JPH02213771A - 供給電圧降下検出回路、および供給電圧降下を検出し、初期化回路をリセットする回路 - Google Patents
供給電圧降下検出回路、および供給電圧降下を検出し、初期化回路をリセットする回路Info
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- JPH02213771A JPH02213771A JP1329782A JP32978289A JPH02213771A JP H02213771 A JPH02213771 A JP H02213771A JP 1329782 A JP1329782 A JP 1329782A JP 32978289 A JP32978289 A JP 32978289A JP H02213771 A JPH02213771 A JP H02213771A
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- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 2
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
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- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
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- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
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- H03K17/223—Modifications for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied in field-effect transistor switches
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は具体的には外部構成の不要なMOS形集積回路
における初期化回路をリセットし、かつ供給電圧降下を
検出するための回路に関する。
における初期化回路をリセットし、かつ供給電圧降下を
検出するための回路に関する。
(従来の技術)
MOS形論理集積回路において、動作中回路の再初期化
を提供する必要がある。多数の回路がこの目的のために
考案されている。これらの初期化回路の一つの欠点は短
期間の供給電圧降下後再び動作できないことである。と
いうのは、コンデンサを有しており、あるいは寄生コン
デンサが互いに結合するからである。
を提供する必要がある。多数の回路がこの目的のために
考案されている。これらの初期化回路の一つの欠点は短
期間の供給電圧降下後再び動作できないことである。と
いうのは、コンデンサを有しており、あるいは寄生コン
デンサが互いに結合するからである。
したがって、本発明の目的はMOS形集積回路を動作さ
せる供給電圧の降下を検出ための、特に簡単な回路を提
供することであり、この回路は初期化回路をリセットす
るために用いられる。
せる供給電圧の降下を検出ための、特に簡単な回路を提
供することであり、この回路は初期化回路をリセットす
るために用いられる。
(発明の概要)
この目的を実現するために、本発明は、集積回路の高供
給端子と低供給端子の間に供給される供給電圧の降下を
検出する回路おいて、前記高供給端子と接続する入力端
子と、所望の信号を供給する出力端子と、供給入力端子
とを有するしきい値回路と、前記供給入力端子間に接続
され、第1の端子が前記低供給端子に接続されるMOS
O3形デンサと、ソースが前記コンデンサの第2の端子
と接続し、ドレイン及びゲートが前記高供給端子に相互
に接続するNチャネルMOS形トランジスタとを具備す
る。
給端子と低供給端子の間に供給される供給電圧の降下を
検出する回路おいて、前記高供給端子と接続する入力端
子と、所望の信号を供給する出力端子と、供給入力端子
とを有するしきい値回路と、前記供給入力端子間に接続
され、第1の端子が前記低供給端子に接続されるMOS
O3形デンサと、ソースが前記コンデンサの第2の端子
と接続し、ドレイン及びゲートが前記高供給端子に相互
に接続するNチャネルMOS形トランジスタとを具備す
る。
この回路の利点は特に簡単であって集積回路で少ない表
面積で構成できることである。
面積で構成できることである。
(実施例)
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第1図の回路は電圧■。0が入力される高供給端子AI
と電圧Vssの低供給端子A2との間に供給される。簡
単にするために、電圧V Bが0に等しいと仮定する。
と電圧Vssの低供給端子A2との間に供給される。簡
単にするために、電圧V Bが0に等しいと仮定する。
そうでなければ、VDDを■。。−Vllllに取り替
えることが単に必要である。
えることが単に必要である。
端子Alと端子A2の間にはNチャネルMOS形トラン
ジスタTとMOS形コンデンサが直列に接続される。ト
ランジスタTのドレインはトランジスタTのゲートと端
子Alに接続されている。インバータエはコンデンサC
の端子間から供給され、電圧■。。を入力として供給さ
れる。インバータエの出力は図中0LITと表示されて
いる。
ジスタTとMOS形コンデンサが直列に接続される。ト
ランジスタTのドレインはトランジスタTのゲートと端
子Alに接続されている。インバータエはコンデンサC
の端子間から供給され、電圧■。。を入力として供給さ
れる。インバータエの出力は図中0LITと表示されて
いる。
この回路の動作は第2図の波形図に基づいて説明すると
する。同図において、高供給端子での電圧はAIとして
表示され、コンデンサの端子間の電圧はCとして表示さ
