JPH021804A - 光結合装置 - Google Patents

光結合装置

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JPH021804A
JPH021804A JP63142961A JP14296188A JPH021804A JP H021804 A JPH021804 A JP H021804A JP 63142961 A JP63142961 A JP 63142961A JP 14296188 A JP14296188 A JP 14296188A JP H021804 A JPH021804 A JP H021804A
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JP
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solder
optical
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temp
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JP63142961A
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Yasunobu Oshima
大島 康伸
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NEC Corp
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NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、主として光フアイバ通信用装置に関し、特に
光学部品と光半導体素子を光学的に結合固定する装置に
おいて、光半導体素子の固定に充分なる熱接触と機械的
に安定な接合強度を持たせる構造に関する。
〔従来の技術〕
従来、この種の光フアイバー通信用装置では、光半導体
素子の固定は、半田固定が一般的であった。
光半導体素子は、半導体チップをまずサブキャリアに半
田固定した状態で、特性選別、スクリーニングを行なう
のが一般的である為、装置への光素子の固定には、チッ
プをサブキャリアに固定した半田よりも、低融点の半田
が使用されていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の半田固定技術には、半田には融点より充
分低い温度でも一定の負荷条件下で、半田が塑性変形を
起こす、いわゆる半田クリープ現象が存在する為、高精
度を要する光学装置の固定技術としては、信頼度に欠け
るという欠点がある。
例えば、半導体レーザ(LD)とシングルモードファイ
バーの結合系では、サブミクロ、ンの結合精度が要求さ
れるが、LDチップのマウントにAu S n (8o
/20)半田、融点283°、を使用した場合、サブキ
ャリアの固定には、Pb5n(63−37)半田、融点
183℃を使用するのが半田固定では一般的である。こ
の時、この装置の保存温度して85℃を要求された場合
、この光学系の安定度を、この半田固定構造で確保する
事は、上記半田クリープ現象の為に不可能である。
〔課題を屏決するための手段〕
本発明は、光学部品搭載の機構体の一面に、くぼみをう
がち、高温に上げた上でその容積より少し多めの溶融半
田でそのくぼみを満たした後、光半導体素子を搭載した
金属容器の前記くぼみ表面より広い面積を有する面を、
前記機構体に面接触させながら、そのくぼみの上まで移
動させ溶融半田がくぼみ外にあまり広がらない状態で温
度な下げ、両部材を半田固定し、半田が広がっていない
両部材の接合部をレーザースポット溶接にて溶融接合す
る事を特徴している。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図(a) 、 (b)は、本発明の実施例を示す光
結合装置の平面図と断面図である。
この実施例は、単レンズ結合のファイバーピグティル付
レーザーダイオードモジュール−1温調機構付を示して
いる。図中の1が主要機構体であり、8のロッドレンズ
を前もって、ロー付した後、4のレーザーチップキャリ
ア、10のモニター用PD12のチップサーミスタを搭
載する。4のレーザーチップキャリアの搭載部が本発明
の独創部にあたるが、これは、第2図を使って後でのべ
る。
各チップを搭載の後、レーザーダイオードを発光させな
がら、9のファイバーフェルールを最適の光結合位置に
調整し、16のスライドリングを介して6の゛YAGレ
ーザスポット溶接により固定する。
その後、その光結合系を、外装ケース13の中に電子温
調器11とともに組み込んで、本光結合装置が完成する
次に第2図を使ってレーザーチップキャリアの搭載方法
をもう少し詳しく説明する。
まず、1は、第1図で説明した光学部品搭載の機構体の
一部であり、半田ダメの為のくぼみ2が、もうけである
。機構体lの温度を130℃ぐらい迄上げ、上記半田ダ
メ2に低温ハンダ3、例えばI nSn (48152
)を溶融させる。次に、その上にレーザーダイオード搭
載のチップキャリア4を矢印5の方向からパウンドし、
温度を下げて機構体1とチップキャリア4を接合させる
レーザーダイオードは、チップキャリアに高温ハンダ、
例えばAuSn (80/20)等でマウントされてい
る。次に、機構体1とチップキャリア4の接合部で半田
で濡れていない部分をYAGスポット溶接6により融着
する。
第3図は、実施例の2を示したもので、レーザーチップ
キャリアにYAGレーザスポット溶接6を確実ならしめ
