JPH02163951A - キャピラリチップと半導体装置のワイヤボンド方法 - Google Patents

キャピラリチップと半導体装置のワイヤボンド方法

Info

Publication number
JPH02163951A
JPH02163951A JP63318751A JP31875188A JPH02163951A JP H02163951 A JPH02163951 A JP H02163951A JP 63318751 A JP63318751 A JP 63318751A JP 31875188 A JP31875188 A JP 31875188A JP H02163951 A JPH02163951 A JP H02163951A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wire
capillary
capillary tip
tip
pressure
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63318751A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Shigeno
隆 茂野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sanyo Electric Co Ltd filed Critical Sanyo Electric Co Ltd
Priority to JP63318751A priority Critical patent/JPH02163951A/ja
Publication of JPH02163951A publication Critical patent/JPH02163951A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/45147Copper (Cu) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/484Connecting portions
    • H01L2224/48463Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
    • H01L2224/48465Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area being a wedge bond, i.e. ball-to-wedge, regular stitch
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • H01L2224/7825Means for applying energy, e.g. heating means
    • H01L2224/783Means for applying energy, e.g. heating means by means of pressure
    • H01L2224/78301Capillary
    • H01L2224/78302Shape
    • H01L2224/78303Shape of the pressing surface, e.g. tip or head
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • H01L2224/851Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector the connector being supplied to the parts to be connected in the bonding apparatus
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • H01L2224/8512Aligning
    • H01L2224/85148Aligning involving movement of a part of the bonding apparatus
    • H01L2224/85169Aligning involving movement of a part of the bonding apparatus being the upper part of the bonding apparatus, i.e. bonding head, e.g. capillary or wedge
    • H01L2224/8518Translational movements
    • H01L2224/85181Translational movements connecting first on the semiconductor or solid-state body, i.e. on-chip, regular stitch
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • H01L2224/852Applying energy for connecting
    • H01L2224/85201Compression bonding
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01029Copper [Cu]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01082Lead [Pb]

