JPH02242517A - 誘電体磁器組成物 - Google Patents
誘電体磁器組成物Info
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- JPH02242517A JPH02242517A JP1062408A JP6240889A JPH02242517A JP H02242517 A JPH02242517 A JP H02242517A JP 1062408 A JP1062408 A JP 1062408A JP 6240889 A JP6240889 A JP 6240889A JP H02242517 A JPH02242517 A JP H02242517A
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
- Y02E60/13—Energy storage using capacitors
Landscapes
- Inorganic Insulating Materials (AREA)
- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
- Ceramic Capacitors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
3ヘー/
本発明は誘電率、絶縁抵抗、絶縁破壊電圧が高く、良好
塵Qにすぐれ、静電容量温度係数が小さく、かつ積層セ
ラミックコンデンサへの利用においては、内部電極の厚
みを薄くしたときの静電容量と良好塵Qの低下を防ぎ、
静電容量と良好塵Qのバラツキを小さくできる誘電体磁
器組成物に関するものである。
塵Qにすぐれ、静電容量温度係数が小さく、かつ積層セ
ラミックコンデンサへの利用においては、内部電極の厚
みを薄くしたときの静電容量と良好塵Qの低下を防ぎ、
静電容量と良好塵Qのバラツキを小さくできる誘電体磁
器組成物に関するものである。
従来の技術
従来から誘電率、絶縁抵抗が高く、良好塵Qにすぐれ、
静電容量温度係数が小さい誘電体磁器組成物として下記
のような系が知られている。
静電容量温度係数が小さい誘電体磁器組成物として下記
のような系が知られている。
−BaO−TiO2−Nd 203系
、B a OT 102 S m 205系発明が解
決しようとする課題 しかし、これらの組成は、例えば0.11BaOO,6
8Tie2−0.21 Nd2O3の組成比からなる誘
電体材料を使用し、パラジウムの内部電極厚み471m
、誘電体厚み12μm、内部電極の重なり寸法1.2
rrrm X O,7B、誘電体層数19の積層構造を
もつ積層セラミックコンデンサを作製すると、静電容量
の平均値ニア42pF、良好塵Qの平均値:8700、
静電容量温度係数の平均値: Ns6ppm/℃、絶縁
抵抗の平均値: 6.OX 1012Ω、絶縁破壊強度
の平均値: 117kv/B であシ、絶縁抵抗と絶
縁破壊強度において満足のできる値ではない。
決しようとする課題 しかし、これらの組成は、例えば0.11BaOO,6
8Tie2−0.21 Nd2O3の組成比からなる誘
電体材料を使用し、パラジウムの内部電極厚み471m
、誘電体厚み12μm、内部電極の重なり寸法1.2
rrrm X O,7B、誘電体層数19の積層構造を
もつ積層セラミックコンデンサを作製すると、静電容量
の平均値ニア42pF、良好塵Qの平均値:8700、
静電容量温度係数の平均値: Ns6ppm/℃、絶縁
抵抗の平均値: 6.OX 1012Ω、絶縁破壊強度
の平均値: 117kv/B であシ、絶縁抵抗と絶
縁破壊強度において満足のできる値ではない。
また、積層セラミックコンデンサのコストダウンを行う
ため、および素体内部の構造欠陥であるデラミネーショ
ンの発生を防ぐため、パラジウムの内部電極厚みを4μ
mから2μm に薄くすると、上記の組成比の誘電体材
料を使用し、上記の誘電体厚み、内部電極型なり寸法、
誘電体層数の積層構造をもつ積層セラミックコンデンサ
の静電容量の平均値が610pFと小さくなるとともに
静電容量のバラツキが266〜了131)F と大きく
なる。さらに、良好塵Qの平均値も4000と低くなる
とともに良好塵Qのバラツキが600〜8800と犬き
ぐなるという課題があった。
ため、および素体内部の構造欠陥であるデラミネーショ
ンの発生を防ぐため、パラジウムの内部電極厚みを4μ
mから2μm に薄くすると、上記の組成比の誘電体材
料を使用し、上記の誘電体厚み、内部電極型なり寸法、
誘電体層数の積層構造をもつ積層セラミックコンデンサ
の静電容量の平均値が610pFと小さくなるとともに
静電容量のバラツキが266〜了131)F と大きく
なる。さらに、良好塵Qの平均値も4000と低くなる
とともに良好塵Qのバラツキが600〜8800と犬き
ぐなるという課題があった。
課題を解決するだめの手段
こ了しらの課題を解決するために本発明は、一般5ヘ一
/ 式 %式% と表しだ時(ただし、x+y−1−Z=1.○0Re2
03は、La2031Pr2o11/31Nd203.
