JPH02187647A - フーリエ変換赤外分光光度計 - Google Patents

フーリエ変換赤外分光光度計

Info

Publication number
JPH02187647A
JPH02187647A JP1007394A JP739489A JPH02187647A JP H02187647 A JPH02187647 A JP H02187647A JP 1007394 A JP1007394 A JP 1007394A JP 739489 A JP739489 A JP 739489A JP H02187647 A JPH02187647 A JP H02187647A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
fourier transform
sample stage
transform infrared
infrared spectrophotometer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP1007394A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0778454B2 (ja
Inventor
Osamu Yoshikawa
治 吉川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP739489A priority Critical patent/JPH0778454B2/ja
Publication of JPH02187647A publication Critical patent/JPH02187647A/ja
Publication of JPH0778454B2 publication Critical patent/JPH0778454B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Optical Measuring Cells (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はフーリエ変換赤外分光光度1t(FTIR)に
関するものである。
(従来の技術) フーリエ変換赤外分光光度計は、基本的な構成として干
渉計を備えた分光器、分光器の検出出力を収集しデジタ
ル信号に変換してコンピュータシステムに送出するA/
D変換部、並びに分光器及びA/D変換部の動作を制御
する制御部を含む。
フーリエ変換赤外分光光度計と他の手段との組合わせに
よる複合分析手段としては、フーリエ変換赤外分光光度
計に赤外顕微鏡を組み合わせたものが存在する。赤外顕
微鏡では試料を移動させる必要があるので、分光器の試
料室には試料ステージが設けられる。試料ステ、−ジは
、試料内位置における成分の違いを観察する際に手動で
駆動されて、被測定位置を定めるように使用される。
一方、A/D変換部のデータ収集動作は分光器の干渉計
の移動鏡の移動動作と同期して行なわれる。
試料ステージの移動を干渉計の動作と関連づける機構を
備えたフーリエ変換赤外分光光度計は存在しない。
(発明が解決しようとする課題) 試料ステージを備えたフーリエ変換赤外分光光度計にお
いては、例えば試料面内の特定の成分の分布を測定した
い場合がある。試料ステージによって試料を順次移動さ
せながらフーリエ変換赤外分光光度計による測定を行な
えばよいが、試料ステージの移動が干渉計の移動鏡の移
動やデータ収集と同期しないため、測定時間が長くなり
、また、試料内の位置の精度が悪い。
試料面内での測定は、例えば混合有機物の分析、半導体
の不純物解析、有機膜の組成解析や生体試料の解析など
に利用することができる。
本発明は、試料ステージを自動的に移動させて赤外吸収
を測定することによって、高速で、試料内位置決定を高
精度に行なって不純物などの成分の存在部位を検索し、
認識できるようにすることを目的とするものである。
(課題を解決するための手段) 本発明では分光器内の試料を赤外線入射方向に直交する
平面内で移動させる試料ステージと、制御部により制御
