JPH02221904A - 3次元光導波路クラッド膜の形成方法 - Google Patents
3次元光導波路クラッド膜の形成方法Info
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- JPH02221904A JPH02221904A JP4378189A JP4378189A JPH02221904A JP H02221904 A JPH02221904 A JP H02221904A JP 4378189 A JP4378189 A JP 4378189A JP 4378189 A JP4378189 A JP 4378189A JP H02221904 A JPH02221904 A JP H02221904A
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Landscapes
- Optical Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
本発明は、集積化光機能回路の要素機能の1つである3
次元光導波路のクラッド膜を形成する方法に関する。
次元光導波路のクラッド膜を形成する方法に関する。
「従来技術とその課題」
近年、光源および光検出回路と先導波路等の光機能回路
とを1つの基板上に構成してなる集積化光機能回路が知
られている。このような集積化光機能回路を作製するに
あたっては、半導体材料からなる光源等を作製する工程
、3次元光導波路を形成する工程、および3次元光導波
路を覆って酸化物材料からなるクラッド膜を層状に形成
する工程が必須となっている。
とを1つの基板上に構成してなる集積化光機能回路が知
られている。このような集積化光機能回路を作製するに
あたっては、半導体材料からなる光源等を作製する工程
、3次元光導波路を形成する工程、および3次元光導波
路を覆って酸化物材料からなるクラッド膜を層状に形成
する工程が必須となっている。
これらの工程のうちクラッド膜を形成する工程において
は、形成したクラッド膜上にさらに他の機能を有する素
子を形成することから、その外表面が平坦となるよう形
成する必要があるとされている。またこのクラッド膜の
形成においては、3次元光導波路をクラッド膜により被
覆した際、導波路に損傷を与えて光の導波損失を増加さ
せてはならず、さらに導波路が長波長帯のシングルモー
ド用で1〜2μ自の厚さとなり、よってこれを平坦に被
覆するには4μm程度のクラッド膜が必要となることか
ら、製造の効率化を図るうえで十分高速な成膜速度で行
うことが要求されている。
は、形成したクラッド膜上にさらに他の機能を有する素
子を形成することから、その外表面が平坦となるよう形
成する必要があるとされている。またこのクラッド膜の
形成においては、3次元光導波路をクラッド膜により被
覆した際、導波路に損傷を与えて光の導波損失を増加さ
せてはならず、さらに導波路が長波長帯のシングルモー
ド用で1〜2μ自の厚さとなり、よってこれを平坦に被
覆するには4μm程度のクラッド膜が必要となることか
ら、製造の効率化を図るうえで十分高速な成膜速度で行
うことが要求されている。
ところで、従来酸化物材料からなる3次元光導波路にク
ラッド膜を形成する技術の1つとして、SiH+と0.
との混合ガスを熱反応させSiO4膜を形成する熱−C
V[)(化学気相蒸着)法が知られている。しかしなが
らこの方法では、高速紙損傷でクラッド膜を形成できる
特徴を有しているものの、基板温度を600℃以上の高
温に保つ必要があるため、レーザダイオード等を作製し
た半導体基板上に3次元光導波路を形成してなるものに
適用した場合、レーザダイオードの破壊を招くといった
問題があり、集積化光機能回路の作製に適用することが
できなかった。またこの方法にあっては、3次元光導波
路を被覆したクラッド膜を、その外表面が平坦となるよ
う調整することができないといった欠点をも有していた
。
ラッド膜を形成する技術の1つとして、SiH+と0.
