JPH02162234A - 粒子計数装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は血球カウンタないし粒子カウンタにおいて計数
された粒子個数の補正に係り、特に検出部における粒子
の同時通過に起因する誤差の補正に関する。

〔従来の技術〕

血球カウンタないし粒子カウンタにおいて粒子個数を計
数する場合、検出部に粒子が同時に２個以上通過したと
きも粒子は１個と測定されるため、測定終了後に同時通
過による誤差補正が必要である。ｍ定系の条件が決まっ
ていると、計数個数Ｎから、統計的に一意的に同時通過
補正が可能である。同時通過補正については、従来の装
置に関しては特開昭５０−６８１７４号、特開昭５０−
１２０８８０号に述べられている。

同時通過補正方法については、レビューオブサイエンテ
ィフィック　インストウシメン８４３巻（１９７２年）
第１４０７頁から第１４１２頁（Ｒｅｖ、Ｓｃｉ、Ｉｎ
ｓｔｒｕｍ、、ｖｏＱ　、４３（１９７２）　ｅ　ＰＰ
１４０７−１４１２）　、同雑誌３７巻（１９６６年）
第１４１６頁から第１４１８頁（Ｒｅｖ、Ｓｃｉ。

Ｉｎｓｔｒｕｍ、、ｖｏ１２．３７（１９６６）、　ｐ
ｐｌ　４１６−１４１８）等において論じられている。

〔発明が解決しようとする課題〕

従来の粒子カウンタでは、同時通過補正量の大小は粒子
検出部の条件で差があるが、かならず同時通過補正を行
なっている。しかし、この場合には粒子を計数している
測定時間中は一様に検出部を流れていることが仮定され
ている。−様に流れていない場合は同時通過補正は正し
く行なわれない。

実際の測定では粒子サンプルの前後にも稀釈液等の粒子
サンプル以外の液体があり、粒子サンプルの一部がこの
前後液体に拡散している。粒子サンプル前後の拡散を考
慮すると１粒子検出部を通過する粒子密度は第２図に示
したように、時間と共に変化する０通常の粒子計数は、
第２図の平坦部分のみを計数している。その前後は無駄
になっている。

本発明の目的は、上記平坦部分以外の部分も粒子計数し
、かつ同時通過補正を行なうことにある。

本発明の効果としては、検出器を通過した粒子を全て測
定対象とするため、測定時間が短くでき、必要粒子サン
プル量も少なくできる特徴がある。

〔課題を解決するための手段〕

上記目的は、粒子計数時間をｎ個に分割し、その各々で
計数した粒子個数に対し同時通過補正し、補正後の計数
値を次々に加算することにより行ない、全測定時間終了
時に検出した粒子計数値を正確に求めることができる。

各々の同時通過補正計算方法は従来行なわれている方法
に従う。

〔作用〕

粒子計数でよく利用される粒子検出法としては、生理食
塩水中に粒子を浮遊させ、微細孔を粒子が通過するとき
の微細孔前後の間の電気抵抗の変化を測定したり、又は
、レーザ光を粒子に照射し散乱光を光検出器にて電気パ
ルス信号に変換することが行なわれている。この粒子パ
ルス信号の数をカウンタにて計数する。本発明ではこの
カウンタは全測定時間をｎ等分し、その１区間ごとにパ
ルス数をカウントする。１区間の時間設定はタイマー回
路により作成する。１区間に計数されたパルス数データ
をもとに同時通過補正回路で２個以上同時通過した粒子
の補正値を算出し、この区間内に粒子検出器を通過した
粒子個数を計算する。

１区間内に通過した補正後の粒子数は、それまでの粒子
通過個数に加算し、全測定時間繰り返えされ、測定終了
時には粒子検出器を通過した正しい計数値が加算器出力
から得ることができる。

同時通過補正は次のように行なう。実際に粒子検出器を
通過した粒子数をＮｏ　、実際にカウンタで計数した検
出パルス数をＮとすると、ＮｏとＮの関係は近似式で表
わせる。

Ｎ”　Ｎｏ　（１−ＣＮｏ） ここで、Ｃは測定系で定まる定数である。Ｎが測定され
れば、ＮＯが求まる。

〔実施例〕

以下、本発明の一実施例を第１図により説明する。第１
図において、１は粒子パルスを計数するカウンタ、２は
粒子計数の１区間の時間を設定するタイマーである。３
は１区間に計数される粒子パルス数をもとに計算を行な
う同時通過補正回路。

