JPH02208896A - 半導体メモリ回路 - Google Patents

半導体メモリ回路

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JPH02208896A
JPH02208896A JP1026760A JP2676089A JPH02208896A JP H02208896 A JPH02208896 A JP H02208896A JP 1026760 A JP1026760 A JP 1026760A JP 2676089 A JP2676089 A JP 2676089A JP H02208896 A JPH02208896 A JP H02208896A
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JP
Japan
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JP1026760A
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English (en)
Inventor
Masaji Nagashima
正司 長嶋
Hideaki Ito
伊藤 英朗
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [概 要コ 高速化さ′れた半導体メモリ回路に関し、特に記憶セル
アレイと、該記憶セルアレイ上の記憶セルを選択するた
めのデコーダを有する半導体メモリ回路に関し、 従来の、例えば同期型の半導体メモリ回路においては、
アドレスレジスタにアドレス信号を設定した後出力デー
タを得るまでには、該アドレスレジスタの動作時間、及
びデコーダ、記憶セル、センスアンプ等の動作時間が遅
延時間となり、サイクルタイムの減少すなわちメモリの
高速化ができなかった問題の解決を目的とし、デコーダ
の内部に、アドレス信号のデコードの中間段階での結果
を保持する手段を設け、該デコードの中間段階の結果の
保持をクロック信号に同期させて行うよう構成する。
[産業上の利用分野] 本発明は、高速化された半導体メモリ回路に関し、特に
、記憶セルアレイと、該記憶セルアレイ上の記憶セルを
選択するためのデコーダを有した半導体メモリ回路に関
する。
[従来の技術] 従来の半導体メモリ回路の構成を第4図、及び第6図に
示す。これらの図に示す例は、高速スタティックRAM
の場合であり、第4図は従来の非同期型の半導体メモリ
回路のブロック図、第6図は従来の同期型の半導体メモ
リ回路のブロック図を示し、また、図面の見易さ及び説
明の簡略化の為に記憶データの読出しに直接関係する部
分のみ示したものである。
第4図に示す非同期型の半導体メモリ回路においては、
アドレスバス上のアドレス信号はアドレスバッファ52
を介して、行デコーダ53及び列デコーダ54に入力さ
れ、該デコーダ53.54の出力線により記憶セルアレ
イ51上の特定の記憶セルが選択される。
該選択された特定の記憶セルの内容は、続出し/書込み
回路55、センスアンプ56及び出力バッファ57を介
して外部にデータ出力される。
また、上記の動作は第5図のタイムチャートで示される
この従来例は非同期式であるため、アト1/ス信号a(
斜線部)が時刻t、で確定した後に、デコーダ53.5
4等の半導体メモリ回路の各部の動作遅延時間Tcを持
って、時刻t、において、出力データb(斜線部)が出
力される。
この例では、アドレス信号及び出力データを保持するた
めのレジスタがなく、又同期用のクロック信号も使用し
ないため、出力データが確定している出力有効期間が短
かく、サイクルタイムを短かくして行くと出力が消えて
しまい高速化には限界がある。
第6図は従来の同期型の半導体メモリ回路のブロック図
であり、アドレス上のアドレス信号をアドレスバッファ
52を介して、アドレスレジスタ58中に保持し、該ア
ドレスレジスタ58の内容をデコーダ53.54により
デコードし、該デコーダ53.54の出力線により、記
憶セルアレイ51上の特定の記憶セルを選択する。
該選択された記憶セルの内容はぎ出し/書込み回路55
及びセンスアンプ56を介して出力データレジスタ59
に保持され、バッファ57を介して、外部へデータ出力
される。
また、上記の動作は第7図のタイムチャートで示される
すなわち、アドレスバス上のアドレス信号a(斜線部)
は時刻ta でクロック信号CPIによりアドレスレジ
スタ58に保持され、次のクロック信号CP2が入力さ
れるまでの1クロツクサイクルの期間中保持される(図
中の符号すで示す斜線部)。該アドレスレジスタ58の
内容はデコーダ53.54に入力され、記憶セル51上
の特定の記憶セルを選択し、該記憶セルの内容が、デコ
ーダ部及び記憶セルアレイ回路の動作遅延時間の後、時
刻t、において、センスアンプ56より出力され、クロ
ック信号CP2により出力データレジスタ59に該出力
データが保持される(図中の符号eで示す部分)。 従
って、該出力データは出力レジスタ中に1クロツクサイ
クルの間安定に保持され、出力の有効期間が延びるが、
その反面、アドレスレジスタ58にアドレスがセットさ
れてか、ら出力データレジスタ59に出力テ゛−夕がセ
ットされるまでの遅延時間Taが比較的大きくなる。
[発明が解決しようとする課題] 以上説明したように、従来の半導体メモリ回路において
、第4図に示した非同期式の例では、アト1/ス信号に
対する記憶セルの出力データはレジスタに保持されるこ
とがなく、出力のを効期間が短く、サイクルタイムを短