Sm2O3から選ばれる少なくとも一種以上の希土類元
素の酸化物。)、x、y、zが以下に表す各点a 、
b。
/ 式 %式% と表しだ時(ただし、x+y−1−Z=1.○0Re2
03は、La2031Pr2o11/31Nd203.
Sm2O3から選ばれる少なくとも一種以上の希土類元
素の酸化物。)、x、y、zが以下に表す各点a 、
b。
c、d、e、fで囲まれるモル比の範囲からなる主成分
1o○重量部に対し、副成分としてノくナジウム酸化物
をv205に換算して0.005〜2.000重量部含
有したことを特徴とする誘電体磁器組成物を提案するも
のである。
1o○重量部に対し、副成分としてノくナジウム酸化物
をv205に換算して0.005〜2.000重量部含
有したことを特徴とする誘電体磁器組成物を提案するも
のである。
6 /\−7
作用
第1図は本発明にかかる組成物の主成分の組成範囲を示
す三元図であり、主成分の組成範囲を限定した理由を第
1図を参照しながら説明する。すなわち、A領域では焼
結が著しく困難である。捷だ、B領域では良好塵Qが低
下し実用的でなくなる。さらに、C,D領域では静電容
量温度係数がマイナス側に大きくなりすぎて実用的でな
くなる。
す三元図であり、主成分の組成範囲を限定した理由を第
1図を参照しながら説明する。すなわち、A領域では焼
結が著しく困難である。捷だ、B領域では良好塵Qが低
下し実用的でなくなる。さらに、C,D領域では静電容
量温度係数がマイナス側に大きくなりすぎて実用的でな
くなる。
そして、E領域では静電容量温度係数がプラス方向に移
行するが、誘電率が小さく実用的でなくなる。また、R
e2O3をLa2O3,Pr2011/、31Nd20
3ISm2o3カら選ぶことにより、”a2031 P
r2o11/31Nd203. Sm、、03の順で誘
電率を大きく下げることなく、静電容量温度係数全プラ
ス方向に移行することが可能であり、LaOPro
、Nd0231 211/3 23’Sm
20.の1種あるいは組合せにより静電容量温度係数の
調節が可能である。
行するが、誘電率が小さく実用的でなくなる。また、R
e2O3をLa2O3,Pr2011/、31Nd20
3ISm2o3カら選ぶことにより、”a2031 P
r2o11/31Nd203. Sm、、03の順で誘
電率を大きく下げることなく、静電容量温度係数全プラ
ス方向に移行することが可能であり、LaOPro
、Nd0231 211/3 23’Sm
20.の1種あるいは組合せにより静電容量温度係数の
調節が可能である。
第2図は本発明にかかる組成物の主成分に対し、副成分
v205の含有効果を積層セラミックコンデンサの特性
で示すグラフであり、v205の含有範ア・\−ノ 囲を限定した理由をグラフを参照しながら説明する。第
2図に示すようにv205を含有することにより、絶縁
抵抗、絶縁破壊強度が向上し、また静電容量と良好塵Q
を高め、静電容量と良好塵Qのバラツキを小さくする効
果を有する。そして、v205の含有により、絶縁抵抗
、絶縁破壊強度は向上するが、■205の含有量が主成
分100重量部に対し、0.005重量部未満はそれほ
ど絶縁破壊強度が大きくなく、静電容量と良好塵Qが低
く、1だ静電容量と良好塵Qのバラツキが太きいため、
この発明の範囲から除外した。一方、v205の含有量
が主成分に対し、2.000重量部を越えると良好塵Q
、絶縁抵抗が低下し実用的でなくなる。
v205の含有効果を積層セラミックコンデンサの特性
で示すグラフであり、v205の含有範ア・\−ノ 囲を限定した理由をグラフを参照しながら説明する。第
