JPH0219626B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0219626B2 JPH0219626B2 JP58207104A JP20710483A JPH0219626B2 JP H0219626 B2 JPH0219626 B2 JP H0219626B2 JP 58207104 A JP58207104 A JP 58207104A JP 20710483 A JP20710483 A JP 20710483A JP H0219626 B2 JPH0219626 B2 JP H0219626B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ball
- wire
- bonding
- tip
- high voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 8
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 6
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
- H01L24/78—Apparatus for connecting with wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/78—Apparatus for connecting with wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/78—Apparatus for connecting with wire connectors
- H01L2224/7825—Means for applying energy, e.g. heating means
- H01L2224/78268—Discharge electrode
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/78—Apparatus for connecting with wire connectors
- H01L2224/7825—Means for applying energy, e.g. heating means
- H01L2224/783—Means for applying energy, e.g. heating means by means of pressure
- H01L2224/78301—Capillary
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/85009—Pre-treatment of the connector or the bonding area
- H01L2224/8503—Reshaping, e.g. forming the ball or the wedge of the wire connector
- H01L2224/85035—Reshaping, e.g. forming the ball or the wedge of the wire connector by heating means, e.g. "free-air-ball"
- H01L2224/85045—Reshaping, e.g. forming the ball or the wedge of the wire connector by heating means, e.g. "free-air-ball" using a corona discharge, e.g. electronic flame off [EFO]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/00014—Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(発明の利用分野)
本発明はワイヤボンデイング方法に関する。
(従来技術)
一般に、自動ワイヤボンデイング方法において
は、ワイヤスプールからキヤピラリの先端へ繰り
出されたワイヤと放電電極との間に高電圧を放電
させてワイヤの先端にボールを形成させ、その後
前記ボールを第1ボンド点にボンデイングさせ、
続いてワイヤを繰り出してワイヤを第2ボンド点
にボンデイングさせ、その後ワイヤをクランプし
て第2ボンド点の根元より切断するという一連の
工程を自動的に行い、順次2個のボンド点にボン
デイングすることが行われる。
は、ワイヤスプールからキヤピラリの先端へ繰り
出されたワイヤと放電電極との間に高電圧を放電
させてワイヤの先端にボールを形成させ、その後
前記ボールを第1ボンド点にボンデイングさせ、
続いてワイヤを繰り出してワイヤを第2ボンド点
にボンデイングさせ、その後ワイヤをクランプし
て第2ボンド点の根元より切断するという一連の
工程を自動的に行い、順次2個のボンド点にボン
デイングすることが行われる。
ところで、前記ボールの形成状態は、ボンデイ
ング品質に大きく影響する。例えば、不良ボール
として、ゴルフクラブのように片寄つたボール、
変形(楕円形)したボール、小さなボールなどが
生ずることがある。
ング品質に大きく影響する。例えば、不良ボール
として、ゴルフクラブのように片寄つたボール、
変形(楕円形)したボール、小さなボールなどが
生ずることがある。
そこで従来は、ワイヤボンデイングを自動的に
始動させる前に、手動操作によりワイヤの先端に
高電圧放電によりボールを形成させた後、ボール
の形成状態を顕微鏡で検査し、良好なボールが形
成されている場合は自動操作に切換えてそのまま
自動ワイヤボンデイングを行わせている。
始動させる前に、手動操作によりワイヤの先端に
高電圧放電によりボールを形成させた後、ボール
の形成状態を顕微鏡で検査し、良好なボールが形
成されている場合は自動操作に切換えてそのまま
自動ワイヤボンデイングを行わせている。
このように、ボールを形成させた後に検査する
ために、折角形成したボールが冷えたり、酸化膜
ができたりするので、初めの第1ボンド点へボン
デイングしたワイヤ不着が発生し、始動後の初め
の半導体部品は不良となるという欠点があつた。
ために、折角形成したボールが冷えたり、酸化膜
ができたりするので、初めの第1ボンド点へボン