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 本発明は、特に銅(Cu)ワイヤのボンディングに適し
たボールボンディング用のキャピラリデツプとこれを用
いた半導体装置のワイヤボンド方法に関する。
(ロ)従来の技術 半導体装置の脱貴金属及びローコスト化を目的として従
来の金(Au)ワイヤに替り他の金属ワイヤでワイヤボ
ンドを行う試みが成されている。他の金属ワイヤとして
先に提案されたのがアルミ(AI)ワイヤであるが、最
近はボールボンドが可能であるという点でff1(Cu
)ワイヤが着目きれている(SEMICON NE讐S
 1987.5 P42)。
銅ワイヤは前記ボールボンドが可能であるという点で、
従来の金ワイヤ用ポンディング装置を流用できる利点が
ある。しかしながら、第3図に示す如き圧接部(1)が
平坦な形状を有する従来の金ワイヤ用キャピラリチップ
(2)では、銅は金に比べて延性に劣る為、満足する接
着性が得られない欠点がある。
そこで圧接部(1)の平坦面全体に傾斜を設はテーパー
面としたキャピラリを試作したが、キャピラリ先端での
荷重密度が極めて高くなる為1stボンド時において半
導体素子を破壊することが判明した。
(ハ)発明が解決しようとする課題 この様に、従来のキャピラリチップを銅(Cu)ワイヤ
用に使用するには接着性に劣る欠点を有し、これを改良
したキャピラリチップでも半導体装置を破壊する恐れが
あるという欠点があった。
(ニ)課題を解決するための手段 本発明は上記従来の課題に鑑み成されたもので、キャピ
ラリチップ(11)の圧接部(13)を平坦部〈14)
と傾斜部(15)とで構成することにより、従来の欠点
を解消したキャピラリチップと半導体装置の製造方法を
提供するものである。
(*)作用 本発明によれば、半導体チップ(18)上の電極(17
)への1stボンド時には、ボールボンドであることと
、圧接部(13)の平坦部、(14)により荷重が分散
される為、半導体チップ(18)を破壊することの無い
ボンディングを実施でき、2ndボンド時には、傾斜部
(15)がワイヤ(20)のf!4素材を圧延するので
、接着力の高いボンディングを実施できる。
(へ)実施例 以下に本発明の一実施例を図面を参照しながら詳細に説
明する。
第1図は本発明のキャピラリチップの先端部分の断面構
造を示し、(11)は中心にワイヤの挿通孔(12)を
有する円筒形状のキャピラリチップの本体、(13)は
キャピラリチップ(11)先端の圧接部で、この圧接部
(13)は挿通孔(12)周囲の平坦部(14)と平坦
部(14)周囲の傾斜部(15)との2つの部分を有す
る。傾斜部(15)は平坦部(14)に対して4度から
5度の角度で傾斜した平坦なテーパー面で構成され、所
望半径のOR(Out 5ide Radias)部(
16)でキャピラリチップ(11)の側面と連続する。
材質はルビー又はセラミック製で、セラミック製の場合
は銅素材の滑りが良くなるように又は寿命等を考慮して
面粗度が滑らかな径の小きいセラミック粒子で形成した
ものを選択する。
上記キャピラリチップ(11)を使用し、本願のワイヤ
ボンド方法は以下の通りになる。
先ず第2図Aに示すように、表面に半導体素子とボンデ
ィング用電極(17)の形成が終了した半導体チップ〈
18)と、銅系材料による銅素材が露出したリードフレ
ーム(19)とを用意し、半導体チップ(11)の裏面
に形成したクロム(Cr)や金(Au)等の裏張電極を
ロウ材としてリードフレーム(19)にベアボンドし、
半導体チップ(18)を固着する。そのJ−Sフレーム
(19)をワイヤボンド装置のヒータブロックを内蔵し
た作業台上に載置してボンディング用電極(17)の位
置認識を行い、このデータに基きX方向及びY方向に進
退自在な取付部材に着脱自在に取り付けられたキャピラ
リチップ(11)を半導体チップ(18)上空に移動す
る。キャピラリチップ(11)の挿通孔(12)には銅
(Cu)を主成分とする金属材料から成るワイヤ(2G
)が挿入きれ、ワイヤ(20)の先端には図示せぬトー
チの炎により、又は電極との高圧放電により挿通孔(1
2)の直径より大きな球状のボール部(21)が形成き
れている。(22)はクランパ、(23)はワイヤスプ
ールである。
次に第2図Bに示すように、キャピラリチップ(11)
を下降してボール部(21)の下面を半導体チップ(1
8)の電極(17)に所望圧力で圧接し、且つキャピラ
リチップ(11)全体に図示せぬ振動装置で超音波振動
を与えることによりワイヤ(20)を超音波併用熱圧着
して1stボンド(ボールボンド)とする。その後クラ
ンパ(22)を開放し、ワイヤ(20)を自由にすると
共に、キャピラリチップ(11)を垂直に上昇させ、次
にキャピラリチップ(11)を水平方向に移動して2n
dボンド点へと向う。
続いて第2図Cに示すように、2ndボンド点に移動し
たキャピラリチップ(11)を下降きせてキャピラリチ
ップ(11)の圧接部(13)によりワイヤ(20)を
リード端子(24)表面に圧接し、キャピラリチップ(
11)全体に超音波振動を与えることによりワイヤ(2
0)を超音波併用熱圧着して2ndボンド(ステッチボ
ンド)とする、2ndポンドは、圧接部(13)中央の
平坦部(14)でワイヤ(20)を圧接すると共に、平
坦部(14)周囲の傾斜部(15)でワイヤ(20)素
材を圧延して拡大する。
然る後第2図りに示すように、キャピラリチップ(11
)を圧接した状態でクランパ(22)がワイヤを挾持し
、クランパ(22)がワイヤ(20)を引張ることによ
りワイヤ(20)をキャピラリチップ(11)の先端付
近で切断する。
以上に説明した本願のワイヤボンド方法によれば、2n
dボンド時において、圧接部(13)の傾斜部(15)
がワイヤ(20)の銅素材を圧延し拡大するので、圧着
点のワイヤ(20)の拡がり(ステッチ)が大きく、従
って接着力が強いステッチボンドを行うことができる。
一方、1stポンド時は、ボールボンドであることと、
キャピラリチップ(11)先端の平坦部(14)が荷重
を分散するので、素子を破壊することの無いワイヤボン
ドを実施できる。
(ト)発明の詳細 な説明した如く、本発明によれば、特に銅ワイヤを用い
て好適なキャピラリチップ(11)の形状を提供できる
利点を有する。また、平坦部(14)が素子破壊を肪止
し、且つ傾斜部(15)が銅素材を圧延してステッチを
拡がり易くするので、接着強度が強い、信頼性の高い半
導体装置のワイヤポンド方法を提供できる利点を有する
。更に銅ワイヤを利用することにより、半導体装置のコ
ストダウンが出来る利点をも有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のキャピラリチップを示す断面図、第2
図A乃至第2図りは本発明のワイヤポンド方法を説明す
る側面図、第3図は従来例を説明する為の断面図である