2図に示すようにv205を含有することにより、絶縁
抵抗、絶縁破壊強度が向上し、また静電容量と良好塵Q
を高め、静電容量と良好塵Qのバラツキを小さくする効
果を有する。そして、v205の含有により、絶縁抵抗
、絶縁破壊強度は向上するが、■205の含有量が主成
分100重量部に対し、0.005重量部未満はそれほ
ど絶縁破壊強度が大きくなく、静電容量と良好塵Qが低
く、1だ静電容量と良好塵Qのバラツキが太きいため、
この発明の範囲から除外した。一方、v205の含有量
が主成分に対し、2.000重量部を越えると良好塵Q
、絶縁抵抗が低下し実用的でなくなる。
本発明はさらに、上記組成物に、マンガン、亜鉛、鉄お
よびケイ素の酸化物から選ばれる少なくとも一種以上を
、それぞれMnO2,ZnO、Fe206および510
2に換算して主成分と副成分を合わせた100重量部に
対し、0.06〜1.00重量部添加せしめた構成とす
ることができる。これらの添加物は磁器の焼結性を向上
させる効果を有し、その添加量が0.06重量部未満で
は添加効果はなく、一方1.○○重量部を越えると誘電
率が低下し実用的でなくなる。
よびケイ素の酸化物から選ばれる少なくとも一種以上を
、それぞれMnO2,ZnO、Fe206および510
2に換算して主成分と副成分を合わせた100重量部に
対し、0.06〜1.00重量部添加せしめた構成とす
ることができる。これらの添加物は磁器の焼結性を向上
させる効果を有し、その添加量が0.06重量部未満で
は添加効果はなく、一方1.○○重量部を越えると誘電
率が低下し実用的でなくなる。
実施例
以下、本発明を具体的実施例により説明する。
(実施例1)
出発原料には化学的に高純度のBaCO3,TiO2゜
L a 205.P r 6011+ Nd 203+
Sm 203およびv205粉末を下記の第1表に示
す組成比になるように秤量し、めのうボールを備えたゴ
ム内張りのボールミルに純水とともに入れ、湿式混合後
、脱水乾燥した。この乾燥粉末を高アルミナ質のルツボ
に入れ、空気中で1100℃にて2時間仮焼した。この
仮焼粉末を、めのうボールを備えたゴム内張りのボール
ミルに純水とともに入れ、湿式粉砕後、脱水乾燥した。
L a 205.P r 6011+ Nd 203+
Sm 203およびv205粉末を下記の第1表に示
す組成比になるように秤量し、めのうボールを備えたゴ
ム内張りのボールミルに純水とともに入れ、湿式混合後
、脱水乾燥した。この乾燥粉末を高アルミナ質のルツボ
に入れ、空気中で1100℃にて2時間仮焼した。この
仮焼粉末を、めのうボールを備えたゴム内張りのボール
ミルに純水とともに入れ、湿式粉砕後、脱水乾燥した。
この粉砕粉末に、有機バインダーを加え、均質とした後
、32メツシユのふるいを通して整粒し、金型と油圧プ
レスを用いて成形圧力1ton/(iで直径15に、厚
み0.4胴に成形した。
、32メツシユのふるいを通して整粒し、金型と油圧プ
レスを用いて成形圧力1ton/(iで直径15に、厚
み0.4胴に成形した。
次いで、成形円板をジルコニア粉末を敷いたアル9ベー
/ ミナ質のサヤに入れ、空気中にて下記の第1表に示す組
成比の誘電体磁器を得た。
/ ミナ質のサヤに入れ、空気中にて下記の第1表に示す組
成比の誘電体磁器を得た。
このようにして得られた誘電体磁器円板は、厚みと直径
を測定し、誘電率、良好度Q、静電容量温度係数測定用
試料は、誘電体磁器円板の両面全体に銀電極を焼き付け
、絶縁抵抗、絶縁破壊強度測定用試料は、誘電体磁器円
板の外周より内側に1mの幅で銀電極の無い部分を設け
、銀電極を焼き付けた。そして、誘電率、良好度Q、静
