、多重化及びＡ／Ｄ変換のメカ
ニズムを十分理解するには、除算／アドレス発生回路７
０の入力及びＡ／Ｄ変換器１００の付能線の両方に供給
される各々のＦＤＩパルスに対するモニタ１０の挙動を
説明するのが便利である。ＦＤＩ　（１）、ＦＤＩ　（
２）、・旧・・ＦＤＩ（１０）と記す代表的な一連の１
０個のＦＤＩパルスを考える。パルスＦＤＩ　（１）が
除算回路７０に供給される時、除算回路７０が第２図の
表の１番目のアドレス０００を発生する。これによって
マルチプレクサ９０がそのＶＡ　（Ｓ）入力のサンプル
を選択し、マルチプレクサ９０の出力にＶＡ　（Ｓ）サ
ンプルを供給する。次にパルスＦＤＩ（２）が除算回路
７０に供給されると、除算回路７０が第２図の表に見ら
れる２番目のアドレス００１を発生する。これによって
マルチプレクサ９０はそのＶＢ　（Ｓ）入力にあるサン
プルを選択し、マルチプレクサ９０の出力にＶＢ　（Ｓ
）サンプルを供給する。同様に、パルスＦＤＩ　（３）
が除算回路７０に供給されると、除算回路７０は第２図
の表に見られる３番目のアドレス０１０を発生する。

パルスＦＤＩ　（４）、ＦＤＩ　（５）、ＦＤＩ（６）
、ＦＤＩ　（７）及びＦＤＩ　（８）でも、この過程が
続けられ、この結果、除算／アドレス発生回路７０は夫
々アドレス８１１，１００，１０１．１１０及び１１１
を発生する。これに対応すルサンプルＶｃ　（Ｓ）、Ｉ
Ａ　（Ｓ）、ＩＢ　（Ｓ）。

ＩＣ（Ｓ）、ＩＮ　（Ｓ）及びＳ　（Ｓ）がマルチプレ
クサ９０の出力に供給される。サンプルＶＡ（Ｓ）、Ｖ
Ｂ　　（Ｓ）、ＶＣ（Ｓ）、　　ＩＡ　　（Ｓ）。

ＩＢ　（Ｓ）、ＩＣ（Ｓ）、ＩＮ　（Ｓ）、及び５（Ｓ
）の各々がＡ／Ｄ変換器１００の入力に達する時、Ａ／
Ｄ変換器１００は速度ＦＤＩで対応する付能パルスを受
取り、これが変換器１００に各々のサンプルをそのディ
ジタル表示に変換させる。

もとのアナログ費サンプルのディジタル表示をＶＡ　（
Ｓ）’　、ＶＢ　（Ｓ）’　、ＶＣ（Ｓ）’　、ＩＡ（
Ｓ）’　　　　ＩＢ　　（Ｓ）’　　　　ＩＣ（Ｓ）’
　　　　Ｉ　Ｎ（Ｓ）′及び５（Ｓ）’のディジタル・
サンプルと呼ぶ。こう云うディジタル・サンプルが後で
説明する様に操作して記憶する為、マイクロプロセッサ
１１０に供給される。

最後に、８番目のパルスＦＤＩ　（８）が除算回路７０
に供給された後、除算回路７０が桁上げ出力を発生する
。これはサンプルホールド回路８０に対するＦＤ２又は
付能信号である。この時、記憶及び操作の為、ディジタ
ル・サンプルの第１組［ＶＡ　（Ｓ）’　、ＶＢ　（Ｓ
）’　、ＶＣ（Ｓ）’ＩＡ（Ｓ）’　　　　１　Ｂ　　
（Ｓ）’　　　　ＩＣ（Ｓ）’　　　　１Ｎ　（Ｓ）　
’及びＳ　（Ｓ）　’　）がマイクロプロセッサ１１０
に供給され、今度は２番目又は後続のサンプルの組を処
理する番である。８番目のＦＤＩパルス（ＦＤＩ　（８
））及び前に述べたその結果生ずる桁上げ出力信号（付
能信号）により、サンプルホールド回路８０が第２組の
サンプルＶＡ。

ＶＢ、ＶＣ，ＩＡ、ＩＢ、ＩＣ，ＩＮ及びＳを求める。

その次、即ち９番目のＦＤＩパルスＦＤＩ（９）により
、除算／アドレス発生回路７０のアドレス状態は０００
、即ち１番目のアドレスに戻る。パルスＦＤＩ　（１０
）により次のアドレスに進むと云う様になる。こうして
、マルチプレクサ９０によって８個のアナログ争サンプ
ルを多重化する過程が、第２組のサンプルに対して開始
され、第２組のサンプルの８個全部がこの後変換器１０
０によって対応するディジタル表示に変換されて、記憶
及び走査の為に、マイクロプロセッサ１１０に供給され
る。

線路入力データのサンプルの組を求めるこう云う過程が
、この発明のこの特定の実施例では、８５３．３Ｈｚ／
線路入力周波数（６０Ｈｚ）、即ち、入力線路サイクル
の１４．２２倍の速度で続けられる。云い換えれば、こ
の実施例では、入力線路サイクル毎に１４．２２組のサ
ンプルが発生される。電力モニタが入力線路サイクル当
たりぴったりこの数のサンプルの組を発生する場合に限
られないことは後で明らかになろう。入力サイクル毎に
求めるサンプルの組の数が整数ではないから、線路サイ
クル毎に見ると、サンプルの組を求める相対的な時間的
な位置は、サイクル毎に時間的に変化する。これによっ
て、線路サイクル毎に、サンプルの組を求める時刻が変
化すると云う「歩行」効果が生ずる。第３図の表は、サ
イクル１から現在のサイクルまでの累算サイクル数に対
し、線路入力サイクル番号を示しているが、観測窓の中
でサンプルの組を求める相対的な時間的な位置は、１２
８組のサンプルを求める、即ち９個の線路入力サイクル
が経過するまでは、繰返されることがない。従ってこの
実施例の電力モニタでは、夫々８個のパラメータからな
る１２８個のサンプルの組が、９個の線路入力サイクル
毎に求められる。

線路入力波形を標本化する「観測窓」は、この実施例で
は％９ＦＬ線路サイクルと定められる。観測窓がＭ線路
サイクルに等しいことが判る。この実施例では、これが
９サイクルに等しく、これは除算回路６０の除数に対応
する。

この「歩行」効果を更にはっきりと示す為、第４図には
重ね合せた９個の線路入力信号サイクルを示してあり、
これは１つには、線路入力サイクルに対する夫々のサン
プルの組の相対的な時間的。

な位置を示している。便宜上、最初の（サイクル１）線
路入力サイクルの１つの線路入力波及び最初の３つのサ
ンプルの組の位置と、最後（サイクル９）の入力サイク
ルに於ける最後の３つのサンプルの組の位置しか示して
ない。第４図で、Ｓ８１はサイクル１の最初のサンプル
の組を表わし、ＳＳ２はサイクル１の２番目のサンプル
の組を表わし、・・・・・・５Ｓ１５は１５番目のサン
プルの組（サイクル２）を示し、５Ｓ１６は１６番目の
サンプルの組（サイクル２）を示すと云う様になってお
り、これが５５１２ｇまで続く。５５１２ｇは、１２８
番目のサンプルの組を表わしており、これはサイクル９
の終りに時間的に発生する。

（前に述べた様に、各々の電圧−電流サンプルの組はＶ
Ａ　（Ｓ）、ＶＢ　（Ｓ）、ＶＣ（Ｓ）、ＩＡ（Ｓ）、
　ＩＢ　（Ｓ）、　ＩＣ（Ｓ）、　ＩＮ　（Ｓ）及びＳ
　（Ｓ）のサンプルを含む。） 観測窓の持続時間全体にわたって、この様な形で標本化
過程が続けられると、各々のアナログ入力に対するデー
タ点の「集合」が収集される。各々の入力に対して所定
数、即ちこの実施例では１２８個のサンプルをメモリ１
２０に収集した後、その集合がこれから説明する様にマ
イクロプロセッサ１１０によって処理される。この為、
観測窓は、この実施例では、Ｍ−９線路入力サイクルに
わたって収集された１２８個のサンプルの組で構成され
る。

ＰＬＬ出力周波数ＦＰに対する電力モニタのタイミング
並びに除算回路６０の除数の選び方による観測窓の選択
が更によ（理解される様に、次にＰＬＬ　　２０及び除
算回路６０を更に詳しく説明する。

第１図に戻って説明すると、前に述べた様に位相固定ル
ープ（ＰＬＬ）２０が逓倍器として作用する。ＰＬＬ　
　２０に供給される入力信号は、電力線路入力周波数を
表わす信号である。ＰＬＬが入力信号周波数に精密に「
固定」され、上に述べた標本化過程が、５０又は６０Ｈ
ｚ又はその他の線路周波数であっても、線路周波数に対
して既知の速度で正確に行なわれることを保証する。ル
ープが「固定」される時、位相検出ａ３０の入力３０Ａ
、３０Ｂの信号は、ＰＬＬの特定の設計に応じて、ぴっ
たり同じ周波数でなければならないが、ある位相のずれ
を持っていてよい。これによって、Ｎを整数の除数とし
て、ＰＬＬ　　２０の出力周波数ＦＰは線路周波数のＮ
倍になる。従って、線路入力信号は入力サイクル当たり
Ｎ個の期間を含む。

Ｎが大きな数であれば、ＶＣＯ４０は一層高い周波数［
ＮＸＦ（線路）］で動作し、ループの分解能は非常に小
さくなる。どんな場合でも、ループは１つの期間内にし
か固定することが出来ない。

従って、Ｎが比較的小さい値であると、各々の入力に対
するデータ点の集合を収集することが出来る程、ループ
を固定した状態にと望めることが出来ない。逆に、Ｎが
大きいと、ループは固定状態になるのに禁止的に長い時
間を要することがある。

ＰＬＬの目的は、入力信号が正確に判っている数の整数
の線路サイクル（Ｎえば５０或いは６０Ｈｚ）にわたっ
て同期的に標本化される様に保証することである。この
為、ＰＬＬからの出力ＦＰは正確に入力線路周波数のＮ
倍のディジタル信号である。

前に述べたマルチプレクサ９０では、ナイキストの標本
化に関する判断基準を丁度充たすには（標本化速度−２
×線路周波数）、Ｎは少なくとも１４４でなければなら
ない。更に具体的に云うと、Ｎは式２ＦＬ　Ｘ８Ｘ９−
ＦＬ　ＸＮによッテ決定される。ループが固定状態にな
り得る限り、実際の線路周波数ＦＬは重要ではないこと
が理解されよう。