デイングしたワイヤ不着が発生し、始動後の初め
の半導体部品は不良となるという欠点があつた。
また自動ワイヤボンデイング工程中において
も、時々不良ボールが形成されることがある。ボ
ールが形成されなかつたり、小さすぎた場合は、
ボール形成時に流れる放電電流又は電圧を自動検
出機構によつて検出することができるので問題は
ない。しかしながら、ボールが片寄つたり、変形
したりした場合は、自動検出されないので、ボン
デイング不良が生ずる。
も、時々不良ボールが形成されることがある。ボ
ールが形成されなかつたり、小さすぎた場合は、
ボール形成時に流れる放電電流又は電圧を自動検
出機構によつて検出することができるので問題は
ない。しかしながら、ボールが片寄つたり、変形
したりした場合は、自動検出されないので、ボン
デイング不良が生ずる。
(発明の目的)
本発明の目的は、ボンデイング品質を向上させ
ることができるワイヤボンデイング方法を提供す
ることにある。
ることができるワイヤボンデイング方法を提供す
ることにある。
(発明の実施例)
以下、本発明の一実施例を図により説明する。
図示の装置自体は従来公知であるので、概略構成
を図示及び概略説明するにとどめる。ボール形成
時には、クランパ1で図示しないワイヤスプール
より繰り出されたワイヤ2をクランプし、キヤピ
ラリ3に挿通されたワイヤ2と所定の間隔を保つ
ようにワイヤ2の先端下方に放電電極4が移動さ
せられる。そして、制御回路5のパルスによりス
イツチング回路6が作動し、ボール形成装置7か
ら高電圧がワイヤ2と放電電極4に印加され、そ
の放電によりワイヤ2の先端にボール2aが形成
される。
図示の装置自体は従来公知であるので、概略構成
を図示及び概略説明するにとどめる。ボール形成
時には、クランパ1で図示しないワイヤスプール
より繰り出されたワイヤ2をクランプし、キヤピ
ラリ3に挿通されたワイヤ2と所定の間隔を保つ
ようにワイヤ2の先端下方に放電電極4が移動さ
せられる。そして、制御回路5のパルスによりス
イツチング回路6が作動し、ボール形成装置7か
ら高電圧がワイヤ2と放電電極4に印加され、そ
の放電によりワイヤ2の先端にボール2aが形成
される。
次に本発明のワイヤボンデイング方法について
説明する。まず、ワイヤボンデイングを自動的に
始動させる前に、装置を手動操作に切換え、スイ
ツチ8をオンにしてスイツチング回路6を作動さ
せる。これにより、前記したようにボール形成装
置7より高電圧がワイヤ2と放電電極4に印加さ
れ、ワイヤ2の先端にボール2aが形成される。
次にボール2aの形成状態を図示しない顕微鏡で
観察する。そこで、良好なボール2aが形成され
ている場合は、再度スイツチ8をオンにすると共
に、自動操作ボタンを押す。即ち、再度スイツチ
8をオンにすることにより、ボール形成装置7よ
りワイヤ2と放電電極4間に高電圧が印加され、
既に形成されているボール2aに放電が行われ
る。これによつてボール2aは暖められる。また
続く自動操作切換えによつて自動的にキヤピラリ
3が下降して第1ボンド点にボンドし、以後一連
のワイヤボンデイングを順次行う。
説明する。まず、ワイヤボンデイングを自動的に
始動させる前に、装置を手動操作に切換え、スイ
ツチ8をオンにしてスイツチング回路6を作動さ
せる。これにより、前記したようにボール形成装
置7より高電圧がワイヤ2と放電電極4に印加さ
れ、ワイヤ2の先端にボール2aが形成される。
次にボール2aの形成状態を図示しない顕微鏡で
観察する。そこで、良好なボール2aが形成され
ている場合は、再度スイツチ8をオンにすると共
に、自動操作ボタンを押す。即ち、再度スイツチ
8をオンにすることにより、ボール形成装置7よ
りワイヤ2と放電電極4間に高電圧が印加され、
既に形成されているボール2aに放電が行われ
る。これによつてボール2aは暖められる。また
続く自動操作切換えによつて自動的にキヤピラリ
3が下降して第1ボンド点にボンドし、以後一連
のワイヤボンデイングを順次行う。
実験の結果、一旦良好なボールが形成されたと
ころへ再度スパークさせても何らボールの変形は
生じなかつた。即ち、一旦良好なボールが形成さ
れると、ワイヤ先端位置は上部にあり、再度スパ
ークしても再びボールが形成されることもなく、
最初のボールを暖めるだけである。またボール形
状不良の場合は再度のスパークによつてボール形
状不良が修正され、良好なボールが形成されるこ
とが判明した。
ころへ再度スパークさせても何らボールの変形は
生じなかつた。即ち、一旦良好なボールが形成さ
れると、ワイヤ先端位置は上部にあり、再度スパ
ークしても再びボールが形成されることもなく、
最初のボールを暖めるだけである。またボール形
状不良の場合は再度のスパークによつてボール形
状不良が修正され、良好なボールが形成されるこ
とが判明した。
このように、装置の自動操作前に行なうボール
形成、ボール形状検査の後に再度スパークさせて
ボールを暖めてボンデイングを行うので、初めの
第1ボンド点へのボンデイング品質が向上する。
形成、ボール形状検査の後に再度スパークさせて
ボールを暖めてボンデイングを行うので、初めの
第1ボンド点へのボンデイング品質が向上する。
またマガジン交換時にボール2aが形成された
状態で装置が停止した時も、マガジン交換後、ス
イツチ8をオンにすると共に自動操作ボタンを押
すことによつて、ボール2aは暖められてボンデ
イングされる。
状態で装置が停止した時も、マガジン交換後、ス
イツチ8をオンにすると共に自動操作ボタンを押
すことによつて、ボール2aは暖められてボンデ
イングされる。
次に本発明の他の実施例について説明する。本
実施例は、自動ワイヤボンデイング工程中におけ
るボール形成時に制御回路5より続けて2回のパ
ルスが出力するようにしてなる。即ち、第1回の
パルスによつてスイツチング回路6が作動し、ボ
ール形成装置7からの高電圧による放電によつて
ボール2aが片寄つたり、変形したりして形成さ
れた場合は、第2回のパルスによる放電によつて
ボール2aが良好なボールとなり、ボンデイング
品質が向上する。
実施例は、自動ワイヤボンデイング工程中におけ
るボール形成時に制御回路5より続けて2回のパ
ルスが出力するようにしてなる。即ち、第1回の
パルスによつてスイツチング回路6が作動し、ボ
ール形成装置7からの高電圧による放電によつて
ボール2aが片寄つたり、変形したりして形成さ
れた場合は、第2回のパルスによる放電によつて
