JPH0216468A - 故障モード効果解析シミュレーション方法 - Google Patents
故障モード効果解析シミュレーション方法Info
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- JPH0216468A JPH0216468A JP63166235A JP16623588A JPH0216468A JP H0216468 A JPH0216468 A JP H0216468A JP 63166235 A JP63166235 A JP 63166235A JP 16623588 A JP16623588 A JP 16623588A JP H0216468 A JPH0216468 A JP H0216468A
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- analysis circuit
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 20
- 238000012217 deletion Methods 0.000 claims abstract description 7
- 230000037430 deletion Effects 0.000 claims abstract description 7
- 238000011058 failure modes and effects analysis Methods 0.000 claims abstract description 6
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 54
- 238000007792 addition Methods 0.000 claims description 5
- 238000012986 modification Methods 0.000 claims description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 claims description 3
- 230000011218 segmentation Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 14
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 10
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 1
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- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はFMEAシュミレーションにおける解析回路の
切り出し方法に関するものである。
切り出し方法に関するものである。
[従来の技術〕
FMEAシュミレーションは故障モード効果解析(Fa
il Mode ErrecL Analisys )
を模擬試験するもので、例えば自動車用の電子制御ユニ
ット(ECU;Electronics Contro
l Unit)の自動解析に用いられる。このFMEA
シュミレーションを実行するためには、シュミレーショ
ンの対象となる解析回路ブロックを形成する必要がある
。この解析回路ブロックを形成する手法としては、最初
から新たな回路としてコンピュータ等で人間が設計して
いく場合と、既存あるいは新規入力された回路ブロック
から解析回路を切り出し、これらを組み合わせてコンピ
ュータで1つの解析回路ブロックを設計していく場合が
ある。
il Mode ErrecL Analisys )
を模擬試験するもので、例えば自動車用の電子制御ユニ
ット(ECU;Electronics Contro
l Unit)の自動解析に用いられる。このFMEA
シュミレーションを実行するためには、シュミレーショ
ンの対象となる解析回路ブロックを形成する必要がある
。この解析回路ブロックを形成する手法としては、最初
から新たな回路としてコンピュータ等で人間が設計して
いく場合と、既存あるいは新規入力された回路ブロック
から解析回路を切り出し、これらを組み合わせてコンピ
ュータで1つの解析回路ブロックを設計していく場合が
ある。
ところが、前者の手法ではFMEAシュミレーションの
たびに最初から回路を形成しなければならず、多大な労
力を要する。これに対し、後者の手法では既存の回路を
利用できるので、労力を削減できる。しかし、このよう
な手法として有効なものは、未だ見出されていない。こ
のため、効率よ< FMEAシュミレーションを実行す
る上での障害となっていた。
たびに最初から回路を形成しなければならず、多大な労
力を要する。これに対し、後者の手法では既存の回路を
利用できるので、労力を削減できる。しかし、このよう
な手法として有効なものは、未だ見出されていない。こ
のため、効率よ< FMEAシュミレーションを実行す
る上での障害となっていた。