され試料ステージの移動を駆動する駆動機構を備える。
特に、好ましい態様では、試料ステージの移動を干渉計
の移動鏡の移動やデータ収集に同期させて、A/D変換
部がデータ収集を行なわない期間に試料ステージを移動
させる。
さらに、好ましい態様では、試料ステージの移動を試料
面内で均等に行なうのではなく、測定データに関連づけ
て、例えばグラムシュミット法を用いて各インターフェ
ログラムの違いを認識し、又は特定の波長における透過
率や吸光度によって、不純物の存在する部位のスペクト
ルのS/N比を向上させることができるように、その部
位の測定では積算スペクトルを得ることができるように
試料ステージの移動を制御する。
(作用) フーリエ変換赤外分光光度計では、主干渉計を構成する
鏡のうちの一方(移動鏡)が光軸に沿って前後に摺動し
て干渉信号を得ているが、A/D変換部によってデータ
を収集している時間は摺動の一周期のうちの高々1/3
〜1/2の時間である。例えば、第2図に示されるよう
に、移動鏡が3 Hzで移動している場合は、1周期が
333ミリ秒であり、往復方向でデータを収集するとす
れば、データ収集1回あたりの移動鏡の移動時間TOは
167ミリ秒となる。移動鏡の摺動は検出器の使用周波
数及び波数分解に依存しており、上記の167ミリ秒の
うちデータ収集に係る時間は高々65〜70ミリ秒であ
る。そのため、データ収集1回あたりについて約100
ミリ秒は単に移動鏡だけが移動している時間である。そ
こで、本発明ではデータ収集を行なわない時間帯に、例
えばステッピングモータによって試料ステージを移動さ
せる。
(実施例) 第1図は一実施例を表わす。
2はフーリエ変換赤外分光光度計の分光器であり、分光
器2には光源12、主干渉計、試料室。
検出器32及びコン1へロール干渉計34などが含まれ
ている。主干渉計は固定鏡14と移動鏡16及び両鏡1
4,16からの反射光を干渉させるビームスプリッタ2
0を含んでいる。移動鏡16はドライバ18によって駆
動され、光軸に沿って前後方向に摺動する。
コントロール干渉計34は、データ収集と移動鏡16の
安定摺動のために用いられるものであり、主干渉計の信
号光束と同軸上に通したH e −N eレーザなどを
用いて構成されている。
試料室では、試料30が試料ステージ22に取りつけら
れて、信号光束と直交する面内で移動できるように支持
されている。試料ステージ22はXモータ24.Yモー
タ26によってX方向とY方向に駆動される。モータ2
4,26としては例えばステッピングモータを用いる。
モータ24゜26はドライバ28によって駆動される。
試料3oを透過した信号光束は検出器32に導かれて検
出される。
検出器32の検出信号は前置増幅器とt増幅器を含む増
幅器4によって増幅され、A/D変換部6によってデジ
タル信号に変換されてコンビニ・−・タシステム部8に
取り込まれる。
制御部10は例えばCPUにより実現される。
制御部10はドライバ18によって移動鏡16を移動さ
せ、コントロール干渉tit 34からの干渉信号を入
力して、その干渉信号をトリガとしてA/D変換部6に
よりデータ収集を行なう。制御部10はまた、データ収
集を行なわない期間にドライバ28を介してXモータ2
4又はYモータ2Gの一方又は両方を駆動して試料ステ
ージ22を移動させる。
制御部10の動作を第3図により説明する。
移動鏡16は(A)に記号40て示されるように駆動さ
れる。期間T1はA、 / D変換部6によってデータ
収集を行なう期間である。(B)はモータ24,26が
4相ステツピングモータの2相励磁力式であるとした場
合の各励磁コイルA、B。
A’、B’への印加電圧を表わしている。
データ収集直後に相を変更する電圧が印加され、試料ス
テージ22が移動する。
第4図により一実施例の動作をさらに詳細に説明する。
試料の任意の位置でデータ収集を行ない、インターフェ
ログラムの収集が完了するとくステップSL、S2)、
移動鏡を逆方向に摺動させる条件をドライバ18に設定
する(ステップS3)。そして試料ステージのステッピ
ングモータ24と26の一方又は両方の駆動位相を変更