ボール2aが良好なボールとなり、ボンデイング
品質が向上する。
(発明の効果)
以上の説明から明らかな如く、本発明によれ
ば、ワイヤの先端に高電圧を放電してボールを形
成した後、前記ボールに再度高電圧を放電させて
からボンデイングするので、ボンデイング品質が
向上する。
ば、ワイヤの先端に高電圧を放電してボールを形
成した後、前記ボールに再度高電圧を放電させて
からボンデイングするので、ボンデイング品質が
向上する。
図は本発明の方法に用いる装置の一実施例を示
す概略構成説明図である。 2……ワイヤ、2a……ボール、3……キヤピ
ラリ、4……放電電極、5……制御回路、6……
スイツチング回路、7……ボール形成装置、8…
…スイツチ。
す概略構成説明図である。 2……ワイヤ、2a……ボール、3……キヤピ
ラリ、4……放電電極、5……制御回路、6……
スイツチング回路、7……ボール形成装置、8…
…スイツチ。
Claims (1)
- 1 ワイヤスプールからキヤピラリの先端へ繰り
出されたワイヤの先端に高電圧を放電してボール
を形成した後、前記ボールに必ず再度高電圧を放
電させてから第1ボンド点にボンデイングするこ
とを特徴とするワイヤボンデイング方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58207104A JPS6098635A (ja) | 1983-11-04 | 1983-11-04 | ワイヤボンデイング方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58207104A JPS6098635A (ja) | 1983-11-04 | 1983-11-04 | ワイヤボンデイング方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6098635A JPS6098635A (ja) | 1985-06-01 |
JPH0219626B2 true JPH0219626B2 (ja) | 1990-05-02 |
Family
ID=16534264
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58207104A Granted JPS6098635A (ja) | 1983-11-04 | 1983-11-04 | ワイヤボンデイング方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6098635A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2607973B2 (ja) * | 1990-09-03 | 1997-05-07 | 豊田合成株式会社 | 自動車用ウエザーストリップ |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5681942A (en) * | 1979-10-18 | 1981-07-04 | Shinkawa Ltd | Ball formation in wire bonder |
-
1983
- 1983-11-04 JP JP58207104A patent/JPS6098635A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5681942A (en) * | 1979-10-18 | 1981-07-04 | Shinkawa Ltd | Ball formation in wire bonder |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2607973B2 (ja) * | 1990-09-03 | 1997-05-07 | 豊田合成株式会社 | 自動車用ウエザーストリップ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6098635A (ja) | 1985-06-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5058797A (en) | Detection method for wire bonding failures | |
US5981371A (en) | Bump forming method | |
US3934108A (en) | Lead bonding method and apparatus | |
US4476366A (en) | Controlled bonding wire ball formation | |
JPH0794545A (ja) | ワイヤボンデイング装置 | |
JPH0219626B2 (ja) | ||
JPS5916409B2 (ja) | ワイヤボンド形成方法 | |
JPS60231573A (ja) | 溶接機のア−クスタ−ト装置 | |
JPS6377131A (ja) | 半導体装置の検査方法 | |
JP3457196B2 (ja) | ボールボンディング方法 | |
JP2611891B2 (ja) | ワイヤボンディング装置及びその方法 | |
JPS5988842A (ja) | ワイヤの接続不良検出方法 | |
JPS6061174A (ja) | 溶接機制御法 | |
JPH0237098B2 (ja) | ||
JPH0513493A (ja) | ワイヤボンデイング装置 | |
JP2006013306A (ja) | ボールボンディング方法およびボールボンディング装置 | |
JPS6384132A (ja) | ワイヤボンデイング検査方法および検査装置 | |
JPH0250445A (ja) | ワイヤーボンディング方法 | |
JPS5943537A (ja) | ワイヤボンデイング装置 | |
JPH10321665A (ja) | ワイヤボンディング用ボールの適否判定方法 | |
JPS602154B2 (ja) | 抵抗溶接制御方法 | |
JPS62104126A (ja) | ワイヤボンデイング方法 | |
JPS62126643A (ja) | ワイヤボンデイング方法 | |
JP3908380B2 (ja) | ワイヤボンディング装置及び該装置を用いた半導体装置の製造方法 | |
JPH02194540A (ja) | ワイヤボンデイング方法 |