れ、出力電圧はOUTと表示されている。
する。同図において、高供給端子での電圧はAIとして
表示され、コンデンサの端子間の電圧はCとして表示さ
れ、出力電圧はOUTと表示されている。
図かられかるように、端子AIでの電圧がvo。と等し
いときはコンデンサCの端子間の電圧はVl)fl−V
、rHとなり、ここでこのVTNはNチャネルのトラン
ジスタのしきい値電圧である。この場合、電圧OUTは
O(V s−)に等しい。もし端子AIの電圧が降下し
たら、トランジスタTはブロックし、コンデンサCの端
子間に蓄積される電圧v0゜−VTNは接合電流損失に
従ってゆっくり放電され、インバータエの端子間の供給
を保持する。
いときはコンデンサCの端子間の電圧はVl)fl−V
、rHとなり、ここでこのVTNはNチャネルのトラン
ジスタのしきい値電圧である。この場合、電圧OUTは
O(V s−)に等しい。もし端子AIの電圧が降下し
たら、トランジスタTはブロックし、コンデンサCの端
子間に蓄積される電圧v0゜−VTNは接合電流損失に
従ってゆっくり放電され、インバータエの端子間の供給
を保持する。
そして、もし端子AIでの電圧がインバータIのしきい
値■3より低(降下したならば、インバータの出力は状
態が反転し、高い値にセットされ実質的にはV DD−
V tNに等しくなる。インバータエのしきい値より低
い電圧降下の表示は出力OUTに表われる。これらの特
殊技術はより低くなる供給電圧より低いしきい電圧を供
給するインバータを選定すればよい。
値■3より低(降下したならば、インバータの出力は状
態が反転し、高い値にセットされ実質的にはV DD−
V tNに等しくなる。インバータエのしきい値より低
い電圧降下の表示は出力OUTに表われる。これらの特
殊技術はより低くなる供給電圧より低いしきい電圧を供
給するインバータを選定すればよい。
一方、簡単にするために、インバータの使用は適切であ
ろうしきい値レベルより低い入力電圧の降下に関しての
変更について説明する任意の回路を考察したことを以下
に述べる。
ろうしきい値レベルより低い入力電圧の降下に関しての
変更について説明する任意の回路を考察したことを以下
に述べる。
第3図は初期化回路のリセットのための回路に関する回
路の具体例を示す図である。本発明に係る回路はC1で
示し、初期化回路はC2で示している。第1図の出力O
UTに相当する回路C1の出力OUTは回路C2のリセ
ット入力に接続されている。
路の具体例を示す図である。本発明に係る回路はC1で
示し、初期化回路はC2で示している。第1図の出力O
UTに相当する回路C1の出力OUTは回路C2のリセ
ット入力に接続されている。
ブロックC2内で典型的な再初期化回路が表わされてい
る。回路C2は、ドレインがインピーダンス1を介して
端子VDDに接続され、ゲートGが当該ゲートとPチャ
ネルのMOS形トランジスタTMPのドレインに接続さ
れているN形MOS)ランジスタTMNから構成される
。トランジスタTMPのソースはVooに接続され、か
つトランジスタTMNのソースはVSSに接続されてい
る。一方、トランジスタTMHのドレインに接続する手
段は初期化回路の出力を整形しかつ検出することを提供
し、整形のためのインバータ2からなり、インバータの
出力はANDゲート3の非反転入力に、また遅延回路4
を介してANDゲート3の反転入力に送出される。
る。回路C2は、ドレインがインピーダンス1を介して
端子VDDに接続され、ゲートGが当該ゲートとPチャ
ネルのMOS形トランジスタTMPのドレインに接続さ
れているN形MOS)ランジスタTMNから構成される
。トランジスタTMPのソースはVooに接続され、か
つトランジスタTMNのソースはVSSに接続されてい
る。一方、トランジスタTMHのドレインに接続する手
段は初期化回路の出力を整形しかつ検出することを提供
し、整形のためのインバータ2からなり、インバータの
出力はANDゲート3の非反転入力に、また遅延回路4
を介してANDゲート3の反転入力に送出される。
ANDゲート3の出力Rは再初期化信号となる。
回路C2はトランジスタTMPのしきい値とトランジス
タTMNのしきい値の和に等しいしきい値より上の電圧
V。1)の変化を検出できる。しかしながら、もし電圧
が降下したならばこの回路は大変ゆっくりと放電し、供
給電圧が再び上昇したときに再初期化信号は送出される
。
タTMNのしきい値の和に等しいしきい値より上の電圧
V。1)の変化を検出できる。しかしながら、もし電圧
が降下したならばこの回路は大変ゆっくりと放電し、供
給電圧が再び上昇したときに再初期化信号は送出される
。
本発明によれば、ドレインが端子GにソースがV ss
に接続されるNチャネルのMOS形トランジスタである
リセット回路TAを加えられたものである。トランジス
タTAのゲートには信号OUTを供給される。そして信
号OUTがローレベルになるときこのトランジスタはブ
ロックされ、回路2は通常の動作となる。しかし、電圧
が降下し、信号OUTが供給されるやいなや、トランジ
スタTAは動作し始めてトランジスタTMP、 TMN
のゲート電圧をローレベルにリセットし、次に再び電圧
VDDでの増加を検出することができ、このv1)。の
新しい増加はローレベルに信号0LITをリセットする
。
に接続されるNチャネルのMOS形トランジスタである
リセット回路TAを加えられたものである。トランジス
タTAのゲートには信号OUTを供給される。そして信
号OUTがローレベルになるときこのトランジスタはブ
ロックされ、回路2は通常の動作となる。しかし、電圧
が降下し、信号OUTが供給されるやいなや、トランジ
スタTAは動作し始めてトランジスタTMP、 TMN
のゲート電圧をローレベルにリセットし、次に再び電圧
VDDでの増加を検出することができ、このv1)。の
新しい増加はローレベルに信号0LITをリセットする
。
もちろん、本発明はこれらの特殊技術に対して明らかに
する多数の変形修正例も考えられる。特に、もし電圧V
D。、V83の各々の極性が反対になれば、回路が同様
