JPH021804A - 光結合装置 - Google Patents
光結合装置Info
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- JPH021804A JPH021804A JP63142961A JP14296188A JPH021804A JP H021804 A JPH021804 A JP H021804A JP 63142961 A JP63142961 A JP 63142961A JP 14296188 A JP14296188 A JP 14296188A JP H021804 A JPH021804 A JP H021804A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、主として光フアイバ通信用装置に関し、特に
光学部品と光半導体素子を光学的に結合固定する装置に
おいて、光半導体素子の固定に充分なる熱接触と機械的
に安定な接合強度を持たせる構造に関する。
光学部品と光半導体素子を光学的に結合固定する装置に
おいて、光半導体素子の固定に充分なる熱接触と機械的
に安定な接合強度を持たせる構造に関する。
従来、この種の光フアイバー通信用装置では、光半導体
素子の固定は、半田固定が一般的であった。
素子の固定は、半田固定が一般的であった。
光半導体素子は、半導体チップをまずサブキャリアに半
田固定した状態で、特性選別、スクリーニングを行なう
のが一般的である為、装置への光素子の固定には、チッ
プをサブキャリアに固定した半田よりも、低融点の半田
が使用されていた。
田固定した状態で、特性選別、スクリーニングを行なう
のが一般的である為、装置への光素子の固定には、チッ
プをサブキャリアに固定した半田よりも、低融点の半田
が使用されていた。
上述した従来の半田固定技術には、半田には融点より充
分低い温度でも一定の負荷条件下で、半田が塑性変形を
起こす、いわゆる半田クリープ現象が存在する為、高精
度を要する光学装置の固定技術としては、信頼度に欠け
るという欠点がある。
分低い温度でも一定の負荷条件下で、半田が塑性変形を
起こす、いわゆる半田クリープ現象が存在する為、高精
度を要する光学装置の固定技術としては、信頼度に欠け
るという欠点がある。
例えば、半導体レーザ(LD)とシングルモードファイ
バーの結合系では、サブミクロ、ンの結合精度が要求さ
れるが、LDチップのマウントにAu S n (8o
/20)半田、融点283°、を使用した場合、サブキ
ャリアの固定には、Pb5n(63−37)半田、融点
183℃を使用するのが半田固定では一般的である。こ
の時、この装置の保存温度して85℃を要求された場合
、この光学系の安定度を、この半田固定構造で確保する
事は、上記半田クリープ現象の為に不可能である。
バーの結合系では、サブミクロ、ンの結合精度が要求さ
れるが、LDチップのマウントにAu S n (8o
/20)半田、融点283°、を使用した場合、サブキ
ャリアの固定には、Pb5n(63−37)半田、融点
183℃を使用するのが半田固定では一般的である。こ
の時、この装置の保存温度して85℃を要求された場合
、この光学系の安定度を、この半田固定構造で確保する
事は、上記半田クリープ現象の為に不可能である。
本発明は、光学部品搭載の機構体の一面に、くぼみをう
がち、高温に上げた上でその容積より少し多めの溶融半
田でそのくぼみを満たした後、光半導体素子を搭載した
金属容器の前記くぼみ表面より広い面積を有する面を、
前記機構体に面接触させながら、そのくぼみの上まで移
動させ溶融半田がくぼみ外にあまり広がらない状態で温
度な下げ、両部材を半田固定し、半田が広がっていない
両部材の接合部をレーザースポット溶接にて溶融接合す
る事を特徴している。
がち、高温に上げた上でその容積より少し多めの溶融半
田でそのくぼみを満たした後、光半導体素子を搭載した
金属容器の前記くぼみ表面より広い面積を有する面を、
前記機構体に面接触させながら、そのくぼみの上まで移
動させ溶融半田がくぼみ外にあまり広がらない状態で温
度な下げ、両部材を半田固定し、半田が広がっていない
両部材の接合部をレーザースポット溶接にて溶融接合す
る事を特徴している。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図(a) 、 (b)は、本発明の実施例を示す光
結合装置の平面図と断面図である。
結合装置の平面図と断面図である。
この実施例は、単レンズ結合のファイバーピグティル付
レーザーダイオードモジュール−1温調機構付を示して
いる。図中の1が主要機構体であり、8のロッドレンズ
を前もって、ロー付した後、4のレーザーチップキャリ
