JPH02228513A - ハニカム成形用口金の検査方法 - Google Patents
ハニカム成形用口金の検査方法Info
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- JPH02228513A JPH02228513A JP1049598A JP4959889A JPH02228513A JP H02228513 A JPH02228513 A JP H02228513A JP 1049598 A JP1049598 A JP 1049598A JP 4959889 A JP4959889 A JP 4959889A JP H02228513 A JPH02228513 A JP H02228513A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
- G01N21/95692—Patterns showing hole parts, e.g. honeycomb filtering structures
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- G—PHYSICS
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- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はハニカム成形用口金の検査方法に関するもので
あり、特に坏土供給用の多数の裏孔内表面の加工状態を
正確に検査することができるハニカム成形用口金の検査
方法に関するものである。
あり、特に坏土供給用の多数の裏孔内表面の加工状態を
正確に検査することができるハニカム成形用口金の検査
方法に関するものである。
(従来の技術)
自動車の排気ガス浄化用の触媒担体として広く使用され
ているセラミックス製のハニカム構造体は、幅が0.1
〜0.2 tm程度の細幅のスリットとこれに連通ずる
数千に及ぶ多数の坏土供給用の裏孔とを持つハニカム成
形用口金により押出成形されている。
ているセラミックス製のハニカム構造体は、幅が0.1
〜0.2 tm程度の細幅のスリットとこれに連通ずる
数千に及ぶ多数の坏土供給用の裏孔とを持つハニカム成
形用口金により押出成形されている。
このようなハニカム成形用口金のスリット部分の形状や
寸法精度が成形されたハニカム構造体の品質に直接影響
することはいうまでもないが、坏土供給用の裏孔の内表
面の粗さによってこの部分を通過する坏土の流動抵抗が
変化するため、ハニカム構造体の成形不良を防止するた
めには多数の裏孔の内表面粗さが均一となる様に加工す
ることが必要である。ところがこれらの裏孔は数が極め
て多いうえ、孔径に比べて深さが極めて深いために表面
粗さ計等を使用することもできず、従来は適当な検査方
法がないとされていた。従って、新しいハニカム成形用
口金を使用する際には、まずその口金を押出成形機にセ
ットし、成形されたハニカム構造体に現れた欠陥からそ
の良否を判断するより外に方法がなく、製造現場に多く
の手数と混乱を生じていた。
寸法精度が成形されたハニカム構造体の品質に直接影響
することはいうまでもないが、坏土供給用の裏孔の内表
面の粗さによってこの部分を通過する坏土の流動抵抗が
変化するため、ハニカム構造体の成形不良を防止するた
めには多数の裏孔の内表面粗さが均一となる様に加工す
ることが必要である。ところがこれらの裏孔は数が極め
て多いうえ、孔径に比べて深さが極めて深いために表面
粗さ計等を使用することもできず、従来は適当な検査方
法がないとされていた。従って、新しいハニカム成形用
口金を使用する際には、まずその口金を押出成形機にセ
ットし、成形されたハニカム構造体に現れた欠陥からそ
の良否を判断するより外に方法がなく、製造現場に多く
の手数と混乱を生じていた。
(発明が解決しようとする課題)
本発明は上記したような従来の問題点を解決して、ハニ
カム構造体の品質に大きく影響する坏土供給用の裏孔の
内表面粗さの分布を簡単かつ正確に検査することができ
るハニカム成形用口金の検査方法を提供するために完成
されたものである。
カム構造体の品質に大きく影響する坏土供給用の裏孔の
内表面粗さの分布を簡単かつ正確に検査することができ
るハニカム成形用口金の検査方法を提供するために完成
されたものである。
(課題を解決するための手段)
上記の課題を解決するための本発明は、細幅のスリット
とこれに連通ずる多数の裏孔とを持つノ\ニカム成形用
口金のスリット側端面から均一強度の拡散光線を入射し
、裏孔の内表面で乱反射しつつ裏孔側に達した光線の強
度をハニカム成形用口金の裏孔側の端面に設置した感光
手段により検出し、その明暗により裏孔の内表面の粗さ
を知ることを特徴とするものである。
とこれに連通ずる多数の裏孔とを持つノ\ニカム成形用
口金のスリット側端面から均一強度の拡散光線を入射し
、裏孔の内表面で乱反射しつつ裏孔側に達した光線の強
度をハニカム成形用口金の裏孔側の端面に設置した感光
手段により検出し、その明暗により裏孔の内表面の粗さ
を知ることを特徴とするものである。
(実施例)
以下に本発明のハニカム成形用口金の検査方法を図示の
実施例とともに詳細に説明する。
実施例とともに詳細に説明する。
第1図及び第2図において、(1)は検査対象であるハ
ニカム成形用口金であり、前述したように幅が極めて細
いスリット(2)とこれに連通ずる数千に及ぶ多数の坏
土供給用の裏孔(3)とを持つものである。このような