に動作するために全てのMOS形トランジスタの形式を
変更する必要があるであろう。
する多数の変形修正例も考えられる。特に、もし電圧V
D。、V83の各々の極性が反対になれば、回路が同様
に動作するために全てのMOS形トランジスタの形式を
変更する必要があるであろう。
(発明の効果)
以上説明したように、本発明によれば、簡単でかつ少な
い表面積で構成できるMOSO3撰集積回路ける初期化
回路をリセットし、かつ供給電圧降下を検出するための
回路を提供できる。
い表面積で構成できるMOSO3撰集積回路ける初期化
回路をリセットし、かつ供給電圧降下を検出するための
回路を提供できる。
第1図は本発明の一実施例を示す回路図、第2図は第1
図の回路の各点の信号波形を示す図、第3図は初期化回
路をリセットするための本発明に係る回路を示す回路図
である。 1・・・インピーダンス、 2・・・インバータ、 3・ ・ ・ANDゲート、 4・・・遅延回路。
図の回路の各点の信号波形を示す図、第3図は初期化回
路をリセットするための本発明に係る回路を示す回路図
である。 1・・・インピーダンス、 2・・・インバータ、 3・ ・ ・ANDゲート、 4・・・遅延回路。
Claims (4)
- (1)集積回路の高供給端子(A1)と低供給端子(A
2)の間に供給される供給電圧の降下を検出する回路お
いて、 前記高供給端子と接続する入力端子と、所望の信号(O
UT)を供給する出力端子と、供給入力端子とを有する
しきい値回路(I)と、 前記供給入力端子間に接続され、第1の端子が前記低供
給端子に接続されるMOS形コンデンサ(C)と、 ソースが前記コンデンサの第2の端子と接続し、ドレイ
ン及びゲートが前記高供給端子に相互に接続するNチャ
ネルMOS形トランジスタ(T)とを具備することを特
徴とする供給電圧降下検出回路。 - (2)前記しきい値回路がインバータである請求項1記
載の供給電圧降下検出回路。 - (3)MOS集積回路が動作している間初期化回路(C
2)をリセットするために用いられる請求項1記載の供
給電圧降下検出回路。 - (4)前記初期化回路は、ソースが前記低供給端子(V
_S_S)と接続し、ドレインがインピーダンス(1)
を介して前記高供給端子(V_D_D)と、かつ出力端
子(S)と接続し、ゲートが前記高供給端子とソースが
接続しているPチャネルMOS形トランジスタ(TMP
)のゲート/ドレイン共通に接続するNチャネルMOS
形トランジスタ(TMN)からなる請求項3記載の供給
電圧降下検出回路。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR8817364A FR2641083B1 (ja) | 1988-12-22 | 1988-12-22 | |
FR8817364 | 1988-12-22 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02213771A true JPH02213771A (ja) | 1990-08-24 |
JP2861163B2 JP2861163B2 (ja) | 1999-02-24 |
Family
ID=9373551
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1329782A Expired - Fee Related JP2861163B2 (ja) | 1988-12-22 | 1989-12-21 | 供給電圧降下検出回路、および供給電圧降下を検出し、初期化回路をリセットする回路 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5027006A (ja) |
EP (1) | EP0388569B1 (ja) |
JP (1) | JP2861163B2 (ja) |
KR (1) | KR900011152A (ja) |
DE (1) | DE68915432T2 (ja) |
ES (1) | ES2054076T3 (ja) |
FR (1) | FR2641083B1 (ja) |
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- 1989-12-19 ES ES89420498T patent/ES2054076T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1989-12-19 DE DE68915432T patent/DE68915432T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1989-12-19 EP EP89420498A patent/EP0388569B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 1989-12-21 US US07/452,824 patent/US5027006A/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-12-21 JP JP1329782A patent/JP2861163B2/ja not_active Expired - Fee Related
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KR900011152A (ko) | 1990-07-11 |
FR2641083A1 (ja) | 1990-06-29 |
EP0388569B1 (fr) | 1994-05-18 |
EP0388569A3 (fr) | 1991-06-05 |
JP2861163B2 (ja) | 1999-02-24 |
FR2641083B1 (ja) | 1991-05-10 |
DE68915432T2 (de) | 1994-09-01 |
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