ア、10のモニター用PD12のチップサーミスタを搭
載する。4のレーザーチップキャリアの搭載部が本発明
の独創部にあたるが、これは、第2図を使って後でのべ
る。
レーザーダイオードモジュール−1温調機構付を示して
いる。図中の1が主要機構体であり、8のロッドレンズ
を前もって、ロー付した後、4のレーザーチップキャリ
ア、10のモニター用PD12のチップサーミスタを搭
載する。4のレーザーチップキャリアの搭載部が本発明
の独創部にあたるが、これは、第2図を使って後でのべ
る。
各チップを搭載の後、レーザーダイオードを発光させな
がら、9のファイバーフェルールを最適の光結合位置に
調整し、16のスライドリングを介して6の゛YAGレ
ーザスポット溶接により固定する。
がら、9のファイバーフェルールを最適の光結合位置に
調整し、16のスライドリングを介して6の゛YAGレ
ーザスポット溶接により固定する。
その後、その光結合系を、外装ケース13の中に電子温
調器11とともに組み込んで、本光結合装置が完成する
。
調器11とともに組み込んで、本光結合装置が完成する
。
次に第2図を使ってレーザーチップキャリアの搭載方法
をもう少し詳しく説明する。
をもう少し詳しく説明する。
まず、1は、第1図で説明した光学部品搭載の機構体の
一部であり、半田ダメの為のくぼみ2が、もうけである
。機構体lの温度を130℃ぐらい迄上げ、上記半田ダ
メ2に低温ハンダ3、例えばI nSn (48152
)を溶融させる。次に、その上にレーザーダイオード搭
載のチップキャリア4を矢印5の方向からパウンドし、
温度を下げて機構体1とチップキャリア4を接合させる
。
一部であり、半田ダメの為のくぼみ2が、もうけである
。機構体lの温度を130℃ぐらい迄上げ、上記半田ダ
メ2に低温ハンダ3、例えばI nSn (48152
)を溶融させる。次に、その上にレーザーダイオード搭
載のチップキャリア4を矢印5の方向からパウンドし、
温度を下げて機構体1とチップキャリア4を接合させる
。
レーザーダイオードは、チップキャリアに高温ハンダ、
例えばAuSn (80/20)等でマウントされてい
る。次に、機構体1とチップキャリア4の接合部で半田
で濡れていない部分をYAGスポット溶接6により融着
する。
例えばAuSn (80/20)等でマウントされてい
る。次に、機構体1とチップキャリア4の接合部で半田
で濡れていない部分をYAGスポット溶接6により融着
する。
第3図は、実施例の2を示したもので、レーザーチップ
キャリアにYAGレーザスポット溶接6を確実ならしめ
る為のフランジ部14が付いている。
キャリアにYAGレーザスポット溶接6を確実ならしめ
る為のフランジ部14が付いている。
YAGレーザスポット溶接は、被溶接部材の表面状態、
光の入射角度により、光の吸収されがたに変化が生じ再
現の良い良質な溶接がむつかしくなる。
光の入射角度により、光の吸収されがたに変化が生じ再
現の良い良質な溶接がむつかしくなる。
溶接を確実ならしめる為、図の様なフランジ部14をも
うけ、溶接面に出来るだけ垂直に光を入射させ、又光の
吸収を良くする為、例えばAuメッキ処理をはがし、下
地のNiメッキ面15を出すと、良質な溶接部を確保出
来る。
うけ、溶接面に出来るだけ垂直に光を入射させ、又光の
吸収を良くする為、例えばAuメッキ処理をはがし、下
地のNiメッキ面15を出すと、良質な溶接部を確保出
来る。
以上説明したように本発明は、低温ソルダーで、熱的接
触を確保した上で、YAGスポット溶接により、機械的
に安定な接合強度を持たせる事により、電気特性的にも
、長期の光学系の信頼性的にも、すぐれた光結合装置を
提供出来る効果を有している。
触を確保した上で、YAGスポット溶接により、機械的
に安定な接合強度を持たせる事により、電気特性的にも
、長期の光学系の信頼性的にも、すぐれた光結合装置を
提供出来る効果を有している。
第1図(a) 、 (b)は、本発明の光結合装置の平
面図とA−A’面の断面図である。 第2図(a) 、 (b) 、 (c)は、上記本発明
の光結合装置の発明に関する部分を抜粋した平面図、側
面図、正面図である。 第3図(a) 、 (b) 、 (c)は、本発明の実
施例2としてYAG溶接部にフランジを付けた平面図、
側面図、正面図である。 1・・・・・・光学部品搭載の機構体、2・・・・・・
半田ダメ、3・・・・・・半田、4・・・・・・光半導
体素子搭載の金属容器(レーザーダイオード、チップキ
ャリア)、5・・・・・・チップオンキャリアの半田マ
ウント方向、6・・・・・・YAGレーザスポエー溶接
部、7・・・・・・レーザーダイオードチップ、8・・
・・・・グリンロッドレンズ、9・・・・・・光フアイ
バーフェルール、10・・・・・・モニター用FDチッ