する(ステップS4)。グラムシュミツt−it算又は
フーリエ変換を計算しくステップss)、t+算結果を
表示装置にプロン1〜又は表示する(ステップS6)。
ダラムシュミット計算の場合は表示は1点であり、フー
リエ変換の場合はスペクトルの代表値又はスペクトル自
体を表示する。
同様にして、順次位置を変えながらデータを収集し、試
料の全データを収集する(ステップS7゜S8)  。
第5図(A)は、データ収集を行なう測定位置81〜S
nを表わしている。フーリエ変換赤外分光光度計により
得られるインターフェログラムは、それぞれ場所に依存
した情報を含むため、被測定試料部位の組成が異なれば
インターフェログラムの形状が異なる。例えばグラムシ
ュミット法により計算を行なったときは、第5図(B)
に示されるようなデータが得られる。
フーリエ変換赤外分光光度計にフーリエ変換アレイプロ
セッサを組み合わせれば、実時間でスペクトルを得るこ
とができる。例えば4000点のフーリエ変換を10ミ
リ秒以内で実行することができる。その場合、特定の波
長における透過率情報をプロットすれば、第5図(C)
に示されるようなデータが得られる。
第5図(B)や(C)のようなデータをしきい値と比較
し、それらの計算値又は測定値がしきい値を越えた場所
で試料ステージの移動を一定時間停止させるようにする
こともできる。しきい値を越えた場所には不純物などが
存在するので、その場所でのデータを積算すれば、S/
N比が向上する。
フーリエ変換アレイプロセッサを組み合わせた場合には
、各測定点についてスペクトルが得られるので、第5図
(D)に示されるような実時間での三次元表示を行なう
こともできるようになり、試料状態の認識性がさらに高
くなる。
実施例では試料ステージ22の移動を断続的に行なって
いるが、連続的に定速移動させるようにしてもよい。そ
の場合、被測定部位は点にならないので、位置分解能は
低下する。
また、実施例は試料ステージ22としてX−Yステージ
を示しているが、試料を平面内で移動できるものであれ
ば、例えばRθ力方向移動できるステージであってもよ
い。
本発明はフーリエ変換赤外分光光度計に試料を自動的に
移動させる機能を追加したものであってもよく、フーリ
エ変換赤外分光光度計に赤外顕微鏡を組み合わせた複合
装置において試料を自動的に移動させる機能を追加した
ものであってもよい。
(発明の効果) 本発明では分光器内の試料を赤外線入射方向に直交する
平面内で移動させる試料ステージと、制御部により制御
され試料ステージの移動を駆動する駆動機構を備えたの
で、従来のフーリエ変換赤外分光光度剖では実現できな
かった試料内の不純物の存在する場所の検索などを行な
うことが可能になる。
また、従来は不可能であった三次元表示やマツピング表
示が可能になり、認識性が向上する。
フーリエ変換、赤外分光光度計において、例えば薄層ク
ロマト(TLC)上に展開した液体クロマトグラフ(L
C)からの分離を組み合わすことにより、LC−FTI
Rを実現することができる。
また、試料ステージの移動をデータ収集と同期させると
、高速で測定を行なうことができる。
さらに、測定データによって、不純物が存在する場所で
試料ステージの移動を遅くするように制御すれば、S/
N比の高いデータを得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は一実施例を示す構成図、第2図は干渉計の移動
鏡の移動とデータ収集のタイミングを示す図、第3図は
一実施例における移動鏡、データ収集及び試料ステージ
の動作を示す波形図、第4図は一実施例の動作を示すフ
ローチャー1−図、第5図(A)は試料上の測定位置を
示す平面図、同図(B)はグラムシュミット法による計
算結果を示す図、同図(C)は透過率の測定結果を示す
図、同図CD)はスペクトルの三次元表示の例を示す図
である。 2・・・・・・分光器、6・・・・・・A/D変換部、
8・・・・コンピュータシステム部、10・・・・・制
御部、22・・・・・・試料ステージ、24.26・・
・・・・ステッピングモータ、28・・・・・ドライバ
、30・・・・・・試料。 特許出願人 株式会社島津製作所

