JPH02244777A - 超伝導膜基板 - Google Patents
超伝導膜基板Info
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- JPH02244777A JPH02244777A JP1065103A JP6510389A JPH02244777A JP H02244777 A JPH02244777 A JP H02244777A JP 1065103 A JP1065103 A JP 1065103A JP 6510389 A JP6510389 A JP 6510389A JP H02244777 A JPH02244777 A JP H02244777A
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E40/00—Technologies for an efficient electrical power generation, transmission or distribution
- Y02E40/60—Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
この発明は、酸化物超伝導膜を形成した超伝導膜基板に
関する。
関する。
[従来の技術 ]
高い臨界温度(Te)を有する酸化物超伝導体、例えば
A −B −C,u−0系(lコだし、AはY、Sc、
i、a。
A −B −C,u−0系(lコだし、AはY、Sc、
i、a。
Yb、Er、Eu、Ho、Dy等の周期律表ma族元素
2つ1種以上を示し、Bi!Be、Mg、Ca、Sr、
Ba等の周期律表IIa族元素の]種以上を示す。以下
、同様。)酸化物超伝導体が見いだされ、これら酸化物
超伝導体を基板上に成膜して超伝導膜基板を製造し、こ
れをジョセフソン素子、量子干渉素子などの超伝導素子
として利用することが提案されている。
2つ1種以上を示し、Bi!Be、Mg、Ca、Sr、
Ba等の周期律表IIa族元素の]種以上を示す。以下
、同様。)酸化物超伝導体が見いだされ、これら酸化物
超伝導体を基板上に成膜して超伝導膜基板を製造し、こ
れをジョセフソン素子、量子干渉素子などの超伝導素子
として利用することが提案されている。
従来、A 〜B −Cu−0系酸化物超伝導体を用いた
超伝導膜基板としては、A 1103. Z ro t
S rT i03などからなる基板の表面に、スパッ
タ法、分子線エピタキシー法(MBE法)、融液浸漬法
(Dip法)などの方法により超伝導膜を形成し、これ
を酸素雰囲気中で約900 ℃ないし550℃で熱処理
してなるものが知られている。
超伝導膜基板としては、A 1103. Z ro t
S rT i03などからなる基板の表面に、スパッ
タ法、分子線エピタキシー法(MBE法)、融液浸漬法
(Dip法)などの方法により超伝導膜を形成し、これ
を酸素雰囲気中で約900 ℃ないし550℃で熱処理
してなるものが知られている。
「発qが解決しようとする課題J
しかしながら、上述のよ、うに製造された超伝導膜基板
のTcは、一般にバルク試料に比べて低くなってしまう
問題があった。これはA1rO*等の基板と酸化物超伝
導体との熱膨張係数の違いや基板と酸化物超伝導体との
反応などが原因と言われている。
のTcは、一般にバルク試料に比べて低くなってしまう
問題があった。これはA1rO*等の基板と酸化物超伝
導体との熱膨張係数の違いや基板と酸化物超伝導体との
反応などが原因と言われている。
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、高Tcの超
伝導膜基板の提供を目的としている。
伝導膜基板の提供を目的としている。
「課題を解決するための手段」
この発明では、F3a2ShOaまたはB aZ rO
s基板の表面に、A −B −Cu−0系(ただし、A
はY、Sc。
s基板の表面に、A −B −Cu−0系(ただし、A
はY、Sc。
La、Yb、Er、Eu、Ho、Dy等の周期律表1I
Ia族元素のiw以上を示し、BはBe、Mg、Ca、
S r、Ba等のRIA律表na族元素の1m以上を示
す。)酸化物超伝導膜を設けることを課題解決の手段と
した。
Ia族元素のiw以上を示し、BはBe、Mg、Ca、
S r、Ba等のRIA律表na族元素の1m以上を示
す。)酸化物超伝導膜を設けることを課題解決の手段と
した。
「作用 」
Ba1SrO4およびBa、ZrO,はA−B−Cu−
0系超伝導体七熱処珈温度においても反応しない。この
ため、超伝導相の発現か阻止されることがない。
0系超伝導体七熱処珈温度においても反応しない。この
ため、超伝導相の発現か阻止されることがない。
「実施例」
第1図は、この発明の超伝導膜基板の一例を示すもので
、図中符号Iは基板である。この基板1は、Ba、Si
O+またはB aZ ro sを材料として作成された
ものである。なお、この基板lとしては、B atS
104またはB aZ ro sを材料とした単一材料
基板の他、Bats 104またはB aZ ro s