ハニカム成形用口金(1)は、内部に光源群(4)を備
えた検査台(5)の開放された上面に、支持ガラス板(
6)及びすりガラスのような光拡散機(7)を介して置
かれる。このとき、ハニカム成形用口金(1)のスリッ
ト(2)側の端面を光拡散板(7)に向けるものとし、
第2図に示すように光源群(4)からの光線が支持ガラ
ス板面で均一強度となる様に、光源群(4)及び支持ガ
ラス板(6)を配置することが好ましい、また、検査台
(5)には内部冷却用のファン(8)を設けておくこと
が好ましい、一方、ハニカム成形用口金(1)の裏孔(
3)側の端面には感光手段(9)が設置されている。感
光手段(9)は例えば感光紙であり、平板状のウェイト
0(Dによりハニカム成形用口金(1)の端面に密着さ
れている。この時、光源群(4)は感光紙が最も感光し
易い波長を輻射するものを用いるのが好ましい、このほ
か、感光手段(9)と゛してイメージリーグのような光
の強度を直接電気信号に変換することができる手段を用
い該電気信号を演算処理し、検査結果を例えばTVモニ
ター等に出力することも可能である。
ニカム成形用口金であり、前述したように幅が極めて細
いスリット(2)とこれに連通ずる数千に及ぶ多数の坏
土供給用の裏孔(3)とを持つものである。このような
ハニカム成形用口金(1)は、内部に光源群(4)を備
えた検査台(5)の開放された上面に、支持ガラス板(
6)及びすりガラスのような光拡散機(7)を介して置
かれる。このとき、ハニカム成形用口金(1)のスリッ
ト(2)側の端面を光拡散板(7)に向けるものとし、
第2図に示すように光源群(4)からの光線が支持ガラ
ス板面で均一強度となる様に、光源群(4)及び支持ガ
ラス板(6)を配置することが好ましい、また、検査台
(5)には内部冷却用のファン(8)を設けておくこと
が好ましい、一方、ハニカム成形用口金(1)の裏孔(
3)側の端面には感光手段(9)が設置されている。感
光手段(9)は例えば感光紙であり、平板状のウェイト
0(Dによりハニカム成形用口金(1)の端面に密着さ
れている。この時、光源群(4)は感光紙が最も感光し
易い波長を輻射するものを用いるのが好ましい、このほ
か、感光手段(9)と゛してイメージリーグのような光
の強度を直接電気信号に変換することができる手段を用
い該電気信号を演算処理し、検査結果を例えばTVモニ
ター等に出力することも可能である。
このようにしてハニカム成形用口金(1)のスリット(
2)側から光拡散板(7)によって拡散された均一強度
の拡散光線を入射すると、第2図に示すように拡散光線
は数千に及ぶ多数の裏孔(3)に均一に入射し、各裏孔
(3)の内表面で乱反射しつつ裏孔側の端面に達する。
2)側から光拡散板(7)によって拡散された均一強度
の拡散光線を入射すると、第2図に示すように拡散光線
は数千に及ぶ多数の裏孔(3)に均一に入射し、各裏孔
(3)の内表面で乱反射しつつ裏孔側の端面に達する。
このとき、裏孔(3)の内表面の粗さが大であると乱反
射の程度も大きくなり、逆に裏孔(3)の内表面の粗さ
が小さいと乱反射の程度も小となるので、裏孔側の端面
に達する拡散光線の強度は、裏孔内表面の粗さが小さい
部位より裏孔内表面の粗さが大きい部位の方が弱くなる
。そしてこのような拡散光線の強さは、裏孔(3)側の
端面に設置された感光手段(9)により光の明暗として
取り出されることとなる。なお、感光手段(9)はハニ
カム成形用口金(1)の裏孔側の端面に密着させること
が検査精度の向上のために必要で、この部分に間隙があ
ると鮮明な光の明暗の像を得ることができなくなる。
射の程度も大きくなり、逆に裏孔(3)の内表面の粗さ
が小さいと乱反射の程度も小となるので、裏孔側の端面
に達する拡散光線の強度は、裏孔内表面の粗さが小さい
部位より裏孔内表面の粗さが大きい部位の方が弱くなる
。そしてこのような拡散光線の強さは、裏孔(3)側の
端面に設置された感光手段(9)により光の明暗として
取り出されることとなる。なお、感光手段(9)はハニ
カム成形用口金(1)の裏孔側の端面に密着させること
が検査精度の向上のために必要で、この部分に間隙があ
ると鮮明な光の明暗の像を得ることができなくなる。
第3図は感光手段(9)によって取り出された像の一例
を示すもので、部分的な暗部(11)に対応するハニカ
ム成形用口金(1)の裏孔(3)の加工状態が悪く、そ
の内表面の粗さが大であることが分かる。また第3図の
像が得られたハニカム成形用口金(1)を押出成形機に
セットして実際にハニカム構造体を成形してみたところ
、暗部Ql)に対応する部分の坏土の流動抵抗が他の部
分よりも大となるため、この部位の坏土の押出が遅れ、
均一断面をもつ構造物(成形体)が押出成形し得ない事
が確認された。
を示すもので、部分的な暗部(11)に対応するハニカ
ム成形用口金(1)の裏孔(3)の加工状態が悪く、そ
の内表面の粗さが大であることが分かる。また第3図の
像が得られたハニカム成形用口金(1)を押出成形機に
セットして実際にハニカム構造体を成形してみたところ
、暗部Ql)に対応する部分の坏土の流動抵抗が他の部
分よりも大となるため、この部位の坏土の押出が遅れ、
均一断面をもつ構造物(成形体)が押出成形し得ない事
が確認された。
(発明の効果)
本発明は以上に説明したように、ハニカム成形用口金の
スリット側端面から均一強度の拡散光線を入射し、裏孔
側に達した光線の強さをその端面に設置した感光手段に
より検出するという簡単な方法によって、ハニカム成形
用口金の数千に及ぶ極めて多数の裏孔の内表面の粗さの
分布を一度に容易かつ正確に検査することができるもの
であるから、従来のように試験成形を行わなくても、ハ
ニカム成形用口金の良否を迅速に知ることができる。
スリット側端面から均一強度の拡散光線を入射し、裏孔
側に達した光線の強さをその端面に設置した感光手段に
より検出するという簡単な方法によって、ハニカム成形
用口金の数千に及ぶ極めて多数の裏孔の内表面の粗さの
分布を一度に容易かつ正確に検査することができるもの
であるから、従来のように試験成形を行わなくても、ハ
ニカム成形用口金の良否を迅速に知ることができる。
よって本発明は、従来の問題点を解決したハニカム成形
用口金の検査方法として、産業の発展に寄与するところ
は極めて大なものである。
用口金の検査方法として、産業の発展に寄与するところ
は極めて大なものである。
第1図は本発明の検査方法を説明する断面図、第2図は
要部の拡大断面図、第3図は感光手段に現れた像を示す
平面図である。 (1):ハニカム成形用口金、(2)ニスリット、(3
):裏孔、(9):感光手段。 1:J′:+′/7へべ?(川口る≧ 2
;スリット8:1犯 9:薦九Jf−友 第 図 平成2年3月29日
要部の拡大断面図、第3図は感光手段に現れた像を示す
平面図である。 (1):ハニカム成形用口金、(2)ニスリット、(3
):裏孔、(9):感光手段。 1:J′:+′/7へべ?(川口る≧ 2
;スリット8:1犯 9:薦九Jf−友 第 図 平成2年3月29日
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、細幅のスリットとこれに連通する多数の裏孔とを持
つハニカム成形用口金のスリット側端面から均一強度の
拡散光線を入射し、裏孔の内表面で乱反射しつつ裏孔側
に達した光線の強度をハニカム成形用口金の裏孔側端面
に設置した感光手段により検出し、その明暗により多数
の裏孔の内表面の粗さの分布を知ることを特徴とするハ
ニカム成形用口金の検査方法。 2、感光手段に感光紙を用いることを特徴とする請求項
1項記載のハニカム成形用口金の検査方法。 3、感光手段がイメージリーダーより成ることを特徴と
する請求項1記載のハニカム成形用口金の検査方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1049598A JPH0612253B2 (ja) | 1989-03-01 | 1989-03-01 | ハニカム成形用口金の検査方法 |
EP90302070A EP0400777B1 (en) | 1989-03-01 | 1990-02-27 | Method of inspecting die for forming honeycomb structure |
DE69010280T DE69010280T2 (de) | 1989-03-01 | 1990-02-27 | Verfahren zur Inspektion einer Düse zur Herstellung einer Wabenstruktur. |
US07/486,921 US4988887A (en) | 1989-03-01 | 1990-03-01 | Method of inspecting die for forming honeycomb structure |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1049598A JPH0612253B2 (ja) | 1989-03-01 | 1989-03-01 | ハニカム成形用口金の検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02228513A true JPH02228513A (ja) | 1990-09-11 |
JPH0612253B2 JPH0612253B2 (ja) | 1994-02-16 |
Family
ID=12835667
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1049598A Expired - Fee Related JPH0612253B2 (ja) | 1989-03-01 | 1989-03-01 | ハニカム成形用口金の検査方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4988887A (ja) |
EP (1) | EP0400777B1 (ja) |
JP (1) | JPH0612253B2 (ja) |
DE (1) | DE69010280T2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113466128A (zh) * | 2020-03-30 | 2021-10-01 | 日本碍子株式会社 | 陶瓷制的圆柱状蜂窝结构体的检查方法及检查装置 |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07113523B2 (ja) * | 1990-06-19 | 1995-12-06 | 日本碍子株式会社 | ハニカムの表面粗度測定法及びそれに用いる表面粗度測定用測定子 |
EP0624788B1 (en) * | 1993-03-31 | 1998-11-04 | Ngk Insulators, Ltd. | Method of and apparatus for inspecting honeycomb-shaped object having plural through holes |
DE19648272A1 (de) * | 1996-11-21 | 1998-05-28 | Emitec Emissionstechnologie | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung einer Zelldichte eines Wabenkörpers, insbesondere für einen Abgaskatalysator |
US7701570B2 (en) * | 2005-12-12 | 2010-04-20 | Corning Incorporated | Collimated light method and system for detecting defects in honeycombs |
JP2008139184A (ja) * | 2006-12-04 | 2008-06-19 | Denso Corp | 微小間隙溝保有物体の検査方法及びその物体の修正方法 |
CN116642829A (zh) * | 2023-07-26 | 2023-08-25 | 合肥金星智控科技股份有限公司 | 一种钢管端面检测装置及方法 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3264481A (en) * | 1963-07-12 | 1966-08-02 | Fmc Corp | Method and apparatus for inspecting spinnerets |
JPS52114717A (en) * | 1976-03-19 | 1977-09-26 | Asahi Chem Ind Co Ltd | Spinneret holders equipped with spinneret inspection device |
US4145714A (en) * | 1978-02-27 | 1979-03-20 | Robert W. MacDonald | Television flaw detector for inspecting the wall surface of a hole through a circuit board |
JPS58117440A (ja) * | 1982-01-05 | 1983-07-13 | Nec Corp | プリント回路板のスル−ホ−ル自動検査装置 |
US4560273A (en) * | 1982-11-30 | 1985-12-24 | Fujitsu Limited | Method and apparatus for inspecting plated through holes in printed circuit boards |
US4707132A (en) * | 1985-08-05 | 1987-11-17 | Dutton G Wayne | Process for sensing defects on a smooth cylindrical interior surface in tubing |
JP2522666B2 (ja) * | 1987-03-10 | 1996-08-07 | 日本セメント株式会社 | アルミナ・シリカ系焼結体の製造方法 |
US4806774A (en) * | 1987-06-08 | 1989-02-21 | Insystems, Inc. | Inspection system for array of microcircuit dies having redundant circuit patterns |
-
1989
- 1989-03-01 JP JP1049598A patent/JPH0612253B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1990
- 1990-02-27 EP EP90302070A patent/EP0400777B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-02-27 DE DE69010280T patent/DE69010280T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1990-03-01 US US07/486,921 patent/US4988887A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113466128A (zh) * | 2020-03-30 | 2021-10-01 | 日本碍子株式会社 | 陶瓷制的圆柱状蜂窝结构体的检查方法及检查装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0400777A3 (en) | 1991-09-25 |
EP0400777B1 (en) | 1994-06-29 |
US4988887A (en) | 1991-01-29 |
DE69010280D1 (de) | 1994-08-04 |
JPH0612253B2 (ja) | 1994-02-16 |
DE69010280T2 (de) | 1995-01-19 |
EP0400777A2 (en) | 1990-12-05 |
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