前に述べた様に、第１図はＰＬＬ　　２０と除算回路７
０／マルチプレクサ９０の間に除算回路６０があること
を示している。観測窓を既知数の整数の入力線路サイク
ルにわたって調節することが出来るようにするのは、こ
の除算回路６０である。

これまでの説明から、マルチプレクサ９０及びＰＬＬ　
　２０の設計により、この点で２つの条件が判っている
。即ち １）ＰＬＬ出力周波数ＦｐＩｉ線路周波数のＮ倍である
。

２）マルチプレクサの入力周波数ＦＤＩは標本化速度Ｆ
Ｄ２の８倍である。

割算回路６０を含めると、こう云う変数の間の相互関係
全体が次の様に定められる。

ＦＤ２−　（Ｎ／８）／ＭＸＦＬ ニーでＫはＰＬＬの後の除算回路６０に関係する整数の
除数である。Ｎ−１０２４でに−９であれば ＦＤ２　　　　　１０２４ ＦＬ　　　　　　　９Ｘ８ 或いは ＦＤ２　　　　　１２１１１ ＦＬ　　　　　　　　　９ この式は、Ｎ及びＫが整数に拘束されるので、整数の割
合と見なすべきである。即ち、９個の線路入力サイクル
の間に整数の１２８個のサンプルの組がある。観測窓は
整数個のサイクルでなければならないから、最低の観測
窓は、この特定の例では、９個の入力線路サイクルでな
ければならない。

この例で観測窓を長くする場合、９個の入力サイクルの
倍数として長くされる。これが除数にの選択と観測窓の
間の相互関係の説明である。例えば、別の実施例として
、Ｋ−８であれば、入力サイクル毎に整数個のサンプル
があり、観測窓は任意の整数個の入力サイクルにするこ
とが出来る。更に別の実施例で、Ｎ−２０４８でに−５
であれば、整数である２５６個のサンプルを５入力サイ
クルの観測時間又はその倍数にわたって収集することが
出来る。

■１発明の第２の実施例 次にに−８であって、８個の入力線路サイクルにわたっ
て１２０個のサンプルの組を求めるこの発明の詳細な説
明する。この実施例では、前に述べた実施例と同じ様に
、ＲＡＭ　　１２０が３つのメモリ区域、即ちＲＡＭ　
（１）、ＲＡＭ　（２）及びＲＡＭ　（３）を持ってい
る。ＲＯＭ　　１３０に記憶された制御プログラムの監
視のもとに、特定の集合（第１の集合）の１２０個の点
の全部がその中に蓄積されるまで、データが３つのメモ
リ区域の内の１つに記憶される。その後、データが３つ
のメモリ区域の内の２番目に記憶されて更新が続行され
、この間マイクロプロセッサ１１０がデータの第１の集
合に作用し、それを解析する。

第１の集合の解析が完了した時、マイクロプロセッサ１
１０は第１のメモリ区域に切換わってデータを記憶し、
その間第２のメモリ区域のデータを解析する。制御プロ
グラムは到来データを絶えず監視して、何れかのサンプ
ルが、過渡状態を表わす様な予定の閾値レベルを越える
振幅を持つかどうかを調べる。こうして過渡状態が検出
されると、現在の集合の内、その点までの記憶されたデ
ータは、後で表示する為又は過渡状態を解析する為に保
管され、次の集合からのデータを記憶するには第３のメ
モリ区域が使われる。過渡的なデータを解析した後、過
渡的なデータを含むメモリ区域は、再びデータを記憶す
るのに利用出来る様になる。

要約すれば、３つのメモリ区域の内の２つがデータ記憶
及び解析の作業に使われ、第３のメモリ区域は過渡状態
を記憶する為に利用し得る。

第５図は、標本化されたデータが適当なＲＡＭのメモリ
１２０にどの様に記憶されるかを示すメモリψマツプで
ある。この発明のこの実施例では、８個の線路入力サイ
クルにわたって１２０個のサンプルを求めるから、各々
のサンプルＶ　（１）又はＩ　　（ｉ）は３°離れてい
る。このマツプでは、“ｌ”は０００から１１９まで変
化する指数と定義する。こうすると、特定の集合内の１
２０個のＶ　（１）及びＩ　（１）の全部に独特のラベ
ルが付けられる。第５図の一番左の列は、１つのサンプ
ルから次のサンプルまでの角変位を表わす。この角度情
報はメモリ１２０に別個に記憶せず、線路入力信号に対
する対応するＶ　（ｉ）及び！（１）サンプルの相対位
置をはっきり示す為に第５図に示しである。第２列は、
対応するＶ　（ｉ）及び！（ｉ）サンプルに隣接して、
０から１１９まで変化する今述べた指数“ｌｏである。

列３及び４は、１２０個のサンプルからなる各々の集合
に対するＶ　（１）及びＩ（ｉ）？ンプルテあ、Ｓ。Ｉ
　（１）サンプルが実際には角度情報を含んでいて、■
（ｉ）サンプルは、実際にはＩ（ｉ）ｃｏｓ（θ）であ
る。ここでＣＯＳθは普通力率と呼ばれる。力率は、電
力がどの位の効率で負荷に送出されるかの目安である。

電流センサ（図面に示してない）が標本化時点に於ける
瞬時電流を測定しているから、感知された電流の値は力
率を含む。入力センサが、所定の時点に於ける実際の電
流及び電圧を測定する。従って、これらの２つの量の積
が、センサを通り越した実効電力である。更に、力率は
、電圧及び電流波形がある位相角だけ位相外れになって
いることを表わす数学的な表示である。理想的な状態で
は、電圧及び電流波形は同相である。

即ち、理想的な状態では、全ての電力が実効（ＷＡＴＴ
Ｓ）であり、虚数の電力（無効電力（ＶＡＲＳ：ボルト
・アンペア無効電力）は存在しない。

然し、実際には、配電系統にはりアクタンス負荷が存在
する場合が多く、従って、虚数電力が存在する。この発
明の電力モニタは実数電力（ＷＡＴＴＳ）及び虚数電力
（ＶＡＲＳ）の両方を監視するのに役立つ。マイクロプ
ロセッサ１１０が、次の式に従って、Ｖ　（ｉ）及び１
（ｉ）ｅｏｓ（θ）データの特定の集合に関係する電力
又 はＷＡＴＴＳを計算する。

即ち、マイクロプロセッサ１１０が、Ｍ個の入力サンプ
ル（今の場合はＭ−１２０）にわたって１２０個全部の
（１−０００−１１９）の積を加算して、ＷＡＴＴＳＰ
ＲＯＤＳＵＭと云う量を求める。この後、ＷＡＴＴＳＰ
ＲＯＤＳＵＭをＭで除して、選ばれた観測窓に関係する
実数電力である量ＷＡＴＴＳを求める。

マイクロプロセッサ１１０は、次の式に従って、Ｖ　（
ｉ）及びＩ　（ｔ）データの特定の集合に関係する虚数
電力又はＶＡＲＳ　（ボルト・アンペア無効電力）をも
計算する。

第５図に示す様なＲＡＭのメモリ・マツプが、上に示し
たＶＡＲＳの式で要求されるＩ　（ｉ）ｓｌｎ　（θ）
情報ではなく、Ｉ（Ｌ）ｃｏｓ（θ）情報を持つことが
理解されよう。都合の悪いことに、前に述べた様に、無
効電力の計算にはＩ、（ｉ）８１ｎ（θ）が必要なのに
、電流セ・ンサは複合値Ｉ（ｉ）ｃｏｓ（θ）しか測定
することが出来ない。

然し、ｓｉｎ及びｅＯ８関数は三角関数として次の関係
を持つ。

ｓｉｎ　（θ）　＝　ＣＯＳ　（θ＋９０）従って、Ｖ
ＡＲＳを計算する時、特定のＶ　（１）の値に対応する
Ｉ　（ｉ）　　５ｉｎ（θ）の値を発生するのに、９０
°のオフセットを使う。即ち、特定のＶ　（１）の値に
対応するＩ　（ｉ）の値は、上に示した三角関数の関係
を用いることによって求められる。具体的に云うと、次
の式を用いて、前に述べた９０＠のオフセットを利用し
て、この場合のＶＡＲＳを計算する。

このオフセット方式の１つの見方が第６図の表に示され
ている。この図は、夫々の指数の隣りに、集合のＶ　（
ｉ）　Ｉ　（ｉ）の対を示している。例えば、最初ノＶ
　（ｉ）　Ｉ　（ｉ）　ノ対は、ＲＡＭ　　１２０の指
数０００（０＠の角度）から求められたＶ　（ｉ）　（
７）値とＲＡＭ　　１２０（７）指数０３０（９０°の
角度）から求められた■口→の値との積によって形成さ
れる。同様に、２番目の■（１）１　（１）の対は、Ｒ
ＡＭの指数００１（３＠の角度）から求められたＶ（ｉ
）の値とＲＡＭの指数０３１（９３°の角度）から求め
られたＩ　　（ｉ）の値との積によって形成される。こ
うして、集合の中の最後のサンプルが処理されるまで、
乗算過程がこの様に続けられる。即ち、最後のＶ　（ｉ
）１　（ｉ）の対は、ＲＡＭの指数１１９（３５７’の
角度）から求められたＶ　（１）の値とＲＡＭの指数０
２９（８７＠の角度）から得られたＩ　（ｉ）の値との
積によって形成される。この集合に対するＶＡＲＳを求
める為、この集合に関係する全てのＶ口→■（１）の積
を加算し、観シ１窓にあるサイクルの数、この実施例で
は８　（Ｍ−８）で除す。

