JPH02200006A - 半導体集積回路の遅延回路 - Google Patents

半導体集積回路の遅延回路

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JPH02200006A
JPH02200006A JP1020044A JP2004489A JPH02200006A JP H02200006 A JPH02200006 A JP H02200006A JP 1020044 A JP1020044 A JP 1020044A JP 2004489 A JP2004489 A JP 2004489A JP H02200006 A JPH02200006 A JP H02200006A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
channel mos
mos transistor
delay circuit
output
unit delay
Prior art date
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Pending
Application number
JP1020044A
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English (en)
Inventor
Noriko Tsuda
津田 典子
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野1 本発明は半導体集積回路の遅延回路に関する。
[従来の技術] 従来から自動車電装用ICの入力回路等に使用される遅
延回路として、数マイクロ秒の遅延時間を有するものが
使用されている。
第2図は従来のこの種の遅延回路の一例を示す回路図で
ある。
電源VDDと接地Vssとの間に直列に接続されたPチ
ャネルMoSトランジスタP。1及びNチャネルMOS
トランジスタNOIは、CMOSインバータI。、を構
成している。このCMOSインバータIQIは、入力端
子T+を介して入力された信号を反転させて出力部Aに
出力する。このCMOSインバータIOIの出力部Aと
接地との間には容量Cが接続されている。この容量Cと
PチャネルMOSトランジスタPOI及びNチャネルM
OSトランジスタf’Joiのオン抵抗とは、これらに
より決定される時定数でCMOSインバータIOIの出
力信号を遅延させる。また、電源VD+)と接地V55
との間に直列に接続されたPチャネルMOSトランジス
タPO4及びNチャネルMOSトランジスタN。4は、
CMOSインバータI。2を構成している。このCMO
SインバータIO2は、出力部Aを介してCMOSイン
バータI旧の出力を入力し、これを反転させた後、出力
端子Toを介して出力する。更に、電源VDDと出力部
Aとの間には、PチャネルMOSトランジスタPO2及
びPO3がそのドレインとソースとを相互に接続して直
列に接続されている。
これらPチャネルMOSトランジスタPO2及びPO3
のゲートは、夫々入力端子TI及び出力端子Toに接続
されている。また、出力部Aと接地V55との間にはN
チャネルMOSトランジスタNO2及びNO3が接続さ
れている。これらNチャネルMOSトランジスタNO2
及びNO3のゲートは、夫々入力端子TI及び出力端子
Toに接続されている。
このように構成された従来の遅延回路では、Pチャネル
MOSトランジスタpot及びNチャネルMOSトラン
ジスタNOIのオン抵抗がいずれも数100にΩと大き
なものに設計されている。入力端子TIを介して入力さ
れる信号がLレベル(接地電位Vss)又はHレベル(
電源Voo)に変化すると、大きな抵抗値を有するPチ
ャネルMOSトランジスタPOI又はNチャネルMOS
トランジスタN。1を介して容量Cが充電又は放電され
る。トランジスタPOI又はNOIのオン抵抗と容量C
とから決定される時定数は大きいので、CMOSインバ
ータIOIの出力信号の時間的変化は少ない。これによ
り、入力端子T+へ信号が入力された時点からCMOS
インバータエ。2の出力が反転するまでの時間を遅らせ
ている。また、CMOSインバータ101の出力の時間
的変化が少ないため、CMOSインバータIO2の出力
の変化も遅れる。しかしながら、CMOSインバータI
O2とPチャネルMOSトランジスタPO3又はNチャ
ネルMOSトランジスタNO3とは正帰還ループを形成
しているので、CMOSインバータエ。2の出力変化に
よってPチャネルMOSトランジスタP。、又はNチャ
ネルMOSトランジスタNO3が導通しだすと、出力部
Aの電位は急速に変化し、この結果、CMOSインバー
タIO2の出力が反転する。
このように、従来の遅延回路では、MOSトランジスタ
POI及びI’Jotのオン抵抗と容量Cとによる時定
数及び出力端子T。から出力部Aへのフィードバックに
より所望の遅延回路を得ている。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、上述した従来の遅延回路は、大電流領域
で動作するPチャネルMOSトランジスタP。1及びN
チャネルMOSトランジスタNOIのオン抵抗と容量C
とによる時定数を利用しているため、大きな遅延量を得
ようとすると、容量Cを形成するコンデンサの電極面積
を増加させるか、又はPチャネルMOSトランジスタP
OI及びNチャネルMOSトランジスタNOIのゲート
長を長くして相互コンダクタンスg、を小さくする必要