電容量温度係数は、YHP社製デジタルLCRメータの
モデル4275Aを使用し、測定温度20℃、測定電圧
1、o Vrms 、測定周波数1MHzでの測定よ
り求めた。なお、静電容量温度係数は、20℃。
を測定し、誘電率、良好度Q、静電容量温度係数測定用
試料は、誘電体磁器円板の両面全体に銀電極を焼き付け
、絶縁抵抗、絶縁破壊強度測定用試料は、誘電体磁器円
板の外周より内側に1mの幅で銀電極の無い部分を設け
、銀電極を焼き付けた。そして、誘電率、良好度Q、静
電容量温度係数は、YHP社製デジタルLCRメータの
モデル4275Aを使用し、測定温度20℃、測定電圧
1、o Vrms 、測定周波数1MHzでの測定よ
り求めた。なお、静電容量温度係数は、20℃。
85℃の静電容量を測定し、次式により求めた。
TC−(C−CO)/CO×1/66×106TC:静
電容量温度係数(ppm/℃)CO:20℃での静電容
量(pF) C:85℃での静電容量(pF) また、誘電率は次式より求めた。
電容量温度係数(ppm/℃)CO:20℃での静電容
量(pF) C:85℃での静電容量(pF) また、誘電率は次式より求めた。
1 oベージ
に=143.8 XCo Xt/D2
に:誘電率
Co:20℃での静電容量(pF )
D −誘電体磁器の直径(mm)
t :誘電体磁器の厚み(謳)
さらに、絶縁抵抗は、YHP社製HRメータのモデ#4
329Ai使用し、測定電圧60 V、D、C,。
329Ai使用し、測定電圧60 V、D、C,。
測定時間1分間による測定より求めた。
そして、絶縁破壊強度は、菊水電子工業(株)扱高電圧
電源PH335に一3形を使用し、試料をシリコンオイ
ル中に入れ、昇圧速度sob/secにより求めた絶縁
破壊電圧を誘電体厚みで除算し、1圏当りの絶縁破壊強
度とした。
電源PH335に一3形を使用し、試料をシリコンオイ
ル中に入れ、昇圧速度sob/secにより求めた絶縁
破壊電圧を誘電体厚みで除算し、1圏当りの絶縁破壊強
度とした。
試験条件を第1表に併せて示し、試験結果を下記の第2
表に示す。
表に示す。
11、.
13へ
(実施例2)
出発原料には化学的に高純度のBaCO3,TiO2゜
La2O3,Pr60.4. Nd2O3,Sm2O3
,V2O5,MnO2゜ZnO、Fe2O,および5i
02粉末を下記の第3表に示す組成比になるように秤量
し、それ以後は、実施例1の場合と同様に処理して下記
の第3表に示す組成比の誘電体磁器を得た。
La2O3,Pr60.4. Nd2O3,Sm2O3
,V2O5,MnO2゜ZnO、Fe2O,および5i
02粉末を下記の第3表に示す組成比になるように秤量
し、それ以後は、実施例1の場合と同様に処理して下記
の第3表に示す組成比の誘電体磁器を得た。
これらの試料の試験方法は、実施例1と同様であり、試
験条件を第3表に併せて示し、試験結果を下記の第4表
に示す。
験条件を第3表に併せて示し、試験結果を下記の第4表
に示す。
(以 下 余 白)
16ベーノ
(実施例3)
出発原料には化学的に高純度のBaCO3,T工o2゜
La2O5,Pr60. 、 、 Nd2O3,Sm2
O3およびv205粉末を使用し、主成分0.11 B
aO−o、+38 Tie2−0.21 Nd2O5に
対し、v20.を0,0.001゜0.005 .0.
01 0 .0.100.1.000 。
La2O5,Pr60. 、 、 Nd2O3,Sm2
O3およびv205粉末を使用し、主成分0.11 B
aO−o、+38 Tie2−0.21 Nd2O5に
対し、v20.を0,0.001゜0.005 .0.