そこで本発明は、FMEAシュミレーションに供する解
析回路ブロックを、既存あるいは新規入力された回路ブ
ロックから切り出した解析回路で形成するに際し、その
効率を著しく向上することのできる切り出し方法を提供
することを目的とする。
析回路ブロックを、既存あるいは新規入力された回路ブ
ロックから切り出した解析回路で形成するに際し、その
効率を著しく向上することのできる切り出し方法を提供
することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は、電子回路の回路構成部品ごとに故障モードを
設定し、電子回路を自動解析するFMEAシュミレーシ
ョンにおける解析回路の切り出し方法において、少なく
とも1つの解析回路をそれぞれ含む複数の回路ブロック
を記憶する第1のステップと、切り出すべき解析回路を
含む回路ブロックを読み出し、入出力ノードを設定する
ことで当該解析回路を切り出す第2のステップと、切り
出された解析回路の回路変更、追加、削除があるときは
これを実行する第3のステップと、解析回路の切り出し
が全て終了するまで第2および第3のステップを繰り返
し、切り出が終了したときにFMEAシュミレーション
を実行すべき電子回路を出力する第4のステップとを備
えることを特徴とする。
設定し、電子回路を自動解析するFMEAシュミレーシ
ョンにおける解析回路の切り出し方法において、少なく
とも1つの解析回路をそれぞれ含む複数の回路ブロック
を記憶する第1のステップと、切り出すべき解析回路を
含む回路ブロックを読み出し、入出力ノードを設定する
ことで当該解析回路を切り出す第2のステップと、切り
出された解析回路の回路変更、追加、削除があるときは
これを実行する第3のステップと、解析回路の切り出し
が全て終了するまで第2および第3のステップを繰り返
し、切り出が終了したときにFMEAシュミレーション
を実行すべき電子回路を出力する第4のステップとを備
えることを特徴とする。
本発明によれば、解析回路ブロックを構成する解、折回
路は、既存あるいは新規入力された回路ブロックから順
次に切り出され、その過程で回路の追加、変更、削除も
実行される。従って、コンピュータとマンマシンインタ
フェースを利用したFMEAシュミレーションの対象回
路の形成が可能になる。
路は、既存あるいは新規入力された回路ブロックから順
次に切り出され、その過程で回路の追加、変更、削除も
実行される。従って、コンピュータとマンマシンインタ
フェースを利用したFMEAシュミレーションの対象回
路の形成が可能になる。
以下、添付図面の第1図ないし第5図にもとづいて、本
発明の詳細な説明する。なお、図面の説明において同一
要素には同一符号を付し、重複する説明を省略する。
発明の詳細な説明する。なお、図面の説明において同一
要素には同一符号を付し、重複する説明を省略する。
第1図は本発明の実施例のフローチャートであり、第2
図はFMEAシュミレーションの全体的な処理を示すフ
ローチャートである。第2図により全体処理を説明する
と、まず切り出す元となる回路図が入力される(ステッ
プ201)。この回路図には、最初から入力されている
既存のものと、新規に入力するものとがあり、これらは
磁気ディスク装置等のメモリ(第1のメモリ)に格納さ
れる。次に、FMEA故障モードが入力される(ステッ
プ202)。このFMEA故障モードについては、例え
ばダイオードではアノードとカソードの短絡(ショート
)および開放(オーブン)であり、バイポーラトランジ
スタではベース拳コレクタ間の短絡などである。次に、
処理対象の回路図の切り出しが実行される(ステップ2
03)が、これについては後述する。
図はFMEAシュミレーションの全体的な処理を示すフ
ローチャートである。第2図により全体処理を説明する
と、まず切り出す元となる回路図が入力される(ステッ
プ201)。この回路図には、最初から入力されている
既存のものと、新規に入力するものとがあり、これらは
磁気ディスク装置等のメモリ(第1のメモリ)に格納さ
れる。次に、FMEA故障モードが入力される(ステッ
プ202)。このFMEA故障モードについては、例え
ばダイオードではアノードとカソードの短絡(ショート
)および開放(オーブン)であり、バイポーラトランジ
スタではベース拳コレクタ間の短絡などである。次に、
処理対象の回路図の切り出しが実行される(ステップ2
03)が、これについては後述する。
ステップ203が終了すると、入出力条件の設定がなさ
れる(ステップ204)。これは、例えば電源端子の電
圧レベルを設定したり、出力端子の出力モードをパルス
モードに設定したりすることである。以上の前処理が終
了すると、FMEAシュミレーションの本処理がされる
(ステップ205)、この処理手続はあらかじめプログ
ラムされており、例えば故障率の計算などが実行される
。しかる後、ステップ205におけるFMEAシュミレ
ーションの結果が出力される(ステップ206)。この
出力は、リストにプリントすることで行なってもよいが
、CRTのようなモニタ等で表示するようにしてもよい
。
れる(ステップ204)。これは、例えば電源端子の電