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)干渉計を備えた分光器、分光器の検出出力を収集
    し、デジタル信号に変換してコンピュータシステムに送
    出するA/D変換部、並びに分光器及びA/D変換部の
    動作を制御する制御部を含むフーリエ変換赤外分光光度
    計において、分光器内の試料を赤外線入射方向に直交す
    る平面内で移動させる試料ステージと、制御部により制
    御され、試料ステージの移動を駆動する駆動機構とを備
    えたことを特徴とするフーリエ変換赤外分光光度計。
  2. (2)A/D変換部が出力の収集を行なわない期間に、
    制御部が試料ステージを移動させる信号をステージ駆動
    機構に送出する請求項1記載のフーリエ変換赤外分光光
    度計。
  3. (3)制御部はコンピュータシステムに取り込まれた測
    定データに関連して試料ステージの移動を制御する請求
    項1又は2に記載のフーリエ変換赤外分光光度計。
JP739489A 1989-01-13 1989-01-13 フーリエ変換赤外分光光度計 Expired - Lifetime JPH0778454B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP739489A JPH0778454B2 (ja) 1989-01-13 1989-01-13 フーリエ変換赤外分光光度計

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP739489A JPH0778454B2 (ja) 1989-01-13 1989-01-13 フーリエ変換赤外分光光度計

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH02187647A true JPH02187647A (ja) 1990-07-23
JPH0778454B2 JPH0778454B2 (ja) 1995-08-23

Family

ID=11664696

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP739489A Expired - Lifetime JPH0778454B2 (ja) 1989-01-13 1989-01-13 フーリエ変換赤外分光光度計

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0778454B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05240787A (ja) * 1991-03-08 1993-09-17 Rikagaku Kenkyusho 表面プラズモン顕微鏡
JP2002340793A (ja) * 2001-05-11 2002-11-27 Jasco Corp タンパク質二次構造の面分布測定方法及び装置
JP2008232813A (ja) * 2007-03-20 2008-10-02 Shimadzu Corp 干渉分光光度計

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6050436A (ja) * 1983-08-30 1985-03-20 Nippon Kokan Kk <Nkk> コ−クス及びセミコ−クス組織の同定方法
JPS61273516A (ja) * 1985-05-29 1986-12-03 Japan Spectroscopic Co フ−リエ変換顕微鏡

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6050436A (ja) * 1983-08-30 1985-03-20 Nippon Kokan Kk <Nkk> コ−クス及びセミコ−クス組織の同定方法
JPS61273516A (ja) * 1985-05-29 1986-12-03 Japan Spectroscopic Co フ−リエ変換顕微鏡

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05240787A (ja) * 1991-03-08 1993-09-17 Rikagaku Kenkyusho 表面プラズモン顕微鏡
JP2002340793A (ja) * 2001-05-11 2002-11-27 Jasco Corp タンパク質二次構造の面分布測定方法及び装置
JP4644383B2 (ja) * 2001-05-11 2011-03-02 日本分光株式会社 タンパク質二次構造の面分布測定方法及び装置
JP2008232813A (ja) * 2007-03-20 2008-10-02 Shimadzu Corp 干渉分光光度計

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0778454B2 (ja) 1995-08-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Griffiths Fourier transform infrared spectrometry
EP2221577B1 (en) Real time high speed high resolution hyper-spectral imaging
USRE36529E (en) Spectroscopic imaging device employing imaging quality spectral filters
US9448057B2 (en) Surface characteristic determining apparatus
US7301643B2 (en) Arrangement for building a miniaturized fourier transform interferometer for optical radiation according to the michelson principle or a principle derived therefrom
JP5201214B2 (ja) 分光光度計
EP0586053A1 (en) Dual interferometer spectroscopic imaging system
Griffiths et al. Rapid scan infrared Fourier transform spectroscopy
JP2011232106A (ja) Icp発光分光分析装置
US4699514A (en) Multibeam measuring device
JP5358890B2 (ja) 干渉分光光度計
JPH02187647A (ja) フーリエ変換赤外分光光度計
EP0586054A1 (en) Spectroscopic imaging system using a pulsed electromagnetic radiation source and an interferometer
US6459488B1 (en) Diffuse reflectance method and apparatus for determining thickness of an infrared translucent layer
US20120236305A1 (en) Multidimensional Spectrometer
JPH05231939A (ja) ステップスキャンフーリエ変換赤外分光装置
JPH0374794B2 (ja)
JP3577840B2 (ja) 半導体厚測定装置及びその測定方法
JPH08327550A (ja) ラマン分光測定装置
US20060119856A1 (en) Microscope
JPH0634439A (ja) 高分解能分光装置
JP2002168694A (ja) 分光器
Noble FT-IR SPECTROSCOPY
JPH0743296A (ja) 気体試料の濃度・温度同時計測方法
JPS63273043A (ja) 連続測定用分光光度計