■、フローチャート この発明を理解し易い様に、次にＲＯＭ　　１３０にあ
る制御プログラムのフローチャートを説明する。これか
ら説明する制御プログラムは、Ｍ−８の線路サイクルを
含む観測窓内で１２０個のサンプルを求める、前に述べ
た第２の実施例に関するものであるが、異なる数の線路
サイクル及び異なる数のサンプルを含む観測窓にも容易
に適応し得る。第７図に示す制御プログラムが、マイク
ロプロセッサ１１０のデータ収集、メモリの記憶及びデ
ータ解析の動作を制御する。変数５ＴＯＲＥ及びＡＮＡ
Ｌをブロック２００の１及び２で夫々初期設定する。５
ＴＯＲＥ及びＡＮＡＬはフローチャートの以下の説明か
ら明らかになるが、データの記憶及びそのデータの分析
の為に、現在３つのメモリ記憶区域ＲＡＭ　（１）、Ｒ
ＡＭ　（２）及びＲＡＭ　（３）の内のどれを利用し得
るかを表わす。ＥＡＦＬＡＧ、即ち解析付能フラグを０
に初期設定して、メモリ記憶区域ＲＡＭ　（１）及びＲ
ＡＭ　（２）の内の一方にデータが充たされるまで、デ
ータ解析を防止する。ロックアウト・フラグＬＯＦＬＡ
Ｇ　（１）、ＬＯＦＬＡＧ　（２）及びＬＯＦＬＡＧ　
（３）をＯに初期設定して、３つのメモリ記憶区域（Ｒ
ＡＭ　（１）、ＲＡＭ　（２）及びＲＡＭ　（３）の全
てがデータ記憶に利用出来ることを示す。指数ｉを０に
初期設定するが、この実施例で選ばれた観測窓の中にあ
るサンプルの数を表わす範囲０−１１９を有する。ＷＡ
ＴＴＳＰＲＯＤＳＵＭ及びＶＡＲＳＰＲＯＤＳＵＭは、
ブＯ−／り２００でＯの値に初期設定する。ＷＡＴＴＳ
ＰＲＯＤＳＵＭ及びＶＡＲＳＰＲＯＤＳＵＭが、後で説
明するＷＡＴＴＳ及びＶＡＲＳ計算サブルーチンで使わ
れる。変数ｋ及びｐは、ＲＡＭ（１）又はＲＡＭ　（２
）内のメモリ位置を表わし、両方とも０００に初期設定
される。ＶＡＲＳサブルーチンで使われる変数ｑも０に
初期設定される。

サンプル・データの組、即ちＶＡ　（ｉ）、ＶＢ（ｉ）
、ＶＣ（ｉ）、ＩＡ　（ｉ）、ＩＢ　（ｉ）。

ＩＣ（ｉ）、ＩＮ　（ｉ）及びＳ　（ｉ）をブロック２
０５で求める。このサンプルの組の中の各々のサンプル
は、同様な符号を持つサンプルホールド回路８０の夫々
の入力に対応する。サンプルデータの組の中の各員がア
ナログ・サンプルからそのディジタル表示にブロック２
１０で変換される。

次にブロック２１５で、３つのメモリ区域ＲＡＭ（１）
、ＲＡＭ　（２）及びＲＡＭ　（３）のどれがデータ記
憶及びデータ解析の為に現在利用し得るかを判定する。

即ち、メモリ記憶区域ＲＡＭ（１）、ＲＡＭ　（２）及
びＲＡＭ　（３）　の内（７）！’ｔＬカ’−”。

夫々のロックアウト・フラグが１にセットされることに
よって、ロックアウトされているかどうかを判断する。

更に具体的に云うと、ブロック２１５で、ＬＯＦＬＡＧ
　（１）が１に等しくなく、ＬＯＦＬＡＧ　（２）が１
に等しくなければ、ＲＡＭ（１）又はＲＡＭ　（２）に
対応して、５ＴＯＲＥ及びＡＮＡＬは１又は２の何れか
の値をとることが許される。この場合、ＲＡＭ（１）及
びＲＡＭ（２）が記憶及びデータ解析の為に利用し得る
。

ＬＯＦＬＡＧ　（１）が１に等しければ、５ＴＯＲＥ及
びＡＮＡＬは２又は３の値をとることが許され、ＲＡＭ
　（２）及びＲＡＭ　（３）が記憶及びブタ解析に利用
し得る。然し、ＬＯＦＬＡＧ　（２）が１に等しければ
、５ＴＯＲＥ及びＡＮＡＬは１又は３の値をとることが
許され、ＲＡＭ（１）及びＲＡＭ　（３）が記憶及びデ
ータ解析に利用し得る。

サンプルノ組ＶＡ　（ｉ）、ＶＢ　（ｉ）、ＶＣ（ｉ）
、　　ＩＡ　　（ｉ）、　　ＩＢ　　（ｉ）、　　ＩＣ
（ｉ）。

ＩＮ　（ｉ）及びＳ　（ｉ）のディジタル表示が、ブロ
ック２２０で、メモリＲＡＭ　（１）、ＲＡＭ（２）又
はＲＡＭ　（３）の３つの区域の内の１つに記憶される
。このプログラムを初期設定した直後、５ＴＯＲＥ−１
であるから、記憶に使う最初のＲＡＭ区域はＲＡＭ（１
）である。標本化の時、判定ブロック２２５で、過渡電
流試験を実施して、３つの電流サンプルＩＡ（ｉ）、Ｉ
Ｂ（ｉ）及びＩＣ（１）の内の何れかり、予定の閾値電
流（ＴＨＲＥＳＨ）より大きい振幅を持つかどうかを判
定する。ＴＨＲＥＳＨは、３つのサンプル！Ａ（ｉ）、
１Ｂ（ｉ）及びＩＣ（ｉ）（Ｄ内のどれかＶＴＨＲＥＳ
Ｈを越えれば、ＴＨＲＥＳＨを越えたサンプルは過渡的
な電流であると見なす位、十分大きく選ばれる値である
。過渡状態が検出されなければ、プログラムはブロック
２３０に続き、そこでＥＡＦＬＡＧを試験して、それが
セットされているかどうかを判断する。ＥＡＦＬＡＧが
０の値を持つと判ると、これは初期設定直後の最初のラ
ンの時がそうであるが、ＷＡＴＴＳ、ＶＡＲＳ及びＴＲ
ＡＮＳ　Ｉ　ＥＮＴの解析は許されない。この場合、Ｗ
ＡＴＴＳ、ＶＡＲＳ及びＴＲＡＮＳ　ＩＥＮＴサブルー
チンのブロック２３５，２４０゜２４５にある入口を側
路し、プログラムは判定ブロック２５０に達する。判定
ブロック２５０で、指数ｉが１１９に達したかどうかを
判断する。即ち、現在の到来データの集合にある全ての
サンプルの組又は現在の観測窓が記憶されたかどうかで
ある。そうなっていなければ、ブロック２５５で指数ｌ
を１だけインクレメントし、プログラムはブロック２０
５に戻り、そこで次のサンプルの組ＶＡ　（１）、ＶＢ
　（ｉ）、ＶＣ（ｉ）、ＩＡ　（ｉ）ＩＢ　（ｉ）、Ｉ
Ｃ（ｉ）、ＩＮ　（ｉ）及び５（ｉ）を求める。

選ばれた観測窓の中の全てのサンプル（今の実施例では
１２０個のサンプル）を求めた後、ブロック２５０の試
験では、１−１１９となり、プログラムはブロック２６
０に続く。ブロック２６０では、５ＴＯＲＥ及びＡＮＡ
Ｌの値を交換して、データ記憶の為に今使われたＲＡＭ
のメモリ記憶区域を解析し、解析されていたメモリ記憶
区域があれば、それを今度はデータ記憶に使う。こうし
て、１２０個のサンプルの組からなる最初の集合をＲＡ
Ｍ　（ＳＴＯＲＥ）−ＲＡＭ　（１）に記憶した後、即
ち、５ＴＯＲＥ−１及びＡＮＡＬ−２である時（但しこ
れまでＲＡＭ　（２）にはデータが記憶されていない）
、次に５ＴＯＲＥ及びＡＮＡＬの値を交換して、サンプ
ルの組の次の集合に対しては、サンプルがＲＡＭ　（２
）に記憶され、既にＲＡＭ（１）に集められているサン
プルを次に解析する。この後プログラムはブロック２６
５に続き、そこで解析付能フラグＥＡＦＬＡＧを１にセ
ットして、プログラムがサンプルの次の集合の収集を開
始するブロック２０５に続く時に、ＷＡＴＴＳ及びＶＡ
ＲＳの解析を付能する。即ち、プログラムがブロック２
１０，２１５，２２０及び２２５を介して判定ブロック
２３０に続く時、２番目又はその後の集合に対し、ＥＡ
ＦＬＡＧは１にセットされている。そうなった時、ブロ
ック２３５．２４０，２４５のＷＡＴＴＳ、ＶＡＲＳ及
びＴＲＡＮＳ　Ｉ　ＥＮＴサブルーチンの入口は側路し
ない。その代りに、２番目又はその後の集合の間、ＥＡ
ＦＬＡＧ−１である時、ブロック２３５のに０３ＵＢ　
（サブルーチンへ行け）でＷＡＴＴＳサブルーチンに入
る。即ち、ＷＡＴＴＳ解析サブルーチンに入り、ＲＡＭ
　（ＡＮＡＬ）にそれが適用される。これは普通、過渡
状態がない時には、ＲＡＭ　（１）又はＲＡＭ　（２）
である。例として、この時ＲＡＭ　（ＡＮ、ＡＬ）がＲ
ＡＭ（１）であると仮定すると、ＷＡＴＴＳ解析サブル
ーチンがメモリ記憶区域ＲＡＭ　（１）に対して作用す
る。

第８図のＷＡＴＴＳ解析サブルーチンのブロック３００
に見られる様に、指数■の現在の値に対し、Ｖ　（ｉ）
及びＩ　（ｉ）をＲＡＭ（１）から再生する。便宜上、
第８図のＷＡＴＴＳサブルーチンでは、Ｖ　（１）　Ｉ
　（ｉ）の１個の対だけがＲＡＭ　（ＡＮＡＬ）から再
生されて処理されることが示されているが、実際には、
３つのＶ（ｉ）１（ｉ）（Ｄ対、即ち、ＶＡ　（１）Ｉ
Ａ　（ｉ）、ＶＢ（ｉ）ＩＢ　（ｉ）及びＶＣ（ｉ）　
Ｉ　Ｃ（ｉ）　１．：対して、略同様なＷＡＴＴＳ解析
が行なわれる。ブロック３０５でＷＡＴＴＰＲＯＤ　（
ｉ）を決定し、それが指数ｌの現在の値に対するＶ　（
１）にＩ（１）を乗じたものに等しいと判る。ブロック
３１０で、ＷＡＴＴＰＲＯＤＳＵＭが、今ブロック３０
５で決定したＷＡＴＴＰＲＯＤ　（ｉ）をＷＡＴＴＰＲ
ＯＤＳＵＭ　（０に初期設定される）に加えたものに等
しいと計算される。