圧レベルを設定したり、出力端子の出力モードをパルス
モードに設定したりすることである。以上の前処理が終
了すると、FMEAシュミレーションの本処理がされる
(ステップ205)、この処理手続はあらかじめプログ
ラムされており、例えば故障率の計算などが実行される
。しかる後、ステップ205におけるFMEAシュミレ
ーションの結果が出力される(ステップ206)。この
出力は、リストにプリントすることで行なってもよいが
、CRTのようなモニタ等で表示するようにしてもよい
。
次に、第1図、第3図ないし第5図を参照して、本発明
の実施例の処理を詳細に説明する。
の実施例の処理を詳細に説明する。
第1図はその詳細なフローチャートであり、第3図は第
1図の処理を実行するためのハードウェアを示す図であ
り、第4図は既存ファイル(OL D)と新規入力ファ
イル(NEW)から解析回路ブロックを形成する方法を
説明する図であり、第5図は解析回路の切り出し例を示
す図である。
1図の処理を実行するためのハードウェアを示す図であ
り、第4図は既存ファイル(OL D)と新規入力ファ
イル(NEW)から解析回路ブロックを形成する方法を
説明する図であり、第5図は解析回路の切り出し例を示
す図である。
まず、第3図によりハードウェア構成を説明すると、こ
のシステムでは処理の中心としてCPU31が設けられ
、これにCRT32とキーボード33が接続される。こ
のCRT32とキーボード33でマンマシンインタフェ
ースが構成され、CRT32は解析回路のモニタ表示等
に用いられ、キーボード33は解析回路ブロックの指定
や解析回路の変更等に用いられる。メモリ34は処理中
の解析回路等を一時的に格納するもので、高速の読み出
しおよび書き込みが可能になっている。磁気ディスク記
憶装置などからなるディスク35〜36のうち、ディス
ク35は既存の回路図を記憶しておくもの(OLDディ
スク35)であり、ディスク36は新規に入力された回
路図を記憶しておくもの(NEWディスク36)であり
、ディスク36は本発明の処理により新たに形成された
FMEAシュミレーションのための回路を記憶しておく
もの(FMEAディスク37)である。
のシステムでは処理の中心としてCPU31が設けられ
、これにCRT32とキーボード33が接続される。こ
のCRT32とキーボード33でマンマシンインタフェ
ースが構成され、CRT32は解析回路のモニタ表示等
に用いられ、キーボード33は解析回路ブロックの指定
や解析回路の変更等に用いられる。メモリ34は処理中
の解析回路等を一時的に格納するもので、高速の読み出
しおよび書き込みが可能になっている。磁気ディスク記
憶装置などからなるディスク35〜36のうち、ディス
ク35は既存の回路図を記憶しておくもの(OLDディ
スク35)であり、ディスク36は新規に入力された回
路図を記憶しておくもの(NEWディスク36)であり
、ディスク36は本発明の処理により新たに形成された
FMEAシュミレーションのための回路を記憶しておく
もの(FMEAディスク37)である。
次に、第4図により解析回路ブロックの形成を説明する
。
。
まず、第3図のOLDディスク35には第4図のように
既存ファイル(OL D)が記憶されており、この既存
ファイル(OL D)は回路ブロックI、解析回路Bを
有する回路ブロック■および解析回路Aを有する回路ブ
ロック■を含んでいるものとする。また、第3図のNE
Wディスク36には第4図のように新規入力ファイル(
NEW)が存在しており、この新規入力ファイル(NE
W)は解析回路Cを有する回路ブロック■と解析回路り
および解析回路Eを有する回路ブロックVを含んでいる
ものとする。
既存ファイル(OL D)が記憶されており、この既存
ファイル(OL D)は回路ブロックI、解析回路Bを
有する回路ブロック■および解析回路Aを有する回路ブ
ロック■を含んでいるものとする。また、第3図のNE
Wディスク36には第4図のように新規入力ファイル(
NEW)が存在しており、この新規入力ファイル(NE
W)は解析回路Cを有する回路ブロック■と解析回路り
および解析回路Eを有する回路ブロックVを含んでいる
ものとする。
この様なファイルを用いて、最終的に第3図のFMEA
ディスク37に格納されるFMEAシュミレーション用
ファイル(FMEA)が形成されるのであるが、この回
路ブロックVは第4図のような解析回路No、1〜5の
回路が含まれている。
ディスク37に格納されるFMEAシュミレーション用
ファイル(FMEA)が形成されるのであるが、この回
路ブロックVは第4図のような解析回路No、1〜5の
回路が含まれている。
ここにおいてNo、1の回路は解析回路Aに回路aを付
加したもの(回路A+a)であり、No。
加したもの(回路A+a)であり、No。
2の回路は解析回路Bに変形を加えたもの(回路B’
)であり、No、3の回路は解析回路Cから回路Cを削
除したもの(回路C−c)であり、N024およびNo
、5の回路はそれぞれ解析回路り、Eと同一の回路(回
路り、E)である。
)であり、No、3の回路は解析回路Cから回路Cを削
除したもの(回路C−c)であり、N024およびNo