かくして行くと出力データの有効期間も短かくなり、最
終的には出力データが消えてしまうことになり、サイク
ルタイムを短かくするには限度がある。
また、第6図に示した同期式の例では、レジスタにより
出力データを所定の期間保持するので、出力有効期間が
延びるが、アドレス1/ジスタ58にアドレスデータが
セットされてから、出力データレジスタ59に出力デー
タがセットされるまでには、デコーダ53.54、記憶
セルアレイ51、センスアンプ56及び出力データレジ
スタ59等を含めた各部での回路遅延時間が発生し、該
回路遅延時間が半導体メモリ回路の最小サイクル時間と
なり高速化には限界がある。
本発明は、上記問題点に鑑みなされたものであり、より
高速のサイクル動作を可能とする半導体メモリ回路を提
供することを目的とする。
口課題を解決するための手段] 本発明によれば、上述の目的は前記特許請求の範囲に記
載した手段により達成される。
すなわち、本発明は、半導体で構成される記憶セルアレ
イと、アドレス信号を、該記憶セルアレイの行方向にデ
コードする行デコーダと、列方向にデコードする列デコ
ーダと、該行デコーダ及び列デコーダの出力で選択され
る記憶セルアレイ上の記憶セルに対するデータの読出し
及び書込みを行う制御回路とを有する半導体メモリ回路
において、 上記行デコーダまたは列デコーダの内部には、アドレス
信号のデコードの中間段階での結果を保持する手段を設
け、該デコードの中間段階の結果の保持を制御用クロッ
ク信号に同期させて行う半導体メモリ回路である。
[作 用コ 本発明では、従来の同期型の半導体メモリ回路で使用し
ているアドレス信号の保持の為のアドレスレジスタを除
去し、これに代わるものとして、デコーダの内部にアド
レス信号のデコードの中間段階での結果を保持するため
の手段を設ける。
例えば、デコーダをプリデコーダとメインデコーダに分
割し、それらの間にレジスタを設け、該レジスタにプリ
デコーダの出力結果を保持させる。
このようにすることにより、従来はアドレスレジスタに
クロック信号を与えてアドレスを保持させてから、出力
データを得る迄の遅延時間が最小サイクルであったが、
本発明では、上記デコーダ内部のレジスタにクロック信
号を与えてから出力データを得る迄の遅延時間が最小サ
イクルとなり、その分高速化が達成できる。
次に、上記説明を、タイムチャートを用いてより明確に
する。
すなわち、従来の同期型の半導体メモリ回路では、第7
図に示される如く、アドレスバス上のアドレス信号a(
斜線部)が与えられ、時刻t、でクロック信号CPIに
よりアドレスレジスタに該アドレス信号を保持(図の符
号すで示す部分)した後に、時刻tb でセンスアンプ
の出力データd(斜線部)を得るまでの遅延時間Taは
、クロック信号CPIを基点として、Ta=(アドレス
レジスタの動作時間)+〈デコーダの動作時間)+(記
憶セル内容読出し時間)+〈センスアンプ回路の応答時
間〉で与えられ、クロックサイクルは上記時間以下には
短縮することは出来なかった。
所で、本発明による半導体メモリ回路では、第1図に示
す如く、アドレスバス上のアドレス信号a(斜線部)の
入力と共に、プリデコードを開始し、クロック信号CP
Iに対して所定の遅延を持った内部クロックパルスCP
3により、時刻t、で上記プリデコーダの中間デコード
結果をデコーダ部レジスタに保持(図中の符号eで示す
部分)させ、時刻t5 でセンスアンプの出力データd
を得るまでの時間Tbは、クロック信号CP3を基点と
して、 Tb=(デコーダ部レジスタの動作時間〉+(メインデ
コーダの動作時間)+(記憶セルの内容読出し時間)+
(センスアンプ回路の応答時間) となり、該時間が最小クロックサイクルの限界となる。
所で、上記時間Ta、Tbを比較すると、従来例のアド
レスレジスタと本発明で使用されるデコーダ部レジスタ
の動作時間が同等であり、また、従来例のデコーダの構
成が本発明で使用されるのと同じプリデコーダとメイン
デコーダで構成されていると仮定すれば、明らかに本発
明ではプリデコーダの動作時間分が短縮され、その分サ
イクルタイムの短縮すなわち高速化が達成されることに
なる。
[実施例] 第2図は本発明の一実施例を示すブロック図であり、高
速スタティックRAMの例である。
同図において、1は記憶セルアレイ、2はアドレスバッ
ファ、3aは行プリデコーダ、3bは行アドレスレジス
タ、3Cは行メインデコーダ、4aは列プリデコーダ、
4bは列アドレスレジスタ、4Cは列メインデコーダ、
5は読出し/書込み回路、6はセンスアンプ、7は出力
データバッファ、9は出力データレジスタ、10はクロ
ックパルス用ゲート回路を表わしている。
図の例では、本発明の理解を容易にする為に、メモリ回
路の記憶データの読出しに関係する部分のみを例示して
いるが、特にこれに限定する意味ではなく、他に図示し
ない書込みデータレジスタ、リード・ライト制御回路、
チップセレクト信号回路等の通常のデータの読み書きに
必要な機能が付加されるものである。
以下の動作説明においても、データの読出しの場合を例
に取って本発明の詳細な説明が行なわれる。
第2図において、アドレスバス上のアドレス信号はアド
レスバッファ2を介して行プリデコーダ3a及び列プリ
デコーダ4aに入力され、デコードが開始され、該プリ
デコーダ3a14aでのプリデコードの結果が、クロッ
クパルスaに所定の遅延を施した内部クロックパルスb
に同期して、行アドレスレジスタ3b及び及び列アドレ
ス・レジスタ4bに保持される。
該アドレスレジスタ3b、4bに保持されたプリデコー
ドの結果は次の内部クロックパスbが到来するまで安定
に保持される。