プ、11・・・・・・サーモエレクトリッククーラー
12・・・・・・チップサーミスタ、13・・・・・・
外装ケース、14・・・・・・フランジ部、15・・・
、・・・レーザー光吸収用表面処理部。 代理人 弁理士 内 原 晋 第Z回 15シープ−尤駁収馬寂ケ処理部 M3図
面図とA−A’面の断面図である。 第2図(a) 、 (b) 、 (c)は、上記本発明
の光結合装置の発明に関する部分を抜粋した平面図、側
面図、正面図である。 第3図(a) 、 (b) 、 (c)は、本発明の実
施例2としてYAG溶接部にフランジを付けた平面図、
側面図、正面図である。 1・・・・・・光学部品搭載の機構体、2・・・・・・
半田ダメ、3・・・・・・半田、4・・・・・・光半導
体素子搭載の金属容器(レーザーダイオード、チップキ
ャリア)、5・・・・・・チップオンキャリアの半田マ
ウント方向、6・・・・・・YAGレーザスポエー溶接
部、7・・・・・・レーザーダイオードチップ、8・・
・・・・グリンロッドレンズ、9・・・・・・光フアイ
バーフェルール、10・・・・・・モニター用FDチッ
プ、11・・・・・・サーモエレクトリッククーラー
12・・・・・・チップサーミスタ、13・・・・・・
外装ケース、14・・・・・・フランジ部、15・・・
、・・・レーザー光吸収用表面処理部。 代理人 弁理士 内 原 晋 第Z回 15シープ−尤駁収馬寂ケ処理部 M3図
Claims (2)
- (1)光学部品を搭載する第一の部材の一平面にくぼみ
を設け、光半導体素子を搭載する第二の部材の前記くぼ
みより大きな一平面と前記くぼみを設けた一平面とを接
合させ、機械的な接合強度は、該接合部をレーザー溶接
する事により確保し、熱的な接触は、前記くぼみに半田
を満たし、両部材間に半田で濡れ接触させる事により確
保する事を特徴とする光結合装置。 - (2)前記、光半導体素子搭載の第二の部材にレーザー
溶接用の平板状ツバ部をもうけ、その溶接部の表面処理
として、レーザー光の吸収を良くする処理(例えば部分
金メッキ除去)をほどこした事を特徴とする請求項(1
)記載の光結合装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63142961A JPH0786579B2 (ja) | 1988-06-09 | 1988-06-09 | 光結合装置 |
US07/363,737 US5068865A (en) | 1988-06-09 | 1989-06-09 | Semiconductor laser module |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63142961A JPH0786579B2 (ja) | 1988-06-09 | 1988-06-09 | 光結合装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH021804A true JPH021804A (ja) | 1990-01-08 |
JPH0786579B2 JPH0786579B2 (ja) | 1995-09-20 |
Family
ID=15327687
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63142961A Expired - Lifetime JPH0786579B2 (ja) | 1988-06-09 | 1988-06-09 | 光結合装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0786579B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8553738B2 (en) | 2007-12-28 | 2013-10-08 | Mitsubishi Electric Corporation | Laser light source device |
-
1988
- 1988-06-09 JP JP63142961A patent/JPH0786579B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8553738B2 (en) | 2007-12-28 | 2013-10-08 | Mitsubishi Electric Corporation | Laser light source device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0786579B2 (ja) | 1995-09-20 |
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