以外のセラミックス材料や金属材料で作られた基板の表
面にBa1SrO4またはB aZ ro sからなる
層を積層してなる基板も用いることができる。
、図中符号Iは基板である。この基板1は、Ba、Si
O+またはB aZ ro sを材料として作成された
ものである。なお、この基板lとしては、B atS
104またはB aZ ro sを材料とした単一材料
基板の他、Bats 104またはB aZ ro s
以外のセラミックス材料や金属材料で作られた基板の表
面にBa1SrO4またはB aZ ro sからなる
層を積層してなる基板も用いることができる。
このBa2SiOlまたはB aZ ro 、基板l上
には、超伝導112が設けられている。この超伝導膜2
は、A −B −Cu−〇系酸化物超伝導体からなるも
ので、スパッタ法、蒸着法、イオンブレーティング法、
分子線エピタキシー法(MBE法)、スクリーン印刷法
、プラズマ溶射法、スプレー法などの薄膜形成手段や融
液浸漬法(D ip法)などの厚膜形成手段によって形
成された膜を81)(1−gH℃の酸素雰囲気中で加熱
し、さらに550〜60’O℃の酸素雰囲気中で加熱し
て超伝導相を発現させてなるものである。
には、超伝導112が設けられている。この超伝導膜2
は、A −B −Cu−〇系酸化物超伝導体からなるも
ので、スパッタ法、蒸着法、イオンブレーティング法、
分子線エピタキシー法(MBE法)、スクリーン印刷法
、プラズマ溶射法、スプレー法などの薄膜形成手段や融
液浸漬法(D ip法)などの厚膜形成手段によって形
成された膜を81)(1−gH℃の酸素雰囲気中で加熱
し、さらに550〜60’O℃の酸素雰囲気中で加熱し
て超伝導相を発現させてなるものである。
8]0〜9H℃での1次加熱の加熱時間は45〜60分
程度が好ましく、550〜600℃での2次加熱の加熱
時間は80−120分程度が好ましい。この超伝導膜2
の厚さは特に限定されることはないが、通常2〜4I)
Ωμ勝程度とされる。
程度が好ましく、550〜600℃での2次加熱の加熱
時間は80−120分程度が好ましい。この超伝導膜2
の厚さは特に限定されることはないが、通常2〜4I)
Ωμ勝程度とされる。
このような構造の超伝導膜基板にあっては、超伝導相の
発現に必要な加熱処理時において、膜2の超伝導体が基
板1のBa1SrO,またはBaZ、rOsと反応する
ことがない。このため、M12には十分な超伝導相が発
現し、膜2は超伝導性を有するようになる 「実験例」 まず、アルミナ基板を用いて従来の超伝導膜基板の製造
を要職した。
発現に必要な加熱処理時において、膜2の超伝導体が基
板1のBa1SrO,またはBaZ、rOsと反応する
ことがない。このため、M12には十分な超伝導相が発
現し、膜2は超伝導性を有するようになる 「実験例」 まず、アルミナ基板を用いて従来の超伝導膜基板の製造
を要職した。
B atY Cus O?−δ組成の原料混合粉末を白
金坩堝イこん1れ、大気中1400℃で溶融し、石英ガ
ラス捧で攪拌しさらに10分加熱した。
金坩堝イこん1れ、大気中1400℃で溶融し、石英ガ
ラス捧で攪拌しさらに10分加熱した。
また、予め1400℃に加熱しであるアルミナ基板を炉
内で融液に約1秒浸し室内放冷した。この試料を大気中
900℃で24時間熱処理後炉内放冷した。
内で融液に約1秒浸し室内放冷した。この試料を大気中
900℃で24時間熱処理後炉内放冷した。
試料の断面を研磨してSEMおよびEPMAによる分析
を行った。また膜部分を削り取り界面を露出させXJI
!回折により反応相の同定を行った。この結果、アルミ
ナ基板に融液をDipLで作成した約2QOl1mの厚
膜試料のTeは71にであった。また界面をEPMAで
調べた結果反応相は約】0μm生成していることがわか
った。膜部分を削り取り、界面を露出させX線回折で調
べた結果、反応相はB aA lto 4であることが
わかった。
を行った。また膜部分を削り取り界面を露出させXJI
!回折により反応相の同定を行った。この結果、アルミ
ナ基板に融液をDipLで作成した約2QOl1mの厚
膜試料のTeは71にであった。また界面をEPMAで
調べた結果反応相は約】0μm生成していることがわか
った。膜部分を削り取り、界面を露出させX線回折で調
べた結果、反応相はB aA lto 4であることが
わかった。
次に、各種の基板材料を用い、基板と超伝導体との反応
性を調べγこ。
性を調べγこ。
先の坩堝中の融液を鉄板上に流し出しプレスして急冷試
料を作成した。この試料を粉砕し、BatYCusOt
−δ:M=1:1(ただし、MはA 1. t Os、
ZrO,、M gO、T i Ot、S rT io
3、石英、シリカガラス、Si、 Ge、 Nb)にな
るよう各試料を調整後直径15111!l、厚さ約3m
ff1のベレットを500 Kg/cm’の圧力下で作
成し、大気中900℃で48時間熱処理後炉冷した。ま
たMとして、B aA、 LO−1BaZrO0、B
at S IO4を用い、B a*、Y Cu30 ?