01 0 .0.100.1.000 。
2.000.3.000wt%含有した仮焼粉砕粉を実
施例1と同様の方法で作製する。但し、v205含有量
0,0.○01,3.000wt%は、この発明の範囲
外であり、○、○06,0.010,0.1001.0
00,2.000wt%は、この発明の範囲内である。
施例1と同様の方法で作製する。但し、v205含有量
0,0.○01,3.000wt%は、この発明の範囲
外であり、○、○06,0.010,0.1001.0
00,2.000wt%は、この発明の範囲内である。
この仮焼粉砕粉末に、有機バインダー、可塑剤。
分散剤、有機溶剤を加え、アルミナボールを備えたポリ
エチレン製ポットで混合し、スラリーを作製した。混合
後、300メツシユのナイロン布を使用し、ろ過した。
エチレン製ポットで混合し、スラリーを作製した。混合
後、300メツシユのナイロン布を使用し、ろ過した。
ろ過後のスラリーは、ドクターブレードにより、焼結後
の誘電体厚みが12/1mとなるように、離型処理をし
たポリエステルフィルムにシーI−を成形した。次に、
ポリエステシフ1フヘ イルムから剥したシー1−10枚を支持台の上に積層し
た。この上に、昭栄化学(株)裏向部電極パラジウムベ
ースI−ML−3724i焼結後の内部電極厚みが2μ
mとなるようにスクリーン印刷し、乾燥した。この上に
ポリエステルフィルムかう剥したシー1−1枚を積層し
た。この上に、焼結後の内部電極型なり寸法が1.2
myn X 0.7rrmとなるように印刷位置をずら
して内部電極パラジウムペーストラ印刷し、乾燥後、ポ
リエステルフィルムから剥したシート1枚を積層した。
の誘電体厚みが12/1mとなるように、離型処理をし
たポリエステルフィルムにシーI−を成形した。次に、
ポリエステシフ1フヘ イルムから剥したシー1−10枚を支持台の上に積層し
た。この上に、昭栄化学(株)裏向部電極パラジウムベ
ースI−ML−3724i焼結後の内部電極厚みが2μ
mとなるようにスクリーン印刷し、乾燥した。この上に
ポリエステルフィルムかう剥したシー1−1枚を積層し
た。この上に、焼結後の内部電極型なり寸法が1.2
myn X 0.7rrmとなるように印刷位置をずら
して内部電極パラジウムペーストラ印刷し、乾燥後、ポ
リエステルフィルムから剥したシート1枚を積層した。
これらの操作を、誘電体層数が19となる才で繰り返し
た。この上に、ポリエステルフィルムから剥したシー)
10枚を積層した。この積層体全焼結後、内部電極型な
り寸法が1.2 mm X 0.7胴、誘電体厚みが1
2μm。
た。この上に、ポリエステルフィルムから剥したシー)
10枚を積層した。この積層体全焼結後、内部電極型な
り寸法が1.2 mm X 0.7胴、誘電体厚みが1
2μm。
誘電体層数が19の積層構造をもつ積層セラミックコン
デンサとなるように切断した。この切断した試料は、ジ
ルコニア粉末を敷いたアルミナ質のサヤに入れ、空気中
にて室温から360℃までを5℃/hrで昇温し、36
0℃より100℃/hrで昇温し、127o’cT2時
間焼成後、100 ℃/hr18 \−。
デンサとなるように切断した。この切断した試料は、ジ
ルコニア粉末を敷いたアルミナ質のサヤに入れ、空気中
にて室温から360℃までを5℃/hrで昇温し、36
0℃より100℃/hrで昇温し、127o’cT2時
間焼成後、100 ℃/hr18 \−。
で室温1で降温した。次いで、焼成後の試料は、耐水サ
ンドペーパーを内側に貼ったポリエチレンポットに純水
とともに入れ、ポリエチレンポソ1−を回転させ焼成後
の試料面を研磨し、外部電極と接合する内部電極部分を
充分露出させた。この試料はポリエチレンポットよシ取
り出し乾燥後、内部電極露出部分に銀の外部電極を焼き
付け、内部電極と導通させ、積層セラミックコンデンサ
を作製した。
ンドペーパーを内側に貼ったポリエチレンポットに純水
とともに入れ、ポリエチレンポソ1−を回転させ焼成後
の試料面を研磨し、外部電極と接合する内部電極部分を
充分露出させた。この試料はポリエチレンポットよシ取
り出し乾燥後、内部電極露出部分に銀の外部電極を焼き
付け、内部電極と導通させ、積層セラミックコンデンサ
を作製した。
これらの試料の静電容量、良好度Q、静電容量温度係数
、絶縁抵抗、絶縁破壊強度は、実施例1と同様の条件で
の測定により求めた。−また、積層構造の確認は、積層
セラミックコンデンサの長さ方向および幅方向の約1/
2の研磨断面を、内部電極型なり寸法は倍率100.誘
電体厚みと内部電極厚み(は倍率400での光学顕微鏡
観察より求めた。
、絶縁抵抗、絶縁破壊強度は、実施例1と同様の条件で
の測定により求めた。−また、積層構造の確認は、積層
セラミックコンデンサの長さ方向および幅方向の約1/