との混合ガスを熱反応させSiO4膜を形成する熱−C
V[)(化学気相蒸着)法が知られている。しかしなが
らこの方法では、高速紙損傷でクラッド膜を形成できる
特徴を有しているものの、基板温度を600℃以上の高
温に保つ必要があるため、レーザダイオード等を作製し
た半導体基板上に3次元光導波路を形成してなるものに
適用した場合、レーザダイオードの破壊を招くといった
問題があり、集積化光機能回路の作製に適用することが
できなかった。またこの方法にあっては、3次元光導波
路を被覆したクラッド膜を、その外表面が平坦となるよ
う調整することができないといった欠点をも有していた
。
また、従来の他の技術として、2ガンスパツタ法が知ら
れている。この方法は、一方のガンによりSiOxター
ゲットをスパッタして基板にS+Otを堆積させ、これ
と同時に他方、のガンで基板上に堆積した5iOzをタ
ーゲットにしてスパッタを行い、5iOzからなるクラ
ッド膜の平坦化を図る方法である。しかしながらこの方
法にあっては、低温で成膜できる特徴を有しているもの
の、スパッタのエネルギー分布を制御するのが困難であ
るため、3次元光導波路に損傷を与える恐れがあり、一
方3次元導波路の損傷を防止するため低エネルギーでス
パッタを行うと、成膜速度が極端に低下して数μmの膜
厚を得るのに何時間もかかり、生産効率が低下するとい
う欠点がある。
れている。この方法は、一方のガンによりSiOxター
ゲットをスパッタして基板にS+Otを堆積させ、これ
と同時に他方、のガンで基板上に堆積した5iOzをタ
ーゲットにしてスパッタを行い、5iOzからなるクラ
ッド膜の平坦化を図る方法である。しかしながらこの方
法にあっては、低温で成膜できる特徴を有しているもの
の、スパッタのエネルギー分布を制御するのが困難であ
るため、3次元光導波路に損傷を与える恐れがあり、一
方3次元導波路の損傷を防止するため低エネルギーでス
パッタを行うと、成膜速度が極端に低下して数μmの膜
厚を得るのに何時間もかかり、生産効率が低下するとい
う欠点がある。
本発明は前記課題を解決するためになされたもので、′
その目的とするところは、3次元導波路等に損傷を与え
ることなく、低温、高速でかつ平坦に3次元光導波路を
被覆するクラッド膜を形成し得る方法を提供することで
ある。
その目的とするところは、3次元導波路等に損傷を与え
ることなく、低温、高速でかつ平坦に3次元光導波路を
被覆するクラッド膜を形成し得る方法を提供することで
ある。
「課題を解決するための手段J
本発明における請求項1記載の発明の方法では、電子サ
イクロトロン共鳴によりプラズマを生成し、このプラズ
マ中に第1の原料ガスを導入しこれをイオン化してプラ
ズマ流とし、このプラズマ流を3次元光導波路を形成し
た基板上に導入し、次いで第2の原料ガスを基板上に供
給して前記プラズマ流中で反応せしめ、反応生成物を基
板上に堆積させて3次元先導波路を覆ってクラッド膜を
形成し、その後前記3次元光導波路上のクラッド膜をタ
ーゲットとして高周波スパッタを行って該クラッド膜を
削りつつ、前記第2の原料ガスをプラズマ流中で反応さ
せて反応生成物を堆積させ、平坦なクラッド膜を得るこ
と前記課題の解決手段とした。
イクロトロン共鳴によりプラズマを生成し、このプラズ
マ中に第1の原料ガスを導入しこれをイオン化してプラ
ズマ流とし、このプラズマ流を3次元光導波路を形成し
た基板上に導入し、次いで第2の原料ガスを基板上に供
給して前記プラズマ流中で反応せしめ、反応生成物を基
板上に堆積させて3次元先導波路を覆ってクラッド膜を
形成し、その後前記3次元光導波路上のクラッド膜をタ
ーゲットとして高周波スパッタを行って該クラッド膜を
削りつつ、前記第2の原料ガスをプラズマ流中で反応さ
せて反応生成物を堆積させ、平坦なクラッド膜を得るこ
と前記課題の解決手段とした。
また請求項2記載の発明の方法では、電子サイクロトロ
ン共鳴によりプラズマを生成し、このプラズマ中に第1
の原料ガスを導入しこれをイオン化してプラズマ流とし
、このプラズマ流を3次元光導波路を形成した基板上に
導入し、次に第2の原料ガスを基板上に供給して前記プ
ラズマ流中で反応せしめ、反応生成物を基板上に堆積さ
せてクラッド膜を形成し、次いで前記基板に、その3次
元光導波路に損傷を与えない高周波スパッタ電力を加え
、クラッド膜をターゲットとして高周波スパッタを行っ
て該クラッド膜を削りつつ、前記第2の原料ガスをプラ
ズマ流中で反応させて反応生成物を堆積させ、これによ
り3次元光導波路を覆ってクラッド膜を形成し、その後
前記基板に、先に加えた高周波スパッタ電力より高い値
の高周波スパッタ電力を加え、前記3次元光導波路上の
クラッド膜をターゲットとして高周波スパッタを行って
該クラッド膜を削りつつ、前記第2の原料ガスをプラズ
マ流中で反応させて反応生成物を堆積させ、平坦なクラ
ッド膜を得ることを前記課題の解決手段とした 請求項3記載の発明の方法では、電子サイクロトロン共