がある。この結果、素子面積が極めて大きくなるという
問題点がある。
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであって、
素子面積の増加を招来することなく、大きな遅延量を得
ることができる半導体集積回路の遅延回路を提供するこ
とを目的とする。
[課題を解決するための手段] 本発明に係る半導体集積回路の遅延回路は、入力線及び
出力線を備えた単位遅延回路を前記入力線及び出力線を
介して縦続接続して構成され、前記単位遅延回路は、ゲ
ートが前記入力線に共通接続されソースが出力部に共通
接続されドレインが夫々正電源及び負電源に接続された
第1のNチャネルMOSトランジスタ及び第1のPチャ
ネルMOSトランジスタと、前記出力部と前記正電源又
は負電源との間に接続された容量と、ゲートが前記出力
部に共通接続されドレインが前記出力線に共通接続され
ソースが夫々正電源及び負電源に接続された第2のPチ
ャネルMOSトランジスタ及び第2のNチャネルMOS
トランジスタとを具備したことを特徴とする。
[作用] 本発明によれば、入力信号がHレベルになると、第1の
NチャネルMoSトランジスタがオンするので、この第
1のNチャネルMOSトランジスタを通じて容量が充電
される。この容量の充電に伴い、第1のNチャネルMO
Sトランジスタのソース電位が上昇するため、ソース・
ゲート間電圧が小さくなる。従って、第1のNチャネル
MOSトランジスタは弱電流領域で動作することになり
、そのオン抵抗が増加することとなる。
また、入力信号がLレベルになると、第1のPチャネル
MoSトランジスタがオンになるので、この第1のPチ
ャネルMOSトランジスタを通じて容量の放電が行われ
る。この容量の放電に伴い、第1のPチャネルMOSト
ランジスタのソース電位が低下するため、ソース・ゲー
ト間電圧が小さくなる。従って、第1のPチャネルMO
Sトランジスタは弱電流領域で動作することになり、そ
のオン抵抗が増加することとなる。
これらの結果、容量の充放電が進む程、その充放電を担
うMOSトランジスタのオン抵抗は大きくなり、充放電
が妨げられることとなる。このため、出力部の電圧の変
化は極めて遅くなる。そして、この出力部の電圧によっ
て第2のPチャネルMOSトランジスタ及び第2のNチ
ャネルMOSトランジスタは相補的に導通制御されて、
出力線に正電源又は負電源のレベルを出力する、更に、
このような単位遅延回路を少なくとも2段接続すること
によって、正転遅延出力を得ることができる。
[実施例] 次に、本発明の実施例について添付の図面を参照して説
明する。
第1図は本発明の実施例に係る半導体集積回路の遅延回
路を示す回路図である。この遅延回路は2つの単位遅延
回路り、及びD2を縦続接続して構成されている。
単位遅延回路D1は次のように構成されている。
即ち、入力端子TIからの信号を入力する初段部にはノ
ン・インバーテイングバッファN11が設けられている
。このノン・インバーテイングバッファN1.は、電源
VDDにNチャネルMOSトランジスタN1のドレイン
を接続すると共に、接地VSSにPチャネルMOSトラ
ンジスタPlのドレインを接続し、これらのソースを出
力部A1に共通接続し、更に、これらのゲートを入力端
子TIに共通接続して構成されている。NチャネルMO
SトランジスタN1及びPチャネルMOSトランジスタ
P1のバックゲートは、夫々のソース、即ち出力部A、
に接続されるか又は接地■ss及び電源VDDに夫々接
続されている。このノン・インバーテイングバッファN
11の出力部A、と接地V55との間には、容量C1が
接続されている。
また、出力部AlはCMOSインバータエ、の入力端に
も接続されている。このCMOSインバータ11は、電
源VDDにPチャネルMOSトランジスタP2のソース
を接続すると共に、接地VSSにNチャネルMOSトラ
ンジスタN2のソースを接続し、これらのドレインを共
通接続して次段回路への出力部とし、更にこれらのゲー
トをノン・インバーテイングバッファN1.の出力部A
1に共通接続して構成されている。
また、単位遅延回路D2も上記単位遅延回路り、と同様
の構成を有している。即ち、PチャネルMOSトランジ
スタレ1及びNチャネルMOSトランジスタN1に夫々
対応するPチャネルMOSトランジスタP3及びNチャ
ネルMOSトランジスタN3によってノン・インバーテ
イングバッファNI2が構成され、またPチャネルMO
S)−ランジスタP2及びNチャネルMOSトランジス
タN2に夫々対応するPチャネルMOSトランジスタP
4及びNチャネルMOSトランジスタN4によってCM
OSインバータI2が構成され、更に、その出力部がこ
の遅延回路の出力部として出力端子Toに接続されてい
る。そして、容量C1に対応して容量C2がノン・イン
バーテイングバッファN I 2の出力部A2と接地V
SSとの間に接続されている。
次に、このように構成された本実施例の回路の動作につ
いて説明する。
先ず、ノン・インバーテイングバッファN11の動作に
ついて説明する。ノン・インバーテイングバッファN1
.は通常のCMOSインバータにおけるPチャネルMO
S)−ランジスタとNチャネルMOSトランジスタとを
入れ換えた構成となっている。このため、容量C1の充
電はNチャネルMOSトランジスタN1によって、また
その放電はPチャネルMOSトランジスタP1によって
行われる。いま、出力部A1の電位が接地電位の状態で
入力端子TIに与えられる信号がLレベルからHレベル
に変化した場合、NチャネルMoSトランジスタN1が