−δ:M2:1になるように調整後、先の操作と同様に
ベレットにし、大気中900℃、24時間熱処理後炉冷
した。そして各試料について、粉末X線回折により試料
の反応相の同定、帯磁率の測定およびTcの測定を行っ
た。帯磁率の測定は、ハートホーン型回路を用いて相互
インダクタンスの変化の測定により行った。またTcの
測定は直流四端子法により行った。結果を表1に記す。
料を作成した。この試料を粉砕し、BatYCusOt
−δ:M=1:1(ただし、MはA 1. t Os、
ZrO,、M gO、T i Ot、S rT io
3、石英、シリカガラス、Si、 Ge、 Nb)にな
るよう各試料を調整後直径15111!l、厚さ約3m
ff1のベレットを500 Kg/cm’の圧力下で作
成し、大気中900℃で48時間熱処理後炉冷した。ま
たMとして、B aA、 LO−1BaZrO0、B
at S IO4を用い、B a*、Y Cu30 ?
−δ:M2:1になるように調整後、先の操作と同様に
ベレットにし、大気中900℃、24時間熱処理後炉冷
した。そして各試料について、粉末X線回折により試料
の反応相の同定、帯磁率の測定およびTcの測定を行っ
た。帯磁率の測定は、ハートホーン型回路を用いて相互
インダクタンスの変化の測定により行った。またTcの
測定は直流四端子法により行った。結果を表1に記す。
また第2図に、各試料の温室による帯磁率の変化を示す
。
。
帯磁率測定の結果、A lzo 3. Z ro t、
Mgoをそれぞれ混合した場合、試料には高温相と低温
相の2相が存在していることがわかる。高温相は、混入
した基板材料と反応固溶せずに残っ1こBa、YCむ0
7δ相であり、低温相は各混入材料とBatYC:u−
0,−δが一部置換固溶した相だと推察される。また5
rTiOsのオンセット温度か低いのはSrがBaと置
換固溶し、(B a、 S r)t Y CIJ30
?−δになるためと推察される。Ge、Nbについては
帯磁率の変化は観測されなかった。表1に示されるよう
に、MgOとS rT io s混入試料以外では、反
応相(Rsaction phases)は全てBa系
の化合物であることがわかる。これらの結果は、通常用
いられている基板材料はBatY CLISO?−δ中
のBa元素と非常に強く反応して新しい化合物を生成し
、そのために膜の超伝導特性が悪くなるということを示
している。
Mgoをそれぞれ混合した場合、試料には高温相と低温
相の2相が存在していることがわかる。高温相は、混入
した基板材料と反応固溶せずに残っ1こBa、YCむ0
7δ相であり、低温相は各混入材料とBatYC:u−
0,−δが一部置換固溶した相だと推察される。また5
rTiOsのオンセット温度か低いのはSrがBaと置
換固溶し、(B a、 S r)t Y CIJ30
?−δになるためと推察される。Ge、Nbについては
帯磁率の変化は観測されなかった。表1に示されるよう
に、MgOとS rT io s混入試料以外では、反
応相(Rsaction phases)は全てBa系
の化合物であることがわかる。これらの結果は、通常用
いられている基板材料はBatY CLISO?−δ中
のBa元素と非常に強く反応して新しい化合物を生成し
、そのために膜の超伝導特性が悪くなるということを示
している。
一方、第3図は、B aA l*o A、B ats
io 4.B aZ ro 31i/L入試料のX線回
折図、第4図は同試料の帯磁率を調べTコ結果である。
io 4.B aZ ro 31i/L入試料のX線回
折図、第4図は同試料の帯磁率を調べTコ結果である。
第2図から、これらの各試料とも新しい反応物はできで
いないことがわかった。しかし、BaA1.O,混入試
料では生成したB at、Y Cu30□、δは斜方晶
ではなく74に以Fで非常に弱い帯磁率の変化が観測さ
れただけであった。Ba、Zr0aおよび13a2S+
04混入試料では共に90に付近で鋭い超伝導転位が観
測された。BaZrO3混入試料ではTc(on 5e
t)=92に、 Tc(offset)−88に、、B
ats iOa混入試料ではT c(on 5et
)−91,KST c(off 5et)= 85にで
あった。これらの結果よりB aZ rO、およびBa
tSi04はBa2YCutO□δとは非常に反応しに
くく、これらの材料を基にとして用いることにより、従
来の基板より良い超伝導特性のY系超伝導膜基板が得ら
れることが判明した。
いないことがわかった。しかし、BaA1.O,混入試
料では生成したB at、Y Cu30□、δは斜方晶