その後プログラムがブロック３１５に進み、そこで１−
１１９であるかどうか、即ちＲＡＭ　（ＡＮＡＬ）にあ
る全てのサンプルの対Ｖ（ｉ）Ｉ（ｉ）が解析されたか
どうかを判定する。全てのサンプルの対が解析されてい
なければ、プログラムはブロック３２０に進み、これに
よって制御作用は第７図の主プログラムでブロック２３
５の入口に戻る。然し、ニーで例として、ＷＡＴＴＳサ
ブルーチンのブロック３１５に達した時、１−１１９で
、全てのサンプルの対が処理されていると仮定する。こ
の場合、プログラムはブロック３２５に続き、そこでＷ
ＡＴＴＳ−ＷＡＴＴＰＲＯＤＳＵＭ／Ｍと云う計算をす
る。ニーでＭは観測窓にある合計のサンプルの数に等し
い。次にブロック３３０でＷＡＴＴＳと云う量を記憶し
、ブロック３３５でユーザに表示する。ブロック３４０
で、−旦ＷＡＴＴＳ解析サブルーチンが完了すると、制
御作用は第７図の主プログラムのブロック２３５の入口
に戻る。

ＷＡＴＴＳ解析サブルーチンから制御作用がブロック２
３５に戻る度に、プログラムがブロック２４０に進む。

そうなった時、ＶＡＲＳ解析サブルーチンに入り、第９
図に示すＶＡＲＳサブルーチンのブロック４００で、量
ｐを１＋３０に等しいと定める。この方法を使うのは、
前に述べたＶＡＲＳの計算でｌ５ｌｎ（θ）について前
に述べた９０°のオフセットを求める為である。電圧サ
ンプルＶ　（ｔ）及び対応するオフセットした電流の値
１　（ｐ）をブロック４０５でメモリ区域ＲＡＭ（ＡＮ
ＡＬ）から再生する。便宜上、第９図のＶＡＲＳサブル
ーチンテハ、Ｖ　（１）　！　　（ｐ）　（７）１対だ
けがＲＡＭ　（ＡＮＡＬ）から再生されて処理されるも
のとして示しであるが、実際には、■（１）Ｉ　（ｐ）
（７）３対全部、即ち、ＶＡ（ｉ）ＩＡ　（ｐ）　、　
ＶＢ　（ｉ）　Ｉ　Ｂ　（ｐ）及びＶＣ（ｉ）ＩＣ（ｐ
）に対して、略同様なＶＡＲ８解析が実施される。ブロ
ック４１０でＶＡＲ８ＰＯＲＤ（ｉ）が決定され、それ
が指数ｌの現在の値に対するＶ　（１）にＩ　（ｐ）を
乗じたものに等しいことが判ル。ブロック４１５で、Ｖ
ＡＲＳＰＲＯＤＳＵＭが、ＶＡＲＳＰＲＯＤＳＵＭ　（
０１，：初期設定されている）にブロック４１０で今決
定したＶＡＲＳＰＯＲＤ　（ｉ）を加えたものに等しい
と計算される。

次にブロック４２０で、Ｌ−１１９であるかどうかを判
断する。即ち、ＲＡＭ　（ＡＮＡＬ）にあるサンプルの
対Ｖ　（ｉ）　Ｉ　（Ｅ））の全てが解析されたかどう
かを判定する。全てのサンプルの対が解析されていなけ
れば、プログラムはブロック４２５へ進み、それによっ
て制御作用は第７図の主プログラムでブロック２４０の
入口に戻る。然し、例としてＶＡＲＳサブルーチンのブ
ロック４２０に達したと仮定すると、全てのサンプルの
対が処理されていて、ｌ−１１９であり、この場合、プ
ログラムはブロック４３０に続き、そこでＶＡＲＳ−Ｖ
ＡＲ５ＰＲＯＤＳＵＭ／Ｍの計算を行なう。

こ＼でＭは観測窓の中にあるサンプルの合計の数に等し
い。次にブロック４３５で量ＶＡＲ３を記憶し、ブロッ
ク４４０でユーザに表示する。ブロック４４５でＶＡＲ
３解析サブルーチンが一旦完了すると、制御作用は第７
図の主プログラムのブロック２４０の入口に戻る。

次に前に述べた過渡状態の解析を詳しく説明すル、［流
サンプルＩＡ　（ｉ）、ＩＢ　（ｉ）又ハＩＣ（１）の
何れか１つが、ブロック２２５で、量ＴＨＲＥＳＨより
大きい振幅を持つと判定された場合、プログラムはブロ
ック５００へ進み、そこでＬＯＦＬＡＧ　（ＳＴＯＲＥ
）を１にセットする。

こうして、検出されたばかりの過渡電流が記憶されてい
るメモリ区域ＲＡＭ　（ＳＴＯＲＥ）を「ロックアウト
コシ、このメモリ区域が、そのメモリ区域にある過渡的
なデータが表示されるか解析されるまでは、この後のサ
ンプルの集合の記憶に利用出来ない様にする。ブロック
５０５で、ラベルＴＲＡＮを５ＴＯＲＥに設定して、過
渡状態が発生したメモリ区域ＲＡＭ　（ＳＴＯＲＥ）の
ラベル、即ち、ＲＡＭ　（ＴＲＡＮ）を保存する。この
後のブロック５１（１，５１５，５２０，５２５及び５
３０で、現在のＲＡＭ　（ＡＮＡＬ）の集合に対するＷ
ＡＴＴＳ及びＶＡＲＳの解析を続行して完了する。即ち
、ブロック５１０がＷＡＴＴＳサブルーチンの人口にな
る。ブロック５１５がＶＡＲＳサブルーチンの入口にな
る。ブロック５２０で、ＲＡＭ　（ＴＲＡＮ）に入って
いる過渡的なデータを表示するか、或いは別の実施例で
は、これから説明する様に、サブルーチンＴＲＡＮＳ　
Ｉ　ＥＮＴに入る。

ＲＡＭ　（ＴＲＡＮ）に記憶されている現在の集合のＴ
ＲＡＮＳ　Ｉ　ＥＮＴサブルーチンは、標準的な周知の
任意の過渡状態解析方式のどれにしてもよい。この様な
過渡状態の解析が全体的に、第１０図に示すＴＲＡＮＳ
　Ｉ　ＥＮＴサブルーチンのブロック６００で示されて
いる。この代りに、過渡的なデータは、この発明の電力
モニタのユーザが観察する様に、単に表示するものであ
ってよい。

その後、判定ブロック２０５で試験を行なって、過渡状
態の解析が完了したかどうかを決定する。

過渡状態の解析が未完了であると判ると、プログラムは
ブロック６１０に進み、それによって制御作用は主プロ
グラムのブロック５２０の入口に戻る。

判定ブロック６０５で、過渡状態の解析が完了していな
いと判った場合、プログラムはブロック６１０から第７
図の主制御プログラムの判定ブロック５２５に戻る。ブ
ロック５２５が、ＲＡＭ（ＡＮＡＬ）にある全てのサン
プルの組が解析されたかどうかに関して判断を下す。解
析されていなければ、ブロック５３０でｉを１だけイン
クレメントし、プログラムはブロック５１０に戻り、そ
こでＲＡＭ　（ＡＮＡＬ）にある集合の次のサンプルの
組に対して再びＷＡＴＴＳサブルーチンに入る。最後に
ＲＡＭ　（ＡＮＡＬ）にある集合の全てのサンプルの組
が解析された時、プログラムはブロック５３５へ進み、
そこでＴＲＡＮが２の値を持っていれば、５ＴＯＲＥを
１に設定し、ＡＮＡＬを３に設定する。然し、ＴＲＡＮ
が１の値を持っていれば、５ＴＯＲＥを２に設定し、Ａ
ＮＡＬを３に設定する（ブロック５４０）。こうしてデ
ータ記憶及びデータ解析に使うべき次のメモリ記憶区域
をその作用の為の目印として付ける。こうすることによ
り、過渡的な情報が入っているメモリ区域であるＲＡＭ
　（ＴＲＡＮ）にあるデータは、過渡状態の解析が完了
するまで、保存される。

ブロック５４５で、解析付能フラグ（ＥＡＦＬＡＧ）を
０にリセットして、次の集合に対するデータが収集され
るまで、解析を防止する。その後プログラムはブロック
２０５に続き、そこで標本化を再開する。

ブロック２４５に達した時、解析が未完了であると判っ
た場合、過渡状態の解析が続けられる。

即ち、第１０図のＴＲＡＮＳ　Ｉ　ＥＮＴサブルーチン
に再び入り、ブロック６００で更に過渡状態の解析を行
なう。ブロック６０５で、過渡状態の解析が今度は完了
していると判ると、過渡状態の解析結果をブロック６１
５で表示する。その後ブロック６２０でロックアウト・
フラグをＯにリセットして、ＬＯＦＬＡＧ　（１）−０
及びＬＯＦＬＡＧ　（２）−０とし、ＲＡＭ（１）又は
ＲＡＭ　（２）をもう−度データ記憶の為に解放する。

過渡状態の解析が一旦完了したら、解析付能フラグをブ
ロック６２５で０にリセットして、ブロック６３０で行
なわれる様に、システムの初期設定のやり直しの直後の
解析を防止する。即ち、ＴＲＡＮＳ　ＩＥＮＴサブルー
チンのブロック６３０で、プログラムは第７図の主制御
プログラムの初期設定ブロック２００に戻され、システ
ムを再び安定化することが出来る様にし、その後データ
・サンプルの集合の収集及びその集合の解析を続ける。

この発明の１実施例の電力モニタでは、ｋＡＭ（ＴＲＡ
Ｎ）にある電流サンプルのどれだけの百分率が値ＴＨＲ
ＥＳＨを越えるかの判断をする。

この実施例では、制御プログラムを修正して、最初の過
渡的なサンプルが検出された前後の観測窓の持続時間全
体にわたってサンプルを求めて、過渡状態に関してより
多くの情報を求める様にする。

この他の公知の過渡状態解析方式を用いてもよく、この
発明は同等特定の１つの過渡状態解析方式に制限されな
い。

■、この発明の好ましい実施例 この発明の好ましい実施例の電力モニタが、電力モニタ
８００として、第１１図にブロック図で示されている。

以下述べる変更を別にすると、電力モニタ８００は実質
的に第１図の電力モニタ１０と同様であり、同様な要素
には同じ参照符号を用いている。電力モニタ８００では
、例として、８サイクルの長さを持つ様に選んだ観測窓
の間、線路入力信号ＦＬの１サイクル当たり整数個のサ
ンプルを求める。この特定の例では、除算回路５０．６
０の除数は、信号ＦＬの８サイクル毎に、信号ＦＬの１
サイクル当たり１６個のサンプルの組を求める様に選ば
れている。即ち、データの集合は、集合の８サイクルに
わたって収集された１２８組のサンプルを含み、信号Ｐ
Ｌの各サイクルの間に１６組のサンプルが収集される。

この実施例では、１サイクル当たり１６個のサンプルの
組の標本化時刻は、観測窓の各サイクル全体にわたって
略−様に分布する様に調時する。当業者であれば、持続
時間を８サイクルより長くしても短くしても、この発明
を逸脱しないことが理解されよう。

電力モニタ１０の場合と同じく、Ａ／Ｄ変換器１００の
出力がマイクロプロセッサ１１０に結合され、各サイク
ルのデータのディジタル表示がマイクロプロセッサ１１
０に供給され、これがメモリに於けるそのデータの記憶
を調整する。この発明のこの実施例では、マイクロプロ
セッサ１１０が接続母線８１５を介して、［作業データ
ＪＲＡＭ　８０５及び「過渡データＪ　ＲＡＭ　　８１
０に結合される。

実際には、ＲＡＭ　　８０５及びＲＡＭ　　８１０は、
「作業データ」及び「過渡データ」に対しそのメモリ内
の異なる出発アドレスを使うことにより、同じメモリ・
チップの一部分にすることが出来る。ＲＡＭ　　８０５
及びＲＡＭ　　８１０は夫々作業データ・バッファ及び
過渡データ・バッファと呼ぶ。作業データ・バッファ８
０５及び過渡データ・バッファ８１０は先入れ先出し形
であって、何れも集合全体のデータ、即ち、８サイクル
にわたる１２８組のサンプルを保持するのに十分な容量
を持っている。例えば、作業データ・バッファ８０５及
び過渡データ・バッファ８１０にとって、１．７９２７
（イトが十分な寸法であることが判ったが、この数字を
何等この発明を制約するものと解してはならない。

次に作業データ及び過渡データがどう云うものかを更に
詳しく説明する。然し、差力たって、作業データ舎バッ
ファ８０５及び過渡データ・バッファ８１０がデータ母
Ｉ＠８２５，８３０を介して伝送バッファ８２０の入力
に結合されていることに注意されたい。伝送バッファ８
２０はバッファ８０５．８１０と同じ寸法である。伝送
バッファ８２０が接続母線８３５を介してホスト母線８
４０に結合され、このホスト母線にプログラム可能な論
理制御装置（ＰＬＣ）８４５又はその他のホストが結合
されている。ホスト８４５が、これから説明する様に、
電力モニタ８００から作業データ、過渡データ及び計算
データを要請する。例えば、プログラム可能な論理制御
装置をＰＬＣ又はホスト８４５として用いることが出来
る。この様な制御装置内部の通信母線をホスト母線８４
０として用いるのが便利である。

特定の集合の８サイクルにわたって逐次的に１２８組の
サンプルを収集するが、１２８組のサンプルは作業デー
タ・バッファ８０５にインターリーブ形に記憶される。

具体的に云うと、８サイクルの集合の１２８組のサンプ
ルは、第１２図の一番左の列に示す順序で、サイクル１
（ＳＳＩ）のサンプルの組１から始めて、逐次的に求め
られる。

前に述べた様に、各々のサンプルの組が実際には同時に
求める８個のサンプル、即ちＶＡ、ＶＢ。

ＶＣ，ＩＡ、　　ＩＢ、　　ＩＣ（及びＩＮ及び予備の
Ｓ）を含んでいる。最初のサイクルの標本化が、サンプ
ルの組Ｓ８２〜５Ｓ１６をも求めるように続けられる。

その後、２番目のサイクルの標本化が、サンプルの組５
Ｓ１７から始まり、サンプルの組５Ｓ３２まで続けられ
る。同様に、３番目のサイクルの標本化がサンプルの組
５Ｓ３３を求めることから始まり、５Ｓ４８まで続けら
れる。集合の１２８組のサンプル全部を収集するまで、
残りのサイクル４乃至８も同様に標本化が続けられる。

前に述べた様に、サンプルの組ＳＳＩ乃至５Ｓ１２８が
逐次的に収集されるが、これらのサンプルは収集した順
序でメモリに記憶されるのではなく、第１２図の中央の
列に示す様にインターリーブ形で記憶される。こうする
ことにより、８サイクルのデータが、１つのデータ・サ
イクルに相当するものに形成されてから、マイクロプロ
セッサ１００によるＷＡＴＴＳ、ＶＡＲ及び力率ノ処理
が行なわれる。更に詳しく云うと、第１２図の一番左の
列は、サンプルの組ＳＳＩ乃至５５１２ｇの標本化の順
序を表わし、一番右から２番目の列は作業データ・メモ
リ８０５に於けるサンプルの組ＳＳＩ乃至５３１２８の
インターリーブ形の記憶の順序を表わす。この様なイン
ターリーブ動作を達成する為、データを求めた時、サン
プルの組ＳＳＩがメモリ位置１に記憶され、ＳＳ２が位
置９に記憶され、ＳＳ３が位置１７に記憶されると云う
様にして、最初のサイクルの残りのデータが第１２図に
示される様に記憶される。２番目のサイクルの最初のサ
ンプルの組、即ち５Ｓ１７を求めた時、最初のサイクル
に使ったメモリ位置の直後にあるメモリ位置２にＳＳＩ
？を記憶することにより、５Ｓ１７が既に記憶されてい
るデータに対してインターリーブ形にされる。サンプル
の組５Ｓ１８が、最初のサイクルで使ったメモリ位置９
の直後のメモリ位置１０に記憶される。要約すれば、２
番目のサイクルの１６組のサンプルの記憶位置が、最初
のサイクルのサンプルの組の記憶位置に対して、１つ前
へ進む。同様に続けて、３番目のサイクルの１６組のサ
ンプルの記憶位置が、２番目のサイクルのサンプルの組
の記憶位置に対して１つ前へ進むと云う様にして、８サ
イクルの全部のデータＳＳＩ乃至５５１２ｇがインター
リーブ形になって、電圧及び電流データの凝縮した１サ
イクルに相当するものを形成する。この為、作業データ
・バッファ８０５は、上に述べた様なインターリーブ形
のＳＳＳｌ−５Ｓ１２デ一タ集合で埋められて、観測す
る線路信号の１サイクルを模擬する。

作業データの集合が作業データ・バッファ８゜５に収集
された後、マイクロプロセッサ１１０が作業データを処
理して、集合中のデータに関係する実数電力（ＷＡＴＴ
Ｓ）　、虚数電力（ＶＡＲ８）及び電力を決定する。こ
の発明のこの特定の実施例では、ワット数、ｖａｒ数及
び力率が、第１１図に示す様に、作業データ・バッファ
８０５に結合された計算済みデータ・バッファ８５０に
記憶される。計算済みデータ・バッファ８５０が母線８
４０に結合され、計算済みデータを大体毎秒１回、母線
８４０及びＰＬＣ８４５に供給することが出来る様にす
る。ＰＬＣ又はホスト８４５が計算済みデータを要請し
なくても、計算済みデータが約毎秒１回、自動的にＰＬ
Ｃ８４５に送られる。

この発明の電力モニタに関連して使うことが出来る１つ
の電圧及び電流感知回路の例が、第１３図に感知回路８
５５として示されている。感知回路８５５は対中性点線
路形であるが、線路間形感知回路も使うことが出来る。

第１３図は電力３相をＡ、Ｂ、Ｃ相として示しており、
中性点線路Ｎで示しである。感知回路８５５では、対中
性点線路電圧を感知し、図示の様にＶＡ、ＶＢ、ＶＣと
記す。各相Ａ、Ｂ、Ｃの電流を感知して、図示の様に夫
々ＩＡ、ＩＢ、ＩＣと記す。中性点線路の電流を！Ｎと
記す。

具体的に説明すると、変成器８６０が線路Ｎに結合され
て、第１３図に示す様にその電流ＩＮを感知する。変流
器（ＣＴ）巻線８６５Ａ、８６５Ｂ、８６５Ｃが図示の
様にＡ、Ｂ、Ｃ相に誘導結合される。各々の巻線８６５
Ａ、８６５Ｂ、８６５Ｃが巻線の番号と組合せた両端１
及び２を有する。端８６５Ａ＋、８６５Ｂ＋、８６５Ｃ
＋が一緒に結合され、第１３図に示す様に大地に結合さ
れている。更に、端８６５Ａ＋　、８６５Ｂ＋　、８６
５Ｃ＋が導体８７ＯＡ、８７０Ｂ、８７０Ｃを介して夫
々端８６５Ａ２．８６５Ｂ２．８６５０２に結合されて
いる。変流器巻線８７５Ａ、８７５Ｂ、８７５Ｃが導体
８７ＯＡ、８７０Ｂ、８７０Ｃ１，：誘導結合され、巻
線８７５Ａ、８７５Ｂ。

８７５Ｃの各々に誘起される電圧が、夫々Ａ、　Ｂ。

Ｃ相を流れる電流ＩＡ、ＩＢ、ＩＣを表わす様にする。

感知回路８５５が計器用変圧器（ＰＴ）巻線８８０Ａ、
８８０Ｂ、８８０Ｃを有する。各々の計器用変圧器巻線
８８０Ａ、８８０Ｂ、８８０Ｃの１端が第１３図に示す
様にＡ、Ｂ、Ｃ相に電気結合されている。Ａ、Ｂ、Ｃ相
に関連する負荷が中性点Ｍと節８８５の間に結合されて
いる。各々の巻線８ｇ０Ａ、８１０Ｂ、８８０Ｃの他端
が節８８５で一緒に結合されている。計器用変圧器巻線
８９０Ａ、８９０Ｂ、８９０Ｃが巻線８８０Ａ。

８８０Ｂ、８８０Ｃに誘導結合され、各相電圧ＶＡ、Ｖ
Ｂ、ＶＣが、第１３図に示す様に、巻線８９０Ａ、８９
０Ｂ、８９０Ｃの間に現れる様にする。各々の巻線８９
０Ａ、８９０Ｂ、８９０Ｃの１端が大地に結合される。

こうすることにより、感知回路８５５は、処理の為、Ｖ
Ａ、ＶＢ、ＶＣ。

ＩＮ、ＩＡ、ＩＢ、ＩＣを電力モニタに供給する。

このデータを使って、各相毎に、実数及び虚数電力と共
に、真のＲＭＳ電圧及び電流を決定する。

合計エネルギ及び系の力率も供給される。

マイクロプロセッサ１１０が次の様にして、特定の集合
に関係する実数電力ＷＡＴＴＳ、虚数電力ＶＡＲＳ及び
力率ＰＦを計算する。線路と中性点の間に接続された計
器用変圧器（ＰＴ）では合計ｗＡＴＴＳ−ＷＡＴＴＳＡ
＋ＶＡＴＴＳｓ　＋ＶＡＴＴＳｃこ−でＷＡＴＴＳＡ、
ＷＡＴＴＳＢ　、ＷＡＴＴＳｃは、Ａ、Ｂ、Ｃ相の実数
電力を夫々表わし、Ｍは集合中のサンプルの数に等しい
。ＶＡ（ｊ）。

ＶＢ　（ｊ）、ＶＣ（ｊ）が計算される各相の対中性点
線路電圧のサンプルを表わし、Ｉ　（Ｊ）が計算される
各相の電流サンプルを表わす。この発明のこの実施例で
は、便宜的に、ＷＡＴＴＳ及びＶＡＲ８の式に現れる位
相角の項目は示してないが、これは位相角情報が変数Ｉ
Ａ、ＩＢ、ＩＣに含まれているからである。メモリに記
憶された電圧及び電流サンプルに対応するｊの値が第１
２図の一番右の列に示されている。

Ｍ　　　Ｊ−１ 再生する。

線路間に接続した計器用変圧器（ＰＴ）では合計　ＶＡ
Ｒ８＝ＶＡＲ９＾＋ＶＡＲ８ａ　＋ＶＡＲ８ｃコ’　テ
ＶＡ　ＲＳＡ　、　ＶＡ　ＲＳＢ　、　ＶＡ　ＲＳＣが
Ａ。

Ｂ、Ｃ相の夫々の虚数電力を表わす。ＶＡ（ｊ）。

ＶＢ　Ｃｊ）及びＶＣ（ｊ）はやはり計算される各相の
対中性点線路電圧のサンプルを表わす。■（ｊ＋９０°
）の電流の値は、メモリの中で、特定のＩ（ｊ）サンプ
ルから９０＠後の所に対応する位置に記憶されているサ
ンプルを再生することによって求める。メモリに記憶さ
れた後の集合の長さが１サンプル又は３６０°を表わす
から、９０°は１２８Ｘ４即ち３２個のメモリ位置に対
応する。この為、ｊ−１として、電流値１　（ｊ＋９０
°）を再生する為には、実際にはＩ　（１＋３２）、即
ち、Ｉ（３３）にある所望の電流サンプルをこへでＷＡ
ＴＴＳＡ、ＷＡＴＴＳＢ　、ＷＡＴＴＳｃは、Ａ、Ｂ、
Ｃ相の夫々の実数電力を表わす。

ＶＡ　（ｊ）、ＶＢ　（ｊ）及びＶＣ（ｊ）ｉｔこの場
合線路Ｂから０１線路ＣからＡ及び線路ＡからＢへの電
圧サンプルを夫々表わし、Ｉ　（ｊ）は計算する各相の
電流サンプルを表わす。

合計　ＶＡＲ９−ＶＡＲ９Ａ　＋ＶＡＲ’Ｅｅ　＋ＶＡ
Ｒ８ｃ［（合計　ＷＡＴＴ）　２＋　（合計　ＶＡＲ）
　２］　１１２要約すれば、マイクロプロセッサ１１０
は、作業データ・バッファ８０５にあるサンプル情報が
ら上に示したパラメータを計算し、計算済みデータを計
算済みデータ・バッファ８５０に送る。その後、計算済
みデータが大体毎秒１回、ＰＬＣホスト８４５に送られ
る。

各々の電流サンプル１　（ｊ）がマイクロプロセッサ１
１０によって試験されて、それが過渡的であるかどうか
り判定される。即ち、各々の電流サンプルＩ　（ｊ）を
予定の閾値レベルと比較する。

もしこの閾値レベルを越えれば、特定のＩ　（ｊ）サン
プルが過渡状態であることを示す。この発明のこの特定
の実施例では、過渡状態を捕捉する精度を保証する為、
２つの相次ぐＩ　（ｊ）サンプルが予定の閾値レベルを
越える振幅を持つとマイクロプロセッサ１１０が認めた
場合、過渡状態が検出されたと判定する。過渡状態が認
められても認められなくても、作業データ・バッファ８
０５にインターリーブ形で記憶される同じ到来データが
、非インターリーブ形で過渡データ・バッファ８１０に
も記憶される。即ち、サンプルの組ＳＳＩ乃至５８１２
８が、サンプルホールド回路８０によりて求められたの
と同じ順序で、過渡データ・バッファ８１０に逐次的に
記憶される。

現在のサイクルが過渡状態を持つと判定されると、マイ
クロプロセッサ１１０は過渡データ・バッファ８１０に
、現在のサイクルより前の最後の２つの、過渡状態にな
る前のサイクルからのデータを保持する様に命令する。

過渡状態を含む現在のサイクルからのサンプル・データ
も過渡データ・バッファ８１０に保持される。マイクロ
プロセッサ１１０は過渡データ・バッファ８１Ｇに、過
渡状態を含むと判ったサイクルより後に発生する過渡状
態後の５サイクルからのサンプル・データをも記憶する
様に命令する。こうすることにより、過渡状態が検出さ
れた後、過渡データ・バッファ８１０は８サイクルのサ
ンプル・データ又は非インターリーブ形に記憶された１
２８組のデータで埋められる。マイクロプロセッサ１１
０が、過渡状態が発生したと認めると、ＰＬＣホスト８
４５にそのことが知らされる。

ＰＬＣホスト８４５が過渡データ舎バッファ８１０に入
っている過渡的なデータに対して要請をしない時、この
後のサイクルからのサンプル・データは、過渡データ・
バッファ８１０にどんなデータが記憶されていても、そ
れを書換えることが許される。然し、ＰＬＣホスト８４
５が過渡データ・バッファ８１０にある過渡的なデータ
に対する要請をした場合、過渡データ・バッファ８１０
の内容が伝送バッファ８２θに送られる。過渡的なデー
タが伝送バッファ８２０から、母線８３５及び８４０を
介して、バーストに分けてＰＬＣホスト８４５に伝送さ
れる。

実際には、バッファからバッファヘデータを不必要に動
かすのを避ける為に、伝送バッファ８２０、過渡データ
Φバッファ８１０及び作業データ・バッファ８０５は全
て同じ寸法であって、同じメモリの一部分である。各々
のバッファ８２０゜８１０．８０５には、マイクロプロ
セッサ１１０によって出発アドレス又は場所が割当てら
れる。

従って、マイクロプロセッサが過渡データ・バッファ８
１０内にある過渡的なデータを伝送バッファ８２０に送
る必要がある場合、マイクロプロセッサ１１０は過渡デ
ータ・バッファ８１０を伝送バッファ８２０と定め直す
。或いはその逆に定め直す。即ち、マイクロプロセッサ
１１０がこの時過渡データ・バッファ８１０の出発アド
レスを伝送バッファ８２Ｇの出発アドレスと見なす。そ
の後、伝送バッファ８２０内の過渡的なデータがバース
トに分けてＰＬＣホスト８４５に伝送される。

同様に、ＰＬＣホスト８４“５が、作業データ・バッフ
ァ８０５に入っているインターリーブ形作業データをマ
イクロプロセッサ１１０がホスト８４５に送る様に要請
した場合、実際に作業データを伝送バッファ８２０に送
る代りに（そうしてもよいカリマイクロプロセッサ１１
０が作業データ・バッファ８０５を伝送バッファ８２０
と、或いはその逆に定め直す。具体的に云えば、マイク
ロプロセッサ１１０はこの時作業データ・バッファ８０
５の出発アドレスを伝送バッファ８２０の出発アドレス
を見なす。その後、伝送バッファ８２０の内容がバース
トに分けてＰＬＣホスト８４５に送られる。

■、フローチャート 第１４図はマイクロプロセッサ１１０の全般的な制御プ
ログラムを示すフローチャートである。

第１４図のフローチャートは、この発明の電力を監視す
る過程の工程を要約している。

ブロック９００で、夫々電圧及び電流サンプルを含む１
２８個のサンプルの組ＳＳＩ乃至５ＳＩ２８のデータ集
合が８サイクルにわたって収集される。集合の電流サン
プルが収集された時、各サンプルは過渡状態であるかど
うかりブロック９０５で判定される。各々の集合のデー
タが、ブロック９１０で、過渡状態バッファ８１０に記
憶される。即ち、過渡状態試験によって、相次ぐ２つの
電流サンプル（例えば組５Ｓ２１及び５Ｓ２２の電流サ
ンプル）が予定の振幅を越えることが判った場合、過渡
状態が存在すると判定される。この状態では、現在のサ
イクル並びに過渡状態前の２サイクルのデータが過渡状
態バッファ８１０に保たれる。過渡状態後のこの後の５
サイクルのサンプルの組のデータも非インターリーブ形
で過渡状態バッファ８１０に記憶され、１２８個のサン
プルの組からなる完全な集合を形成する。各々の集合か
らのデータが、前に述べた様にしてブロック９１５でイ
ンターリーブ形で作業データ・バッファ８０５に記憶さ
れる。ホストＰＬＣ８４５が、判定ブロック９２０で、
過渡状態バッファ８１０からの過渡的なデータを要請し
たと認められると、ブロック９２５で過渡状態バッファ
８１０の内容が伝送バッファ８２０に入れられる。ブロ
ック９３０で、過渡的なデータが伝送バッファ８２０か
らホストＰＬＣ８４５に送られる。然し、判定ブロック
９２０で、ホストＰＬＣ８４５が過渡的なデータを要請
したと認められないと、プログラムは判定ブロック９３
５に進む。判定ブロック９３５で、ＰＬＣ８４５が作業
データ・バッファ８０５からの作業データを要請したと
認められると、ブロック９４０で、バッファ８０５から
の作業データが伝送バッファ８２０に供給される。ブロ
ック９４５で、作業データが伝送バッファ８２０からＰ
ＬＣホスト８４５へ送られる。然し、判定ブロック９３
５で、ホストＰＬＣ８４５が作業データを要請したと認
められないと、プログラムは計算ブロック９５０へ続（
。

ブロック９５０で、前に述べた様に、作業データ・バッ
ファ８０５にあるインターリーブ形作業データから、Ｗ
ＡＴＴＳ、ＶＡＲＳ及び力率カマイクロプロセッサ１１
０によって計算される。計算データが、ブロック９５５
で、大体毎秒１回、ホストＰＬＣ８４５に送られる。そ
の後、プログラムはブロック９００に戻り、次の集合の
データを収集する過程が開始される。以上説明した所か
ら、この発明は、電力を監視する装置を提供する他に、
信号に関係する電力を監視する方法を提供したことは明
らかであろう。１実施例では、この方法は、信号の複数
個のサイクルを含む観測窓の間、信号を標本化して、信
号の各サイクルの間、複数個の電圧−電流サンプルの組
を発生し、サンプルの組がサイクル毎に、観測窓の各サ
イクルの始めに対して相異なる相対的な時間位置に発生
される様に、信号の標本化を調時する工程を含む。

更にこの方法は、信号に関係する実数及び虚数電力をサ
ンプルの組から決定する工程を含む。

別の実施例では、信号の複数個のサイクルを含む観測窓
の間、周期的な信号に関係する電力を監視する方法を提
供する。この方法は、信号の第１及び第２の観測窓の間
、電圧及び電流サンプルを求めて、第１及び第２の観測
窓の１サイクル毎に、複数個の電圧−電流サンプルの組
を発生する工程と、第１の観測窓の間に求めた電圧−電
流サンプルの組を第１のメモリ区域に記憶する工程とを
含む。更に方法は、第１のメモリ区域にあるサンプルを
解析して、それに関係する電力を決定し、他方第２の観
測窓の間、第２の観測窓の間に求めた電圧−電流サンプ
ルを第２のメモリ区域に記憶する工程を含む。この方法
は、何れかの電圧−電流サンプルの組が信号の過渡状態
を表わしているかどうかを決定する工程と、過渡的なデ
ータがその中に記憶されていると判定された時、第１及
び第２のメモリ区域の内の一方を過渡状態メモリ区域と
選定する工程とを含む。更にこの方法は、過渡状態が発
生したと判定された観測窓より後の次の観測窓で発生す
るサンプルの組を第３のメモリ区域に記憶することを含
む。この方法は、その中の過渡的なデータが解析される
まで、過渡状態メモリ区域と選定された、第１及び第２
のメモリ区域の内の一方を使うことを防止する工程を含
む。

好ましい実施例では、信号の複数個のサイクルを含む観
測窓の間、信号を標本化して複数個の電圧−電流サンプ
ルの組を発生することを含む様な、略周期的な信号の電
力を監視する方法を提供する。

各々のサンプルの組は、略同時に求めた少なくとも１つ
の電圧サンプル及び少なくとも１つの電流サンプルを含
む。更にこの方法は、電圧−電流サンプルの組が観測窓
の各サイクル全体にわたって分布する様に、信号の標本
化を調時する工程を含む。更にこの方法は、特定の観測
窓の間に発生したサンプルの組を第１のメモリ区域にイ
ンターリーブ形で記憶して、第１のメモリ区域内にデー
タの１サイクルを模擬する工程と、特定の観測窓の間に
発生するサンプルの組を第２のメモリ区域に逐次的に記
憶する工程とを含む。

以上、特定の電力線路に関係するＷＡＴＴＳ（実数電力
）及びＶＡＲＳ　（ボルトアンペア無効電力又は虚数電
力）を決定することが出来る様な、電力モニタと電力を
監視する方法とを説明した。

電力モニタは、その速度条件が比較的遅くなる様に独特
な構成にしたデータ収集回路を含む。電力モニタが、波
形解析を行なって、過渡状態の解析／過渡的なデータの
表示が出来る様にする為に、波形情報のデータベースを
収集する。電力モニタが各相毎の真のＲＭＳ電圧及び電
流と、系の力率と糸鋸の合計エネルギとを出す。