導通ずる。その直後のトランジスタN1のソースに対す
るゲート電圧■osは電源VDDの電圧に略等しく、N
チャネルMOSトランジスタN、は大電流領域で動作し
、容量C1の充電が開始される。この結果、Nチャネル
MOSトランジスタN1のソース電位は、容量C1の充
電と共に上昇し、そのソースに対するゲート電圧■Gs
は小さくなる。従って、NチャネルMOSトランジスタ
N1の動作領域は大電流領域から弱電流領域に移行し、
見かけ上そのオン抵抗は増大することとなる。
また、PチャネルMOSトランジスタP1により容量C
1を放電する場合も、同様にして説明され、容量C1の
放電が進むにつれ、PチャネルMOSトランジスタP、
の見かけ上のオン抵抗は増大することとなる。このよう
にして、ノン・インバーテイングバッファNIlは入力
端子TIを介して入力した信号をNチャネルMoSトラ
ンジスタN1及びPチャネルMOSトランジスタP1の
オン抵抗と容量C1との時定数によって規定される遅延
量を有する出力信号として次段のCMOSインバータエ
、の入力に与える。
ところで、CMOSインバータ■1の入力に与えられる
ノン・インバーテイングバッファNI。
の出力信号は、その遅延量が大きい程、変化分が小さく
なる。しかも、その振幅はノン・インバーテイングバッ
ファN1.の1段でPチャネルMOSトランジスタのス
レッショルド電圧VTPとNチャネルMOSトランジス
タのスレショルド電圧V丁Nとの和だけ小さくなり、ノ
ン・インバーテイングバッファN1.のみを連続して接
続すると、後段側で信号の振幅がとれなくなる。このた
め、振幅再生と出力の波形整形の目的でCMOSインバ
ータ1.をノン・インバーテイングバッファN11の次
段として接続している。
このように単位遅延回路D1で遅延された信号は、更に
単位遅延回路D2で上述した作用と同様の作用により遅
延される。これにより、更に遅延量を増すことができる
と共に、正転遅延出力を得ることができる。
なお、本実施例におけるPチャネルMOSトランジスタ
P、 、P2及びNチャネルMOSトランジスタN、 
、N2並びに容量C1により構成される単位遅延回路D
1を必要な段数だけ接続することによって遅延量を調整
することも可能である。
また、PチャネルMOSトランジスタとNチャネルMO
Sトランジスタの電流駆動能力の違いによって信号の立
上り又は立下り時間に差が生ずる場合には、この単位遅
延回路を偶数段接続することによって、入力端子T+を
介して入力される信号り及びHの遅延量の差を小さくす
ること゛もできる。
更に、本実施例におけるPチャネルMOSトランジスタ
P、  p、及びNチャネルMOSトランジスタN1、
N、のバックゲートバイアスを夫々のソースに接続する
ことにより、遅延量の電源VDDの電圧依存性や周囲温
度依存性を小さくすることができる。
[発明の効果コ 以上説明したように本発明によれば、容量の充放電を行
うMOSトランジスタの動作領域は、充放電が進むのに
伴い、大電流領域から弱電流領域へ移行する。このため
、容量の充放電を行うMOSトランジスタのオン抵抗を
、素子面積の増加を招来することなく大きくすることが
でき、大きな遅延量を得ることができるという効果を有
する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例に係る遅延回路を示す回路図、
第2図は従来の遅延回路の一例を示す回路図である。 A、AI 、A2 :出力部、C,C,、C2;容量、
IQ!、102.It 、I2  :CMOSインバー
タ、NOI・N021 NO3・NO4・N1・N2・
N3゜N4 ;NチャネルMOSトランジスタ、N11
NI2;ノン・インバーテイングバッファ、POI。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)入力線及び出力線を備えた単位遅延回路を前記入
    力線及び出力線を介して縦続接続して構成され、前記単
    位遅延回路は、ゲートが前記入力線に共通接続されソー
    スが出力部に共通接続されドレインが夫々正電源及び負
    電源に接続された第1のNチャネルMOSトランジスタ
    及び第1のPチャネルMOSトランジスタと、前記出力
    部と前記正電源又は負電源との間に接続された容量と、
    ゲートが前記出力部に共通接続されドレインが前記出力
    線に共通接続されソースが夫々正電源及び負電源に接続
    された第2のPチャネルMOSトランジスタ及び第2の
    NチャネルMOSトランジスタとを具備したことを特徴
    とする半導体集積回路の遅延回路。
JP1020044A 1989-01-30 1989-01-30 半導体集積回路の遅延回路 Pending JPH02200006A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100775942B1 (ko) * 2006-09-26 2007-11-15 한국과학기술원 D급 출력단 증폭기 복수개가 캐스캐이드로 연결되는증폭장치

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100775942B1 (ko) * 2006-09-26 2007-11-15 한국과학기술원 D급 출력단 증폭기 복수개가 캐스캐이드로 연결되는증폭장치

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