2の研磨断面を、内部電極型なり寸法は倍率100.誘
電体厚みと内部電極厚み(は倍率400での光学顕微鏡
観察より求めた。
この測定結果を第2図に示す。
なお、実施例における誘電体磁器の作製方法では、Ba
CO3,Tie、、 、 La2O3,Pr60. 、
、 Nd2O5゜19・\−5 5m203,72052MnO2,Zn0IFe203
および5102を使用したが、この方法に限定されるも
のではなく、所望の組成比になるように、B a T1
03々どの化合物、あるいは炭酸塩、水酸化物など空気
中での加熱により、BaO、Tie2. L2L206
. Pr60. 、 。
CO3,Tie、、 、 La2O3,Pr60. 、
、 Nd2O5゜19・\−5 5m203,72052MnO2,Zn0IFe203
および5102を使用したが、この方法に限定されるも
のではなく、所望の組成比になるように、B a T1
03々どの化合物、あるいは炭酸塩、水酸化物など空気
中での加熱により、BaO、Tie2. L2L206
. Pr60. 、 。
Nd2O3,Sm2O3,■2051Mn○、、 、
ZnO、Fe2O,および5102 となる化合物を使
用しても実施例と同程度の特性を得ることができる。
ZnO、Fe2O,および5102 となる化合物を使
用しても実施例と同程度の特性を得ることができる。
!、り、主成分をあらかじめ仮焼し、副成分を添加して
も実施例と同程度の特性を得ることができる。
も実施例と同程度の特性を得ることができる。
発明の効果
以上のように本発明によれば、誘電率、絶縁抵抗、絶縁
破壊電圧が高く、良好度Qにすぐれ、静電容量温度係数
が小さく、かつ積層セラミックコンデンサへの利用にお
いては、内部電極の厚みを薄くしたときの静電容量と良
好度Qの低下を防ぎ、静電容量と良好度Qのバラツキを
小さくできるため、内部電極の厚みを薄くして、積層セ
ラミックコンデンザのコストダウンが行えるとともに内
部構造欠陥であるデラミネーションの発生を防ぐことが
できる。また、絶縁破壊電圧が高いため、誘電体層の厚
みを薄くし、素体の小型化、大容量化が可能である。
破壊電圧が高く、良好度Qにすぐれ、静電容量温度係数
が小さく、かつ積層セラミックコンデンサへの利用にお
いては、内部電極の厚みを薄くしたときの静電容量と良
好度Qの低下を防ぎ、静電容量と良好度Qのバラツキを
小さくできるため、内部電極の厚みを薄くして、積層セ
ラミックコンデンザのコストダウンが行えるとともに内
部構造欠陥であるデラミネーションの発生を防ぐことが
できる。また、絶縁破壊電圧が高いため、誘電体層の厚
みを薄くし、素体の小型化、大容量化が可能である。
さらに、マンガン、亜鉛、鉄およびケイ素の酸化物の添
加により、焼成温度を低下させることができる。
加により、焼成温度を低下させることができる。
第1図は本発明にかかる組成物の主成分の組成範囲全説
明する三元図、第2図は本発明にかかる主成分0.11
BaO−0,68Tie、、 −0,21Nd2O5
に対する副成分v205の含有効果を、誘電体厚み:1
271m、内部電極重なジオ法: 1.2 m X O
,7B 。 誘電体層数:19の積層構造をもつ積層セラミックコン
デンサの電気特性で示すグラフである。
明する三元図、第2図は本発明にかかる主成分0.11
BaO−0,68Tie、、 −0,21Nd2O5
に対する副成分v205の含有効果を、誘電体厚み:1
271m、内部電極重なジオ法: 1.2 m X O
,7B 。 誘電体層数:19の積層構造をもつ積層セラミックコン
デンサの電気特性で示すグラフである。
Claims (2)
- (1)一般式 xBaO−yTiO_2−zRe_2O_3と表した時
(ただし、x+y+z=1.00Re_2O_3は、L
a_2O_3、Pr_2O_1_1_/_3、Nd_2
O_3、Sm_2O_3から選ばれる少なくとも一種以
上の希土類元素の酸化物。)、x,y,zが以下に表す
各点a,b,c,d,e,fで囲まれるモル比の範囲か
らなる主成分100重量部に対し、副成分としてバナジ
ウム酸化物をV_2O_5に換算して0.005〜2.
000重量部含有したことを特徴とする誘電体磁器組成
物。 ▲数式、化学式、表等があります▼ - (2)主成分と副成分を合わせた100重量部に対して
、マンガン,亜鉛,鉄およびケイ素の酸化物から選ばれ
る少なくとも一種以上を、それぞれMnO_2,ZnO
,Fe_2O_3およびSiO_2に換算して0.05
〜1.00重量部添加したことを特徴とする特許請求の