鳴によりプラズマを生成し、このプラズマ中に第1の原
料ガスを導入しこれをイオン化してプラズマ流とし、こ
のプラズマ流を3次元光導波路を形成した基板上に導入
し、第2の原料ガスを基板上に供給して前記プラズマ流
中で反応せしめ、反応生成物を基板上に堆積さ仕てクラ
ッド膜を形成しつつ、前記基板に、その3次元光導波路
に損傷を与えない高周波スパッタ電力を加え、′前記ク
ラッド膜をターゲットとして高周波スパッタを行って該
クラッド膜を削ることにより3次元光導波路を覆ってク
ラッド膜を形成し、その後前記基板に、先に加えた高周
波スパッタ電力より高い値の高周波スパッタ電力を加え
、前記3次元光導波路上のクラッド膜をターゲットとし
て高周波スパッタを行って該クラッド膜を削りつつ、前
記第2の原料ガスをプラズマ流中で反応させて反応生成
物を堆積させ、平坦なクラッド膜を得ることを前記課題
の解決手段とした。
ン共鳴によりプラズマを生成し、このプラズマ中に第1
の原料ガスを導入しこれをイオン化してプラズマ流とし
、このプラズマ流を3次元光導波路を形成した基板上に
導入し、次に第2の原料ガスを基板上に供給して前記プ
ラズマ流中で反応せしめ、反応生成物を基板上に堆積さ
せてクラッド膜を形成し、次いで前記基板に、その3次
元光導波路に損傷を与えない高周波スパッタ電力を加え
、クラッド膜をターゲットとして高周波スパッタを行っ
て該クラッド膜を削りつつ、前記第2の原料ガスをプラ
ズマ流中で反応させて反応生成物を堆積させ、これによ
り3次元光導波路を覆ってクラッド膜を形成し、その後
前記基板に、先に加えた高周波スパッタ電力より高い値
の高周波スパッタ電力を加え、前記3次元光導波路上の
クラッド膜をターゲットとして高周波スパッタを行って
該クラッド膜を削りつつ、前記第2の原料ガスをプラズ
マ流中で反応させて反応生成物を堆積させ、平坦なクラ
ッド膜を得ることを前記課題の解決手段とした 請求項3記載の発明の方法では、電子サイクロトロン共
鳴によりプラズマを生成し、このプラズマ中に第1の原
料ガスを導入しこれをイオン化してプラズマ流とし、こ
のプラズマ流を3次元光導波路を形成した基板上に導入
し、第2の原料ガスを基板上に供給して前記プラズマ流
中で反応せしめ、反応生成物を基板上に堆積さ仕てクラ
ッド膜を形成しつつ、前記基板に、その3次元光導波路
に損傷を与えない高周波スパッタ電力を加え、′前記ク
ラッド膜をターゲットとして高周波スパッタを行って該
クラッド膜を削ることにより3次元光導波路を覆ってク
ラッド膜を形成し、その後前記基板に、先に加えた高周
波スパッタ電力より高い値の高周波スパッタ電力を加え
、前記3次元光導波路上のクラッド膜をターゲットとし
て高周波スパッタを行って該クラッド膜を削りつつ、前
記第2の原料ガスをプラズマ流中で反応させて反応生成
物を堆積させ、平坦なクラッド膜を得ることを前記課題
の解決手段とした。
以下、本発明の詳細な説明する。
本発明が先に述べた従来の技術と異なるところは、3次
元光導波路に損傷を与えないように一旦3次元光導波路
をクラッド膜で被覆し、その後クラッド膜の平坦化を図
る点である。
元光導波路に損傷を与えないように一旦3次元光導波路
をクラッド膜で被覆し、その後クラッド膜の平坦化を図
る点である。
電子サイクロトロン共鳴(以下、ECRと呼称する。)
を利用して生成されるマイクロ波プラズマは、低ガス圧
(I O−’〜I O−’Pa) 領域での放電、低エ
ネルギー(数eV〜数十eV)領域でのイオンエネルギ
ー制御、高イオン化率などの優れた特徴を有している。
を利用して生成されるマイクロ波プラズマは、低ガス圧
(I O−’〜I O−’Pa) 領域での放電、低エ
ネルギー(数eV〜数十eV)領域でのイオンエネルギ
ー制御、高イオン化率などの優れた特徴を有している。
したがって、EORにより生成した高イオン化率で多量
に発生したイオンを、数十eV以下の低エネルギーに制
御して利用し、CVD法によってクラッド膜を形成する
ことにより、高速で損傷を与えることなく3次元光導波
路を被覆することができる。
に発生したイオンを、数十eV以下の低エネルギーに制
御して利用し、CVD法によってクラッド膜を形成する
ことにより、高速で損傷を与えることなく3次元光導波
路を被覆することができる。
そして、ECR−CVDによりクラッド膜を形成して3
次元光導波路を被覆した後、3次元光導波路上のクラッ
ド膜に形成された表面の凹凸を、ECR−CVDにより
連続し、てクラッド膜を堆積しつつ、前記凸状部のクラ
ッド膜部分をターゲットとして基板に高周波スパッタを
行うことにより、得られるクラッド膜を平坦化すること
ができる。
次元光導波路を被覆した後、3次元光導波路上のクラッ
ド膜に形成された表面の凹凸を、ECR−CVDにより
連続し、てクラッド膜を堆積しつつ、前記凸状部のクラ
ッド膜部分をターゲットとして基板に高周波スパッタを
行うことにより、得られるクラッド膜を平坦化すること
ができる。
(C,Y 、T ing etal、“S tudy
of planavizeduutter−depos
ited S io t 、J 、V ac、
S ciTechnol、、 15(3)、 Ma
y/ J une 1978゜P 、P 、 11
05−1112参照)なお、基板を水冷等の冷却手段に
より100℃前後に保つことにより、クラッド膜の形成
が可能となり、かっレーザダイオード等の半導体素子に
損傷を与えることが防止される。
of planavizeduutter−depos
ited S io t 、J 、V ac、
S ciTechnol、、 15(3)、 Ma
y/ J une 1978゜P 、P 、 11
05−1112参照)なお、基板を水冷等の冷却手段に
より100℃前後に保つことにより、クラッド膜の形成
が可能となり、かっレーザダイオード等の半導体素子に
損傷を与えることが防止される。
「実施例」
以下、本発明を実施例によりさらに具体的に説明する。
まず、本発明を実施するのに用いられる装置の一例につ
いて説明する。第5図はECR−CVD処理および高周
波スパッタ(以下RFスパッタと略称する)処理が同時
に行える装置を示す図である。
いて説明する。第5図はECR−CVD処理および高周
波スパッタ(以下RFスパッタと略称する)処理が同時
に行える装置を示す図である。
この装置は、ECR−CVD処理系としてプラズマ生成
室lと、これに第1の原料ガスを導入する第1ガス導入
系2と、マイクロ波を導入するマイクロ波導波管3およ
びマイクロ導入窓4と、プラズマ生成室l内に磁場を形
成する電磁石5と、試料を入れる試料室6と、試料室6
に第2の原料ガスを導入する第2ガス導入系7とを具備
し、またRFスパッタ処理系として試料(基板)および
これを載置する試料台8にRFスパッタ電力を加えるた
めのr(P電源9および整合器(図示路)を具備したも
のである。
室lと、これに第1の原料ガスを導入する第1ガス導入
系2と、マイクロ波を導入するマイクロ波導波管3およ
びマイクロ導入窓4と、プラズマ生成室l内に磁場を形
成する電磁石5と、試料を入れる試料室6と、試料室6
に第2の原料ガスを導入する第2ガス導入系7とを具備
し、またRFスパッタ処理系として試料(基板)および
これを載置する試料台8にRFスパッタ電力を加えるた
めのr(P電源9および整合器(図示路)を具備したも
のである。
この装置を用いて3次元光導波路を形成した基板10に
5ins製クラッド膜を形成するには、例えば第1ガス
導入系2から0.ガスを40 secmでプラズマ生成
室lに導入し、かつマイクロ波電力400Wのマイクロ
波を図示しないマイクロ波源からマイクロ波導波管3お
よびマイクロ波導入窓4を介してプラズマ生成室lに導
き、電磁石5により870ガウスの磁場をプラズマ生成
室l内に形成して電子サイクロトロン共鳴を起こし、プ
ラズマを生成する。さらに、生成された高密度プラズマ
を電磁石5により形成された発散磁界に沿ってプラズマ
引出し窓11よりプラズマ流として基板10上に輸送す
るとともに、第2ガス導入系7からSiH*を20 s
ccmで前記プラズマ中に導入し、プラズマ中の酸素イ
オンと反応せしめてSiO2を生成し、これを基板IO
上?二体積せしめてクラブト膜を形成する。
5ins製クラッド膜を形成するには、例えば第1ガス
導入系2から0.ガスを40 secmでプラズマ生成
室lに導入し、かつマイクロ波電力400Wのマイクロ
波を図示しないマイクロ波源からマイクロ波導波管3お
よびマイクロ波導入窓4を介してプラズマ生成室lに導
き、電磁石5により870ガウスの磁場をプラズマ生成
室l内に形成して電子サイクロトロン共鳴を起こし、プ
ラズマを生成する。さらに、生成された高密度プラズマ
を電磁石5により形成された発散磁界に沿ってプラズマ
引出し窓11よりプラズマ流として基板10上に輸送す
るとともに、第2ガス導入系7からSiH*を20 s
ccmで前記プラズマ中に導入し、プラズマ中の酸素イ
オンと反応せしめてSiO2を生成し、これを基板IO
上?二体積せしめてクラブト膜を形成する。
一方、RFスパッタ処理を行ってクラッド膜の凹凸部を
平坦にするには、RF電源9より基板lOに適宜にRF
スパッタ電力を加え、クラッド膜をターゲットとするこ
とによりクラッド膜の凸部を削るようにする。
平坦にするには、RF電源9より基板lOに適宜にRF
スパッタ電力を加え、クラッド膜をターゲットとするこ
とによりクラッド膜の凸部を削るようにする。
次に、請求項1に記載した発明の方法に基づく第1の実
施例について説明する。
施例について説明する。
まず、第1図に示すように3次元光導波路20を形成し
た基板21を用意する。ここで基板21には、3次元光
導波路20の下側を覆って図示路のクラッド膜が形成さ
れている。
た基板21を用意する。ここで基板21には、3次元光
導波路20の下側を覆って図示路のクラッド膜が形成さ
れている。
次に、基板21を第5図に示した装置の試料室6に入れ
て試料台8上にセットし、試料室6内を図示路の負圧源
により10−’Pa以下の低圧にする。
て試料台8上にセットし、試料室6内を図示路の負圧源
により10−’Pa以下の低圧にする。
次いで、第5図に示した装置によるクラッド膜の形成方
法で説明したように、電子゛サイクロトロン共鳴により
プラズマ生成室lでプラズマを生成し、このプラズマ中
に第1の原料ガスとして酸素を導入して酸素をイオン化
する。すると、このようにしてイオン化された酸素は、
数十eV以下の酸素イオンビームとなって試料室6内に
誘導される。また、試料室6内のプラズマ中に第2の原
料ガスとしてSiH4を導入し、前記酸素イオンビーム
の照射によりこれと反応せしめろ。すると、反応生成物
として5iOzが得られ、これが基板21上に堆積する
。この場合、10−”Paと低圧下であることから、反
応生成物である粒子の平均自由行程は高圧下のときに比
べて長くなり、よって堆積する粒子の方向性が基板21
の方向に揃ってくる。
法で説明したように、電子゛サイクロトロン共鳴により
プラズマ生成室lでプラズマを生成し、このプラズマ中
に第1の原料ガスとして酸素を導入して酸素をイオン化
する。すると、このようにしてイオン化された酸素は、
数十eV以下の酸素イオンビームとなって試料室6内に
誘導される。また、試料室6内のプラズマ中に第2の原
料ガスとしてSiH4を導入し、前記酸素イオンビーム
の照射によりこれと反応せしめろ。すると、反応生成物
として5iOzが得られ、これが基板21上に堆積する
。この場合、10−”Paと低圧下であることから、反
応生成物である粒子の平均自由行程は高圧下のときに比
べて長くなり、よって堆積する粒子の方向性が基板21
の方向に揃ってくる。
したがって、粒子が堆積して得られるクラッド膜22a
は第1図に示すように形成される。このようにしてクラ
ッド膜22aが3次元光導波路20を完全に覆った時点
では、第1図に示すように3次元光導波路20を覆う部
分のクラッド膜22aが凸状となる。
は第1図に示すように形成される。このようにしてクラ
ッド膜22aが3次元光導波路20を完全に覆った時点
では、第1図に示すように3次元光導波路20を覆う部
分のクラッド膜22aが凸状となる。
その後、上述したECR−CVDによるクラッド膜の形
成を継続しつつ、RF電源9より基板21にRFスパッ
タ電力、例えば100W以下の電力を加え、3次元光導
波路20を覆う凸状のクラッド膜22a部分およびこれ
に堆積されるクラッド膜部分をターゲットとしてRFス
パッタを行って前記凸状部分を削ることにより、第2図
に示すように平坦なクラッド膜22bを形成する。この
場合、クラッド膜22aにより3次元光導波路20を覆
っているので、RFスパッタにより3次元光導波路20
を損傷することがなく、したがって良好な3次元光導波
路20とこれを覆うクラッド膜を得ることができる。
成を継続しつつ、RF電源9より基板21にRFスパッ
タ電力、例えば100W以下の電力を加え、3次元光導
波路20を覆う凸状のクラッド膜22a部分およびこれ
に堆積されるクラッド膜部分をターゲットとしてRFス
パッタを行って前記凸状部分を削ることにより、第2図
に示すように平坦なクラッド膜22bを形成する。この
場合、クラッド膜22aにより3次元光導波路20を覆
っているので、RFスパッタにより3次元光導波路20
を損傷することがなく、したがって良好な3次元光導波
路20とこれを覆うクラッド膜を得ることができる。
次に、請求項2に記載した発明の方法に基づく第2の実
施例について説明する。
施例について説明する。
第2の実施例が第1の実施例と異なるところは、クラッ
ド膜22aの形成を2段階で行う点である。
ド膜22aの形成を2段階で行う点である。
またこの方法は、第1の実施例の方法で述べた試料室6
内の圧力、すなわちECR−CVDの圧力を10−’P
a以上の高圧領域で行う場合に好適に採用されるもので
ある。
内の圧力、すなわちECR−CVDの圧力を10−’P
a以上の高圧領域で行う場合に好適に採用されるもので
ある。
この方法では、試料室6内の圧力を10−’Pa以上と
して実施例1と同様にECR−CVDを行い、クラブト
$ 22aを形成する。するとこの場合、圧力が高いこ
とから粒子(反応生成物)の平均自由行程が短くなり、
堆積する粒子の方向性が乱れることから、クラッド膜2
2aは第3図に示すように等方性をもって堆積される。
して実施例1と同様にECR−CVDを行い、クラブト
$ 22aを形成する。するとこの場合、圧力が高いこ
とから粒子(反応生成物)の平均自由行程が短くなり、
堆積する粒子の方向性が乱れることから、クラッド膜2
2aは第3図に示すように等方性をもって堆積される。
この状態でさらに継続してECR−CVDによる堆積を
行うと、3次元光導波路20の側面にクラッド膜が堆積
されなくなり、通常ラブドホールと呼ばれる“す”(壓
)が生じる。
行うと、3次元光導波路20の側面にクラッド膜が堆積
されなくなり、通常ラブドホールと呼ばれる“す”(壓
)が生じる。
このため、ラブドホールが形成される前に、基板21に
第1のRFスパッタ電力W1を加えてRF’スパッタを
行いつつECR−CVDを行い、ラットホールの形成を
阻止しながら第1図に示したクラッド膜22aと同程度
に十分完全に3次元光導波路20を覆うクラッド膜22
aを形成する。ここで、第1のRFスパプタ電力W、と
しては、3次元光導波路20に損傷を与えない程度、す
なわち100W以下程度とされる。
第1のRFスパッタ電力W1を加えてRF’スパッタを
行いつつECR−CVDを行い、ラットホールの形成を
阻止しながら第1図に示したクラッド膜22aと同程度
に十分完全に3次元光導波路20を覆うクラッド膜22
aを形成する。ここで、第1のRFスパプタ電力W、と
しては、3次元光導波路20に損傷を与えない程度、す
なわち100W以下程度とされる。
その後、基板21に第2のRFスパッタ電力W2を加え
、3次元光導波路20上のクラッド膜22a部分および
これに堆積されるクラッド膜部分をターゲットとしてR
Fスパッタしつつ、第1の実施例における第2図中クラ
ッド膜22bの形成と同様にしてECR−CVDを継続
して行い、第4図に示すように平坦なクラッド膜22b
を得る。ここで第2のRFスパッタ電力W、としては、
゛クラッド膜を高速で平坦化するため第1のRFスパッ
タ電力W+より高い値とされ、具体的には100〜30
0W程度とされる。なお、300Wを越えるのは、基板
21に発熱が起こり、3次元光導波路が損傷する恐れが
あって好ましくない。
、3次元光導波路20上のクラッド膜22a部分および
これに堆積されるクラッド膜部分をターゲットとしてR
Fスパッタしつつ、第1の実施例における第2図中クラ
ッド膜22bの形成と同様にしてECR−CVDを継続
して行い、第4図に示すように平坦なクラッド膜22b
を得る。ここで第2のRFスパッタ電力W、としては、
゛クラッド膜を高速で平坦化するため第1のRFスパッ
タ電力W+より高い値とされ、具体的には100〜30
0W程度とされる。なお、300Wを越えるのは、基板
21に発熱が起こり、3次元光導波路が損傷する恐れが
あって好ましくない。
この方法にあっても、第1の実施例と同様にクラッド膜
22aにより3次元光導波路20を覆っているので、第
2のRPスパッタ電力W、を加えてスパッタを行っても
3次元光導波路20を損傷することがなく、したがって
良好な3次元光導波路20とこれを覆うクラッド膜を得
ることができる。
22aにより3次元光導波路20を覆っているので、第
2のRPスパッタ電力W、を加えてスパッタを行っても
3次元光導波路20を損傷することがなく、したがって
良好な3次元光導波路20とこれを覆うクラッド膜を得
ることができる。
次に、請求項3に記載した発明の方法に基づく第3の実
施例について説明する。
施例について説明する。
第3の実施例が第2の実施例と異なるところは、クラッ
ド膜22aの形成に際し、ECR−CVD単独で処理す
ることなく、当初からRFスパッタを併用してクラッド
膜を形成する点である。またこの方法は、第1の実施例
の方法で得られるクラッド膜22aに比べてバッフアー
ト液等によるケミカルエッチのエッチレートか小さいク
ラッド膜を形成することを目゛的とするものである。
ド膜22aの形成に際し、ECR−CVD単独で処理す
ることなく、当初からRFスパッタを併用してクラッド
膜を形成する点である。またこの方法は、第1の実施例
の方法で得られるクラッド膜22aに比べてバッフアー
ト液等によるケミカルエッチのエッチレートか小さいク
ラッド膜を形成することを目゛的とするものである。
この方法では、まず第1、第2の実施例と同様のECR
−CVD処理によりクラッド膜を形成するとともに、基
板21に第1のRFスパッタ電力W1を加えてRFスパ
ッタを同時に行い、第4図に示したように3次元光導波
路20を十分完全に覆うクラッド膜22aを形成する。
−CVD処理によりクラッド膜を形成するとともに、基
板21に第1のRFスパッタ電力W1を加えてRFスパ
ッタを同時に行い、第4図に示したように3次元光導波
路20を十分完全に覆うクラッド膜22aを形成する。
次いで、第2の実施例と同様に基板21に第2のRFス
パッタ電力W、を加え、3次元光導波路20上のクラブ
ト膜22a部分およびこれに堆積するクラッド膜部分を
ターゲットとしてスパッタしつつ、ECR−CVDを継
続して行い、第4図に示すように平坦なクラッド膜22
bを得る。ここで、第1のRFスパッタ電力W1および
第2のRFスパッタ電力W、はともに第2の実施例と同
様であり、W、は3次元光導波路20に損傷を与えない
程度とされ、またW、はWlより高い値とされる。
パッタ電力W、を加え、3次元光導波路20上のクラブ
ト膜22a部分およびこれに堆積するクラッド膜部分を
ターゲットとしてスパッタしつつ、ECR−CVDを継
続して行い、第4図に示すように平坦なクラッド膜22
bを得る。ここで、第1のRFスパッタ電力W1および
第2のRFスパッタ電力W、はともに第2の実施例と同
様であり、W、は3次元光導波路20に損傷を与えない
程度とされ、またW、はWlより高い値とされる。
この方法にあっては、当初からRFスパッタを併用する
ことによりクラッド膜形成に費やす総時間は長くなるも
のの、バッフアート液等によるケミカルエッチのエッチ
レートが小さいクラッド膜を得ることができる。
ことによりクラッド膜形成に費やす総時間は長くなるも
のの、バッフアート液等によるケミカルエッチのエッチ
レートが小さいクラッド膜を得ることができる。
なお、本発明の方法は3次元光導波路以外の光機能素子
の保護膜等の形成に6適用可能であり、その場合、光の
導波損失の少ない集積化光機能回路のデバイスを製作す
ることができる。
の保護膜等の形成に6適用可能であり、その場合、光の
導波損失の少ない集積化光機能回路のデバイスを製作す
ることができる。
「発明の効果」
以上説明したように、本発明の3次元光導波路クラッド
膜の形成方法は、ECR−CVD単独で、あるいはEC
R−CVDとRFスパッタとを併用して3次元光導波路
がスパッタにより損傷を受けない状態となるよう導波路
を十分に覆うクラブト膜を形成し、その後ECR−CV
Dで処理しつつRFスパッタによる平坦化を行ってクラ
ッド膜を形成するので、低温・高速で3次元光導波路に
損傷を与えない平坦なクラッド膜を形成することができ
る。
膜の形成方法は、ECR−CVD単独で、あるいはEC
R−CVDとRFスパッタとを併用して3次元光導波路
がスパッタにより損傷を受けない状態となるよう導波路
を十分に覆うクラブト膜を形成し、その後ECR−CV
Dで処理しつつRFスパッタによる平坦化を行ってクラ
ッド膜を形成するので、低温・高速で3次元光導波路に
損傷を与えない平坦なクラッド膜を形成することができ
る。
また、本発明の請求項1記載の方法によれば、十分高速
で平坦なクラッド膜を得ることができる。
で平坦なクラッド膜を得ることができる。
また、請求項2記載の方法によれば、請求項1記載の方
法より若干クラッド膜形成時間が長くなるものの、処理
雰囲気の圧力が10−’以上の高圧領域で良好にクラッ
ド膜形成を行うことができる。
法より若干クラッド膜形成時間が長くなるものの、処理
雰囲気の圧力が10−’以上の高圧領域で良好にクラッ
ド膜形成を行うことができる。
また、請求項3記載の方法によれば、請求項2記載の方
法よりさらにクラッド膜形成時間が長くなるものの、バ
ッフアート液等によるケミカルエッチのエッチレートが
小さいクラッド膜を得ることができる。
法よりさらにクラッド膜形成時間が長くなるものの、バ
ッフアート液等によるケミカルエッチのエッチレートが
小さいクラッド膜を得ることができる。
第1図ないし第5図は本発明の方法に係わる図であって
、第1図および第2図は第1の実施例を工程順に説明す
るための側断面図、第3図は第2の実施例を説明するた
めの側断面図、第4図は第2の実施例および第3の実施
例を説明するための側断面図、第5図は本発明を実施す
るうえで好適に使用されろ装置の概略構成図である。 l・・・・・・プラズマ生成室、2・・・・・・第1ガ
ス導入系、6・・・・・・試料室、7・・・・・・第2
ガス導入系、9・・・・・・RF電源、10・・・・・
・基板、20・・・・・・3次元光導波路、21・・・
・・基板、22a、 22b・・・・・・クラッド膜。
、第1図および第2図は第1の実施例を工程順に説明す
るための側断面図、第3図は第2の実施例を説明するた
めの側断面図、第4図は第2の実施例および第3の実施
例を説明するための側断面図、第5図は本発明を実施す
るうえで好適に使用されろ装置の概略構成図である。 l・・・・・・プラズマ生成室、2・・・・・・第1ガ
ス導入系、6・・・・・・試料室、7・・・・・・第2
ガス導入系、9・・・・・・RF電源、10・・・・・
・基板、20・・・・・・3次元光導波路、21・・・
・・基板、22a、 22b・・・・・・クラッド膜。
Claims (3)
- (1)電子サイクロトロン共鳴によりプラズマを生成し
、このプラズマ中に第1の原料ガスを導入しこれをイオ
ン化してプラズマ流とし、このプラズマ流を3次元光導
波路を形成した基板上に導入し、 次いで第2の原料ガスを基板上に供給して前記プラズマ
流中で反応せしめ、反応生成物を基板上に堆積させて3
次元光導波路を覆ってクラッド膜を形成し、 その後前記3次元光導波路上のクラッド膜をターゲット
として高周波スパッタを行って該クラッド膜を削りつつ
、前記第2の原料ガスをプラズマ流中で反応させて反応
生成物を堆積させ、平坦なクラッド膜を得ることを特徴
とする3次元光導波路クラッド膜の形成方法。 - (2)電子サイクロトロン共鳴によりプラズマを生成し
、このプラズマ中に第1の原料ガスを導入しこれをイオ
ン化してプラズマ流とし、このプラズマ流を3次元光導
波路を形成した基板上に導入し、 次に第2の原料ガスを基板上に供給して前記プラズマ流
中で反応せしめ、反応生成物を基板上に堆積させてクラ
ッド膜を形成し、 次いで前記基板に、その3次元光導波路に損傷を与えな
い高周波スパッタ電力を加え、クラッド膜をターゲット
として高周波スパッタを行って該クラッド膜を削りつつ
、前記第2の原料ガスをプラズマ流中で反応させて反応
生成物を堆積させ、これにより3次元光導波路を覆って
クラッド膜を形成し、 その後前記基板に、先に加えた高周波スパッタ電力より
高い値の高周波スパッタ電力を加え、前記3次元光導波
路上のクラッド膜をターゲットとして高周波スパッタを
行って該クラッド膜を削りつつ、前記第2の原料ガスを
プラズマ流中で反応させて反応生成物を堆積させ、平坦
なクラッド膜を得ることを特徴とする3次元光導波路ク
ラッド膜の形成方法。 - (3)電子サイクロトロン共鳴によりプラズマを生成し
、このプラズマ中に第1の原料ガスを導入しこれをイオ
ン化してプラズマ流とし、このプラズマ流を3次元光導
波路を形成した基板上に導入し、第2の原料ガスを基板
上に供給して前記プラズマ流中で反応せしめ、反応生成
物を基板上に堆積させてクラッド膜を形成しつつ、 前記基板に、その3次元光導波路に損傷を与えない高周
波スパッタ電力を加え、前記クラッド膜をターゲットと
して高周波スパッタを行って該クラッド膜を削ることに
より3次元光導波路を覆ってクラッド膜を形成し、 その後前記基板に、先に加えた高周波スパッタ電力より
高い値の高周波スパッタ電力を加え、前記3次元光導波
路上のクラッド膜をターゲットとして高周波スパッタを
行って該クラッド膜を削りつつ、前記第2の原料ガスを
プラズマ流中で反応させて反応生成物を堆積させ、平坦
なクラッド膜を得ることを特徴とする3次元光導波路ク
ラッド膜の形成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1043781A JP2698416B2 (ja) | 1989-02-23 | 1989-02-23 | 3次元光導波路クラッド膜の形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1043781A JP2698416B2 (ja) | 1989-02-23 | 1989-02-23 | 3次元光導波路クラッド膜の形成方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02221904A true JPH02221904A (ja) | 1990-09-04 |
JP2698416B2 JP2698416B2 (ja) | 1998-01-19 |
Family
ID=12673299
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1043781A Expired - Lifetime JP2698416B2 (ja) | 1989-02-23 | 1989-02-23 | 3次元光導波路クラッド膜の形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2698416B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05100123A (ja) * | 1991-10-11 | 1993-04-23 | Fujitsu Ltd | 光導波路の製造方法 |
JP2002214464A (ja) * | 2001-01-16 | 2002-07-31 | Hitachi Cable Ltd | 光導波路の製造方法 |
JP2015087509A (ja) * | 2013-10-30 | 2015-05-07 | 日本電信電話株式会社 | 光導波路の作製方法 |
-
1989
- 1989-02-23 JP JP1043781A patent/JP2698416B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05100123A (ja) * | 1991-10-11 | 1993-04-23 | Fujitsu Ltd | 光導波路の製造方法 |
JP2002214464A (ja) * | 2001-01-16 | 2002-07-31 | Hitachi Cable Ltd | 光導波路の製造方法 |
JP2015087509A (ja) * | 2013-10-30 | 2015-05-07 | 日本電信電話株式会社 | 光導波路の作製方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2698416B2 (ja) | 1998-01-19 |
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