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)圧接部が平坦部と傾斜部との2つの部分を有する
    ことを特徴とするボールボンディング用キャピラリチッ
    プ。
  2. (2)圧接部が平坦部と傾斜部との2つの部分を有する
    キャピラリチップに挿入されたワイヤの先端にボール部
    を形成し、 前記キャピラリを下降することにより半導体チップ上の
    電極に前記ボール部を圧着し、 前記キャピラリをリード部上に移動して下降することに
    より前記ワイヤを前記リード部表面に圧接し、且つ前記
    キャピラリの傾斜部でワイヤ材料を圧延することにより
    前記ワイヤを前記リード部に圧着し、 前記キャピラリを圧接した状態で前記ワイヤを引張るこ
    とにより前記ワイヤを切断することを特徴とする半導体
    装置のワイヤボンド方法。
  3. (3)前記ワイヤが銅(Cu)を主成分とする金属であ
    ることを特徴とする請求項第2項に記載の半導体装置の
    ワイヤボンド方法。
JP63318751A 1988-12-16 1988-12-16 キャピラリチップと半導体装置のワイヤボンド方法 Pending JPH02163951A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63318751A JPH02163951A (ja) 1988-12-16 1988-12-16 キャピラリチップと半導体装置のワイヤボンド方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63318751A JPH02163951A (ja) 1988-12-16 1988-12-16 キャピラリチップと半導体装置のワイヤボンド方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02163951A true JPH02163951A (ja) 1990-06-25

Family

ID=18102529

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63318751A Pending JPH02163951A (ja) 1988-12-16 1988-12-16 キャピラリチップと半導体装置のワイヤボンド方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02163951A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100336191C (zh) * 2005-03-04 2007-09-05 汕头华汕电子器件有限公司 用铜线形成半导体器件内引线的方法
US9780069B2 (en) 2009-06-18 2017-10-03 Rohm Co., Ltd. Semiconductor device
CN111617516A (zh) * 2020-07-10 2020-09-04 安徽师范大学 以金属丝为模板的硅胶整体开管毛细管柱及其制备方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100336191C (zh) * 2005-03-04 2007-09-05 汕头华汕电子器件有限公司 用铜线形成半导体器件内引线的方法
US9780069B2 (en) 2009-06-18 2017-10-03 Rohm Co., Ltd. Semiconductor device
US10163850B2 (en) 2009-06-18 2018-12-25 Rohm Co., Ltd. Semiconductor device
CN111617516A (zh) * 2020-07-10 2020-09-04 安徽师范大学 以金属丝为模板的硅胶整体开管毛细管柱及其制备方法
CN111617516B (zh) * 2020-07-10 2022-06-07 安徽师范大学 以金属丝为模板的硅胶整体开管毛细管柱及其制备方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5642852A (en) Method of ultrasonic welding
JPH01201934A (ja) ワイヤボンディング方法及びキャピラリチップ
JPH02163951A (ja) キャピラリチップと半導体装置のワイヤボンド方法
JP3347598B2 (ja) ワイヤボンディング装置用キャピラリ
JPH0530058B2 (ja)
JP3972517B2 (ja) 電子部品の接続方法
JPH05267385A (ja) ワイヤーボンディング装置
JP3972518B2 (ja) ボールボンディング方法および電子部品の接続方法
JPH0748507B2 (ja) ワイヤボンデイング方法
JP3233194B2 (ja) ワイヤボンディング方法
JPH0430546A (ja) 被覆線の超音波ワイヤボンディング方法及び被覆線の超音波ワイヤボンディング用外部リード
JP3702929B2 (ja) ワイヤボンディング方法
JP4550580B2 (ja) モノリシック集積回路用の支持装置
JP3100710B2 (ja) ボンディングツールおよびボンディング方法
JPH04334035A (ja) 半田ワイヤとそのワイヤを使用した半田バンプの形成方法
JPS62136843A (ja) ワイヤボンデイング方法
JPH03127844A (ja) ボンディング装置およびボンディング方法
JPS62136836A (ja) 半導体装置の製造方法
JPS6316632A (ja) 半導体装置の製造方法
JPH1174299A (ja) バンプ形成装置およびバンプ形成方法
JPH10199913A (ja) ワイヤボンディング方法
JP3455618B2 (ja) 半導体の製造方法
JPS6178128A (ja) 半導体装置およびその製造において用いるボンデイングツ−ル
JPH0758142A (ja) ワイヤボンディング装置
JPH06104263A (ja) バンプ形成用ツ−ルおよびバンプ形成方法