ではなく74に以Fで非常に弱い帯磁率の変化が観測さ
れただけであった。Ba、Zr0aおよび13a2S+
04混入試料では共に90に付近で鋭い超伝導転位が観
測された。BaZrO3混入試料ではTc(on 5e
t)=92に、 Tc(offset)−88に、、B
ats iOa混入試料ではT c(on 5et
)−91,KST c(off 5et)= 85にで
あった。これらの結果よりB aZ rO、およびBa
tSi04はBa2YCutO□δとは非常に反応しに
くく、これらの材料を基にとして用いることにより、従
来の基板より良い超伝導特性のY系超伝導膜基板が得ら
れることが判明した。
「発明の効果」
以上説明したように、この発明の超伝導膜基板は、Ba
2SiOaまたはBaZr0a基板の表面に、A、−B
−Cu−0系酸化物超伝導嘆を設けてなるものであるの
で、A−B−Cu−〇系酸化物超伝導体と基板との反応
が起こらず、A −B −Cu−0系酸化物超伝導膜に
超伝導相が確実に発現する。よって、この発明によれば
、超伝導膜基板の高Tc化を図ることができる。
2SiOaまたはBaZr0a基板の表面に、A、−B
−Cu−0系酸化物超伝導嘆を設けてなるものであるの
で、A−B−Cu−〇系酸化物超伝導体と基板との反応
が起こらず、A −B −Cu−0系酸化物超伝導膜に
超伝導相が確実に発現する。よって、この発明によれば
、超伝導膜基板の高Tc化を図ることができる。
第1図は、この発明の超伝導膜基板の一例を示す概略断
面図、第2図は実験例の各試料の帯磁率の温度依存性を
示すグラフ、第3図は実験例の結果を表わすX線回折図
、第4図は実験例の各試料の帯磁率の温度依存性を示す
グラフである。 1・・・基板 2・・・超伝導膜。
面図、第2図は実験例の各試料の帯磁率の温度依存性を
示すグラフ、第3図は実験例の結果を表わすX線回折図
、第4図は実験例の各試料の帯磁率の温度依存性を示す
グラフである。 1・・・基板 2・・・超伝導膜。
Claims (1)
- Ba_2SiO_4またはBaZrO_3基板の表面に
、A−B−Cu−O系(ただし、AはY、Sc、La、
Yb、Er、Eu、Ho、Dy等の周期律表IIIa族元
素の1種以上を示し、BはBe、Mg、Ca、Sr、B
a等の周期律表IIa族元素の1種以上を示す。)酸化物
超伝導膜を設けてなる超伝導膜基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1065103A JPH02244777A (ja) | 1989-03-17 | 1989-03-17 | 超伝導膜基板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1065103A JPH02244777A (ja) | 1989-03-17 | 1989-03-17 | 超伝導膜基板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02244777A true JPH02244777A (ja) | 1990-09-28 |
Family
ID=13277234
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1065103A Pending JPH02244777A (ja) | 1989-03-17 | 1989-03-17 | 超伝導膜基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02244777A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100388497B1 (ko) * | 2001-06-01 | 2003-06-25 | 한국전자통신연구원 | 초전도 에피택셜 박막 및 그 제조 방법 |
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1989
- 1989-03-17 JP JP1065103A patent/JPH02244777A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100388497B1 (ko) * | 2001-06-01 | 2003-06-25 | 한국전자통신연구원 | 초전도 에피택셜 박막 및 그 제조 방법 |
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