範囲第1項記載の誘電体磁器組成物。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1062408A JP2899303B2 (ja) | 1989-03-15 | 1989-03-15 | 積層セラミックコンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1062408A JP2899303B2 (ja) | 1989-03-15 | 1989-03-15 | 積層セラミックコンデンサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02242517A true JPH02242517A (ja) | 1990-09-26 |
JP2899303B2 JP2899303B2 (ja) | 1999-06-02 |
Family
ID=13199286
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1062408A Expired - Fee Related JP2899303B2 (ja) | 1989-03-15 | 1989-03-15 | 積層セラミックコンデンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2899303B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5650368A (en) * | 1993-12-02 | 1997-07-22 | Kyocera Corporation | Dielectric ceramic composition |
EP0986076A2 (en) * | 1998-09-11 | 2000-03-15 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Dielectric ceramic composition and laminated ceramic parts |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4959289A (ja) * | 1972-08-22 | 1974-06-08 | ||
JPS6217069A (ja) * | 1985-07-15 | 1987-01-26 | 三菱電機株式会社 | 誘電体磁器材料 |
JPS6256361A (ja) * | 1985-09-05 | 1987-03-12 | 富士チタン工業株式会社 | 誘電体磁器組成物 |
JPS6283364A (ja) * | 1985-10-08 | 1987-04-16 | 宇部興産株式会社 | 誘電体磁器組成物 |
-
1989
- 1989-03-15 JP JP1062408A patent/JP2899303B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4959289A (ja) * | 1972-08-22 | 1974-06-08 | ||
JPS6217069A (ja) * | 1985-07-15 | 1987-01-26 | 三菱電機株式会社 | 誘電体磁器材料 |
JPS6256361A (ja) * | 1985-09-05 | 1987-03-12 | 富士チタン工業株式会社 | 誘電体磁器組成物 |
JPS6283364A (ja) * | 1985-10-08 | 1987-04-16 | 宇部興産株式会社 | 誘電体磁器組成物 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5650368A (en) * | 1993-12-02 | 1997-07-22 | Kyocera Corporation | Dielectric ceramic composition |
EP0986076A2 (en) * | 1998-09-11 | 2000-03-15 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Dielectric ceramic composition and laminated ceramic parts |
EP0986076A3 (en) * | 1998-09-11 | 2006-05-10 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Dielectric ceramic composition and laminated ceramic parts |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2899303B2 (ja) | 1999-06-02 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |