JPH02170068A - 集積回路試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は電子回路網試験装置に関し、特に集積回路部品
試験装置に関する６ 〔従来の技術〕 従来、この種の集積回路試験装置は、被試験信号と期待
信号の時経列的タイミングと時経列的なレベルの変化を
比較することにより、試験を行うが、比較動作を行うタ
イミングを試験装置内部の基準クロックにより発生する
ストローブ信号をもって行っていた。

〔発明か解決しようとする課題〕

上述した従来の集積回路試験装置は、被試験信号と期待
信号の時経列タイミングと時経列的なレベル変化の比較
において比較動作を行うタイミングを試験装置内部の基
準クロックにより発生ずるストローブ信号をもって行っ
ていたため、ストローブ信号間に発生したクリッジ等の
レベルの瞬時変化は検出できないという欠点かある。ま
たストローブ間での連続的なレベル変化は比較するべき
期待レベルかストローブ間で連続的に設定できないため
、試験できす、予め期待信号か予知できない集積回路部
品の試験に際しては入力信号を印加し、その出力応答を
１度測定し、期待信号を生成するという作業なしに試験
できないという欠点かある。

本発明の目的は前期課題を解決した集積回路試験装置を
提供することにある。

〔課題を解決するための手段〕

前期目的を達成するなめ、本発明は期待信号と被試験集
積回路の試験信号とを比較し、集積回路を試験する集積
回路試験装置において、前記２信号を入力信号としてそ
のパルスエツジの到来を検知し、エツジの検出信号を出
力する２つのエツジ検出回路と、前記２つのエツジ検出
信号のどちらか早く到達した信号によりタイマーを起動
し、もう１つのエツジ検出信号がタイマー終了より早く
到来ずれは、タイマーを初期状態に戻し、そうでなけれ
ば、タイミングエラー信号を送出するタイマー回路と、
前記期待信号と予め設定されたレベル余裕値との和を上
限値とし差を下限値とし前記試験信号と比較するレベル
比較回路とを具備した試験回路を前記試験信号毎に備え
たものである。

〔実施例〕

以下、本発明の一実施例を図により説明する。

第１図は本発明の一実施例を示す回路図である。

図において、本発明の集積回路試験装置は、被試験集積
回路の試験信号とそれに対応する期待信号の２つの信号
を入力信号として、そのパルスエツジの到来を検知し、
エツジの検出信号を出力する２つのエツジ検出回路５，
６と、前期２つのエツジ検出信号のどちらか早く到達し
た信号によりタイマーを起動し、もう１つのエツジ検出
信号がタイマー終了より早く到来すればタイマーを初期
状態に戻し、そうでなければ、タイミングエラー信号を
送出するタイマー回路つと、前期期待信号と予め設定さ
れたレベル余裕値との和を上限値とし差を下限値とし前
期試験信号と比較するレベル比較回路１０を具皓した試
験回路を前期試験信号毎に備えている。

第２図は第１図ａ〜ｇ各点の波形を示し、第２図のＴ１
−Ｔ１４は波形の時経列的遷移状態を説明するものであ
る。第２図において、ａは期待信号、ｂは被試験信号で
ある。信号ａ、ｂは被試験信号入力端子１と期待信号入
力端子２を介してエツジ検出回路５，６に入力される。

回路５．６は信号ａ、ｂそれぞれのパルスエツジを検出
し、信号Ｃｄを出力する。タイマー回路９は予めｔｏな
る時間余裕値が設定されており、信号Ｃスはｄのエツジ
検出信号のどちらか早く到達した信号で起動し、ｔｏ内
にもう１つのエツジ検出信号が到達しなければタイミン
グエラー信号ｆを出力し初期状態に戻り、到達すれば初
期状態に復帰する。また、タイマー動作中は動作中であ
ることを示す信号ｅをゲート回路１１に供給する。第２
図では時間Ｔ６Ｔ１３でタイミングエラーを検出する。

レベル比較回路１０は、期待信号ａとレベル余裕入力端
子４より入力された余裕値の和ｂ１と差ｂ２と試験信号
すとを比較し、その比＊９．信号を前記タイマー回路９
の動作中、つまりタイミング検証中は前記信号ｅにより
回路を閉ざすゲート回路１１に入力しレベルエラー信号
ｇを出力する。３はタイミング余裕データ入力端子であ
る。第２図では、Ｔ９からＴ１２及びＴ１４でレベルエ
ラー信号ｇを出力する。ス、本発明における被試験信号
のタイミング試験、出力レベル試験の検証タイミングは
被試験信号及び期待信号のパルスエツジより抽出してお
り、又レベル比較回路１０では前述したようにレベル比
較回路１０に入力された期待値に対応した上限値、下限
値と被試験信号とを比較しているため、期待信号を被試
験集積回路と同等な機能をもった集積回路の出力信号よ
り得ることが可能となる。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明は試験装置でのスロープ信号
間で発生したグリッジを検出できるとともに、スｌ〜ロ
ーブ信号間で連続的にレベルが変化する信号の試験を行
うことができる。又、期待信号として被試験集積回路と
同等な集積回路の出力信号を用いることが可能であり、
その出力応答が予知できない集積回路部品の試験が行な
えるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す回路図、図は波形図で
ある。 １・・・被試験信号入力端子 ２・・・期待信号入力端子 ３・・・タイミング余裕データ入力端子４・・・レベル
余裕データ入力端子 ５．６・・・エツジ検出回路 ７・・・タイミングエラー出力端子 ８・・・レベルエラー出力端子 ９・・・タイマー回路 １０・・・レベル比較回路 第２ 特許出願人　　　日本電気株式会社

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）期待信号と被試験集積回路の試験信号とを比較し
   、集積回路を試験する集積回路試験装置において、前記
   ２信号を入力信号としてそのパルスエッジの到来を検知
   し、エッジの検出信号を出力する２つのエッジ検出回路
   と、前記２つのエッジ検出信号のどちらか早く到達した
   信号によりタイマーを起動し、もう１つのエッジ検出信
   号がタイマー終了より早く到来すれば、タイマーを初期
   状態に戻し、そうでなければ、タイミングエラー信号を
   送出するタイマー回路と、前記期待信号と予め設定され
   たレベル余裕値との和を上限値とし差を下限値とし前記
   試験信号と比較するレベル比較回路とを具備した試験回
   路を前記試験信号毎に備えたことを特徴とする集積回路
   試験装置。