、5の回路はそれぞれ解析回路り、Eと同一の回路(回
路り、E)である。
次に第1図を参照して本発明の処理手順を説明する。
まず、ステップ101において回路No、1の解析回路
Aを含む回路ブロック■を指定する。この指定はキーボ
ード33を介して行なう。次に、解析回路No、1を自
動的メモリにセットしくステップ102)、ステップ1
03で自動切り出しとされたときは自動切り出しをあら
かじめ設定された手順で実行し、手動切り出しのときは
キーボード33を介して入出力ノードを指定する(ステ
ップ105)。これを第5図により説明すると、まず既
存ファイル(OLD)中の解析回路Aが実線のようにな
っているときに、入出力ノードとして第5図中のN1〜
N4を指定する。これにより、実線で示す解析回路Aが
切り出される。そして、ステップ106で追加、変更、
削除が有りとされたときのみ、回路の追加、変更、削除
を実行する(ステップ107)。第5図の場合には、実
線で示す解析回路Aに点線で示す回路aを付加するので
あるから、これをキーボード33で指示する。
Aを含む回路ブロック■を指定する。この指定はキーボ
ード33を介して行なう。次に、解析回路No、1を自
動的メモリにセットしくステップ102)、ステップ1
03で自動切り出しとされたときは自動切り出しをあら
かじめ設定された手順で実行し、手動切り出しのときは
キーボード33を介して入出力ノードを指定する(ステ
ップ105)。これを第5図により説明すると、まず既
存ファイル(OLD)中の解析回路Aが実線のようにな
っているときに、入出力ノードとして第5図中のN1〜
N4を指定する。これにより、実線で示す解析回路Aが
切り出される。そして、ステップ106で追加、変更、
削除が有りとされたときのみ、回路の追加、変更、削除
を実行する(ステップ107)。第5図の場合には、実
線で示す解析回路Aに点線で示す回路aを付加するので
あるから、これをキーボード33で指示する。
その結果は、CRT32によってモニタ表示される(ス
テップ108)。
テップ108)。
このステップ107,108は追加、変更等が完了する
まで繰り返され(ステップ109)、終了したら解析回
路No、の更新(ステップ111)と次の回路ブロック
の指定がされる(ステップ111)。この場合には、回
路No、2としての解析回路Bを含む回路ブロック■が
指定される。
まで繰り返され(ステップ109)、終了したら解析回
路No、の更新(ステップ111)と次の回路ブロック
の指定がされる(ステップ111)。この場合には、回
路No、2としての解析回路Bを含む回路ブロック■が
指定される。
解析回路Bに関しては回路定数の変更のみであり、これ
はステップ107で実行される。そして、次に回路N0
13としての解析回路Cを含む回路ブロック■が指定さ
れ、回路Cから回路Cの削除がステップ107で実行さ
れる。回路No、4゜5についても順次に実行されるが
、これら解析回路り、Eはもとのままで良く、従ってそ
のまま切り出される。
はステップ107で実行される。そして、次に回路N0
13としての解析回路Cを含む回路ブロック■が指定さ
れ、回路Cから回路Cの削除がステップ107で実行さ
れる。回路No、4゜5についても順次に実行されるが
、これら解析回路り、Eはもとのままで良く、従ってそ
のまま切り出される。
以上の処理により切り出された回路No、1〜5のもの
は、順次に第3図のメモリ34に収納されており、全て
の処理が終了した時点でメモリ34からFMEAディス
ク37(第2のメモリ)に転送される。そして、次の処
理であるFMEAシュミレーションの本処理に供される
。
は、順次に第3図のメモリ34に収納されており、全て
の処理が終了した時点でメモリ34からFMEAディス
ク37(第2のメモリ)に転送される。そして、次の処
理であるFMEAシュミレーションの本処理に供される
。
以上、詳細に説明した通り本発明によれば、解析回路ブ
ロックを構成する解析回路は、既存の回路ブロックから
順次に切り出され、その過程で回路の追加、変更、削除
も実行される。従って、コンピュータとマンマシンイン
タフェースを利用したFMEAシュミレーションの対象
回路の形成が可能になる。このためFMEAシュミレー
ションに供する解析回路ブロックを、既存の回路ブロッ
クから切り出した解析回路で形成するに際し、その効率
を著しく向上することができる。
ロックを構成する解析回路は、既存の回路ブロックから
順次に切り出され、その過程で回路の追加、変更、削除
も実行される。従って、コンピュータとマンマシンイン
タフェースを利用したFMEAシュミレーションの対象
回路の形成が可能になる。このためFMEAシュミレー
ションに供する解析回路ブロックを、既存の回路ブロッ
クから切り出した解析回路で形成するに際し、その効率
を著しく向上することができる。
第1図は、本発明の回路の切り出し処理を説明するフロ
ーチャート、第2図は、FMEAシュミレーションの全
体処理を説明するフローチャート、第3図は、第1図の
処理を実行するハードウェアの構成図、第4図は、回路
の切り出しの作用を説明する図、第5図は、回路の切り