る為のフランジ部14が付いている。
YAGレーザスポット溶接は、被溶接部材の表面状態、
光の入射角度により、光の吸収されがたに変化が生じ再
現の良い良質な溶接がむつかしくなる。
溶接を確実ならしめる為、図の様なフランジ部14をも
うけ、溶接面に出来るだけ垂直に光を入射させ、又光の
吸収を良くする為、例えばAuメッキ処理をはがし、下
地のNiメッキ面15を出すと、良質な溶接部を確保出
来る。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、低温ソルダーで、熱的接
触を確保した上で、YAGスポット溶接により、機械的
に安定な接合強度を持たせる事により、電気特性的にも
、長期の光学系の信頼性的にも、すぐれた光結合装置を
提供出来る効果を有している。
【図面の簡単な説明】
第1図(a) 、 (b)は、本発明の光結合装置の平
面図とA−A’面の断面図である。 第2図(a) 、 (b) 、 (c)は、上記本発明
の光結合装置の発明に関する部分を抜粋した平面図、側
面図、正面図である。 第3図(a) 、 (b) 、 (c)は、本発明の実
施例2としてYAG溶接部にフランジを付けた平面図、
側面図、正面図である。 1・・・・・・光学部品搭載の機構体、2・・・・・・
半田ダメ、3・・・・・・半田、4・・・・・・光半導
体素子搭載の金属容器(レーザーダイオード、チップキ
ャリア)、5・・・・・・チップオンキャリアの半田マ
ウント方向、6・・・・・・YAGレーザスポエー溶接
部、7・・・・・・レーザーダイオードチップ、8・・
・・・・グリンロッドレンズ、9・・・・・・光フアイ
バーフェルール、10・・・・・・モニター用FDチッ
プ、11・・・・・・サーモエレクトリッククーラー 
12・・・・・・チップサーミスタ、13・・・・・・
外装ケース、14・・・・・・フランジ部、15・・・
、・・・レーザー光吸収用表面処理部。 代理人 弁理士  内 原   晋 第Z回 15シープ−尤駁収馬寂ケ処理部 M3図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光学部品を搭載する第一の部材の一平面にくぼみ
    を設け、光半導体素子を搭載する第二の部材の前記くぼ
    みより大きな一平面と前記くぼみを設けた一平面とを接
    合させ、機械的な接合強度は、該接合部をレーザー溶接
    する事により確保し、熱的な接触は、前記くぼみに半田
    を満たし、両部材間に半田で濡れ接触させる事により確
    保する事を特徴とする光結合装置。
  2. (2)前記、光半導体素子搭載の第二の部材にレーザー
    溶接用の平板状ツバ部をもうけ、その溶接部の表面処理
    として、レーザー光の吸収を良くする処理(例えば部分
    金メッキ除去)をほどこした事を特徴とする請求項(1
    )記載の光結合装置。
JP63142961A 1988-06-09 1988-06-09 光結合装置 Expired - Lifetime JPH0786579B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63142961A JPH0786579B2 (ja) 1988-06-09 1988-06-09 光結合装置
US07/363,737 US5068865A (en) 1988-06-09 1989-06-09 Semiconductor laser module

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JP63142961A JPH0786579B2 (ja) 1988-06-09 1988-06-09 光結合装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH021804A true JPH021804A (ja) 1990-01-08
JPH0786579B2 JPH0786579B2 (ja) 1995-09-20

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ID=15327687

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JP63142961A Expired - Lifetime JPH0786579B2 (ja) 1988-06-09 1988-06-09 光結合装置

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JP (1) JPH0786579B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8553738B2 (en) 2007-12-28 2013-10-08 Mitsubishi Electric Corporation Laser light source device

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US8553738B2 (en) 2007-12-28 2013-10-08 Mitsubishi Electric Corporation Laser light source device

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JPH0786579B2 (ja) 1995-09-20

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