４は加算回路である。５はタイマーカウンタである。

粒子検出器で電気信号に変換された粒子パルス信号はカ
ウンタ１に入力され、タイマー２で作られた粒子計数時
間内の粒子パルス信号を計数する。

タイマー２はクロック信号及び測定スタート信号で動作
を行なう。タイマー２で作られた粒子計数時間内に計数
される粒子パルス数は第３図に示したように時間と共に
変化する。各分割された測定時間内に計数された粒子数
をもとに、同時通過補正回路３で補正計算される。補正
計算結果後の粒子数は、次の加算回路４で次々と加算さ
れる。全測定時間はタイマーカウンタ５によって知るこ
とが出来る。

加算回路４の出力はデータ解析する中央演算袋Ｈ（ｃｐ
ｕ）にて測定データが評価される。加算終了結果が補正
後の計数値になる。

本発明の第２の実施例を第４図に示す。図において、１
０がカウンタ、１１がタイマー、１２がアドレスカウン
タ、１３が計数メモリ、１４が同時通過補正回路、１５
が加算回路、１６が判定回路である。

粒子検出器で電気信号に変換された粒子パルス信号はカ
ウンタ１０に入力され、タイマー１１で作られた粒子計
数時間内の粒子パルス信号を計数する。タイマー１１は
クロック信号およびスタート信号で動作する。タイマー
１１から出されたタイマー信号の数はアドレスカウンタ
１２でカウントすることにより知ることができる。この
アドレスカウンタ１２で示されるアドレスで決まる計数
メモリ２のデータ格納領域に、カウンタ１０で計数され
た値が順次格納される。よって計数メモリ１３には、第
３図に示したような計数値の時間変化が記憶される。測
定が終了すると計数メモリ１３に計数値が入っているこ
とになる。この計数メモリ１３の格納内容をもとに、実
施例１で述べた手順に従い同時通過補正回路１４及び加
算回路１５を用い、正しい粒子計数値を計算する。

第４図ではさらに、判定回路１６．により計数メモリ１
３に格納された計数データを解析し、粒子検出系の状態
を判定する。具体的には、第３図で示した計数内容の時
間変化が本来あるべきパターンと一致しているかどうか
を判定したり、計数内容の変動具合が本来持っている統
計的変動値と比較する。パターンが一致しなかったり、
変動が大きい時には、粒子検出系に異常があると判定し
たり、測定した粒子サンプル自体に問題があることが考
えられる。これらの判定を判定回路１６で行なう。最終
的な判断は中央演算装置（ＣＰＵ）にて評価される。

これまでの説明では粒子の拡散による通過粒子密度の変
化がある場合について説明したが、測定条件によっては
粒過粒子密度が時間的に変動する場合にも本発明は変更
なく対応できることは明かである。

〔発明の効果〕

本発明によれば、粒子検出器を通過した全粒子が全て測
定対象となり、従来のように粒子拡散による通過粒子の
時間的変動による測定条件の制約がない。よって変動の
少ない部分のみを粒子計数すること、さらに測定時間を
一定にし、その間。

粒子の流れは一様でなければならないという従来測定方
法にくらべ、本発明の方法では測定条件がきびしくない
。

上記効果のため、測定時間の短縮ができ、測定に必要な
粒子サンプル量も少なくできる特徴がある。

さらに、第２の実施例に示したように、各時刻ごとの計
数値の変化を判断し、粒子検出系の状態を把握でき、計
数精度の向上、計数データの信頼性向上に役立つ。

また１通過粒子密度が時間的に変動する場合にも、正し
く計数誤差を補正することが可能である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による同時通過補正法の基本構成図、第
２図は単位時間当りに粒子検出部を通過する粒子数の時
間変化の説明図、第３図は測定時間をｎ分割して１個々
の区間内に計数される粒子個数の変化を示す説明図、第
４図は本発明における第２の実施例を示す図である。 １・・・カウンタ、２・・・タイマー　３・・・同時通
過補正回路、４・・・加算回路、１０・・・カウンタ、
１１・・・タイマー　１２・・・アドレスカウンタ、１
３・・・計数メモリ、１４・・・同時通過補正回路、１
５・・・加算回路、１６・・・判定回路。 第 図 弔 図 弔 区 吋Ｍτ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、粒子検出系からの粒子検出パルスを計数するカウン
   タ及び同時通過補正回路からなる粒子計数において、測
   定時間を分割する手段、分割した時間内における粒子計
   数手段およびその粒子計数値をもとに同時通過補正を行
   なう手段、および補正後の計数値を加算することを特徴
   とする粒子計数装置。 ２、特許請求の範囲第１項記載の粒子計数装置において
   、分割した時間内における粒子計数値を格納する計数メ
   モリを有し、各計数メモリ値から同時通過補正を行なう
   ことを特徴とする粒子計数装置。 ３、特許請求の範囲第２項記載の粒子計数装置において
   、計数メモリデータを解析し、粒子計数状態を判定する
   特徴を有する粒子計数装置。