出し例を示す図である。 31・・・CPU、32・・・CRT、33・・・キー
ボード、34・・・メモリ、35・・・OLDディスク
、36・・・NEWディスク、37・・・FMEAディ
スク、■〜■・・・回路ブロック、A−E・・・解析回
路、OLD、・・既存ファイル、NEW・・・新規人力
ファイル、FMEA・・・FMEAシュミレーション用
ファイル。 特許出願人 本田技研工業株式会社 代理人弁理士 長谷用 芳 樹第2図 実施例を実行するハードウェア 第3図 解析回路の切り出し例 第5図
ーチャート、第2図は、FMEAシュミレーションの全
体処理を説明するフローチャート、第3図は、第1図の
処理を実行するハードウェアの構成図、第4図は、回路
の切り出しの作用を説明する図、第5図は、回路の切り
出し例を示す図である。 31・・・CPU、32・・・CRT、33・・・キー
ボード、34・・・メモリ、35・・・OLDディスク
、36・・・NEWディスク、37・・・FMEAディ
スク、■〜■・・・回路ブロック、A−E・・・解析回
路、OLD、・・既存ファイル、NEW・・・新規人力
ファイル、FMEA・・・FMEAシュミレーション用
ファイル。 特許出願人 本田技研工業株式会社 代理人弁理士 長谷用 芳 樹第2図 実施例を実行するハードウェア 第3図 解析回路の切り出し例 第5図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 電子回路の回路構成部品ごとに故障モードを設定し、前
記電子回路を自動解析するFMEAシュミレーションに
おける解析回路の切り出し方法において、 少なくとも1つの解析回路をそれぞれ含む複数の回路ブ
ロックを第1のメモリに記憶する第1のステップと、 切り出すべき解析回路を含む回路ブロックを前記第1の
メモリから読み出し、入出力ノードを設定することで当
該解析回路を切り出す第2のステップと、 切り出された解析回路の回路変更、追加もしくは削除の
少なくともいずれかがあるときは入力手段からの指示に
よりこれを実行する第3のステップと、 解析回路の切り出しが全て終了するまで前記第2および
第3のステップを順次に繰り返し、切り出しが終了した
ときにFMEAシュミレーションを実行すべき電子回路
を第2のメモリに出力する第4のステップとを備えるこ
とを特徴とするFMEAシュミレーションにおける解析
回路の切り出し方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63166235A JP2642145B2 (ja) | 1988-07-04 | 1988-07-04 | 故障モード効果解析シミュレーション方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63166235A JP2642145B2 (ja) | 1988-07-04 | 1988-07-04 | 故障モード効果解析シミュレーション方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0216468A true JPH0216468A (ja) | 1990-01-19 |
JP2642145B2 JP2642145B2 (ja) | 1997-08-20 |
Family
ID=15827618
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63166235A Expired - Lifetime JP2642145B2 (ja) | 1988-07-04 | 1988-07-04 | 故障モード効果解析シミュレーション方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2642145B2 (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6154567A (ja) * | 1984-08-24 | 1986-03-18 | Hitachi Ltd | シミユレ−シヨン方法および装置 |
JPS6385975A (ja) * | 1986-09-30 | 1988-04-16 | Toshiba Corp | Cadシステム |
-
1988
- 1988-07-04 JP JP63166235A patent/JP2642145B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6154567A (ja) * | 1984-08-24 | 1986-03-18 | Hitachi Ltd | シミユレ−シヨン方法および装置 |
JPS6385975A (ja) * | 1986-09-30 | 1988-04-16 | Toshiba Corp | Cadシステム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2642145B2 (ja) | 1997-08-20 |
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