行アドレスレジスタ3b及び列アドレスレジスタ4bに
保持されたプリデコードの結果は、それぞれ行メインデ
コーダ3C及び列メインデコーダ4Cで最終的なデコー
ドが施され、該メインデコーダ3c、4cの出力線によ
り記憶セルアレイ1上の特定の記憶セルを選択する。
該特定の記憶セルの内容は、読出し/書込み回路5及び
センスアンプ6を介して、内部クロックパルスbに同期
して出力データレジスタ9に保持され、出力データ・バ
ッファ7を介して外部に出力される。
所で、本発明においては、デコーダをプリデコーダとメ
インデコーダに分割し、それらの間に、アドレスレジス
タを挿入する構成を取るものであるが、プリデコーダと
メインデコーダの機能分担の割合は特に制限がある分で
はないが、例えば第3図に示す如く、アドレス信号が9
bitであり、最終的なメモリセル行選択線512本が
デコードされる場合を考えると、プリデコーダ中に2−
4デコーダ(2−LINE−TO−4−LINB−0ε
C0DBR) 11〜14を4個設け、行アドレスレジ
スタ3bに保持されるべきビット情報量を17bit 
 (4X4+1)とした場合の例である。
この行アドレス・レジスタ3bは記憶セルアレイ回路1
に機能的に近い位置に配置されればされる程、高速化が
達成されるが、その分保持されるべき情報量が増大、す
なわちハードウェア量の増加を生ずるので両者を比較衡
量の上決定される。
また以上の説明は、高速スタティクRAMでの実施例の
説明であるが、FROMは勿論、ダイナミックRAM、
その他の種々の形式のものに本発明は適用され得る。
[発明の効果コ 以上説明した如(、本発明によれば、従来のアドレスレ
ジスタをデコーダ部レジスタで機能的に置き換えること
により、サイクルタイムの短縮が図れ、その分高速の半
導体メモリ回路の製作が可能となり、高速の転送レート
を必要とする計算機システムの性能を向上させることが
できる。
〜14・・・・・・プリデコーダ内の2−4デコーダ
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の動作説明図、第2図は本発明の一実施
例を示すブロック図、第3図は本発明のデコーダ部の一
構成例を示す図、第4図は従来の非同期型の半導体メモ
リ回路のブロック図、第5図は従来の非同期型の半導体
メモリ回路の動作説明図、第6図は従来の同期型の半導
体メモリ回路のブロック図、第7図は従来の同期型の半
導体メモリ回路の動作説明図である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 半導体で構成される記憶セルアレイと、アドレス信号を
    、該記憶セルアレイの行方向にデコードする行デコーダ
    と、列方向にデコードする列デコーダと、該行デコーダ
    及び列デコーダの出力で選択される記憶セルアレイ上の
    記憶セルに対するデータの読出し及び書込みを行う制御
    回路とを有する半導体メモリ回路において、上記行デコ
    ーダ及び列デコーダの内部に、アドレス信号のデコード
    の中間段階での結果を保持する手段を設け、 該デコードの中間段階の結果の保持を制御用クロック信
    号に同期させて行うことを特徴とする半導体メモリ回路
JP1026760A 1989-02-07 1989-02-07 半導体メモリ回路 Pending JPH02208896A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1026760A JPH02208896A (ja) 1989-02-07 1989-02-07 半導体メモリ回路

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JP1026760A JPH02208896A (ja) 1989-02-07 1989-02-07 半導体メモリ回路

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JPH02208896A true JPH02208896A (ja) 1990-08-20

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ID=12202240

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JP1026760A Pending JPH02208896A (ja) 1989-02-07 1989-02-07 半導体メモリ回路

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JP (1) JPH02208896A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0773677A (ja) * 1993-06-16 1995-03-17 Nec Corp 半導体集積回路装置
KR100549934B1 (ko) * 1998-11-07 2006-05-16 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치의 워드라인 디코딩 회로

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0773677A (ja) * 1993-06-16 1995-03-17 Nec Corp 半導体集積回路装置
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