この発明のある好ましい特徴だけを例として示したが、
当業者には種々の変更が考えられよう。

この発明はその範囲内でこの様な全ての変更を包括する
ものであることを承知されたい。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の電力モニタのブロック図、第２図は
電力モニタの除算／アドレス発生回路によって発生され
るアドレスのアドレス−マツプを示す図表、第３図は電
力モニタで観測窓の間に求められる１サイクル当たりの
サンプルの累算番号に対し、線路入力サイクルの番号を
示す図表、第４図は複数個の線路入力信号サイクルを重
畳した図で、電力モニタに於ける線路入力サイクルに対
する夫々のサンプルの組の相対的な時間的な位置を示す
説明図、第５図は標本化されたデータがランダムアクセ
ス・メモリ（ＲＡＭ）に記憶される様子を説明するため
のメモリ・マツプを示す図表、第６図は夫々の指数の隣
りに集合のＶ（ｉ）１（１）の対を示す図表、第７図は
この発明の電力モニタのメモリにある主制御プログラム
のフローチャート、第８図はこの発明の電力モニタで用
いられるＷＡＴＴＳサブルーチンのフローチャート、第
９図はこの発明の電力モニタで用いられるＶＡＲＳサブ
ルーチンのフローチャート、第１０図はこの発明の電力
モニタで用いられるＴＲＡＮＳ　ＩＥＮＴ解析サブルー
チンのフローチャート、第１１図はこの発明の好ましい
実施例の電力モニタのブロック図、第１２図は第１図の
電力モニタの作業デ〜り・バッファ及び過渡データ・バ
ッファに入るデータのメモリ・マツプを示す図表、第１
３図はこの発明の電力モニタに用いることが出来る１つ
の感知回路の回路図、第１４図は第１図の電力モニタの
メモリにある全般的な制御プログラムのフローチャート
である。 ［主な符号の説明］ ２０：位相固定ループ、 ２０Ａ：入力線路信号、 ６０：除算回路、 ７０：除算／アドレス発生回路、 ８０：サンプルホールド回路、 ９０：マルチプレクサ、 １１０：マイクロプロセッサ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、周期的な信号に関係する電力を監視する電力モニタ
   に於て、前記信号の複数個のサイクルを含む観測窓の間
   、前記信号を標本化して、複数個の組の電圧−電流サン
   プルを発生する標本化手段と、該標本化手段に結合され
   ていて、前記組の電圧−電流サンプルが、観測窓の中で
   、サイクル毎に各サイクルの初めに対して相異なる時間
   位置に分布する様に、前記信号の標本化を調時するタイ
   ミング手段とを有する電力モニタ。 ２、周期的な信号に関係する電力を監視する電力モニタ
   に於て、該信号の複数個のサイクルを含む観測窓の間、
   前記信号を標本化して複数個の組の電圧−電流サンプル
   を発生する標本化手段と、該標本化手段に結合されてい
   て、前記観測窓の中のサイクル毎に、前記組の電圧−電
   流サンプルが、前記観測窓の各サイクルの初めに対して
   相異なる相対的な時間位置で得られる様に、１サイクル
   毎に非整数個のサンプルの組を求める様に、前記信号の
   標本化を調時するタイミング手段とを有する電力モニタ
   。 ３、周期的な信号の複数個のサイクルを含む観測窓の間
   、該信号に関係する電力を監視する電力モニタに於て、
   前記信号の各サイクルを複数個の期間に分割するタイミ
   ング手段と、該タイミング手段に結合されていて、各々
   の期間の間、電圧及び電流サンプルを求めて、前記観測
   窓の各サイクルの間、複数個の組の電圧−電流サンプル
   を発生するが、該組の電圧−電流サンプルが、前記信号
   の各サイクルの間、該信号の各サイクルの初めに対して
   相異なる時間位置に発生される様にする標本化手段と、
   該標本化手段に結合されていて前記組の電圧−電流サン
   プルを記憶するメモリ手段と、該メモリ手段に結合され
   ていて、該メモリ手段に記憶されているサンプルの組か
   ら、前記信号に関係する実数及び虚数電力を決定するマ
   イクロプロセッサ手段とを有する電力モニタ。 ４、複数個のサイクルを持つ周期的な線路信号に関係す
   る電力を監視する電力モニタに於て、前記線路信号と周
   波数及び位相が同期していて、前記線路信号の倍数であ
   ると共に、該線路信号の各サイクルに対して整数個のパ
   ルスを持つ基準信号を発生する基準信号発生手段と、前
   記線路信号の複数個のサイクルを含む観測窓の間、選ば
   れた標本化周波数で前記線路信号を標本化して、前記線
   路信号の各サイクルの間、複数個の組の電圧−電流サン
   プルを発生し、各々のサンプルの組は少なくとも１つの
   電圧サンプル及び少なくとも１つの電流サンプルを含ん
   でおり、更に前記サンプルを夫々保持する複数個の出力
   を持っている標本化手段と、前記基準信号発生手段及び
   前記標本化手段の間に結合されていて、前記観測窓内の
   サイクル毎に、前記組の電圧−電流サンプルが、各サイ
   クルの初めに対して相異なる時間位置に時間的に分布す
   る様に、前記選ばれた標本化周波数を決定する様に前記
   基準信号を分割する除算手段と、前記標本化手段の複数
   個の出力に結合されていて、当該多重化手段の出力に逐
   次的に前記サンプルを供給することによって、前記標本
   化手段の出力にある各々のサンプルの組にあるサンプル
   を多重化し、こうして多重化サンプル信号を発生する多
   重化手段と、該多重化手段の出力に結合されていて、前
   記多重化サンプル信号をディジタル・サンプル信号に変
   換するアナログ・ディジタル変換手段と、該アナログ・
   ディジタル変換手段に結合されていて、前記観測窓の間
   、前記線路信号に関係する実数及び虚数電力を決定する
   為に前記ディジタル・サンプル信号を処理するマイクロ
   プロセッサ手段とを有する電力モニタ。 ５、前記基準信号発生手段が位相固定ループ乗算器を含
   む請求項４記載の電力モニタ。 ６、複数個のサイクルを持つ周期的な線路信号に関係す
   る電力を監視する電力モニタに於て、第１、第２及び第
   ３のメモリ区域と、夫々の前記線路信号の予定数のサイ
   クルを含む複数個の観測窓にわたって、前記線路信号の
   電圧及び電流を標本化して到来サンプル・データを発生
   する標本化手段と、夫々逐次的な観測窓の間、前記到来
   サンプル・データを交互に前記第１及び第２のメモリ区
   域に記憶する手段と、前記第１、第２及び第３のメモリ
   区域に結合されていて、到来サンプル・データを前記第
   ２のメモリ区域に記憶する間、第１のメモリ区域に記憶
   されたサンプル・データに対する解析を行ない、その後
   到来サンプル・データが前記第１のメモリ区域に記憶さ
   れる間、第２のメモリ区域に記憶されたサンプル・デー
   タに対して解析を行なうマイクロプロセッサ手段と、現
   在の観測窓に入っているサンプル・データが過渡的なデ
   ータを含むかどうかを判定し、含んでいれば、前記現在
   の観測窓に続く次の観測窓の到来サンプル・データを前
   記第３のメモリ区域に記憶させる過渡状態感知手段とを
   有する電力モニタ。 ７、前記第１及び第２のメモリ区域の一方が過渡的なデ
   ータを持っている場合、該第１及び第２のメモリ区域の
   一方に到来サンプル・データを記憶することを防止する
   手段を有する請求項６記載の電力モニタ。 ８、その中の過渡的なデータを解析した後、過渡的なデ
   ータを持っていた、前記第１及び第２のメモリ区域の内
   の前記一方に到来サンプル・データを記憶することを許
   す手段を含む請求項７記載の電力モニタ。 ９、周期的な信号に関係する電力を監視する方法に於て
   、該信号の複数個のサイクルを含む観測窓の間、前記信
   号を標本化して、該信号の各サイクルの間、複数個の組
   の電圧−電流サンプルを発生し、サイクル毎に、前記サ
   ンプルの組が観測窓の各サイクルの初めに対して相異な
   る相対的な時間位置に発生される様に、前記信号の標本
   化を調時する工程を含む方法。 １０、前記信号に関係する実数及び虚数電力を前記サン
   プルの組から決定する工程を含む請求項９記載の方法。 １１、選ばれた線路の相の真のＲＭＳ電圧及び電流を前
   記サンプルの組から決定する工程を含む請求項９記載の
   方法。 １２、前記決定する工程が、ＷＡＴＴＳを実数電力、Ｖ
   （ｉ）を観測窓内の各々の電圧サンプル、Ｉ（ｉ）ｃｏ
   ｓ（θ）を観測窓内の各々の電流サンプル、Ｍを観測窓
   内にあるサンプルの数として、次の式 ▲数式、化学式、表等があります▼ に従って、前記観測窓の間に前記信号が持つ実数電力を
   決定することを含む請求項１０記載の方法。 １３、前記決定する工程が、ＶＡＲＳをボルト・アンペ
   ア無効電力、Ｖ（ｉ）を観測窓内の各々の電圧サンプル
   、Ｉ（ｉ）ｃｏｓ（θ＋９０）を前記観測窓内で９０°
   ずれた各々の電流サンプル、Ｍを観測窓内にあるサンプ
   ルの数として、次の式▲数式、化学式、表等があります
   ▼ に従って、前記観測窓の間に前記信号が持つ虚数電力を
   決定することを含む請求項１０記載の方法。 １４、系の力率を決定する工程を含む請求項１３記載の
   方法。 １５、系の合計エネルギ使用量を決定する工程を含む請
   求項１４記載の方法。 １６、周期的な信号の複数個のサイクルを含む観測窓の
   間、該信号に関係する電力を監視する方法に於て、各々
   のサイクルを略同じ持続時間を持つ複数個の期間に分割
   し、各々のサイクルの各々の期間の間の電圧及び電流サ
   ンプルを求めて、前記信号のサイクル毎に、観測窓の各
   サイクルの初めに対して相異なる相対的な時間位置で電
   圧−電流サンプルの組を発生し、前記電圧−電流サンプ
   ルの組をメモリに記憶し、こうして記憶されたサンプル
   から、前記信号に関係する実数及び虚数電力を決定する
   工程を含む方法。 １７、観測窓の１サイクル当たりの前記複数個の期間が
   非整数である請求項１６記載の方法。 １８、周期的な信号の複数個のサイクルを含む観測窓の
   間、該信号に関係する電力を監視する方法に於て、前記
   信号の第１及び第２の観測窓の間、電圧及び電流サンプ
   ルを求めて、前記第１及び第２の観測窓の１サイクル当
   たり、複数個の電圧−電流サンプルの組を発生し、前記
   第１の観測窓の間に求めた電圧−電流サンプルの組を第
   １のメモリ区域に記憶し、前記第２の観測窓の間、該第
   ２の観測窓の間に求められた電圧−電流サンプルを第２
   のメモリ区域に記憶する間、前記第１の記憶区域にある
   サンプルを解析してそれに関係する電力を決定し、前記
   電圧−電流サンプルの組の何れかゞ前記信号の過渡状態
   を表わすかどうかを決定し、過渡的なデータがその中に
   記憶されていると決定された時、前記第１及び第２のメ
   モリ区域の一方を過渡的なメモリ区域と選定し、過渡状
   態が起ったと決定された観測窓の後の次の観測窓に発生
   するサンプルの組を第３のメモリ区域に記憶し、その中
   の過渡的なデータが解析されるまで、前記第１及び第２
   のメモリ区域の内、過渡的なメモリ区域と選定された一
   方を使うことを防止する工程を含む方法。 １９、前記第２の観測窓の後の第３の観測窓の間、前記
   第１及び第２のメモリ区域の作用を交換して、前記第３
   の観測窓の間に求められたサンプルの組を第１のメモリ
   区域に記憶すると共に、第２のメモリ区域にあるサンプ
   ルの組を解析して、それに関係する電力を決定する工程
   を含む請求項１８記載の方法。 ２０、過渡的なデータがそのメモリ区域に記憶されてい
   る時、前記過渡的なメモリ区域にある電圧サンプルの過
   渡状態解析を行なう工程を含む請求項１８記載の方法。 ２１、その中にある過渡的なデータが解析された後、前
   記過渡的なメモリ区域に電圧−電流サンプルの組を記憶
   することを許す工程を含む請求項２０記載の方法。 ２２、周期的な信号に関係する電力を監視する電力モニ
   タに於て、前記信号の複数個のサイクルを含む観測窓の
   間、前記信号を標本化して、各々の組が、略同時に求め
   られた少なくとも１つの電圧サンプル及び少なくとも１
   つの電流サンプルを含む様な複数個の電圧−電流サンプ
   ルの組を発生する標本化手段と、該標本化手段に結合さ
   れていて、電圧−電流サンプルの組が前記観測窓の各サ
   イクル全体にわたっ分布する様に、前記標本化手段によ
   る前記信号の標本化を調時するタイミング手段と、前記
   標本化手段に結合されていて、観測窓の間に発生するサ
   ンプルの組をインターリーブ形に記憶して、データの１
   サイクルを模擬する作業データ・メモリ区域と、前記標
   本化手段に結合されていて、観測窓の間に発生するサン
   プルの組を逐次的に記憶する過渡的なデータ区域とを有
   する電力モニタ。 ２３、前記作業データ・メモリ区域及び過渡的なデータ
   ・メモリ区域に結合されていて、前記過渡的なデータ・
   メモリ区域に記憶されているデータの別の場所への伝送
   に備えて、前記作業データ・メモリ区域及び前記過渡的
   なデータ・メモリ区域の内、命令された、選ばれた一方
   の内容を記憶する送信データ・メモリ区域を有する請求
   項２２記載の電力モニタ。 ２４、前記標本化手段に結合されていて、前記観測窓の
   あるサイクルが過渡状態を持つかどうかを決定する試験
   手段を有する請求項２２記載の電力モニタ。 ２５、前記試験手段が、特定のサイクルの電圧−電流サ
   ンプルの組の内の少なくとも２つの相次ぐ電流サンプル
   が予定の閾値レベルより高い振幅を示す時に、前記観測
   窓の特定のサイクル内で過渡状態が発生したと決定する
   請求項２４記載の電力モニタ。 ２６、前記作業データ・メモリの内容を別の場所へ伝送
   したい時、前記作業データ・メモリ区域を前記送信デー
   タ・メモリ区域と定め直すと共に前記送信データ・メモ
   リ区域を作業データ・メモリ区域と定め直す手段を含む
   請求項２２記載の電力モニタ。 ２７、前記標本化手段及びメモリ手段に結合されていて
   、前記作業データ・メモリ区域に記憶されているサンプ
   ルから、前記信号に関係する実数及び虚数電力を決定す
   るマイクロプロセッサ手段を有する請求項２２記載の電
   力モニタ。 ２８、前記プロセッサ手段に結合されていて、前記信号
   の各サイクルに対し、前記マイクロプロセッサ手段によ
   って決定された実数及び虚数電力を記憶する計算データ
   ・メモリ区域を有する請求項２７記載の電力モニタ。 ２９、略周期的な信号の電力を監視する方法に於て、該
   信号の複数個のサイクルを含む観測窓の間、前記信号を
   標本化して、各々の組が略同時に求められた少なくとも
   １つの電圧サンプル及び少なくとも１つの電流サンプル
   を含む様な複数個の電圧−電流サンプルの組を発生し、
   前記電圧−電流サンプルの組が前記観測窓の各サイクル
   全体にわたって分布する様に、前記信号の標本化を調時
   し、特定の観測窓の間に発生したサンプルの組を第１の
   メモリ区域にインターリーブ形で記憶して、該第１のメ
   モリ区域内にデータの１サイクルを模擬し、前記特定の
   観測窓の間に発生するサンプルの組を第２のメモリ区域
   に逐次的に記憶する工程を含む方法。 ３０、前記第１のメモリ区域の内容を出力に送りたい時
   、前記第１のメモリ区域の内容を第３のメモリ区域に記
   憶し、前記第２のメモリ区域の内容を出力に送りたい時
   、前記第２のメモリ区域の内容を前記第３のメモリ区域
   に記憶する工程を含む請求項２９記載の方法。 ３１、前記第１のメモリ区域の内容を出力に送りたい時
   、前記第１のメモリ区域を前記第３のメモリ区域と定め
   直す工程を含む請求項３０記載の方法。 ３２、前記第２のメモリ区域の内容を出力に送りたい時
   、前記第２のメモリ区域を前記第３のメモリ区域と定め
   直す工程を含む請求項３０記載の方法。